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      顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件、顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)傳感器以及顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件的制造方法

      文檔序號(hào):10540725閱讀:611來(lái)源:國(guó)知局
      顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件、顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)傳感器以及顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件的制造方法
      【專利摘要】本發(fā)明涉及用于對(duì)被測(cè)定氣體中的顆粒狀物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件(10),其具有:平板狀導(dǎo)體層(11、12);平板狀絕緣層(100);將所述導(dǎo)體層(11、12)與所述絕緣層(100)交替堆積而成的層疊結(jié)構(gòu);將所述層疊結(jié)構(gòu)的截面中的所述導(dǎo)體層(11、12)作為極性不同的一對(duì)檢測(cè)電極的檢測(cè)部(13)。所述導(dǎo)體層(11、12)具有固定膜厚,并具備截面為長(zhǎng)條形的導(dǎo)體層平面部(110、120)和位于該導(dǎo)體層平面部?jī)蓚?cè)的逐漸變細(xì)的截面為三角形的導(dǎo)體層末端邊緣部(111、121)。
      【專利說(shuō)明】
      顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件、顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)傳感器以及顆粒狀物 質(zhì)檢測(cè)元件的制造方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      [0001] 本申請(qǐng)例如適合用于車輛用內(nèi)燃機(jī)的廢氣凈化系統(tǒng),其涉及對(duì)存在于作為被測(cè)定 氣體的廢氣中的顆粒狀物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件、顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)傳感器以及 顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件的制造方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002] 以往,提出了各種對(duì)被測(cè)定氣體中的顆粒狀物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)傳感 器。顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)傳感器在具有絕緣性的基板的表面形成一對(duì)電極,并利用顆粒狀物質(zhì) 具有導(dǎo)電性的性質(zhì),基于因顆粒狀物質(zhì)沉積在一對(duì)電極之間所產(chǎn)生的電阻值、靜電容等電 特性的變化對(duì)內(nèi)燃機(jī)的燃燒廢氣等被測(cè)定氣體中的顆粒狀物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)。
      [0003] 例如,日本特表2008-502892號(hào)公報(bào)公開了一種傳感器元件,其在氧化鋁陶瓷等絕 緣基板上形成有一對(duì)梳形電極。
      [0004] 對(duì)于上述專利文獻(xiàn)的傳感器元件而言,由電源部向一對(duì)電極之間施加電壓,由此 在相互嚙合的梳形電極之間的空間形成不均勻的電場(chǎng),從而使電極吸引從傳感器元件通過(guò) 的廢氣中包含的煤顆粒并使其沉積,可以通過(guò)對(duì)此時(shí)的電極之間電阻進(jìn)行檢測(cè)來(lái)測(cè)定煤沉 積量。
      [0005] 另一方面,日本特開昭60-196659號(hào)公報(bào)公開了一種傳感器用電阻測(cè)定電極,其為 了以良好的精度形成現(xiàn)有厚膜印刷所難以實(shí)現(xiàn)的電極之間距離為50wii以下,通過(guò)厚膜印刷 和生片(green sheet)將導(dǎo)體層與絕緣層交替堆積而形成層疊結(jié)構(gòu),利用其截面將導(dǎo)體層 作為電極,并公開了能夠使電極之間距離小至由絕緣層的膜厚所決定的10M1左右。
      [0006] 專利文獻(xiàn)1:日本特表2008-502892號(hào)公報(bào) [0007] 專利文獻(xiàn)2:日本特開昭60-196659號(hào)公報(bào)

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0008] 發(fā)明要解決的問(wèn)題
      [0009] 然而,如日本特表2008-502892號(hào)公報(bào)中那樣,將導(dǎo)體層與絕緣層交替堆積而形成 層疊結(jié)構(gòu),將在其截面露出的導(dǎo)體層用作一對(duì)電極;如日本特表2008-502892號(hào)公報(bào)中那 樣,在電極之間施加電壓來(lái)形成電場(chǎng),從而使顆粒狀物質(zhì)沉積在電極之間,此時(shí)電荷的集中 發(fā)生在電極端部的角部。
      [0010] 因此,可知容易引起顆粒狀物質(zhì)局部沉積到電場(chǎng)強(qiáng)度高的電極端部附近,不靈敏 質(zhì)量的個(gè)體差擴(kuò)大,有可能使得檢測(cè)精度降低。
      [0011] 因此,鑒于上述實(shí)際情況,本申請(qǐng)的目的在于:提供一種顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件,該 顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件將平板狀導(dǎo)體層與平板狀絕緣層交替堆積而形成層疊結(jié)構(gòu),將在其截 面所露出的導(dǎo)體層作為一對(duì)電極來(lái)構(gòu)成檢測(cè)部,在該顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件中,使電極層端 部的形狀為特征性形狀,抑制電場(chǎng)向電極層端部集中;并且提供一種顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)傳感 器,該顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)傳感器使用上述顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件,在一對(duì)電極之間作用高電壓 來(lái)形成電場(chǎng),由此對(duì)顆粒狀物質(zhì)進(jìn)行收集,同時(shí)對(duì)隨著沉積在電極之間的顆粒狀物質(zhì)的沉 積量而變化的電特性進(jìn)彳丁檢測(cè),從而以尚精度對(duì)被測(cè)定氣體中的顆粒狀物質(zhì)進(jìn)彳丁檢測(cè);提 供一種顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件的制造方法,該顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件的制造方法抑制電荷向電 極端部集中,從而能夠?qū)崿F(xiàn)高檢測(cè)精度。
      [0012] 用于解決問(wèn)題的手段
      [0013] 本申請(qǐng)的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件(10、10a、10c、10d、10f)具有將平板狀導(dǎo)體層(11、 1 la、11c、lid、Ilf、12、12a、12c、12d、12f)與平板狀絕緣層(100、100a、100c、100c、100d、 lOOf)交替堆積而成的層疊結(jié)構(gòu),利用其截面來(lái)構(gòu)成將所述導(dǎo)體層作為極性不同的一對(duì)檢 測(cè)電極的檢測(cè)部(13、13a、13c、13d、13f)。而且,對(duì)隨著沉積在該檢測(cè)部的顆粒狀物質(zhì)的量 而變化的電特性進(jìn)行計(jì)測(cè),并用于對(duì)被測(cè)定氣體中的顆粒狀物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)。該顆粒狀物質(zhì) 檢測(cè)元件的特征在于,所述導(dǎo)體層具有固定膜厚,并具備截面為長(zhǎng)條形的導(dǎo)體層平面部 (110、110a、110c、110d、110f、120、120a、120c、120d、120f)和位于該導(dǎo)體層平面部?jī)蓚?cè)的逐 漸變細(xì)的截面為三角形的導(dǎo)體層末端邊緣部(lll、llla、lllc、llld、lllf、121、121a、121c、 121d、121f) 〇
      [0014]另外,對(duì)于本申請(qǐng)而言,上述導(dǎo)體層也可以是:具有固定膜厚,并具備截面為長(zhǎng)條 形的導(dǎo)體層平面部(1 l〇b、110e、110g、120b、120e、120g)和位于該導(dǎo)體層平面部?jī)蓚?cè)的平滑 彎曲的截面為圓弧形的導(dǎo)體層末端邊緣部(lllb、lll e、lllg、121b、121e、121g)。
      [0015] 發(fā)明效果
      [0016] 根據(jù)本申請(qǐng),上述導(dǎo)體層末端邊緣部上的電場(chǎng)集中得到抑制,并且由于顆粒狀物 質(zhì)局部沉積到電場(chǎng)集中部而導(dǎo)致的不靈敏質(zhì)量的變動(dòng)得到抑制。因此,能夠?qū)崿F(xiàn)檢測(cè)精度 穩(wěn)定的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件。
      【附圖說(shuō)明】 [0017] 附圖中,
      [0018] 圖1A是示出本申請(qǐng)的第一實(shí)施方式的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)傳感器1的全部概要的結(jié)構(gòu) 圖;
      [0019] 圖1B是作為用于圖1A的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)傳感器1的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件10的主要 部分的檢測(cè)部13的放大立體圖;
      [0020] 圖1C是示出用于圖1A的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)傳感器1的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件10的內(nèi)部 結(jié)構(gòu)的一個(gè)例子的分解立體圖;
      [0021] 圖2A是作為比較例1示出的電極層端面為四邊形的現(xiàn)有顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件10z 的主要部分的放大圖;
      [0022]圖2B是作為本申請(qǐng)的實(shí)施例1示出的電極層端面為鈍角三角形的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè) 元件10的主要部分的放大圖;
      [0023]圖2C是作為本申請(qǐng)的實(shí)施例2示出的電極層端面為銳角三角形的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè) 元件l〇a的主要部分的放大圖;
      [0024]圖2D是作為本申請(qǐng)的實(shí)施例3示出的電極層端面為圓弧形的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件 l〇b的主要部分的放大圖;
      [0025]圖3A是作為比較例2示出的電極層端面為四邊形并且端面位置不固定的現(xiàn)有顆粒 狀物質(zhì)檢測(cè)元件l〇y的主要部分的放大圖;
      [0026]圖3B是作為本申請(qǐng)的實(shí)施例4示出的電極層端面為鈍角三角形并且端面位置不固 定的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件l〇c的主要部分的放大圖;
      [0027]圖3C是作為本申請(qǐng)的實(shí)施例5示出的電極層端面為銳角三角形并且端面位置不固 定的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件l〇d的主要部分的放大圖;
      [0028] 圖3D是作為本申請(qǐng)的實(shí)施例6示出的電極層端面為圓弧形并且端面位置不固定的 顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件l〇e的主要部分的放大圖;
      [0029] 圖4A是示出比較例1中的檢測(cè)部平面的電場(chǎng)強(qiáng)度分布的示意圖;
      [0030] 圖4B是示出實(shí)施例1中的檢測(cè)部平面的電場(chǎng)強(qiáng)度分布的示意圖;
      [0031] 圖4C是示出實(shí)施例2中的檢測(cè)部平面的電場(chǎng)強(qiáng)度分布的示意圖;
      [0032] 圖4D是示出實(shí)施例3中的檢測(cè)部平面的電場(chǎng)強(qiáng)度分布的示意圖;
      [0033] 圖5A是示出比較例2中的檢測(cè)部平面的電場(chǎng)強(qiáng)度分布的示意圖;
      [0034] 圖5B是示出實(shí)施例4中的檢測(cè)部平面的電場(chǎng)強(qiáng)度分布的示意圖;
      [0035]圖5C是不出實(shí)施例5中的檢測(cè)部平面的電場(chǎng)強(qiáng)度分布的不意圖;
      [0036]圖f5D是不出實(shí)施例6中的檢測(cè)部平面的電場(chǎng)強(qiáng)度分布的不意圖;
      [0037] 圖6是示出實(shí)施例7中的檢測(cè)部13f的概要的主要部分放大立體圖;
      [0038] 圖7A是與比較例1 一起示出實(shí)施例1的傳感器輸出變化的特性圖;
      [0039] 圖7B是與多個(gè)比較例一起示出本申請(qǐng)對(duì)降低不靈敏質(zhì)量偏差的效果的特性圖;
      [0040] 圖8A是示出比較例1的制造工序的概要的示意圖;
      [0041] 圖8B是示出比較例3的制造工序的概要的示意圖;
      [0042] 圖8C是不出本申請(qǐng)的實(shí)施例1的制造工序的概要的不意圖;
      [0043]圖8D是示出本申請(qǐng)的實(shí)施例2的制造工序的概要的示意圖;
      [0044]圖9A是示出用于制造本申請(qǐng)的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件的厚膜印刷用絲網(wǎng)的概要的 俯視圖;
      [0045]圖9B是與圖9A中沿B-B的剖視圖相對(duì)應(yīng)的形成了導(dǎo)體層的絕緣層的剖視圖和俯視 圖;
      [0046] 圖10是示出用于本申請(qǐng)的厚膜印刷用絲網(wǎng)的變形例的俯視圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0047] 參照?qǐng)D1A、圖1B、圖1C,對(duì)本申請(qǐng)的第一實(shí)施方式的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)傳感器1以及 作為本申請(qǐng)的主要部分的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件10的概要進(jìn)行說(shuō)明。
      [0048] 本申請(qǐng)的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)傳感器1(以下稱為傳感器1)例如由顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元 件1〇(以下簡(jiǎn)稱為元件10)、電源2和測(cè)定部3構(gòu)成,其中,元件10將內(nèi)燃機(jī)的燃燒廢氣作為被 測(cè)定氣體,并設(shè)置有配置于被測(cè)定氣體中的檢測(cè)部13,電源2對(duì)元件10施加規(guī)定電壓,測(cè)定 部3對(duì)流至元件10的電流、電壓的變化、阻抗的變化等電特性進(jìn)行計(jì)測(cè),由此對(duì)被測(cè)定氣體 中的顆粒狀物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)。
      [0049] 通過(guò)測(cè)定部3對(duì)隨著沉積在元件10的檢測(cè)部13的顆粒狀物質(zhì)的量而變化的電特性 進(jìn)行計(jì)測(cè),由此能夠?qū)Ρ粶y(cè)定氣體中的顆粒狀物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)。
      [0050]此外,以下說(shuō)明中,將設(shè)置元件10的檢測(cè)部13并暴露于被測(cè)定氣體的一側(cè)稱為前 端側(cè);將與電源部2和測(cè)定部3連接的一側(cè)稱為基端側(cè)。
      [0051] 傳感器1可以設(shè)置在DPF(Diesel Particulate Filter,柴油機(jī)微粒過(guò)濾器)的下 游來(lái)用于對(duì)DPF的異常進(jìn)行檢測(cè)?;蛘?,也可以設(shè)置在DPF的上游來(lái)用于對(duì)流入DPF的顆粒狀 物質(zhì)PM進(jìn)行直接檢測(cè)的系統(tǒng)。
      [0052]此外,當(dāng)實(shí)際配置在被測(cè)定氣體流道時(shí),為了固定元件10,可以適當(dāng)采用未圖示的 外罩或保護(hù)檢測(cè)部13的蓋體等通常作為顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)傳感器來(lái)使用的公知構(gòu)成。
      [0053]參照?qǐng)D1B,對(duì)作為本申請(qǐng)的主要部分的元件10的特征進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。
      [0054]元件10具有將平板狀導(dǎo)體層11、12與平板狀絕緣層100交替堆積而成的層疊結(jié)構(gòu)。
      [0055] 元件10利用其截面構(gòu)成了將導(dǎo)體層11、12作為極性不同的一對(duì)檢測(cè)電極的檢測(cè)部 13。
      [0056] 如圖1B所示,檢測(cè)部13是通過(guò)一對(duì)導(dǎo)體層11、12的截面隔著絕緣層100交替排列而 構(gòu)成的。
      [0057] 就本實(shí)施方式而言,其特征在于,導(dǎo)體層11、12具有固定膜厚,并具備截面為長(zhǎng)條 形的導(dǎo)體層平面部110、120(以下簡(jiǎn)稱為平面部110、120)和位于導(dǎo)體層平面部110、120兩側(cè) 的逐漸變細(xì)的截面為三角形的導(dǎo)體層末端邊緣部111、121(以下簡(jiǎn)稱為末端邊緣部111、 121) 〇
      [0058]本申請(qǐng)通過(guò)在導(dǎo)體層11、12的兩末端邊緣設(shè)置將截面形成為三角形的導(dǎo)體層末端 邊緣部111、121,由此抑制電場(chǎng)向?qū)w層11、12的末端邊緣集中,從而防止顆粒狀物質(zhì)局部 沉積到電場(chǎng)集中部(即,電場(chǎng)集中的部分),可實(shí)現(xiàn)檢測(cè)精度的提高、穩(wěn)定化。
      [0059] 導(dǎo)體層11、12可以適當(dāng)使用公知的導(dǎo)電性材料。例如,可以使用鋁、金、鉑、鎢等金 屬材料或氧化I了等金屬氧化物材料或者選自LNF(LaNio.6Feo.4〇3)、LSN(LaNio.6Feo.4〇3)、LSM (Lai-xSrxMn〇3-s)、LSC(Lai-xSrxCo〇3-s)、LCC(Lai-xCaxCr〇3-s)、LSCN(Lao. 85Sr〇. i5Cri-xNix〇3-s) (0.1 .7)中的任一種的鈣鈦礦型導(dǎo)電性氧化物材料。
      [0060] 絕緣層100中可以適當(dāng)使用:氧化鋁、氧化鎂、二氧化鈦、富鋁紅柱石等絕緣層材 料;將介電常數(shù)高的鈦酸鋇等高介電常數(shù)材料與氧化鋁或氧化鋯混合而成的電介質(zhì)材料; 以8YSZ (Zr02) 0.82 (Y2〇3) 0.08)為代表的部分穩(wěn)定化氧化鋯等公知的陶瓷材料。
      [0061] 此外,本實(shí)施方式示出了通過(guò)在形成為長(zhǎng)方體狀的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件10的前端 側(cè)的側(cè)面方向露出一對(duì)導(dǎo)體層11、12的截面來(lái)形成了檢測(cè)部13的示例,但也可以通過(guò)從元 件10的前端側(cè)的底面露出一對(duì)導(dǎo)體層11、12的截面來(lái)設(shè)置檢測(cè)部13。
      [0062] 另外,圖1A~圖1C采用不同的影線來(lái)表明一對(duì)導(dǎo)體層11、12交替層疊、極性交替不 同,并不是要區(qū)別兩導(dǎo)體層11、12的材質(zhì)。
      [0063] 參照?qǐng)D1C,對(duì)更具體的元件10的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行說(shuō)明。
      [0064] 絕緣層100通過(guò)刮刀法等公知的制法形成為平板狀,并根據(jù)需要在規(guī)定位置鉆出 通孔,形成有通孔電極114、124。
      [0065] 一對(duì)導(dǎo)體層11、12由平面部110、120、引線部112、122、端子部113、123、通孔電極 114、124、125構(gòu)成,其中,平面部110、120通過(guò)后述制造方法設(shè)置有末端邊緣部111、121,引 線部112、122以與外部連接為目標(biāo)。
      [0066] 通孔電極114、124以使極性相同的平面部110、120彼此導(dǎo)通為目標(biāo)。
      [0067] 引線部112、122、通孔電極114、124、端子部113、123是通過(guò)公知的厚膜印刷等制法 形成的。
      [0068] 采用了層疊結(jié)構(gòu)。具體來(lái)說(shuō),在絕緣層100上交替形成導(dǎo)體層11、12,將由此形成的 結(jié)構(gòu)堆積多層,形成層疊結(jié)構(gòu);就本實(shí)施方式而言,在最下段的絕緣層100H形成以通電來(lái)發(fā) 熱的發(fā)熱體140、以與發(fā)熱體140導(dǎo)通為目標(biāo)的一對(duì)引線部141和端子部142,構(gòu)成了發(fā)熱部 14〇
      [0069] 發(fā)熱體140中使用了鎢、硅化鉬、氧化釕等公知的電阻發(fā)熱體材料;引線部141、端 子部142中使用了金、鉑、鎢等公知的導(dǎo)電性金屬材料,并通過(guò)厚膜印刷等公知的方法來(lái)形 成。
      [0070] 元件10可以通過(guò)燒成而形成為一體。
      [0071] 另外,本實(shí)施方式中的檢測(cè)部13是通過(guò)下述方式形成的:在經(jīng)過(guò)層疊、燒成工序之 后,以在元件10的側(cè)面部露出截面的方式適當(dāng)切斷,并實(shí)施研磨。
      [0072] 此處,參照?qǐng)D2A、圖2B、圖2C、圖2D、圖3A、圖3B、圖3C、圖3D,對(duì)為了確認(rèn)本申請(qǐng)的效 果而進(jìn)行了研究的比較例1、實(shí)施例1、實(shí)施例2、實(shí)施例3、比較例2、實(shí)施例4、實(shí)施例5、實(shí)施 例6進(jìn)行說(shuō)明。
      [0073]另外,就比較例、實(shí)施例而言,基本結(jié)構(gòu)均是與圖1C所示的實(shí)施例1相同的層疊結(jié) 構(gòu);以下說(shuō)明中,就各自對(duì)應(yīng)的部分,對(duì)比較例1、2、3、4附上符號(hào)z、y、X、w作為分支號(hào),對(duì)實(shí) 施例2~8分別附上分支號(hào)a~g來(lái)進(jìn)行區(qū)別。
      [0074] 就作為比較例1示于圖2A的元件10z而言,絕緣層100z、導(dǎo)體層110z與導(dǎo)體層120z 交替層疊。
      [0075]比較例1的導(dǎo)體層110z、120z的截面為矩形、端面為四邊形,端面的位置對(duì)齊。
      [0076]就作為實(shí)施例1示于圖2B的元件10而言,絕緣層100、導(dǎo)體層110與導(dǎo)體層120交替 層疊。
      [0077]在實(shí)施例1的導(dǎo)體層110、120形成有逐漸變細(xì)的具有三角形(鈍角)截面的末端邊 緣部111、121,末端邊緣部111、121的位置對(duì)齊。
      [0078]作為實(shí)施例2示于圖2C的元件10a與實(shí)施例1的不同點(diǎn)在于:末端邊緣部llla、121a 形成了銳角三角形的截面。
      [0079]作為實(shí)施例3示于圖2D的元件10b與實(shí)施例1的不同點(diǎn)在于:末端邊緣部lllb、121b 形成了彎曲的圓弧形的截面。其特征在于,導(dǎo)體層具有固定膜厚,并具備截面為長(zhǎng)條形的導(dǎo) 體層平面部110b、120b和位于該導(dǎo)體層平面部?jī)蓚?cè)的平滑彎曲的截面為圓弧形的導(dǎo)體層末 端邊緣部lllb、121b。
      [0080] 作為比較例2示于圖3A的元件10y與比較例1的不同點(diǎn)在于:雖然導(dǎo)體層110y、120y 同樣具有四邊形的端面,但端面位置沒(méi)有對(duì)齊。
      [0081] 作為實(shí)施例4示于圖3B的元件10c與實(shí)施例1的不同點(diǎn)在于:雖然在導(dǎo)體層110c、 120c同樣形成有逐漸變細(xì)的具有三角形(鈍角)截面的末端邊緣部lllc、121c,但末端邊緣 部lllc、121c的位置沒(méi)有對(duì)齊。
      [0082]作為實(shí)施例5示于圖3C的元件10d與實(shí)施例2的不同點(diǎn)在于:雖然在導(dǎo)體層110d、 120d同樣形成有逐漸變細(xì)的具有三角形(銳角)截面的末端邊緣部llld、121d,但末端邊緣 部llld、121d的位置沒(méi)有對(duì)齊。
      [0083]作為實(shí)施例6示于圖3D的元件10e與實(shí)施例3的不同點(diǎn)在于:雖然同樣形成了末端 邊緣部llle、121e彎曲的圓弧形的截面,但末端邊緣部llle、121e的位置沒(méi)有對(duì)齊。
      [0084] 此處,參照?qǐng)D4A、圖4B、圖4C、圖4D、圖5A、圖5B、圖5C、圖就當(dāng)向一對(duì)導(dǎo)體層之間 施加固定電壓時(shí)產(chǎn)生在檢測(cè)部平面上的電場(chǎng)強(qiáng)度分布,對(duì)比較例1、實(shí)施例1~3、比較例2、 實(shí)施例4~6中的模擬結(jié)果的差異進(jìn)行說(shuō)明。
      [0085]由圖4A所示可知:就比較例1而言,其在導(dǎo)體層llz、12z的角部產(chǎn)生強(qiáng)電場(chǎng)集中,一 對(duì)平面部110z、120z之間的電場(chǎng)強(qiáng)度變得均勻的區(qū)域中的電場(chǎng)強(qiáng)度相對(duì)降低。
      [0086]由圖4B如所示可知:就實(shí)施例1而言,電場(chǎng)集中部分散在各末端邊緣部111、121這 三處,電場(chǎng)集中的比例相對(duì)降低,平面部110、120之間電場(chǎng)強(qiáng)度變得均勻的區(qū)域中的電荷強(qiáng) 度與此相對(duì)應(yīng)地相對(duì)升高。
      [0087]由圖4C所示可知:就實(shí)施例2而言,其進(jìn)一步抑制了電場(chǎng)集中,平面部110a、120a之 間的電場(chǎng)強(qiáng)度變得均勻的區(qū)域中的電荷強(qiáng)度與此相對(duì)應(yīng)地變得最高。
      [0088]由圖4D所示可知:就實(shí)施例3而言,其電場(chǎng)集中也得到抑制,平面部110b、120b之間 的電場(chǎng)強(qiáng)度變得均勻的區(qū)域中的電荷強(qiáng)度相對(duì)升高。
      [0089] 接著,對(duì)端面位置沒(méi)有對(duì)齊的情況進(jìn)行觀察,由圖5A所示可知:就比較例2而言,電 場(chǎng)集中與比較例1相比更加得到了抑制,一對(duì)平面部110y、120y之間的電場(chǎng)強(qiáng)度變得均勻的 區(qū)域中的電場(chǎng)強(qiáng)度與比較例1相比相對(duì)升高。
      [0090] 另一方面,就實(shí)施例4、5可知:它們與實(shí)施例1、2相比反而引起了電荷集中,一對(duì)平 面部110(:、110(1、120(3、120(1之間的電場(chǎng)強(qiáng)度變得均勻的區(qū)域中的電場(chǎng)強(qiáng)度與實(shí)施例1、2相 比相對(duì)降低。
      [0091] 但是,就實(shí)施例6可知:電場(chǎng)集中與實(shí)施例3相比更加得到了抑制,一對(duì)平面部 110e、120e之間的電場(chǎng)強(qiáng)度變得均勻的區(qū)域中的電場(chǎng)強(qiáng)度與實(shí)施例3相比相對(duì)升高。
      [0092 ]此處,參照?qǐng)D6對(duì)本申請(qǐng)的實(shí)施例7的元件1 Of進(jìn)行說(shuō)明。
      [0093] 本實(shí)施例對(duì)于檢測(cè)部13f,在末端邊緣部lllf、121f的全部和平面部110f、120f?的 一部分以覆蓋電場(chǎng)強(qiáng)度不均勻的區(qū)域的方式設(shè)置玻璃、氧化鋁等公知的絕緣性材料或者由 與絕緣層100相同材質(zhì)形成的屏蔽層14。
      [0094] 此外,設(shè)置屏蔽層14的構(gòu)成可以用于上述實(shí)施例1~6中的任意實(shí)施例。
      [0095] 此處,參照?qǐng)D7A、圖7B,對(duì)為了確認(rèn)本申請(qǐng)的效果而進(jìn)行的試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行說(shuō)明。在 被測(cè)定氣體流道內(nèi)使元件10的檢測(cè)部13露出,由電源部2施加規(guī)定電壓,流通已知量的顆粒 狀物質(zhì),在這種情況下至在檢測(cè)部13沉積一定量以上的顆粒狀物質(zhì)為止,存在無(wú)法檢測(cè)出 顆粒狀物質(zhì)的不靈敏質(zhì)量Q0(不靈敏期間)。
      [0096] 因此,除了上述比較例1、比較例2、實(shí)施例1~7以外,對(duì)于不設(shè)置中間層而形成了 與比較例1相同的導(dǎo)體層的比較例3、在比較例2中設(shè)置了上述屏蔽層14的比較例4、在實(shí)施 例6中設(shè)置了屏蔽層的實(shí)施例8,在投入已知量的顆粒狀物質(zhì)的情況下,就各實(shí)施例和比較 例分別準(zhǔn)備多個(gè)樣品,對(duì)至檢測(cè)出顆粒狀物質(zhì)為止的不靈敏質(zhì)量Q〇進(jìn)行了測(cè)定。
      [0097]由圖7A所示可知:就比較例1而言,雖然不靈敏質(zhì)量Qo的平均值y2小,能夠較早地檢 測(cè)出顆粒狀物質(zhì),但樣品之間的偏差〇2大。
      [0098]另一方面,就實(shí)施例1可知:雖然不靈敏質(zhì)量Qo的平均值講大于比較例1的不靈敏質(zhì) 量,但樣品之間的偏差~非常小。
      [0099] 這推測(cè)是因?yàn)椋捅容^例1而言,在導(dǎo)體層llz、12z的端面的角部產(chǎn)生強(qiáng)的電場(chǎng)集 中,顆粒狀物質(zhì)被集中在其表面的電荷吸引,局部地沉積,因而可較早地形成導(dǎo)通通路。
      [0100] 但是,就角部上的電場(chǎng)集中而言,可以認(rèn)為樣品之間的變動(dòng)大,不穩(wěn)定。
      [0101]因此,對(duì)使用了變異系數(shù)的樣品進(jìn)行了評(píng)價(jià)。具體來(lái)說(shuō),對(duì)變異系數(shù) CV (lOOV^7///) (%)進(jìn)行計(jì)算,從而對(duì)各樣品進(jìn)行了評(píng)價(jià)。將其評(píng)價(jià)結(jié)果示于圖7B。
      [0102] 就比較例2可知:雖然偏差與比較例1相比變小,但實(shí)施例1~7中的任意實(shí)施例與 比較例1~4相比均能夠減小變異系數(shù),本申請(qǐng)具有實(shí)現(xiàn)使得作為傳感器的可靠性提高的效 果。
      [0103] 可以認(rèn)為:通過(guò)在導(dǎo)體層11、12的兩端面設(shè)置截面為三角形或圓弧形的末端邊緣 部lll、121、llla、121a、lllb、121b、lllc、121c、llld、121d、llle、121e,可抑制電場(chǎng)集中,抑 制顆粒狀物質(zhì)局部沉積到導(dǎo)體層11、12的端部。
      [0104] 此外,就末端邊緣部llla、121a推測(cè):其截面為銳角三角形,因而容易發(fā)生電場(chǎng)集 中的頂點(diǎn)之間的距離變長(zhǎng),從而至一對(duì)末端邊緣部llla、121a之間形成導(dǎo)通通路為止的時(shí) 間也變長(zhǎng)。
      [0105] 此處,參照?qǐng)D8A、圖8B、圖8C、圖8D,對(duì)作為上述比較例1、比較例2、實(shí)施例1、實(shí)施例 2示出的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件10z、10y、10、10a的各制造方法進(jìn)行說(shuō)明。
      [0106] 比較例1示出了將導(dǎo)體層llz、12z和絕緣層100z交替層疊并將截面用作檢測(cè)部13z 的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件l〇z的基本制造方法。
      [0107] 將氧化鋁等絕緣性材料與公知的結(jié)合材料、增塑劑、分散劑、溶劑等混合、攪拌,由 此形成漿料,以刮刀法等公知的制法形成為片狀,得到絕緣性片100ZGS。
      [0108] 將其在未圖示的沖裁工序P0z中,預(yù)先用模具等根據(jù)需要鉆出用于對(duì)準(zhǔn)印刷位置 的導(dǎo)引孔(guide)、用于埋設(shè)以將極性共通的導(dǎo)體層彼此連接為目標(biāo)的通孔電極114z、124z 的通孔等,并且沖裁成規(guī)定外形形狀。
      [0109] 在印刷工序Plz中,將導(dǎo)體糊從形成有規(guī)定導(dǎo)體圖案的厚膜印刷用絲網(wǎng)排出,將導(dǎo) 體層印刷膜11zPRT、12zPRT轉(zhuǎn)印至絕緣層片100zGS。
      [0110]此時(shí),如圓內(nèi)放大示出的那樣,由于糊的流變特性和表面張力的影響,雖然極少, 但中心附近的膜厚變薄,外周附近的膜厚變厚。
      [0111]就比較例1而言,使用包含與構(gòu)成絕緣層l〇〇z的絕緣性材料相同的材料的糊,通過(guò) 厚膜印刷,以與導(dǎo)體層印刷膜11zPRT、12zPRT相同的膜厚按照覆蓋除了導(dǎo)體層以外的部分 的方式形成了中間層l〇lz。
      [0112]在隨后的層疊壓接工序P2z中,按照導(dǎo)體層印刷膜11zPRT、12zPRT的極性交替替換 的方式堆積絕緣層片lOOzGS,用模具等進(jìn)行壓接。
      [0113] 在對(duì)如此得到的層疊結(jié)構(gòu)體進(jìn)行燒成的燒成工序P3z中,對(duì)導(dǎo)體層llz、12z和絕緣 層100z同時(shí)進(jìn)行燒成,形成一體。
      [0114] 之后,進(jìn)行切削、研磨等,由此完成使導(dǎo)體層llz、12z的截面露出來(lái)作為檢測(cè)部13z 的元件l〇z。
      [0115] 就比較例1而言,由于設(shè)置有中間層101z,因此在層疊壓接時(shí)基本上沒(méi)有導(dǎo)體層印 刷膜11 zPRT、12zPRT和導(dǎo)體層片110z的變形,元件10z的機(jī)械強(qiáng)度優(yōu)異,但導(dǎo)體層11 z、12z維 持了截面為長(zhǎng)條形的形狀。
      [0116] 但是,當(dāng)對(duì)兩導(dǎo)體層之間施加電壓時(shí),電場(chǎng)向角部的集中大,如上所述可知不靈敏 質(zhì)量的偏差大。
      [0117] 此外,作為比較例2示出的元件10y以與比較例1相同的制造法為基礎(chǔ),在層疊壓接 工序中有意錯(cuò)開導(dǎo)體層lly、12y端面的位置來(lái)進(jìn)行層疊。
      [0118] 參照?qǐng)D8B,對(duì)作為比較例3示出的元件10x的制造工序的概要和比較例3的問(wèn)題進(jìn) 行說(shuō)明。
      [0119] 就比較例3而言,如印刷工序Plx所示,對(duì)沖裁成規(guī)定形狀的絕緣層片lOOxGS僅進(jìn) 行導(dǎo)體層110x、120x的印刷,不設(shè)置中間層而前進(jìn)至層疊壓接工序P2x。
      [0120] 在層疊壓接工序P2x中,導(dǎo)體層印刷膜11xPRT、12xPRT比絕緣層片lOOxGS硬,因此 層疊壓接時(shí)絕緣層片lOOxGS發(fā)生彈性變形,導(dǎo)體層印刷膜11xPRT、12xPRT陷入絕緣層片 lOOxGS內(nèi),從而絕緣層片lOOxGS彼此密合。
      [0121] 此時(shí),如圖8B的層疊壓接工序P2x的圓內(nèi)放大示出的那樣,在導(dǎo)體層印刷膜 11 xPRT、12xPRT的兩側(cè)形成有截面為三角形的空隙。
      [0122] 通過(guò)之后的燒成工序P3x,以使空隙的表面積變小的方式進(jìn)行燒結(jié),因此空隙縮 小,但未完全消失,有可能以空洞(void)的形式殘留或成為分層(delamination)的起因。
      [0123] 另外,燒成后的導(dǎo)體層llx、12x的端面形成多邊形或扭曲的形狀,與上述比較例2 同樣地,在角部容易發(fā)生電場(chǎng)的集中。
      [0124] 參照?qǐng)D8C,對(duì)本申請(qǐng)的實(shí)施例1的制造工序的概要進(jìn)行說(shuō)明。
      [0125] 本實(shí)施方式通過(guò)與比較例1相同的工序,對(duì)所形成的絕緣層片100GS鉆出用于定位 的導(dǎo)引孔和根據(jù)需要設(shè)置的通孔并且沖裁成規(guī)定外形形狀的沖裁工序P0中,在沖裁絕緣層 片100GS的同時(shí),與印刷形成導(dǎo)體層110、120的位置相對(duì)應(yīng)地,形成設(shè)置有與規(guī)定的導(dǎo)體層 末端邊緣部111、121的形狀相對(duì)應(yīng)的凹部101的凹片100P⑶。
      [0126] 具體來(lái)說(shuō),在沖裁用模具設(shè)置用于形成凹部101的突起,對(duì)絕緣層片100GS的表面 進(jìn)行擠壓。
      [0127] 由此,可以在形成導(dǎo)體層末端邊緣部111、121的部分形成以所期望的角度傾斜的 錐面。
      [0128] 其結(jié)果是,在印刷工序P1中,即便進(jìn)行通常的厚膜印刷,導(dǎo)體層末端邊緣部111、 121的與絕緣層片100GS接觸的一側(cè)也沿著凹部101的形狀傾斜。
      [0129] 另外,在凹片100PCD的下面?zhèn)纫残纬捎邪疾?01,因此在層疊壓接工序P1中進(jìn)行堆 積時(shí),與導(dǎo)體層印刷膜110、120的密合性提高,不會(huì)形成比較例2那樣的空洞。
      [0130] 此外,即便不設(shè)置比較例1中所用那樣的中間層,也可以簡(jiǎn)單地使絕緣層片100GS 彼此密合。
      [0131 ]其結(jié)果是,當(dāng)通過(guò)燒成工序P3使導(dǎo)體層11、12與絕緣層100-體化時(shí),能夠形成不 易發(fā)生分層的元件10。
      [0132] 此外,能夠?qū)?dǎo)體層末端邊緣部111、121形成為截面逐漸變細(xì)的三角形,因而可以 容易地實(shí)現(xiàn)電場(chǎng)集中得到了抑制的元件10。
      [0133] 參照?qǐng)D8D,對(duì)本申請(qǐng)的實(shí)施例2的制造工序的概要進(jìn)行說(shuō)明。
      [0134] 就本實(shí)施方式中的導(dǎo)體印刷工序Pla而言,其與上述實(shí)施方式的不同點(diǎn)在于:在絕 緣層片100(GS)印刷形成導(dǎo)體層11、12時(shí),使用了開口率部分變更印刷用絲網(wǎng)??1^?1^,該 開口率部分變更印刷用絲網(wǎng)PPM、PPMA是以使絲網(wǎng)開口率部分地變化來(lái)使得印刷的膜厚在 規(guī)定位置變薄的方式進(jìn)行了設(shè)定的。
      [0135] 參照?qǐng)D9A、圖9B、圖10,對(duì)開口率部分變更印刷用絲網(wǎng)PPM、PPMA在下文進(jìn)行說(shuō)明。 本實(shí)施方式中,通過(guò)使用開口率部分變更印刷用絲網(wǎng)PPM,能夠抑制從開口率設(shè)定得較低的 部分排出的導(dǎo)體糊的量,減小由此形成的導(dǎo)體層的膜厚,形成具有向外側(cè)逐漸變細(xì)的銳角 傾斜面的截面為三角形的導(dǎo)體層末端邊緣部llla、121a。
      [0136] 這樣,利用堆積模具(疊模)等對(duì)形成有具有截面為三角形的導(dǎo)體層末端邊緣部 11 la、121a的導(dǎo)體層11a、12a的絕緣層片100GS進(jìn)行壓接,由此導(dǎo)體層11a、12a陷入絕緣層 100GS,同時(shí)絕緣層100GS彼此形成密合狀態(tài)。
      [0137] 此時(shí),導(dǎo)體層末端邊緣部llla、121a形成逐漸變細(xì)的三角形,因而不會(huì)形成比較例 2所示那樣的空隙。
      [0138] 通過(guò)在燒成工序P3a中對(duì)如此形成的層疊結(jié)構(gòu)體進(jìn)行燒成,能夠極容易地形成導(dǎo) 體端面附近的電場(chǎng)集中得到了抑制的元件l〇a。
      [0139] 參照?qǐng)D9A、圖9B,對(duì)用于制造本申請(qǐng)的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件10的開口率部分降低 絲網(wǎng)M的特征以及使用了該開口率部分降低絲網(wǎng)M時(shí)所形成的導(dǎo)體層11、12的形狀進(jìn)行說(shuō) 明。
      [0140] 此外,本圖僅示出了在一對(duì)導(dǎo)體層11、12之中形成一個(gè)導(dǎo)體層平面部110、導(dǎo)體層 末端邊緣部111的圖案,由于另一個(gè)導(dǎo)體層平面部120、導(dǎo)體層末端邊緣部121是將這一個(gè)圖 案左右反轉(zhuǎn)而成的圖案,因此省略另一個(gè)圖案,并對(duì)共通的構(gòu)成如110/120這樣并排記載符 號(hào)。
      [0141] 本實(shí)施方式使用了開口率部分降低絲網(wǎng)M,該開口率部分降低絲網(wǎng)M對(duì)通常用于厚 膜印刷的厚膜印刷用絲網(wǎng)的一部分進(jìn)行乳制來(lái)使其部分平坦化,在減小絲網(wǎng)厚度的同時(shí)降 低絲網(wǎng)開口率。
      [0142] 抗蝕膜R與常規(guī)的厚膜印刷同樣地對(duì)印刷用絲網(wǎng)涂布乳劑,使與導(dǎo)體層平面部 110、120的形狀相對(duì)應(yīng)的圖案曝光、固化,由此形成為規(guī)定印刷圖案。
      [0143] 如圖9A、圖9B所示,由于印刷形成導(dǎo)體層末端邊緣部111、121的部分的掩模M2的截 面方向的厚度薄,平面方向的線寬變寬,因而印刷形成導(dǎo)體層末端邊緣部111、121的部分的 開口率即末端邊緣部形成用開口率P m、P121低于形成導(dǎo)體層平面部110的部分的掩模Ml的 開口率即平面部形成用開口率Pm、Pm。
      [0144] 因此,如圖9B所示,在印刷形成導(dǎo)體層平面部110、120時(shí),從掩模M2排出的糊量變 少,導(dǎo)體層末端邊緣部111、121的膜厚比導(dǎo)體層平面部110、120的膜厚薄。
      [0145] 參照?qǐng)D10,對(duì)開口率部分降低絲網(wǎng)的變形例MA進(jìn)行說(shuō)明。
      [0146] 上述實(shí)施方式作為示例示出了對(duì)厚膜印刷用絲網(wǎng)的一部分進(jìn)行加壓來(lái)降低了開 口率的開口率部分降低絲網(wǎng)M,但如本圖所示,開口率部分降低絲網(wǎng)MA通過(guò)使與印刷導(dǎo)體層 平面部110、120的掩模Ml A相比提高印刷導(dǎo)體層末端邊緣部111、121的掩模M2A的煒線與經(jīng) 線的織造密度,使末端邊緣部形成用開口率PmA/PmA低于平面部形成用開口率PnoA/ Pl2〇Ao
      [0147] 就本實(shí)施方式中的開口率部分降低絲網(wǎng)MA而言,以形成規(guī)定導(dǎo)體圖案的方式在預(yù) 先部分調(diào)整了開口率的絲網(wǎng)上形成了抗蝕膜R。
      [0148] 由此,在印刷了導(dǎo)體層11、12時(shí),從掩模M2A排出的導(dǎo)體糊量在導(dǎo)體層末端邊緣部 11U121得到抑制,能夠形成為比導(dǎo)體層平面部110、120更薄的膜厚。另外,通過(guò)向外側(cè)慢慢 地提高織造密度,能夠使導(dǎo)體層末端邊緣部111、121的膜厚向外側(cè)慢慢地變薄,能夠形成逐 漸變細(xì)的截面三角形。
      [0149] 此外,上述實(shí)施方式示出了能夠在沖裁工序P0和印刷工序P1分別使導(dǎo)體層末端邊 緣部111、121形成為所期望的形狀的方法,但也可以將它們進(jìn)行組合。
      [0150] 另外,就層疊壓接工序,以將導(dǎo)體層11、12干燥后進(jìn)行層疊壓接的情況作為了示 例,但也可以以導(dǎo)體層11、12未干燥的狀態(tài)進(jìn)行層疊壓接。
      [0151] 特別是,當(dāng)在沖裁工序P0中在絕緣層片100(GS)設(shè)置有凹部10時(shí),若導(dǎo)體層11、12 以未干燥狀態(tài)進(jìn)行層疊壓接,則導(dǎo)體層11、12會(huì)隨著凹部10的形狀而流動(dòng)變形,因而能夠?qū)?導(dǎo)體層末端邊緣部111、121形成為所期望的形狀。
      [0152] 另外,上述實(shí)施方式示出了在層疊壓接工序P3中不使用比較例1所示那樣的由絕 緣性材料形成的中間層101的方法,但在導(dǎo)體層末端邊緣部111、121的形狀預(yù)先形成為逐漸 變細(xì)的三角形的截面或平緩地彎曲的圓弧形的截面的情況下,也可以在印刷工序中用由絕 緣性材料形成的糊來(lái)印刷形成中間層101。
      [0153] 通過(guò)使用中間層101,能夠緩和層疊壓接時(shí)作用于絕緣層片100的剪切應(yīng)力,提高 元件10的機(jī)械強(qiáng)度,或者在燒成時(shí)抑制裂紋的產(chǎn)生。
      [0154] 除了提高檢測(cè)精度以外,還可以期待元件10實(shí)現(xiàn)提高耐久性的效果。
      [0155] 符號(hào)說(shuō)明
      [0156] 1 顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)傳感器
      [0157] 1〇 顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件
      [0158] 1〇〇 絕緣層
      [0159] 11、12 導(dǎo)體層
      [0160] 110,120 導(dǎo)體層平面部
      [0161] 111、121 導(dǎo)體層末端邊緣部
      [0162] 13 檢測(cè)部
      [0163] 14 絕緣保護(hù)層
      [0164] 2 電源部
      [0165] 3 測(cè)定部
      [0166] p〇 沖裁工序
      [0167] P1 導(dǎo)體層印刷工序
      [0168] P2 層疊壓接工序
      [0169] P3 燒成工序
      [0170] Pm、PmA、Pm、PmA末端邊緣部形成用開口率
      [0171] PntKPnoAJuPmA平面部形成用開口率
      [0172] M、MA 開口率部分降低絲網(wǎng)
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1. 一種顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件(10、l〇a、10c、lOcUlOf),其特征在于,其對(duì)隨著沉積的顆 粒狀物質(zhì)的量而變化的電特性進(jìn)行計(jì)測(cè),并用于對(duì)被測(cè)定氣體中的顆粒狀物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè), 其具有: 平板狀導(dǎo)體層(11、11a、11c、lid、Ilf、12、12a、12c、12d、12f); 平板狀絕緣層(100、l〇〇a、100c、100c、IOOcU IOOf); 將所述導(dǎo)體層與所述絕緣層交替堆積而成的層疊結(jié)構(gòu);以及 在所述層疊結(jié)構(gòu)的截面使所述導(dǎo)體層具有極性不同的一對(duì)檢測(cè)電極并且沉積所述顆 粒狀物質(zhì)的檢測(cè)部(13、13a、13c、13d、13f), 其中,所述導(dǎo)體層具有固定膜厚,并具備截面為長(zhǎng)條形的導(dǎo)體層平面部(ll〇、ll〇a、 110c、IlOcU IlOf、120、120a、120c、120d、120f)和位于該導(dǎo)體層平面部?jī)蓚?cè)的逐漸變細(xì)的截 面為三角形的導(dǎo)體層末端邊緣部(111、111a、111c、11 ld、11 lf、121、121a、121c、121d、 121f)〇2. -種顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件(10b、IOe、IOg),其特征在于,其對(duì)隨著沉積的顆粒狀物質(zhì) 的量而變化的電特性進(jìn)行計(jì)測(cè),并用于對(duì)被測(cè)定氣體中的顆粒狀物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè), 其具有: 平板狀導(dǎo)體層(1113、116、1]^、1213、126、12區(qū)); 平板狀絕緣層(l〇〇b、100e、100g); 將所述導(dǎo)體層與所述絕緣層交替堆積而成的層疊結(jié)構(gòu);以及 在所述層疊結(jié)構(gòu)的截面使所述導(dǎo)體層具有極性不同的一對(duì)檢測(cè)電極并且沉積所述顆 粒狀物質(zhì)的檢測(cè)部(13b、13e、13g), 其中,所述導(dǎo)體層具有固定膜厚,并具備截面為長(zhǎng)條形的導(dǎo)體層平面部(110b、110e、 110g、120b、120e、120g)和位于該導(dǎo)體層平面部?jī)蓚?cè)的平滑彎曲的截面為圓弧形的導(dǎo)體層 末端邊緣部(111b、llle、lllg、121b、121e、121g)。3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件(10f、10g),其由絕緣性材料形成,并 具備覆蓋所述導(dǎo)體層末端邊緣部的全部和所述導(dǎo)體層平面部的一部分的屏蔽層(14)。4. 一種顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)傳感器(I、Ia~Ig),其對(duì)存在于被測(cè)定氣體中的顆粒狀物質(zhì)進(jìn) 行檢測(cè),其具備:權(quán)利要求1~3中任一項(xiàng)所述的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件(10、10a~IOg);向所 述一對(duì)檢測(cè)電極之間施加電壓的電源部(2);以及計(jì)測(cè)部(3),該計(jì)測(cè)部(3)使通過(guò)由該電源 部向所述檢測(cè)電極之間施加電壓而產(chǎn)生的電場(chǎng)對(duì)存在于被測(cè)定氣體中的顆粒狀物質(zhì)起作 用來(lái)將顆粒狀物質(zhì)收集到所述檢測(cè)部,對(duì)隨著顆粒狀物質(zhì)沉積到所述檢測(cè)部而變化的所述 一對(duì)檢測(cè)電極之間的電特性進(jìn)行計(jì)測(cè)。5. 權(quán)利要求1~3中任一項(xiàng)所述的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件的制造方法,其特征在于,其至 少包括下述工序: 沖裁工序(PO),在該工序中,對(duì)由絕緣性材料形成的絕緣層片鉆出用于定位的導(dǎo)引孔 和根據(jù)需要設(shè)置的通孔,并且沖裁成規(guī)定外形形狀; 厚膜印刷工序(Pl),在該工序中,在由該沖裁工序得到的絕緣層片(100GS)上通過(guò)使由 導(dǎo)電性材料形成的導(dǎo)體糊從形成了規(guī)定導(dǎo)體層圖案的厚膜印刷用絲網(wǎng)排出來(lái)形成規(guī)定形 狀的導(dǎo)體層印刷膜(11PRT、11aPRT、12PRT、12aPRT); 層疊壓接工序(P2),在該工序中,通過(guò)使由該厚膜印刷工序得到的施加了導(dǎo)體層的絕 緣層片堆積并進(jìn)行壓接;以及 燒成工序(P3),在該工序中,通過(guò)對(duì)由該層疊壓接工序得到的層疊結(jié)構(gòu)體進(jìn)行燒成來(lái) 形成為一體, 其中,所述沖裁工序在沖裁所述絕緣層片的同時(shí),與印刷形成所述導(dǎo)體層的位置相對(duì) 應(yīng)地形成設(shè)置有與規(guī)定導(dǎo)體層末端邊緣部的形狀相對(duì)應(yīng)的凹部(101)的凹片(100PCD)。6. 權(quán)利要求1~3中任一項(xiàng)所述的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件的制造方法,其特征在于,其至 少包括下述工序: 沖裁工序(PO),在該工序中,對(duì)由絕緣性材料形成的絕緣層片鉆出用于定位的導(dǎo)引孔 和根據(jù)需要設(shè)置的通孔,并且沖裁成規(guī)定外形形狀; 厚膜印刷工序(Pl),在該工序中,在由該沖裁工序得到的絕緣層片上通過(guò)使由導(dǎo)電性 材料形成的導(dǎo)體糊從形成了規(guī)定導(dǎo)體層圖案的厚膜印刷用絲網(wǎng)排出來(lái)形成規(guī)定形狀的導(dǎo) 體層印刷膜; 層疊壓接工序(P2),在該工序中,通過(guò)使由該厚膜印刷工序得到的施加了導(dǎo)體層的絕 緣層片堆積并進(jìn)行壓接;以及 燒成工序(P3),在該工序中,通過(guò)對(duì)由該層疊壓接工序得到的層疊結(jié)構(gòu)體進(jìn)行燒成來(lái) 形成為一體, 其中,在所述厚膜印刷工序(P1)中與規(guī)定的導(dǎo)體層末端邊緣部(I 11PRT、121PRT)的形 狀相對(duì)應(yīng)地使用開口率部分降低絲網(wǎng)(M、MA),該開口率部分降低絲網(wǎng)(M、MA)在所述厚膜印 刷用絲網(wǎng)的形成所述導(dǎo)體層末端邊緣部的位置處的開口率即末端邊緣部形成用開口率 (Pill、P111A、P121、P121A)低于在用于形成所述導(dǎo)體層平面部的位置處的開口率即平面部 形成用開口率(Ρ11〇、Ρ11〇Α、Ρ120、Ρ120Α)。7. 權(quán)利要求1~3中任一項(xiàng)所述的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件的制造方法,其特征在于,其至 少包括下述工序: 沖裁工序(PO),在該工序中,對(duì)由絕緣性材料形成的絕緣層片鉆出用于定位的導(dǎo)引孔 和根據(jù)需要設(shè)置的通孔,并且沖裁成規(guī)定外形形狀; 厚膜印刷工序(Pl),在該工序中,在由該沖裁工序得到的絕緣層片(100GS)上通過(guò)使由 導(dǎo)電性材料形成的導(dǎo)體糊從形成了規(guī)定導(dǎo)體層圖案的厚膜印刷用絲網(wǎng)排出來(lái)形成規(guī)定形 狀的導(dǎo)體層印刷膜(11PRT、11aPRT、12PRT、12aPRT); 層疊壓接工序(P2),在該工序中,通過(guò)使由該厚膜印刷工序得到的施加了導(dǎo)體層的絕 緣層片堆積并進(jìn)行壓接;以及 燒成工序(P3),在該工序中,通過(guò)對(duì)由該層疊壓接工序得到的層疊結(jié)構(gòu)體進(jìn)行燒成來(lái) 形成為一體, 其中,所述沖裁工序在沖裁所述絕緣層片的同時(shí),與印刷形成所述導(dǎo)體層的位置相對(duì) 應(yīng)地形成設(shè)置有與規(guī)定導(dǎo)體層末端邊緣部的形狀相對(duì)應(yīng)的凹部(101)的凹片(100PCD), 并且在所述厚膜印刷工序中與規(guī)定的導(dǎo)體層末端邊緣部(111 PRT、121PRT)的形狀相對(duì) 應(yīng)地使用開口率部分降低絲網(wǎng)(M、MA),該開口率部分降低絲網(wǎng)(M、MA)在所述厚膜印刷用絲 網(wǎng)的形成所述導(dǎo)體層末端邊緣部的位置處的開口率即末端邊緣部形成用開口率(Plll、 P111A、P121、P121A)低于在用于形成所述導(dǎo)體層平面部的位置處的開口率即平面部形成用 開口率(P110、P110A、P120、P120A)。8.根據(jù)權(quán)利要求5~7中任一項(xiàng)所述的顆粒狀物質(zhì)檢測(cè)元件的制造方法,其中,在所述 層疊壓接工序中,所述導(dǎo)體層在未干燥狀態(tài)的期間進(jìn)行層疊壓接。
      【文檔編號(hào)】G01N27/04GK105899934SQ201580004118
      【公開日】2016年8月24日
      【申請(qǐng)日】2015年1月9日
      【發(fā)明人】小池和彥, 今川弘勝
      【申請(qǐng)人】株式會(huì)社電裝
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