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      功能測試fct測試工裝和測試系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號:8606384閱讀:1189來源:國知局
      功能測試fct測試工裝和測試系統(tǒng)的制作方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實用新型涉及功能測試FCT領(lǐng)域,具體涉及功能測試FCT測試工裝和測試系統(tǒng)。
      【背景技術(shù)】
      [0002]功能測試FCT(Funct1nal Circuit Test)指的是對測試目標(biāo)板(UUT:Unit UnderTest)提供模擬的運行環(huán)境,使其工作于各種設(shè)計狀態(tài),從而獲取到各個狀態(tài)的參數(shù)來驗證UUT的功能好壞的測試方法。簡單地說,就是對UUT加載合適的激勵,測量輸出端響應(yīng)是否合乎要求。一般專指對實裝電路板PCBA (Printed Circuit Board Assembly)的功能測試。圖5是現(xiàn)有FCT測試方式示意圖,在圖5中,51為引線、52為表筆、53為接插件、54為待測電路板,現(xiàn)有技術(shù)的測試系統(tǒng)使用手動接線測試的方式,將接插頭和焊點連接到測試儀器上測試,這種測試方式測量功能偏弱,通用性較差、測試效率低下。
      【實用新型內(nèi)容】
      [0003]本實用新型提供了一種功能測試FCT測試工裝和測試系統(tǒng),以解決現(xiàn)有技術(shù)中的測試方法需要頻繁接插件,測試效率低的問題。
      [0004]為達到上述目的,本實用新型的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的:
      [0005]根據(jù)本實用新型的一個方面,提供了一種功能測試FCT測試工裝,用于對待測電路板進行功能測試,該測試工裝包括:探針工裝;
      [0006]探針工裝包括:針板和多個探針;
      [0007]多個探針分別通過多個信號線與外部的控制設(shè)備連接;
      [0008]探針工裝能夠相對于待測電路板上下運動,探針工裝向下運動時,多個探針能夠與待測電路板上的測試點一一對應(yīng)接觸進行功能測試。
      [0009]可選地,測試工裝還包括:用于放置待測電路板的載板;
      [0010]載板上設(shè)置有定位銷,用于對待測電路板進行定位固定。
      [0011]可選地,測試工裝還包括:屏蔽罩;
      [0012]屏蔽罩包括上下兩部分,上屏蔽罩與下屏蔽罩對接壓合共同形成屏蔽空間。
      [0013]可選地,探針工裝的針板安裝在上屏蔽罩上,上屏蔽罩上設(shè)置有供探針工裝的探針穿過的通孔;
      [0014]載板安裝在下屏蔽罩上;
      [0015]上屏蔽罩在探針工裝相對于載板上的待測電路板向下運動時也同步向下運動,并能夠下降到與下屏蔽罩對接壓合的位置,使得載板包含在上屏蔽罩和下屏蔽罩對接壓合形成的屏蔽空間內(nèi)。
      [0016]可選地,下屏蔽罩上還安裝有電磁密封襯墊;電池密封襯墊設(shè)置在上屏蔽罩與下屏蔽罩對接壓合的位置。
      [0017]可選地,下屏蔽罩上與上屏蔽罩對接壓合的位置設(shè)有安裝槽;
      [0018]安裝槽用于安裝電磁密封襯墊。
      [0019]可選地,針板的材料為有機玻璃纖維。
      [0020]根據(jù)本實用新型的另一個方面,提供了一種功能測試FCT測試系統(tǒng),測試系統(tǒng)包括本實用新型一個方面的測試工裝。
      [0021]本實用新型的這種FCT測試工裝,通過使用探針工裝進行功能測試,提高測試效率并且操作簡單、省力、成本低,穩(wěn)定性好,解決了現(xiàn)有技術(shù)中頻繁接插件的測試方式導(dǎo)致的效率低、通用性差的技術(shù)問題。
      【附圖說明】
      [0022]圖1是本發(fā)明一個實施例的使用該功能測試FCT測試工裝進行測試示意圖圖2是本實用新型一個實施例的一種功能測試FCT測試工裝的結(jié)構(gòu)示意圖圖;
      [0023]圖3是本實用新型一個實施例的一種功能測試FCT測試工裝的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0024]圖4是本實用新型一個實施例的一種功能測試FCT測試系統(tǒng)工作的示意圖;
      [0025]圖5是現(xiàn)有FCT測試方式示意圖。
      【具體實施方式】
      [0026]為使本實用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚,下面將結(jié)合附圖對本實用新型實施方式作進一步地詳細描述。
      [0027]本實用新型的核心思想是:將現(xiàn)有技術(shù)中FCT測試中采用手動頻繁接插件與待測電路板接觸進行測試的方式改為使用探針工裝來進行測試從而提高測試效率,并且采用探針工裝進行測試時穩(wěn)定性好、操作方便。另外,本實用新型還可以對測試工裝進行改進,在探針工裝上加裝屏蔽罩,將探針工裝屏蔽罩做成一個整體,解決現(xiàn)有技術(shù)的FCT測試過程中產(chǎn)生干擾影響測試結(jié)果的問題。
      [0028]圖1是本發(fā)明一個實施例的使用該功能測試FCT測試工裝進行測試示意圖,參見圖1,本實用新型的這種功能測試FCT測試工裝包括:探針工裝11 ;
      [0029]探針工裝11包括:針板和多個探針;多個探針分別通過多個信號線與外部的控制設(shè)備連接,輸入測試信號到待測電路板或者輸出電測電路板對所述測試信號的反饋信號大炮外部的控制設(shè)備;探針工裝11能夠相對于待測電路板12上下運動,探針工裝向下運動時,多個探針能夠與待測電路板12上的測試點一一對應(yīng)接觸進行功能測試。參見圖1,該測試工裝還包括用于放置待測電路板的載板13 ;載板13上設(shè)置有定位銷,用于對待測電路板進行定位固定。在實際測試時,可以先將載板放置在測試臺面板上再進行測試。
      [0030]通過采用探針工裝進行FCT測試,具有操作簡單方便、成本低廉并且可以克服使用接插件進行FCT測試導(dǎo)致的效率低下的問題,另外,使用探針工裝進行FCT測試時,保證了各探針的接觸緩沖力相同,因而具有更好的穩(wěn)定性。
      [0031]圖2是本實用新型一個實施例提供一種功能測試FCT的測試工裝的結(jié)構(gòu)示意圖,參見圖2,在本實施例中,該測試工裝還包括:屏蔽罩;
      [0032]屏蔽罩包括上下兩部分,上屏蔽罩201與下屏蔽罩202對接壓合共同形成屏蔽空間。探針工裝的針板1101安裝在上屏蔽罩201上,上屏蔽罩201上設(shè)置有供探針工裝的探針穿過的通孔;通孔以及探針工裝與上屏蔽上接觸的部分均采用屏蔽濾波技術(shù)處理。
      [0033]載板13安裝在下屏蔽罩202上;上屏蔽罩201在探針工裝相對于載板13上的待測電路板12向下運動時也同步向
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