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      一種可更換測試線材的差動探棒的制作方法

      文檔序號:8562468閱讀:420來源:國知局
      一種可更換測試線材的差動探棒的制作方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實用新型涉及用于無源測試的差動探棒,更具體地說,本實用新型涉及一種可更換測試線材的差動探棒。
      【背景技術(shù)】
      [0002]在應用網(wǎng)絡分析儀量測印刷電路板的通道特性時,印刷電路板上的走線需與SMA接口連接,并與儀器纜線接合進行量測,這樣在測試時電路板一側(cè)需要放置數(shù)排SMA接口。而隨著時代的發(fā)展與科技的進步,印刷電路板制作越來越精密,測試焊墊之間的距離越來越小,印刷電路板上的線路往往很密集,功能的多樣化導致線路數(shù)量越來越多,因此在測試時SMA接口占據(jù)了大量的空間,但印刷電路板可用于測試的空間有限,且并非每一條線路都可以使用這種方法測試,這將無法滿足網(wǎng)絡分析儀在印刷電路板上的測量應用,減少了網(wǎng)絡分析儀應用領(lǐng)域,對高速印刷電路板的設(shè)計驗證帶來了很多不確定因素。
      [0003]現(xiàn)有技術(shù)中,設(shè)計了一種無源探棒,主要由棒身與測試電纜組成,但是這種探棒主要應用于時域反射計的阻抗測試,所測試的印刷電路板的帶寬較低,范圍較小,若將其運用于網(wǎng)絡分析儀上,不僅測試損耗很大,使用壽命短,且測試電纜與測試探棒為一體化產(chǎn)品,無法拆卸更換,也不可根據(jù)測試點之間的距離調(diào)整測試探針之間的距離。
      【實用新型內(nèi)容】
      [0004]本實用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種可更換測試線材的差動探棒,以滿足不同帶寬測試的需求,直接使用電測的方式進行無源測試,使印刷電路板上無需預留用于測試的SMA接口的空間,且可以調(diào)整測試間距滿足印刷電路板密集電路之間不同測試距離的要求。
      [0005]為了實現(xiàn)上述技術(shù)目的,本實用新型提供了一種可更換測試線材的差動探棒,包括夾持部,所述夾持部設(shè)置有兩個可拆裝的探針室,兩個所述探針室內(nèi)分別設(shè)置有高帶寬可更換的測試線材,所述測試線材包括第一測試探針和第二測試探針,兩個所述探針室成夾角設(shè)置,對應所述第一測試探針與所述第二測試探針為夾角設(shè)置所述夾持部還設(shè)置有調(diào)整總成,用于調(diào)整所述第一測試探針與所述第二測試探針之間的距離。
      [0006]作為優(yōu)選,所述第一測試探針和所述第二測試探針的電氣連接端與探針頭均穿過所述探針室露出于所述夾持部之外,所述第一測試探針與所述第二測試探針的高帶寬為OGHz至20GHz帶寬測試需求的同軸電纜。
      [0007]作為優(yōu)選,兩個所述探針室的角度范圍小于60度。
      [0008]作為優(yōu)選,所述調(diào)整總成包括設(shè)置在兩個探針室之間穿過所述夾持部的調(diào)整孔、并且露出所述調(diào)整孔外表面的調(diào)整滾輪,所述調(diào)整滾輪的軸向中心固定設(shè)置有調(diào)整軸,所述調(diào)整軸兩端對稱螺紋連接有設(shè)置在夾持部內(nèi)部的第一螺紋組件和第二螺紋組件,所述第一螺紋組件固定連接所述第一測試探針,所述第二螺紋組件固定連接所述第二測試探針,當轉(zhuǎn)動所述調(diào)整滾輪時,通過調(diào)整軸帶動所述第一螺紋組件與第二螺紋組件移動,從而帶動所述第一測試探針和第二測試探針移動。
      [0009]作為優(yōu)選,所述第一螺紋組件包括左旋螺牙、第一螺帽零件、第一螺套零件,所述第一螺帽零件垂直設(shè)置在所述左旋螺牙內(nèi)并與所述調(diào)整軸的一端螺紋連接,所述左旋螺牙水平固定連接有第一螺套零件,所述第一測試探針固定在所述第一螺套零件的通孔中;所述第二螺紋組件包括右旋螺牙、第二螺帽零件、第二螺套零件,所述第二螺帽零件垂直設(shè)置在所述右旋螺牙內(nèi)并與所述調(diào)整軸的另一端螺紋連接,所述右旋螺牙水平固定連接有第二螺套零件,所述第二測試探針固定在所述第二螺套零件的通孔中,當所述調(diào)整滾輪轉(zhuǎn)動時,通過調(diào)整軸帶動所述左旋螺牙與右旋螺牙水平對稱移動,從而帶動所述第一螺套零件和第二螺套零件水平對稱移動,使得所述第一測試探針與第二測試探針水平對稱移動。
      [0010]作為優(yōu)選,所述第一測試探針與第二測試探針的探針頭之間的夾持部設(shè)置有LED照明燈,與所述LED照明燈連接有開關(guān)和電池,所述電池設(shè)置于所述夾持部的內(nèi)部,所述開關(guān)設(shè)置于所述夾持部的外表面,所述LED照明燈用于在測試時為測試探針底部提供照明,避免測試時因為印刷電路板線路密集且照明不佳而造成測試失誤。
      [0011 ] 作為優(yōu)選,所述夾持部向上延伸設(shè)置有電氣穩(wěn)定連接部,所述電氣穩(wěn)定連接部內(nèi)部從上至下依次設(shè)置有調(diào)整片、彈簧,所述彈簧的一端與所述電氣穩(wěn)定連接部的底部相抵,另一端與所述調(diào)整片相抵。
      [0012]作為優(yōu)選,所述電氣穩(wěn)定連接部的頂部還螺紋連接有調(diào)整旋鈕,所述調(diào)整旋鈕的帽端露出于所述電氣穩(wěn)定連接部之外,所述調(diào)整旋鈕的桿體端部與所述調(diào)整片相抵,通過向下旋轉(zhuǎn)推擠所述調(diào)整旋鈕,對所述彈簧產(chǎn)生壓力。
      [0013]作為優(yōu)選,所述電氣穩(wěn)定連接部還包括設(shè)置于所述電氣穩(wěn)定連接部的底部和彈簧之間力道指針,所述力道指針穿過所述電氣穩(wěn)定連接部的壓縮指標窗,露出于所述電氣穩(wěn)定連接部的外表面;當所述力道指針在所述壓縮指標窗窗口下端時,表明力道滿足使用,當所述力道指針在所述壓縮指標窗窗口上端時,表明力道不能滿足當前使用。
      [0014]作為優(yōu)選,所述電氣穩(wěn)定連接部向上延伸設(shè)置有機械夾持部件。
      [0015]作為優(yōu)選,所述機械夾持部件,包括設(shè)置于所述電氣穩(wěn)定連接部上端的方形框架,所述方形框架露出所述調(diào)整旋鈕,所述方形框架的頂端固定連接有手柄,所述手柄可使用機械手臂夾持。
      [0016]本實用新型的有益效果是:本實用新型通過設(shè)置探針室,使得第一測試探針與第二測試探針能夠拆卸,方便替換,采用能夠滿足20GHz帶寬測試的同軸電纜作為測試探針,即能夠同時滿足低頻與高頻的電路測試需求;通過調(diào)整總成調(diào)整所述第一測試探針與第二測試探針之間的距離,可以使探棒滿足不同測試間距,更好地適應日益精密化發(fā)展的印刷電路板的測試需求。
      [0017]此外,本實用新型通過內(nèi)部設(shè)置彈簧,使得測試時探棒對通過調(diào)整旋鈕向下推擠旋轉(zhuǎn)而產(chǎn)生的壓力產(chǎn)生力道反饋,能夠使得探棒測試時更加穩(wěn)定;在第一測試探針與第二測試探針之間設(shè)有LED照明燈,能夠在具有陰影的測試環(huán)境中使用,減小測試探針與測試點或焊盤的對位或接觸誤差,以使測試結(jié)果更加準確。
      【附圖說明】
      [0018]結(jié)合附圖,并通過參考下面的詳細描述,將會更容易地對本實用新型有更完整的理解并且更容易地理解其伴隨的優(yōu)點和特征,其中:
      [0019]圖1為本實用新型所提供的可調(diào)整測試間距的差動探棒的示意圖;
      [0020]圖2為本實用新型所提供的可調(diào)整測試間距的差動探棒的爆炸示意圖。
      [0021]圖中:10-調(diào)整滾輪,31-第一探針室,32-第二探針室,40-第一測試探針,50-第二測試探針,60-LED照明燈,70-LED照明燈開關(guān),80-力道指針,90-壓縮指標窗,100-調(diào)整片,110-方向框架,120-電池,130-彈簧,140-左旋螺牙,150-右旋螺牙,160-第一螺帽零件,170-第二螺帽零件,180-第一螺套零件,190-第二螺套零件,200-手柄,210-調(diào)整旋鈕,220-夾持部,230-電氣穩(wěn)定連接部,240-調(diào)整軸,250-調(diào)整孔。
      【具體實施方式】
      [0022]為了使本實用新型的內(nèi)容更加清楚和易懂,下面結(jié)合具體實施例和附圖對本實用新型的內(nèi)容進行詳細描述。
      [0023]請參照圖1,本實用新型提供的一種可更換測試線材的差動探棒,包括夾持部220,所述夾持部220有兩個可拆裝的探針室,分別為第一探針室31和第二探針室32,為兩個所述探針室分別設(shè)置有可更換的測試線材,所述測試線材包括第一測試探針40和第二測試探針50,所述第一測試探針40與所述第二測試探針50可測試的帶寬為OGHz到20GHz之間,兩個所述探針室成夾角設(shè)置,對應所述第一測試探針40與所述第二測試探針50為夾角設(shè)置。所述第一測試探針40和所述第二測試探針50的電氣連接端與探針頭均穿過所述探針室露出于所述夾持部220之外,所述夾持部220還設(shè)置有調(diào)整總成,用于調(diào)整所述第一測試探針40與所述第二測試探針50之間的距離。具體地,第一測試探針40的電氣連接端與探針頭均穿過第一探針室31露出于所述夾持部220之外,也就是說第一測試探針40的電氣連接端與探針頭露出于夾持部220之外,第二測試探針50的電氣連接端與探針頭露出于夾持部220之外,兩個測試探針的電氣連接端均通過線材與網(wǎng)絡分析儀等測量設(shè)備連接,探針頭均與印刷線路板的焊盤或測試點接觸連接。
      [0024]較佳地,第一探針室31與第二探針室32的角度范圍小于60度,例如15度或30度等。上述夾角設(shè)置可以使第一測試探針40和第第二測試探針50的探針頭之間的距離調(diào)整的更近,以避免第一測試探針40和第第二測試探針50平行設(shè)置時,由于探針直徑的限定而無法使兩個探針的探針頭進行調(diào)節(jié)。也就是說,兩個探針成夾角設(shè)計可以使兩個探針的探針頭之間的距離調(diào)整的更小,從而進行距離較小兩個焊盤或測試點的測量。
      [0025]較佳地,所述調(diào)整總成包括設(shè)置在兩個探針室之間穿過所述夾持部220的調(diào)整孔250、并且露出夾持部220外表面的調(diào)整滾輪10,所述調(diào)整滾輪10的軸向中心固定設(shè)置有調(diào)整軸240,所述調(diào)整軸240兩端對稱螺紋連接有設(shè)置在夾持部內(nèi)部的第一螺紋組件和第二螺紋組件,所述第一螺紋組件固定連接所述第一測試探針40,所述第二螺紋組件固定連接所述第二測試探針50,當轉(zhuǎn)動所述調(diào)整滾輪10時,通過調(diào)整軸240帶動所述第一螺紋組件與第二螺紋組件移動,從而帶動所述第一測試探針40和第二測試探針50移動,從而改變第一測試探針40和第二測試探針50之間的距離。
      [0026]較佳地,請參照圖2,所述第一螺紋組件包括左旋螺牙140、第一螺帽零件160、第一螺套零件180,所述第一螺帽零件160垂直設(shè)置在所述左旋螺牙140內(nèi)并與所述調(diào)整軸240的一端螺紋連接,所述左旋螺牙140水平固定連接有第一螺套零件180,所述第一測試探針40固定在所述第一螺套零件180的通孔中;所述第二螺紋組件包括右旋螺牙150、第二螺帽零件170、第二螺套零件190,所述第二螺帽零件170垂直設(shè)置在所述右旋螺牙150內(nèi)并與所述調(diào)整軸240的另一端螺紋連接,所述右旋螺牙150水平固定連接有第二螺套零件190,所述第二測試探針50固定在所述第二螺套零件180的通孔中,當所述調(diào)整滾輪10轉(zhuǎn)動時,通過調(diào)整軸240帶動所述
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