本技術(shù)涉及數(shù)據(jù)處理，尤其涉及一種數(shù)據(jù)分析方法、裝置及電子設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、基板管理控制器(英文全稱：baseboardmanagement?controller，簡稱：bmc)是用于監(jiān)控和管理服務(wù)器的專用控制器，在服務(wù)器的bmc發(fā)生故障時(shí)(如，bmc的內(nèi)核代碼或應(yīng)用程序代碼錯(cuò)誤)，向維護(hù)人員提供告警信息及相應(yīng)的恢復(fù)手段。

2、具體來講，bmc在啟動(dòng)和運(yùn)行過程中，當(dāng)bmc的內(nèi)核(kernel)代碼存在錯(cuò)誤或內(nèi)核崩潰時(shí)，會(huì)觸發(fā)內(nèi)核恐慌(kernel?panic)機(jī)制，捕獲內(nèi)核故障產(chǎn)生的崩潰內(nèi)存信息，并將內(nèi)核故障的崩潰內(nèi)存信息存儲(chǔ)在kdump文件；當(dāng)bmc應(yīng)用層的代碼存在錯(cuò)誤時(shí)，會(huì)將應(yīng)用程序代碼錯(cuò)誤產(chǎn)生的崩潰內(nèi)存信息(如，內(nèi)存布局、變量值、調(diào)用棧信息以及cpu寄存器值等)保存在核心轉(zhuǎn)儲(chǔ)文件(coredump文件)，維護(hù)人員根據(jù)coredump文件能夠分析應(yīng)用程序崩潰的原因，從而修復(fù)相應(yīng)的故障。

3、目前，通常采用人工的方式分析bmc應(yīng)用程序代碼錯(cuò)誤產(chǎn)生的崩潰內(nèi)存信息。若在大規(guī)模的壓力測試場景下，發(fā)生故障的bmc數(shù)量多，且由bmc應(yīng)用程序代碼錯(cuò)誤產(chǎn)生的崩潰內(nèi)存信息量較大，仍采用人工分析應(yīng)用程序代碼錯(cuò)誤產(chǎn)生的崩潰內(nèi)存信息的方式，會(huì)降低對(duì)應(yīng)用程序代碼錯(cuò)誤產(chǎn)生的崩潰內(nèi)存信息分析的速率；另外，由于應(yīng)用程序代碼錯(cuò)誤產(chǎn)生的崩潰內(nèi)存信息中存在大量重復(fù)的信息，人工逐個(gè)的分析還會(huì)造成人力資源的浪費(fèi)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N數(shù)據(jù)分析方法、裝置及電子設(shè)備，用以提高對(duì)bmc故障產(chǎn)生的大量崩潰內(nèi)存信息進(jìn)行分析的速率。具體技術(shù)方案如下：

2、第一方面，本技術(shù)提供了一種數(shù)據(jù)分析方法，包括：

3、獲取對(duì)多個(gè)被測基板管理控制器bmc進(jìn)行壓力測試的崩潰測試數(shù)據(jù)集；

4、基于所述崩潰測試數(shù)據(jù)集中的每個(gè)崩潰測試數(shù)據(jù)所歸屬的數(shù)據(jù)層次，從解析規(guī)則集合中選取出與所述數(shù)據(jù)層次對(duì)應(yīng)的目標(biāo)解析規(guī)則，并基于所述目標(biāo)解析規(guī)則解析每個(gè)所述崩潰測試數(shù)據(jù)，得到每個(gè)目標(biāo)解析數(shù)據(jù)；

5、對(duì)每個(gè)所述目標(biāo)解析數(shù)據(jù)進(jìn)行迭代分析，輸出每個(gè)所述目標(biāo)解析數(shù)據(jù)各自對(duì)應(yīng)的分析結(jié)果。

6、基于上述的方法，能夠收集在壓力測試場景下，被測bmc故障產(chǎn)生的大量崩潰測試數(shù)據(jù)，并對(duì)大量崩潰測試數(shù)據(jù)進(jìn)行更細(xì)致的、自動(dòng)化的分析，提高對(duì)崩潰測試數(shù)據(jù)的分析速率。

7、在一種可能的實(shí)現(xiàn)中，所述獲取對(duì)多個(gè)被測bmc進(jìn)行壓力測試的崩潰測試數(shù)據(jù)集，包括：

8、接入所述多個(gè)被測bmc中的任意一個(gè)目標(biāo)bmc；

9、判定所述目標(biāo)bmc的第一預(yù)設(shè)目錄中是否存在內(nèi)核故障產(chǎn)生的崩潰內(nèi)存信息；

10、若是，則將所述崩潰內(nèi)存信息轉(zhuǎn)存至所述崩潰測試數(shù)據(jù)集；

11、若否，則將所述目標(biāo)bmc的第二預(yù)設(shè)目錄中的核心轉(zhuǎn)儲(chǔ)文件轉(zhuǎn)存至所述崩潰測試數(shù)據(jù)集。

12、基于上述的方法，能夠收集目標(biāo)bmc的內(nèi)核故障產(chǎn)生的崩潰內(nèi)存信息。

13、在一種可能的實(shí)現(xiàn)中，所述將所述目標(biāo)bmc的第二預(yù)設(shè)目錄中的核心轉(zhuǎn)儲(chǔ)文件轉(zhuǎn)存至所述崩潰測試數(shù)據(jù)集，包括：

14、判定所述目標(biāo)bmc的第二預(yù)設(shè)目錄中是否存在所述核心轉(zhuǎn)儲(chǔ)文件；

15、若是，則將所述核心轉(zhuǎn)儲(chǔ)文件轉(zhuǎn)存至所述崩潰測試數(shù)據(jù)集；

16、若否，則接入所述多個(gè)被測bmc中的下一個(gè)目標(biāo)bmc，直至輪詢完所述多個(gè)被測bmc中的每個(gè)bmc。

17、基于上述的方法，能夠收集目標(biāo)bmc的應(yīng)用程序代碼錯(cuò)誤產(chǎn)生的核心轉(zhuǎn)儲(chǔ)文件，并將崩潰內(nèi)存信息和核心轉(zhuǎn)儲(chǔ)文件存放在崩潰測試數(shù)據(jù)集中。

18、在一種可能的實(shí)現(xiàn)中，若所述崩潰測試數(shù)據(jù)所歸屬的數(shù)據(jù)層次為內(nèi)核層，則通過以下目標(biāo)解析規(guī)則對(duì)所述崩潰測試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析：

19、確定產(chǎn)生所述崩潰測試數(shù)據(jù)的目標(biāo)bmc的固件版本；

20、判定在預(yù)設(shè)的內(nèi)核鏡像版本集合中是否存在與所述固件版本對(duì)應(yīng)的目標(biāo)內(nèi)核鏡像版本，其中，所述內(nèi)核鏡像版本集合中的內(nèi)核鏡像版本表征對(duì)被測bmc的內(nèi)核編譯后未壓縮的版本；

21、若是，則獲取所述目標(biāo)內(nèi)核鏡像版本的鏡像版本時(shí)間和所述崩潰測試數(shù)據(jù)的固件版本時(shí)間，在確定所述鏡像版本時(shí)間與所述固件版本時(shí)間相同時(shí)，調(diào)用內(nèi)核轉(zhuǎn)儲(chǔ)文件分析工具解析所述崩潰測試數(shù)據(jù)；

22、若否，則輸出第一提示信息。

23、基于上述的方法，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)內(nèi)核轉(zhuǎn)儲(chǔ)文件的自動(dòng)化解析。

24、在一種可能的實(shí)現(xiàn)中，若所述崩潰測試數(shù)據(jù)所歸屬的數(shù)據(jù)層次為應(yīng)用層，則通過以下目標(biāo)解析規(guī)則對(duì)所述崩潰測試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析：

25、確定產(chǎn)生所述崩潰測試數(shù)據(jù)的目標(biāo)bmc的固件版本。

26、判定在符號(hào)表集合中是否存在與所述固件版本對(duì)應(yīng)的目標(biāo)符號(hào)表，其中，所述符號(hào)表集合是在編譯所述多個(gè)被測bmc的固件時(shí)生成的，且每個(gè)被測bmc的固件版本各自對(duì)應(yīng)一個(gè)符號(hào)表版本；

27、若是，則獲取所述崩潰測試數(shù)據(jù)中的崩潰指示信息，并基于所述崩潰指示信息對(duì)所述崩潰測試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析；

28、若否，則輸出提示信息。

29、基于上述的方法，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)核心轉(zhuǎn)儲(chǔ)文件的自動(dòng)化解析。

30、在一種可能的實(shí)現(xiàn)中，所述崩潰指示信息包括崩潰進(jìn)程名或崩潰線程名，若獲取所述崩潰測試數(shù)據(jù)中的崩潰線程名，則所述基于所述崩潰指示信息對(duì)所述崩潰測試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析，包括：

31、在線程統(tǒng)計(jì)表中查找與所述崩潰線程名相關(guān)聯(lián)的崩潰進(jìn)程名；

32、基于所述崩潰進(jìn)程名，并調(diào)用程序調(diào)試工具gdb對(duì)所述崩潰測試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析。

33、基于上述的方法，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)核心轉(zhuǎn)儲(chǔ)文件的自動(dòng)化解析。

34、在一種可能的實(shí)現(xiàn)中，在輸出每個(gè)所述目標(biāo)解析數(shù)據(jù)各自對(duì)應(yīng)的分析結(jié)果之后，所述方法還包括：

35、將每個(gè)所述目標(biāo)解析數(shù)據(jù)各自對(duì)應(yīng)的分析結(jié)果推送至質(zhì)量監(jiān)測端；或者

36、基于被測bmc的運(yùn)行數(shù)據(jù)，生成綜合分析報(bào)告，并將所述綜合分析報(bào)告推送至所述質(zhì)量監(jiān)測端或者運(yùn)維人員，以使運(yùn)維人員基于所述綜合分析報(bào)告，對(duì)異常bmc進(jìn)行故障修復(fù)，其中，所述運(yùn)行數(shù)據(jù)至少包括所述被測bmc的內(nèi)存信息、cpu狀態(tài)信息和重啟信息。

37、通過將崩潰測試數(shù)據(jù)推送至質(zhì)量監(jiān)控端或運(yùn)維人員，能夠使運(yùn)維人員更直觀的確定是內(nèi)核故障還是應(yīng)用層代碼故障，及時(shí)的定位故障問題，對(duì)故障服務(wù)器進(jìn)行修復(fù)。

38、第二方面，本技術(shù)提供了一種數(shù)據(jù)分析裝置，包括：

39、數(shù)據(jù)獲取模塊，用于獲取對(duì)多個(gè)被測基板管理控制器bmc進(jìn)行壓力測試的崩潰測試數(shù)據(jù)集；

40、數(shù)據(jù)解析模塊，用于基于所述崩潰測試數(shù)據(jù)集中的每個(gè)崩潰測試數(shù)據(jù)所歸屬的數(shù)據(jù)層次，從解析規(guī)則集合中選取出與所述數(shù)據(jù)層次對(duì)應(yīng)的目標(biāo)解析規(guī)則，并基于所述目標(biāo)解析規(guī)則解析每個(gè)所述崩潰測試數(shù)據(jù)，得到每個(gè)目標(biāo)解析數(shù)據(jù)；

41、數(shù)據(jù)分析模塊，用于對(duì)每個(gè)所述目標(biāo)解析數(shù)據(jù)進(jìn)行迭代分析，輸出每個(gè)所述目標(biāo)解析數(shù)據(jù)各自對(duì)應(yīng)的分析結(jié)果。

42、第三方面，本技術(shù)提供了一種電子設(shè)備，包括：

43、存儲(chǔ)器，用于存放計(jì)算機(jī)程序；

44、處理器，用于執(zhí)行所述存儲(chǔ)器上所存放的計(jì)算機(jī)程序時(shí)，實(shí)現(xiàn)上述的數(shù)據(jù)分析方法的步驟。

45、第四方面，本技術(shù)提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)內(nèi)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述的數(shù)據(jù)分析方法的步驟。

46、上述第二方面至第四方面中的各個(gè)方面以及各個(gè)方面可能達(dá)到的技術(shù)效果請(qǐng)參照上述針對(duì)第一方面或第一方面中的各種可能方案可以達(dá)到的技術(shù)效果說明，這里不再重復(fù)贅述。