專利名稱：一種安全芯片在dos下的功能檢測實現(xiàn)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及計算機(jī)的信息安全技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及的是一種安全芯片在DOS下的功能檢測實現(xiàn)方法。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)有技術(shù)中，隨著計算機(jī)的日益普及及其功能的不斷加強(qiáng)和廣泛應(yīng)用，計算機(jī)系統(tǒng)的安全也越來越重要，在1999年10月，由Intel，Microsoft，Compaq，HP和IBM成立了一個TCPA(Trusted Computing Platform Alliance，可信任計算機(jī)平臺聯(lián)盟)的組織，定義了TCPA及其產(chǎn)品的統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)，其目的是致力于促成新一代可信任的硬件平臺?；诖藰?biāo)準(zhǔn)的可信賴計算平臺模塊TPM(Trusted Platform Module，以下簡稱TPM)安全芯片具有加密和安全存儲功能并能監(jiān)控PC的軟硬件信息改動來保證系統(tǒng)的安全。
此安全芯片通過LPC(Low Pin Count，一種少量引腳的計算機(jī)總線)總線與計算機(jī)南橋相連，跟BIOS(Basic Input/Output System基本輸入輸出系統(tǒng))進(jìn)行通訊，開機(jī)安全信息驗證通過后才能繼續(xù)啟動開機(jī)進(jìn)入操作系統(tǒng)。
普通類型的具有安全性質(zhì)的芯片只在某個領(lǐng)域具備一定安全驗證功能，而TPM安全芯片在國內(nèi)是一種全新型的安全芯片，對整個計算機(jī)系統(tǒng)的安全有一整套的解決方案，其包括硬件，系統(tǒng)BIOS，OS(Operating System操作系統(tǒng))驅(qū)動，應(yīng)用程序等都和安全芯片進(jìn)行信息交互來保證整個平臺的安全性。
對于這種全新的安全芯片的研發(fā)和生產(chǎn)，目前還沒有很方便的檢測方法來驗證安全芯片需要實現(xiàn)的各種功能，尤其是沒有能夠用于生產(chǎn)線上的快速檢測的方法和裝置。
因此，現(xiàn)有技術(shù)存在缺陷，而有待于改進(jìn)和發(fā)展。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種安全芯片在DOS下的功能檢測實現(xiàn)方法，使安全芯片在DOS操作系統(tǒng)下能夠針對其芯片功能進(jìn)行檢測，此方法模擬計算機(jī)BIOS接口環(huán)境和芯片進(jìn)行通訊，以保證符合TCG(Trusted ComputingGroup可信計算機(jī)組織)接口規(guī)范的BIOS廠商提供的BIOS都能和安全芯片進(jìn)行通訊，以保證BIOS對安全芯片的操作成功并完成相應(yīng)的功能，此方法能在DOS操作系統(tǒng)下運(yùn)行，采用用戶交互的方式或者自動化運(yùn)行的方式來實現(xiàn)測試安全芯片。
本發(fā)明的技術(shù)方案包括一種安全芯片在DOS下的功能檢測實現(xiàn)方法，其包括如下步驟a)、建立測試環(huán)境，在保護(hù)模式之下模擬BIOS環(huán)境，建立和系統(tǒng)BIOS和可信賴計算平臺模塊安全芯片的接口，包括標(biāo)準(zhǔn)的輸入輸出接口；b)、進(jìn)行安全芯片的測試；c)、對安全芯片的各種狀態(tài)設(shè)定進(jìn)行測試；d)、測試成功后，創(chuàng)立芯片所有者，并建立密鑰，確認(rèn)成功后再進(jìn)行是否已清除所有者信息的測試；e)、對安全芯片進(jìn)行各命令組合測試，并對安全芯片各內(nèi)部模塊的進(jìn)行功能測試；f)、獲取安全芯片平臺配置寄存器中保存的系統(tǒng)完整性信息，并通過修改驗證此信息的方式進(jìn)行完整性信息機(jī)制的驗證。
所述的方法，其中，所述方法還包括g)、測試項結(jié)束后把測試信息顯示在屏幕上。
所述的方法，其中，在整個測試流程中，采用與用戶交互的方式，用于單項特定的測試并為獲取測試結(jié)果的詳細(xì)信息用于追蹤。
所述的方法，其中，在整個測試流程中，采用批處理的方式，用于芯片在生產(chǎn)線DOS環(huán)境下的測試，適用于產(chǎn)線主機(jī)板自動化測試流程。
所述的方法，其中，所述步驟b)還包括b1)、設(shè)置初始化命令結(jié)構(gòu)，通過調(diào)用MP驅(qū)動程序?qū)Π踩酒M(jìn)行初始化，包括打開寄存器內(nèi)存映射區(qū)，檢驗芯片的寄存器內(nèi)存映射空間，檢驗廠商ID，設(shè)備ID，芯片版本。
所述的方法，其中，所述步驟c)還包括c1)、申請芯片所使用的內(nèi)存區(qū)間段，確認(rèn)對此區(qū)間的使能操作權(quán)限；c2)、對安全芯片進(jìn)行相應(yīng)激活/非激活的測試。
所述的方法，其中，所述保護(hù)模式為32位。
本發(fā)明所提供的一種安全芯片在DOS下的功能檢測實現(xiàn)方法，對于安全芯片在產(chǎn)線的測試，采用DOS并結(jié)合治具的方式來自動化測試，符合了主機(jī)板生產(chǎn)線的自動化測試流程，提高了生產(chǎn)效率；對于芯片廠商和BIOS廠商聯(lián)合開發(fā)驅(qū)動程序，本發(fā)明提供的測試方法減少了聯(lián)合開發(fā)過程中的工作量；本發(fā)明方法在主機(jī)板生產(chǎn)領(lǐng)域，不同的ODM主機(jī)板廠商都能在較小的工作量的情況下自由選用不同的BIOS廠商去支持同一種安全芯片。


圖1是本發(fā)明的安全芯片測試方法的總體流程圖。
具體實施例方式
以下結(jié)合附圖，將對本發(fā)明的較佳實施例進(jìn)行較為詳細(xì)的說明。
本發(fā)明所述安全芯片在DOS下的功能檢測實現(xiàn)方法，其測試程序首先建立DOS測試環(huán)境，此環(huán)境是根據(jù)TCG規(guī)范建立，屬于32位的保護(hù)模式；在此模式之下測試程序調(diào)用安全芯片廠商發(fā)布的MP(Memory Present)驅(qū)動程序進(jìn)行測試。此驅(qū)動程序是直接提供給BIOS廠商的，用于BIOS在開機(jī)自檢過程中對安全芯片進(jìn)行各種設(shè)置和信息交互的接口。
本發(fā)明方法的測試思想是模擬主板廠商的系統(tǒng)BIOS環(huán)境，也就是根據(jù)TCG規(guī)范定義的32位保護(hù)模式環(huán)境下對安全芯片進(jìn)行通訊，包括對安全芯片進(jìn)行初始化，設(shè)定安全芯片狀態(tài)，設(shè)定芯片所有者，通過發(fā)送各種操作TPM的命令組合對安全芯片進(jìn)行各種功能設(shè)定和檢測。
如圖1所示是本發(fā)明的安全芯片測試方法的總體流程圖，測試流程包括步驟101根據(jù)TCG規(guī)范建立測試環(huán)境，在32位保護(hù)模式之下模擬BIOS環(huán)境，建立和系統(tǒng)BIOS和TPM安全芯片的接口，包括標(biāo)準(zhǔn)的輸入輸出接口；步驟102進(jìn)行安全芯片的測試，首先是設(shè)置初始化命令結(jié)構(gòu)，通過調(diào)用MP驅(qū)動程序?qū)Π踩酒M(jìn)行初始化，包括打開寄存器內(nèi)存映射區(qū)，檢驗芯片的寄存器內(nèi)存映射空間，檢驗廠商ID，設(shè)備ID，芯片版本；步驟103完成上述步驟之后對安全芯片的各種狀態(tài)設(shè)定進(jìn)行測試，首先申請芯片所使用的內(nèi)存區(qū)間段Locality(區(qū)間)，確認(rèn)對此區(qū)間的Enable/Disable操作權(quán)限，再對安全芯片進(jìn)行Active/Inactive(激活/非激活)的測試；步驟104上述測試成功后，創(chuàng)立芯片所有者Owner，建立EK，(EncryptionKey，密鑰)，確認(rèn)成功后再進(jìn)行清除所有者信息的測試，確保在PC平臺上終端用戶能有效的利用安全芯片建立密鑰并身份驗證的功能；步驟105此后對安全芯片進(jìn)行各種命令組合測試，完成對安全芯片各內(nèi)部模塊的功能測試；步驟106測試程序接下來是獲取安全芯片平臺配置寄存器PCR(Platform Configuration Register)保存的系統(tǒng)完整性信息，測試程序通過修改驗證此信息的方式進(jìn)行完整性信息機(jī)制的驗證；步驟107測試項結(jié)束后把測試信息顯示在屏幕上，在整個測試流程中，會采用和用戶交互的方式和自動測試兩種方式。用戶交互的方式用于單項特定的測試并為獲取測試結(jié)果的詳細(xì)信息用于追蹤問題，批處理的方式用于芯片在生產(chǎn)線DOS環(huán)境下的測試，適用于產(chǎn)線主機(jī)板自動化測試流程。
上述測試程序的測試環(huán)境和各BIOS廠商的系統(tǒng)BIOS環(huán)境相同，安全通過測試程序檢測之后就能保證安全芯片廠商提供的MP驅(qū)動程序能可以兼容符合TCG規(guī)范的不同廠商的系統(tǒng)BIOS。因為測試程序是直接調(diào)用安全芯片的MP驅(qū)動的ROM文件，這樣測試程序調(diào)用的驅(qū)動程序和給BIOS廠商所包含的驅(qū)動程序都是同一文件。所以這樣就能保證安全芯片的MP驅(qū)動的正確性，而且它對于不同的系統(tǒng)BIOS都是同一套輸入輸出接口，為安全芯片廠商和BIOS廠商聯(lián)合開發(fā)安全芯片在BIOS層的功能提供了良好的便利。
采用本發(fā)明的上述技術(shù)方案，對于安全芯片在產(chǎn)線的測試，采用硬件電路測試并不能有效的全面的驗證其功能，WINDOWS操作系統(tǒng)下的應(yīng)用程序測試效率也不高，特別是在批量生產(chǎn)，與主機(jī)板生產(chǎn)線的自動測試流程不匹配。在主機(jī)板生產(chǎn)線上的整套測試工具都是采用DOS，并結(jié)合治具的方式來自動化測試，而本發(fā)明方法能符合主機(jī)板生產(chǎn)線的自動化測試流程，提高生產(chǎn)效率。
本發(fā)明方法對于芯片廠商和BIOS廠商聯(lián)合開發(fā)驅(qū)動程序，本發(fā)明提供的測試方法也能減少聯(lián)合開發(fā)過程中的工作量。此測試方法能根據(jù)TCG規(guī)范搭建標(biāo)準(zhǔn)的測試環(huán)境，測試程序驗證通過后，能保證安全芯片的驅(qū)動程序設(shè)計正確，同時也給BIOS廠商提供了在各自不同的BIOS環(huán)境下調(diào)試安全芯片的可靠依據(jù)。這樣在主機(jī)板生產(chǎn)領(lǐng)域，不同的ODM主機(jī)板廠商都能在較小的工作量的情況下自由選用不同的BIOS廠商去支持同一種安全芯片。
應(yīng)當(dāng)理解的是，上述針對具體實施例的描述較為具體，并不能因此而理解為對本發(fā)明的專利保護(hù)范圍的限制，本發(fā)明的專利保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種安全芯片在DOS下的功能檢測實現(xiàn)方法，其包括如下步驟a)、建立測試環(huán)境，在保護(hù)模式之下模擬BIOS環(huán)境，建立和系統(tǒng)BIOS和可信賴計算平臺模塊安全芯片的接口，包括標(biāo)準(zhǔn)的輸入輸出接口；b)、進(jìn)行安全芯片的測試；c)、對安全芯片的各種狀態(tài)設(shè)定進(jìn)行測試；d)、測試成功后，創(chuàng)立芯片所有者，并建立密鑰，確認(rèn)成功后再進(jìn)行是否已清除所有者信息的測試；e)、對安全芯片進(jìn)行各命令組合測試，并對安全芯片各內(nèi)部模塊的進(jìn)行功能測試；f)、獲取安全芯片平臺配置寄存器中保存的系統(tǒng)完整性信息，并通過修改驗證此信息的方式進(jìn)行完整性信息機(jī)制的驗證。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括g)、測試項結(jié)束后把測試信息顯示在屏幕上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在整個測試流程中，采用與用戶交互的方式，用于單項特定的測試并為獲取測試結(jié)果的詳細(xì)信息用于追蹤。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在整個測試流程中，采用批處理的方式，用于芯片在生產(chǎn)線DOS環(huán)境下的測試，適用于產(chǎn)線主機(jī)板自動化測試流程。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟b)還包括b1)、設(shè)置初始化命令結(jié)構(gòu)，通過調(diào)用MP驅(qū)動程序?qū)Π踩酒M(jìn)行初始化，包括打開寄存器內(nèi)存映射區(qū)，檢驗芯片的寄存器內(nèi)存映射空間，檢驗廠商ID，設(shè)備ID，芯片版本。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟c)還包括c1)、申請芯片所使用的內(nèi)存區(qū)間段，確認(rèn)對此區(qū)間的使能操作權(quán)限；c2)、對安全芯片進(jìn)行相應(yīng)激活/非激活的測試。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述保護(hù)模式為32位。
全文摘要
本發(fā)明的一種安全芯片在DOS下的功能檢測實現(xiàn)方法，其包括如下步驟建立測試環(huán)境，在保護(hù)模式之下模擬BIOS環(huán)境，建立和系統(tǒng)BIOS和可信賴計算平臺模塊安全芯片的接口；進(jìn)行安全芯片的測試；對安全芯片的各種狀態(tài)設(shè)定進(jìn)行測試；測試成功后，創(chuàng)立芯片所有者，并建立密鑰，確認(rèn)成功后再進(jìn)行是否已清除所有者信息的測試；對安全芯片進(jìn)行各命令組合測試，并對安全芯片各內(nèi)部模塊的進(jìn)行功能測試；獲取安全芯片平臺配置寄存器中保存的系統(tǒng)完整性信息，并進(jìn)行完整性信息機(jī)制的驗證。本發(fā)明方法對于安全芯片在產(chǎn)線的測試，采用DOS并結(jié)合治具的方式來自動化測試，符合了主機(jī)板生產(chǎn)線的自動化測試流程，提高了生產(chǎn)效率。
文檔編號G06F11/26GK1728104SQ200510036219
公開日2006年2月1日 申請日期2005年7月28日 優(yōu)先權(quán)日2005年7月28日
發(fā)明者陳強(qiáng), 張璐, 朱廣志, 張瑋, 劉鑫 申請人:北京兆日科技有限責(zé)任公司