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      檢測(cè)電路,相關(guān)有源放電電路以及集成電路的制作方法_4

      文檔序號(hào):10228290閱讀:來源:國(guó)知局
      信號(hào)0VTH的上一個(gè)上升沿以來,是否已經(jīng)經(jīng)過了一個(gè)給定時(shí)間周期。例如,典型地,用于計(jì)時(shí)器電路414a的時(shí)間閾值或超時(shí)值T0應(yīng)對(duì)應(yīng)于AC電源的典型振蕩的多個(gè)周期T,諸如40-100毫秒。因此,當(dāng)計(jì)時(shí)器電路414a達(dá)到超時(shí)值T0時(shí),計(jì)時(shí)器電路414a可以經(jīng)由信號(hào)ΕΝ使能放電電路50,為了對(duì)電容304放電。
      [0116]在一個(gè)實(shí)施例中,精化電路418a可以被配置為也在信號(hào)0VTH的每個(gè)下降沿重置計(jì)時(shí)器電路414a。因此,在這種情況下,當(dāng)自信號(hào)0VTH的上一個(gè)上升或下降沿以來,計(jì)時(shí)器電路達(dá)到給定的超時(shí)值T0時(shí),計(jì)時(shí)器電路414a被配置為使能放電電路。
      [0117]因此,一般地,當(dāng)自信號(hào)0VTH的上一個(gè)上升和/或下降沿以來,已經(jīng)經(jīng)過了一個(gè)給定的時(shí)間周期,計(jì)時(shí)器電路414a使能放電電路。
      [0118]相反地,不同的解決方案可以用于確定放電電路50應(yīng)該在何時(shí)被再次使能或無效。
      [0119]例如,計(jì)時(shí)器電路414a可以被配置為僅僅在信號(hào)0VTH的上升沿,其指示信號(hào)S的正斜率,無效放電電路50。例如,在這種情況下,精化電路418a可以被配置為在信號(hào)0VTH的每個(gè)上升沿經(jīng)由信號(hào)RESET重置計(jì)時(shí)器電路414a。
      [0120]相反地,計(jì)時(shí)器電路414a不應(yīng)簡(jiǎn)單地使放電電路50在下降沿失效,因?yàn)橐坏┓烹婋娐繁皇鼓?,電容?04的電壓減小,其可以引起信號(hào)0VTH的下降沿。
      [0121]因此,在一個(gè)實(shí)施例中,為了避免該問題,精化電路418a被配置為確定信號(hào)S是否顯示斜率改變(二階導(dǎo)數(shù))并最后重置計(jì)時(shí)器電路414a。
      [0122]例如,在一個(gè)實(shí)施例中,精化電路418a被配置為確定在信號(hào)OVTH的兩個(gè)連續(xù)沿之間經(jīng)過的時(shí)間,即在上升沿和下降沿之間,反之亦然,在下降沿和上升沿之間,因此確定兩個(gè)值:指示信號(hào)0VTH為高的持續(xù)時(shí)間的第一值TH,以及指示信號(hào)0VTH為低的持續(xù)時(shí)間的第二值TL。在這種情況下,精化電路418a可以被配置為比較這些持續(xù)時(shí)間和至少一個(gè)時(shí)間閾值,為了確定這些持續(xù)時(shí)間是否在給定極限內(nèi)。例如,在一個(gè)實(shí)施例中,精化電路418a可以確定第一持續(xù)時(shí)間TH和第二持續(xù)時(shí)間TL是否均小于超時(shí)值T0,其可以對(duì)應(yīng)于多個(gè)周期的持續(xù)時(shí)間或典型的AC振蕩的子周期,例如5、10、20-100ms。因此,在這種情況下,精化電路418a可以重置計(jì)時(shí)器電路414a,因此僅僅在持續(xù)時(shí)間TH和/或TL都在規(guī)定的極限內(nèi)時(shí)使放電電路50失效。
      [0123]例如,圖9顯示了對(duì)于本實(shí)施例,用于信號(hào)OVTH和用于放電電路50的各個(gè)使能信號(hào)EN的可能波形。
      [0124]具體地,在所考慮的示例中:
      [0125]-在時(shí)刻,信號(hào)S的電壓達(dá)到較低的電壓閾值DLT,
      [0126]-在時(shí)刻t3,信號(hào)S的電壓下降為低于較低的電壓閾值DLT,
      [0127]-在時(shí)刻t4,信號(hào)S的電壓再次達(dá)到較低的電壓閾值DLT,以及
      [0128]-在時(shí)刻t5,信號(hào)S的電壓再次下降為低于較低的電壓閾值DLT。
      [0129]因此,在所考慮的實(shí)施例中,信號(hào)0VTH包括兩個(gè)脈沖。而且,在所考慮的示例中,第一脈沖的持續(xù)時(shí)間THdP持續(xù)時(shí)間TL2大于超時(shí)值T0,且第二脈沖的持續(xù)時(shí)間TH2小于超時(shí)值T0。因此,考慮到精化電路418a的上述結(jié)構(gòu),計(jì)時(shí)器電路414a將使能放電電路50。相反地,精化電路418a將重置計(jì)時(shí)器電路414a,由此僅僅在時(shí)刻丨5的第二下降沿處使放電電路50無效,因?yàn)閮H僅在該時(shí)刻,精化電路414能夠確定第二脈沖的持續(xù)時(shí)間TH2并比較該持續(xù)時(shí)間和超時(shí)值T0。
      [0130]該方法具有進(jìn)一步的優(yōu)點(diǎn),S卩AC輸入電壓的低變化可以自動(dòng)地被濾波。
      [0131]圖10顯示了處理單元406b的第二實(shí)施例。
      [0132]具體地,也在本實(shí)施例中,處理單元406b包括比較器電路412b、動(dòng)態(tài)閾值生成器電路416b、精化電路418b和計(jì)時(shí)器電路414b。也在這種情況下,動(dòng)態(tài)閾值生成器電路416b被配置為根據(jù)信號(hào)S確定提供至少一個(gè)閾值至比較器電路412b,以及精化電路418b被配置為根據(jù)比較器電路412b的輸出端處的一個(gè)或多個(gè)信號(hào)重置計(jì)時(shí)器電路414b。
      [0133]然而,在圖6所示的實(shí)施例中,閾值以前饋或開環(huán)的方式基于信號(hào)S直接確定,在所考慮的實(shí)施例中,閾值以反饋或閉環(huán)的方式基于比較器電路412b的輸出端處的信號(hào)更新。
      [0134]具體地,在所考慮的實(shí)施例中,比較器電路412b包括兩個(gè)比較器412!和4122,其比較信號(hào)S和由動(dòng)態(tài)閾值生成器電路416b的兩個(gè)動(dòng)態(tài)的閾值DTjPDT2。
      [0135]因此,在所考慮的實(shí)施例中,第一比較器412:的輸出端處的信號(hào)COMPjg示信號(hào)S是否大于電壓參考信號(hào)DI\,以及第二比較器4122的輸出端處的信號(hào)C0MP2指示信號(hào)S是否大于電壓參考信號(hào)DT2。
      [0136]在所考慮的實(shí)施例中,比較器電路412b提供比較信號(hào)⑶MP!和⑶MP2至精化電路418b,諸如組合電路,其被配置為基于信號(hào)C0MPjPC0MP2確定信號(hào)S是否增大或減小。
      [0137]具體地,在所考慮的實(shí)施例中,針對(duì)該目的,精化電路418b提供指示信號(hào)S大于DTi和DT2的信號(hào)INC,以及指示信號(hào)S小于DTdroT2的信號(hào)DEC。
      [0138]例如,圖11顯示了用于信號(hào)COMPi和(:01^2的邏輯電平的精化電路418b的可能實(shí)施例,其來自于連接信號(hào)至圖10所示的比較器4124P4122的正和負(fù)輸入端。具體地,在這種情況下,信號(hào)INC可以經(jīng)由與門420獲得,并且信號(hào)DEC可以經(jīng)由或非門422獲得,其中兩個(gè)門電路接收信號(hào)C0MPjPC0MP2作為輸入。
      [0139]因此,動(dòng)態(tài)閾值生成器電路416b能夠確定(經(jīng)由比較器電路412b)信號(hào)S是否大于(例如,INC = “1”和DEC= “0” ),小于(例如,INC= “0”和DEC= “1”)或者在閾值DT1和DT2之間(例如,INC= “0”和DEC= “0”)。在所考慮的實(shí)施例中,為了改變閾值DTdPDT2,動(dòng)態(tài)閾值生成器電路416b使用該信息。
      [0140]例如,圖16顯示了動(dòng)態(tài)閾值生成器電路416b的可能實(shí)施例。在所考慮的實(shí)施例中,信號(hào)INC和DEC被提供至數(shù)字處理單元420,諸如微處理器。數(shù)字處理單元420精心設(shè)計(jì)信號(hào)INC和DEC,并經(jīng)由各個(gè)數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換器DACdPDAC2設(shè)置閾值DI^PDT2。
      [0141]在這一點(diǎn)上,圖12a顯示了動(dòng)態(tài)閾值生成器電路416b的實(shí)施例的可能操作。
      [0142]在所考慮的實(shí)施例中,初始地,閾值DTjPDT2被設(shè)置為各個(gè)初始值,例如Dh=DT!, ο,以及DT2 = DT2, ο,其中閾值中的一個(gè)大于另一個(gè),即,一個(gè)閾值表示下閾值,且另一個(gè)閾值表示上閾值,例如,DT2, o>DTi, ο。
      [0143]一旦信號(hào)INC指示信號(hào)S大于DTdPDT2,即SMTlo且S>DT2,Q,電路416b分配新的值給下閾值,其中新的值大于之前的上閾值。例如,在所考慮的示例中,閾值01'1被分配為新的值DTu,具有DTlODTm。因此之前的下閾值變?yōu)樾碌纳祥撝?大于信號(hào)S的當(dāng)時(shí)值)并且實(shí)質(zhì)性地,信號(hào)INC再次改變邏輯狀態(tài)。
      [0144]每一次信號(hào)INC變?yōu)楦撸貜?fù)該原理,從而緊接著信號(hào)S的上升斜率。例如,在所考慮的實(shí)施例中,信號(hào)S超過閾值DTjPDT2的三倍直到閾值被設(shè)置為DTizDTu以及DT2 =DT2, Ιο
      [0145]因此,在所考慮的實(shí)施例中,兩個(gè)閾值中的一個(gè)表示下閾值,以及另一個(gè)表示上閾值,并且當(dāng)信號(hào)INC指示信號(hào)S大于兩個(gè)閾值時(shí),電路416b增大下閾值,使得下閾值變?yōu)樾碌纳祥撝怠?br>[0146]相反地,當(dāng)信號(hào)S再次下降時(shí),在給定時(shí)刻,信號(hào)DEC將顯示信號(hào)S小于DT^DT2,即S〈DTi,2以及SOTu。此時(shí),電路416b將減小當(dāng)前的上閾值。例如,在圖12a中,信號(hào)DTj#被設(shè)置為新的值DTl 1,其小于DT2的當(dāng)前值。
      [0147]因此,在所考慮的實(shí)施例中,當(dāng)信號(hào)DEC指示信號(hào)S小于兩個(gè)閾值時(shí),電路416b減小上閾值,使得上閾值變?yōu)樾碌南麻撝怠?br>[0148]因此,通過重復(fù)上述操作,處理單元406b能夠跟隨信號(hào)S的波形。而且,信號(hào)INC和DEC分別顯示了信號(hào)S是否具有正斜率或負(fù)斜率。
      [0149]在一個(gè)實(shí)施例中,至少四個(gè)電平用于閾值DTdPDT2的每一個(gè)。例如,圖13顯示了用于閾值DTjPDT2的每一個(gè)的七個(gè)電平L的典型數(shù)值表。具體地,這些值適用于110VAC和230VDC的應(yīng)用場(chǎng)合。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解,指示的值與相對(duì)于電壓Vx的幅值的絕對(duì)閾值有關(guān),其最后基于電壓檢測(cè)電路404b的比率被縮小。
      [0150]—般地,如圖12a所示的,當(dāng)信號(hào)S減小為零時(shí),閾值可以保持在最低電平,例如,電平DTl ο和DT2,0,其大于零。因此,在這種情況下,信號(hào)DEC將保持為高直到信號(hào)S再次增大為超過下閾值,例如圖12a中的DTi, ο。
      [0151]相反地,圖12b顯示了一個(gè)實(shí)施例,在這種情況下,其中處理單元分配默認(rèn)值DTo大多數(shù)時(shí)候?yàn)榱闵踔潦秦?fù)的。具體地,當(dāng)閾值已經(jīng)達(dá)到最低電平時(shí),例如電平DTi,ο和DT2,Q,以及信號(hào)DEC變?yōu)楦?,處理單元分配?dāng)前的上閾值為該默認(rèn)值,例如,DT2 = DTo。
      [0152]因此,一般地,閾值信號(hào)DTjPDT2的電平被配置為使得信號(hào)INC和DEC包括(存在AC電源信號(hào))分別用于信號(hào)S的每個(gè)上升或下降
      當(dāng)前第4頁1 2 3 4 5 
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