快速切換半導(dǎo)體器件老化和測試狀態(tài)裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種采用電子電路控制能夠快速關(guān)斷半導(dǎo)體器件在老化過程中的工作電流的裝置，屬于半導(dǎo)體器件老化測試的專用設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]廠家通常需要對生產(chǎn)出來的半導(dǎo)體器件進(jìn)行老化試驗(yàn)，以便得到半導(dǎo)體器件的老化參數(shù)。在廠家對生產(chǎn)出來的半導(dǎo)體器件進(jìn)行抽樣加速老化試驗(yàn)時(shí)，要得知半導(dǎo)體器件的老化工作條件。其中包含半導(dǎo)體器件在老化試驗(yàn)停止時(shí)，瞬間切換到測試狀態(tài)下的PN結(jié)電壓。為了盡可能地得知半導(dǎo)體器件在老化時(shí)的PN結(jié)工作狀態(tài)，這就要求半導(dǎo)體器件從老化狀態(tài)切換到測試狀態(tài)的時(shí)間越短越好。因此，亟待開發(fā)出一種迅速、簡便、合理的在半導(dǎo)體器件老化狀態(tài)和測試狀態(tài)之間切換的裝置。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是向國內(nèi)各個(gè)半導(dǎo)體器件生產(chǎn)商以及研究單位和類似用途的實(shí)驗(yàn)室提供一種適用于快速切換半導(dǎo)體器件老化狀態(tài)和測試狀態(tài)的專用設(shè)備。
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案為快速切換半導(dǎo)體器件老化和測試狀態(tài)裝置，該裝置包括機(jī)箱1、測量端子組a2、老化供電端子組a3、切換觸發(fā)口 4、裝置供電輸入耦合器5、裝置開關(guān)按鍵6以及內(nèi)部控制電路；所述內(nèi)部控制電路設(shè)置在機(jī)箱I內(nèi)的襯板上，內(nèi)部控制電路包括輸入耦合器接線端子7、50V直流電源8、15V直流電源9、開關(guān)測試電路PCB板10 ;開關(guān)測試電路PCB板包括開關(guān)模塊11、測試模塊12。
[0005]開關(guān)模塊11包括MOS組13、老化供電端子組bl4、測量端子組bl5、50V供電端子16 ;測試模塊12包括±15V供電端子17、測試電流輸出端子18、電源濾波電容組19、0P07運(yùn)放組20。
[0006]機(jī)箱I的前面板上為測量端子組2、老化供電端子組3兩個(gè)區(qū)。
[0007]測量端子組a2包括測量端子C2.1、測量端子B2.2、測量端子E2.3，其分別對應(yīng)連接老化電路中半導(dǎo)體晶體管集電極、基極、發(fā)射極，測量端子組2在機(jī)箱I內(nèi)部與PCB板上的三個(gè)測量端子組b 15相連。
[0008]老化供電端子組a3包括老化供電端子U3.1、老化供電端子13.2，分別對應(yīng)連接老化電路中半導(dǎo)體晶體管的基極和集電極，老化供電端子a3在機(jī)箱I內(nèi)部與開關(guān)測試電路PCB板12上兩個(gè)老化供電端子組bl4相連。
[0009]機(jī)箱I的前面板上還設(shè)有切換觸發(fā)口 4。
[0010]機(jī)箱I的后面板設(shè)有一個(gè)電源輸入親合器5，一個(gè)裝置開關(guān)按鍵6。
[0011]電源輸入耦合器5內(nèi)置電源濾波，在機(jī)箱I內(nèi)部通過輸入耦合器接線端子7與50V直流電源8、15V直流電源9連接，用以開關(guān)測試電路PCB板10上不同模塊的供電。
[0012]所述裝置開關(guān)按鍵6用以控制裝置電路的開斷。外部可設(shè)電源2400提供3.3V電壓信號通過切換觸發(fā)口 4連接到開關(guān)模塊11的switch輸入端，控制MOS組13的溝道關(guān)斷。此時(shí)斷開半導(dǎo)體器件的老化電路。同時(shí)，測試電流從測試模塊12的測試電流輸出端子18流出，流進(jìn)外部老化電路中的半導(dǎo)體晶體管的基極，電流通過BE結(jié)流回測試模塊12的回路。此時(shí)，完成半導(dǎo)體器件從老化狀態(tài)切換到測試狀態(tài)。
[0013]本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下明顯的優(yōu)勢和有益效果:
[0014]本實(shí)用新型快速切換半導(dǎo)體器件老化和測試狀態(tài)裝置，采用電子控制方式斷電，能夠快速地保證被測器具在瞬間完成狀態(tài)的切換，確保試驗(yàn)符合標(biāo)準(zhǔn)要求，操作簡單、準(zhǔn)確、重復(fù)性好，測試效率和準(zhǔn)確性都得到大幅提高。
【附圖說明】
[0015]圖1是本實(shí)用新型設(shè)備前面板圖。
[0016]圖2是本實(shí)用新型設(shè)備后面板圖。
[0017]圖3是本實(shí)用新型設(shè)備機(jī)箱內(nèi)部電路圖。
[0018]圖4是本實(shí)用新型設(shè)備控制電路結(jié)構(gòu)圖。
[0019]圖5是MOS組的電路圖。
[0020]圖6是老化供電端子組b的電路圖。
[0021 ] 圖7是測量端子組b的電路圖。
[0022]圖8是50V供電端子的電路圖。
[0023]圖9是± 15V供電端子的電路圖。
[0024]圖10是測試電流輸出端子的電路圖。
[0025]圖11是電源濾波電容組的電路圖。
[0026]圖12是0P07運(yùn)放組的電路圖。
[0027]圖中，1、機(jī)箱，2、測量端子組a，2.1、測量端子C，2.2、測量端子B，2.3、測量端子E，3、老化供電端子組a，3.1、老化供電端子U，3.2、老化供電端子I，4、切換觸發(fā)口，5、裝置供電輸入耦合器，6、裝置開關(guān)按鍵，7、輸入耦合器接線端子，8、50V直流電源，9、15V直流電源，10、開關(guān)測試電路PCB板；11、開關(guān)模塊，12、測試模塊，13、M0S組，14、老化供電端子組b，15、測量端子組b，16、50V供電端子，17、土 15V供電端子，18、測試電流輸出端子，19、電源濾波電容組，20、0P07運(yùn)放組。
【具體實(shí)施方式】
[0028]下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
[0029]如圖1-3所示，所述快速切換半導(dǎo)體器件老化和測試狀態(tài)裝置包括機(jī)箱1、測量端子組a2、老化供電端子組a3、切換觸發(fā)口 4、裝置供電輸入耦合器5、裝置開關(guān)按鍵6以及內(nèi)部控制電路；所述內(nèi)部控制電路設(shè)置在機(jī)箱I內(nèi)的襯板上，內(nèi)部控制電路包括輸入耦合器接線端子7、50V直流電源8、15V直流電源9、開關(guān)測試電路PCB板10 ;開關(guān)測試電路PCB板包括開關(guān)模塊11、測試模塊12。
[0030]開關(guān)模塊11包括MOS組13、老化供電端子組bl4、測量端子組bl5、50V供電端子16 ;測試模塊12包括±15V供電端子17、測試電流輸出端子18、電源濾波電容組19、0P07運(yùn)放組20。
[0031]機(jī)箱I的前面板上為測量端子組2、老化供電端子組3兩個(gè)區(qū)。
[0032]測量端子組a2包括測量端子C2.1、測量端子B2.2、測量端子E2.3，其分別對應(yīng)連接老化電路中半導(dǎo)體晶體管集電極、基極、發(fā)射極，測量端子組2在機(jī)箱I內(nèi)部與PCB板上的三個(gè)測量端子組b 15相連