1.一種數(shù)據(jù)分析方法，其特征在于，包括：
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取對多個(gè)被測bmc進(jìn)行壓力測試的崩潰測試數(shù)據(jù)集，包括：
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述將所述目標(biāo)bmc的第二預(yù)設(shè)目錄中的核心轉(zhuǎn)儲(chǔ)文件轉(zhuǎn)存至所述崩潰測試數(shù)據(jù)集，包括：
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，若所述崩潰測試數(shù)據(jù)所歸屬的數(shù)據(jù)層次為內(nèi)核層，則通過以下目標(biāo)解析規(guī)則對所述崩潰測試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析：
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，若所述崩潰測試數(shù)據(jù)所歸屬的數(shù)據(jù)層次為應(yīng)用層，則通過以下目標(biāo)解析規(guī)則對所述崩潰測試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析：
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述崩潰指示信息包括崩潰進(jìn)程名或崩潰線程名，若獲取所述崩潰測試數(shù)據(jù)中的崩潰線程名，則所述基于所述崩潰指示信息對所述崩潰測試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析，包括：
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在輸出每個(gè)所述目標(biāo)解析數(shù)據(jù)各自對應(yīng)的分析結(jié)果之后，所述方法還包括：
8.一種數(shù)據(jù)分析裝置，其特征在于，包括：
9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)內(nèi)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述方法的步驟。