專利名稱：Sas背板的測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種SAS背板的測(cè)試裝置，特別是一種不需使用實(shí)體SAS裝置即 能進(jìn)行SAS背板測(cè)試的裝置。
背景技術(shù)：
序列式小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口(SerialAttached Small Computer System Interface, SAS)為新一代的小計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口 (Small Computer System Interface, SCSI)的標(biāo)準(zhǔn)，且為繼并行SCSI接口(Parallel SCSI)之后所開發(fā)出的全新接口。SAS接 口可以提供多點(diǎn)連接，并且在最新的SAS3. 0的標(biāo)準(zhǔn)中，數(shù)據(jù)能以6Gbps (每秒千兆位)的速 度雙向傳輸。此外，SAS接口透過(guò)縮小連接線的設(shè)計(jì)，而具有減少所占用的系統(tǒng)內(nèi)部空間的 優(yōu)點(diǎn)。SAS接口并可向下兼容，例如可與串行高技術(shù)配置(Serial Advanced Technology Attachment, SATA)硬盤連接。請(qǐng)參考圖1，其為現(xiàn)有的SAS背板的測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。SAS背板22上具有 SAS連接端口 24，SAS裝置26則分別透過(guò)SAS連接端口 24與SAS背板22相連接，而服務(wù) 端20亦電性連接于SAS背板22。服務(wù)端20中的檢測(cè)程序經(jīng)由SAS背板而對(duì)SAS裝置26 進(jìn)行存取操作，借由對(duì)SAS裝置26的讀寫以測(cè)試SAS背板22是否可以正常工作。然而此種來(lái)測(cè)試SAS背板的方法在每次測(cè)試時(shí)，均須關(guān)閉測(cè)試裝置的電源以重新 拆裝SAS背板及SAS裝置等。由于每次測(cè)試都需要關(guān)閉電源、重組裝置、再重新開啟電源， 十分耗費(fèi)時(shí)間。再者，重新組裝完測(cè)試裝置后，服務(wù)端的操作系統(tǒng)均須重新啟動(dòng)。啟動(dòng)操作 系統(tǒng)會(huì)花費(fèi)額外的時(shí)間，而造成整體的測(cè)試時(shí)間隨之延長(zhǎng)，使得測(cè)試效率低落。此外，此種 測(cè)試方法需準(zhǔn)備多個(gè)實(shí)體的SAS裝置。且若使用SAS硬盤，則由于硬盤具有存取次數(shù)的壽 命限制，使得此種測(cè)試裝置所需的成本被提高。在欲測(cè)試較高階的SAS面板(例如SAS3. 0) 時(shí)，舊有的SAS裝置可能無(wú)法繼續(xù)使用，對(duì)于舊裝置的汰舊換新亦使得此方法具有成本過(guò) 高的問(wèn)題。基于上述現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)試SAS背板的裝置，具有測(cè)試方法不便而造成測(cè)試時(shí)間冗 長(zhǎng)，以及所需設(shè)備成本高昂等問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述問(wèn)題，本發(fā)明的目的在于提供一種序列式小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口(Serial Attached Small Computer System Interface, SAS)背板的測(cè)試裝置，能以一終端模塊仿 真SAS裝置，使得此低成本的測(cè)試裝置快速地完成SAS背板的測(cè)試。為了達(dá)成上述的目的，本發(fā)明提供一種SAS背板的測(cè)試裝置，適于測(cè)試一 SAS背 板，而SAS背板具有多個(gè)SAS連接端口。其SAS背板測(cè)試裝置包括一控制模塊，終端模塊， 以及一信號(hào)回送模塊。控制模塊是用以發(fā)送一控制命令。終端模塊包括一物理層集成電 路，電性連接于SAS連接端口其中之一；以及一控制元件。控制元件是承接控制命令并令物 理層集成電路發(fā)送一測(cè)試信號(hào)予SAS背板，而測(cè)試信號(hào)為一仿真SAS裝置的信號(hào)。信號(hào)回，并把來(lái)自于SAS背板的測(cè)試信號(hào)回送給SAS背板。SAS背板 于接收回送的測(cè)試信號(hào)后，并把回送的測(cè)試信號(hào)傳送予物理層集成電路。物理層集成電路 把回送的測(cè)試信號(hào)與發(fā)送的測(cè)試信號(hào)進(jìn)行比對(duì)后，記錄一比對(duì)結(jié)果。根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，上述比對(duì)結(jié)果是以一指示燈表示。此外，SAS背板的測(cè)試 裝置另包含一信號(hào)回送模塊。控制命令包含一頻率設(shè)定命令，控制元件接收到頻率設(shè)定命 令時(shí)，令物理層集成電路依據(jù)頻率設(shè)定命令設(shè)定測(cè)試信號(hào)的頻率。根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，測(cè)試裝置包含另一終端模塊，而另一終端模塊的控制 元件承接終端模塊的控制元件的控制命令?？刂泼钍沟昧硪唤K端模塊的物理層集成電路 發(fā)送、以及接收測(cè)試信號(hào)，并且由另一終端模塊的物理層集成電路記錄比對(duì)結(jié)果。此外，控制命令另包含一尋址命令。尋址命令是令這些控制元件依據(jù)尋址命令設(shè) 定這些控制元件的地址?？刂泼盍砀换貍髅?，回傳命令是令這些控制元件回傳 這些比對(duì)結(jié)果。基于上述，根據(jù)本發(fā)明以終端模塊仿真SAS裝置與SAS背板互傳數(shù)據(jù)，而終端模塊 亦可自行產(chǎn)生測(cè)試數(shù)據(jù)并計(jì)算比對(duì)結(jié)果。是以上述的實(shí)施例可以減少SAS背板的測(cè)試裝置 的成本，并大幅減低測(cè)試所需的時(shí)間。以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述，但不作為對(duì)本發(fā)明的限定。


圖1為現(xiàn)有的SAS背板的測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為根據(jù)本發(fā)明的SAS背板的測(cè)試裝置的電路方塊示意圖；圖3為根據(jù)本發(fā)明的終端模塊的電路方塊示意圖；圖4為根據(jù)本發(fā)明的SAS背板測(cè)試方法的流程示意圖；圖5為根據(jù)本發(fā)明的SAS背板測(cè)試方法的步驟SlOO的流程圖。其中，附圖標(biāo)記20服務(wù)端22SAS 背板24SAS 連接端口24，SAS 連接端口26SAS 裝置32控制模塊34終端模塊34’終端模塊342物理層集成電路342，物理層集成電路344控制元件344，控制元件346 連接接口36指示燈36，指示燈
38信號(hào)回送模塊
具體實(shí)施例方式以下敘述的關(guān)于本發(fā)明的詳細(xì)特征以及優(yōu)點(diǎn)，其內(nèi)容足以使任何熟悉相關(guān)技藝者 了解本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，且根據(jù)本說(shuō)明書所揭露的內(nèi)容、申請(qǐng)專利范圍及圖式， 任何熟悉相關(guān)技藝者可輕易地理解本發(fā)明相關(guān)的目的及優(yōu)點(diǎn)。請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D2與圖3，其分別為根據(jù)本發(fā)明的SAS背板的測(cè)試裝置的電路方塊示 意圖，以及終端模塊的電路方塊示意圖。本發(fā)明的SAS背板的測(cè)試裝置適用于測(cè)試一 SAS 背板22，且SAS背板具有多個(gè)SAS連接端口 24。SAS背板的測(cè)試裝置包括一控制模塊32、 至少一終端模塊34以及一信號(hào)回送模塊38，其中終端模塊34包括一物理層集成電路342 以及一控制元件344。根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，控制模塊32可以是但不限于計(jì)算機(jī)主機(jī)、服務(wù)器、或是 單芯片控制器?？刂颇K32用以發(fā)出一控制命令以控管整個(gè)測(cè)試流程。終端模塊34另可 包含一連接接口 346，用以電性連接于控制模塊32。此電性連接可以是但不限于管理數(shù)據(jù) 輸入輸出總線(Management Data Input/Output，MDIO)。然而即使不借由連接接口 346，控 制模塊32與終端模塊34之間仍可以例如焊接電線的方式相連。前述控制命令是由控制模塊32發(fā)出給終端模塊34，其內(nèi)容可包括各種測(cè)試前的 配置設(shè)定，亦或是對(duì)于終端模塊34的指令。對(duì)SAS背板22開始測(cè)試之前，控制模塊32可 根據(jù)不同的測(cè)試目的與測(cè)試項(xiàng)目等對(duì)終端模塊34設(shè)定不同的配置，例如數(shù)據(jù)傳輸頻率。控 制命令可包括一頻率設(shè)定命令，則控制模塊32借由下達(dá)頻率設(shè)定命令來(lái)指定終端模塊34 與SAS背板22間的數(shù)據(jù)傳輸速率。舉例來(lái)說(shuō)，欲仿真測(cè)試在SAS1. 0規(guī)格下SAS連接端口 24的傳輸情況時(shí)，頻率設(shè)定命令的內(nèi)容可被設(shè)為1. 5Gbps ；而欲以SAS3. 0規(guī)格進(jìn)行測(cè)試時(shí)， 頻率設(shè)定命令的內(nèi)容可被設(shè)為6Gbps。在必要的情況下，此頻率設(shè)定命令有可能為lOGbps。而控制命令另可包括一啟動(dòng)命令。則控制模塊32對(duì)終端模塊34設(shè)定完配置之后， 發(fā)送啟動(dòng)命令以令終端模塊34開始執(zhí)行對(duì)SAS背板22的測(cè)試。終端模塊34借由SAS連接端口 24連接于SAS背板22，并以MDIO與控制模塊32電 性相連。終端模塊34是用以仿真SAS裝置26以測(cè)試與SAS背板22之間的物理層(physical layer)的數(shù)據(jù)傳輸狀況。前述SAS裝置可以是但不限于SAS硬盤。終端模塊34包括物理層集成電路342以及控制元件344，其中物理層集成電路 342是電性連接于SAS連接端口 24其中之一)，并產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)后傳SAS背板22。根據(jù)本發(fā) 明，物理層集成電路342可以是一固定頻率發(fā)送物理層信號(hào)的集成電路或是能在被設(shè)定后 以不同頻率發(fā)送物理層信號(hào)的集成電路，例如但不限于是TI的TLK3101，最高可達(dá)3. 125G， TLK2541最高可達(dá)2. 6G，或是BroadCom BCM8073最高可達(dá)10G。前述測(cè)試信號(hào)是仿真一 SAS裝置的信號(hào)。物理層集成電路342所產(chǎn)生的測(cè)試信號(hào)的內(nèi)容可以例如是交錯(cuò)式的序列 (例如010101···)或是隨機(jī)隨機(jī)數(shù)的序列(例如偽隨機(jī)二進(jìn)制序列，Pseudo Random Binary Sequence, PRBS 2"_1)。物理層集成電路342以控制模塊32所指定的傳輸速率把測(cè)試信 號(hào)發(fā)送給SAS背板，而終端模塊34仿真SAS裝置26進(jìn)行傳輸時(shí)，所能夠達(dá)到的傳輸速度取 決于物理層集成電路342的能力。本實(shí)施例使用的BCM8073所能達(dá)到的最高傳輸頻率高達(dá) lOGbps，足以充分支持SAS3. O標(biāo)準(zhǔn)的6Gbps。
物理層集成電路342并以控制模塊32所指定的傳輸速率接收SAS背板22所傳回 的測(cè)試信號(hào)，且比對(duì)發(fā)送的測(cè)試信號(hào)與回送的測(cè)試信號(hào)，并記錄一比對(duì)結(jié)果。由于物理層集 成電路342可自行產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)并比對(duì)測(cè)試結(jié)果，是以控制模塊32下達(dá)啟動(dòng)命令后并不需 再做與SAS背板測(cè)試相關(guān)的運(yùn)算。換言之，控制模塊32在下達(dá)啟動(dòng)命令后直到測(cè)試結(jié)果產(chǎn) 生之前，均可自由執(zhí)行其它工作。終端模塊34的控制元件344是用以控管終端模塊34的運(yùn)作?？刂圃?44在承 接控制模塊32所發(fā)出的控制命令后，再傳達(dá)控制命令的內(nèi)容給物理層集成電路342。例如 使得物理層集成電路342改變收發(fā)測(cè)試信號(hào)的頻率，或是發(fā)送測(cè)試信號(hào)予SAS背板以執(zhí)行 測(cè)試的動(dòng)作?？刂圃?44亦記錄終端模塊34的狀態(tài)，例如終端模塊34的電源狀態(tài)是否 開啟，或是終端模塊34是否已完成SAS背板的測(cè)試動(dòng)作。信號(hào)回送模塊38是用以令SAS背板22把測(cè)試信號(hào)回送給物理層集成電路342。 信號(hào)回送模塊38是電性連結(jié)于SAS背板22，并把來(lái)自于SAS背板22的測(cè)試信號(hào)回送給SAS 背板22。因此SAS背板22收到物理層集成電路342所發(fā)送的測(cè)試信號(hào)后，把測(cè)試信號(hào)傳 給信號(hào)回送模塊38，再把信號(hào)回送模塊38所傳回的測(cè)試信號(hào)傳送給物理層集成電路342。 又，信號(hào)回送模塊38可以是但不限定是一擴(kuò)充適配卡(Interface Card, I/F Card)。而控制模塊32為了取得比對(duì)結(jié)果，控制命令另可包括一回傳命令?；貍髅钍橇?控制元件344回傳比對(duì)結(jié)果。控制模塊32獲得比對(duì)結(jié)果后便可記錄SAS背板的測(cè)試結(jié)果， 亦可進(jìn)一步地對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析，例如產(chǎn)品的良率等。此外，比對(duì)結(jié)果亦能以一指示燈36表示。例如使指示燈36顯示為綠色代表測(cè)試 成功。其意指物理層集成電路342所發(fā)出的測(cè)試信號(hào)與由SAS背板22所回送的測(cè)試信號(hào) 經(jīng)比對(duì)后相同，即表示此終端模塊34電性相連的SAS連接端口 24傳輸正常。相對(duì)的，若比 對(duì)結(jié)果為測(cè)試失敗時(shí)，指示燈36則顯示為紅色。而指示燈36另可表示終端模塊34測(cè)試的 狀態(tài)，例如測(cè)試中可閃爍橙色，而指示燈36熄滅則表示終端模塊34為待機(jī)中。除了測(cè)試SAS背板22的SAS連接端口 24的傳輸狀況，控制模塊32亦可借由控制 命令等測(cè)試SAS背板22上的發(fā)光二極管(Light Emitting Diode, LED)等SAS背板可能需 要被檢驗(yàn)的項(xiàng)目。根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，SAS背板的測(cè)試裝置包含另一終端模塊34’。另一終端 模塊34’電性連接于SAS背板22上的另一 SAS連接端口 24’，且終端模塊34與另一終端模 塊34，之間透過(guò)連接接口 346以MDIO相連。換言之，終端模塊34與另一終端模塊34’以 串聯(lián)的形式相連結(jié)。另一終端模塊34’的控制元件344’是承接終端模塊34的控制元件344的控制命 令，控制命令使得另一終端模塊34’的物理層集成電路342’發(fā)送、以及接收測(cè)試信號(hào)，并由 另一終端模塊34’的物理層集成電路342’記錄比對(duì)結(jié)果。更詳細(xì)的說(shuō)，控制元件344收到 控制命令后除了把控制命令轉(zhuǎn)給物理層集成電路342之外，并把控制命令繼續(xù)傳給控制元 件344’?？刂圃?44’則接收測(cè)試命令并轉(zhuǎn)給物理層集成電路342’，以令物理層集成電 路342’對(duì)SAS背板22進(jìn)行測(cè)試。此外，終端模塊34與另一終端模塊34’可依序執(zhí)行測(cè)試 程序，但亦可同時(shí)進(jìn)行。為了更加詳細(xì)的掌控測(cè)試的結(jié)果，控制命令另可包括一尋址命令。尋址命令是令 控制元件344以及另一控制元件344’依據(jù)尋址命令個(gè)別設(shè)定一地址。如此一來(lái)，當(dāng)發(fā)生測(cè)試失敗時(shí)，控制模塊32便可依據(jù)被傳回的地址得知錯(cuò)誤發(fā)生于終端模塊34亦或終端模 塊34’。且借由尋址命令與回傳命令，控制模塊32便能令控制元件344以及另一控制元件 344’回傳個(gè)別的比對(duì)結(jié)果。與終端模塊34同樣地，比對(duì)結(jié)果亦能以一指示燈36’表示。于上述實(shí)施例中可知，根據(jù)本發(fā)明的SAS背板的測(cè)試裝置內(nèi)可包含多個(gè)終端模塊 34，其分別與同一 SAS背板22的與不同SAS連接端口 24電性連接，且多個(gè)終端模塊34之 間是以串聯(lián)的方式連接?？刂圃?44承接控制命令后把控制命令再傳給其它的終端模塊 34，并個(gè)別依據(jù)控制命令行動(dòng)。而控制模塊亦可借各終端模塊34的地址進(jìn)行區(qū)別。請(qǐng)參照?qǐng)D4，其為根據(jù)本發(fā)明的SAS背板測(cè)試方法的流程示意圖。由圖可以知悉， 測(cè)試的流程包括步驟S50 控制模塊32列舉(enumerate)連接中的終端模塊34的個(gè)數(shù)； 步驟S60 判斷終端模塊34的個(gè)數(shù)是否等于設(shè)定值；步驟S70 判斷是否使用預(yù)設(shè)配置值； 步驟S80 指定預(yù)設(shè)配置值予終端模塊34 ；步驟S90 指定特殊配置值予終端模塊34 ；步驟 SlOO 令終端模塊34執(zhí)行測(cè)試程序；步驟SllO 判斷是否測(cè)試完所有的終端模塊34 ；以及 步驟S120 令終端模塊34回傳比對(duì)結(jié)果。于步驟S50中，控制模塊以列舉的方式搜尋與SAS背板22連接中的終端模塊34的 個(gè)數(shù)，并于步驟S60中檢查搜尋到的終端模塊34的個(gè)數(shù)是否等于事先設(shè)定的欲測(cè)試個(gè)數(shù)。 若以列舉的方式找出的連接中的終端模塊34個(gè)數(shù)與設(shè)定值不合，則重新列舉搜尋。若個(gè)數(shù) 正確，則步驟S70判斷是否使用預(yù)設(shè)配置值于終端模塊34?？刂颇K32可對(duì)不同的終端模 塊設(shè)定不同的配置。例如欲對(duì)不同的SAS連接端口 24測(cè)試不同的傳輸頻率時(shí)，即可下達(dá)尋 址命令與頻率指定命令以指定不同的傳輸頻率給每一個(gè)終端模塊34。故依據(jù)不同的需求， 控制模塊32可在步驟S80對(duì)終端模塊34指定預(yù)設(shè)的配置，亦可在步驟S90指定特別的配 置。依據(jù)控制模塊32所指定的配置，終端模塊34于步驟SlOO中執(zhí)行測(cè)試程序。請(qǐng)同 時(shí)參照?qǐng)D5，其為根據(jù)本發(fā)明的SAS背板測(cè)試方法的步驟SlOO的流程圖。由圖可知，測(cè)試流 程中包括步驟SlOl 物理層集成電路342產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)；步驟S102 物理層集成電路342發(fā) 送測(cè)試信號(hào)給SAS背板22 ；步驟S103 =SAS背板22由SAS連接端口 24收到測(cè)試信號(hào)后傳給 信號(hào)回送模塊38 ；步驟S104 信號(hào)回送模塊38把測(cè)試信號(hào)傳回給SAS背板22 ；步驟S105 SAS背板22透過(guò)SAS連接端口 24把測(cè)試信號(hào)傳回給物理層集成電路342 ；步驟S106 物理 層集成電路342接收傳回來(lái)的測(cè)試信號(hào)；以及步驟S107 物理層集成電路342比對(duì)回送的 測(cè)試信號(hào)與發(fā)送的測(cè)試信號(hào)，記錄比對(duì)結(jié)果。于步驟SlOl中，首先物理層集成電路342產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)，并于步驟S102中把測(cè)試 信號(hào)借由SAS連接端口 24發(fā)送給SAS背板22。則于步驟S103，SAS背板22收到測(cè)試信號(hào) 后傳送給信號(hào)回送模塊38，而信號(hào)回送模塊38于步驟S104直接將收到的測(cè)試信號(hào)再傳回 給SAS背板22。SAS背板22收到由信號(hào)回送模塊38所傳來(lái)的測(cè)試信號(hào)后，于步驟S105透 過(guò)SAS連接端口 24把測(cè)試信號(hào)傳回給物理層集成電路342，并且物理層集成電路342于步 驟S106中接收由SAS背板22所傳回的測(cè)試信號(hào)。借由上述一連串的傳輸過(guò)程，仿真以終端模塊34代替SAS裝置26的存取操作，以 這些傳輸?shù)倪^(guò)程測(cè)試SAS連接端口 24使否可以正常存取。因此最后于步驟S107，物理層集 成電路342把由SAS背板所回送的測(cè)試信號(hào)與本身發(fā)送的測(cè)試信號(hào)進(jìn)行比對(duì)，并把比對(duì)結(jié) 果記錄下來(lái)。
借由尋址，各個(gè)終端模塊34可依序或同時(shí)對(duì)各個(gè)SAS連接端口 24進(jìn)行測(cè)試信號(hào) 的傳輸。控制模塊32于步驟SllO中確認(rèn)是否所有終端模塊34均測(cè)試完畢，并可于步驟 S120中下達(dá)回傳命令，以要求各個(gè)終端模塊34回傳比對(duì)結(jié)果。而借由指示燈36，即使不把 比對(duì)結(jié)果回傳，亦能表示出SAS背板的測(cè)試結(jié)果。據(jù)本發(fā)明的SAS背板的測(cè)試裝置，可使用終端裝置仿真SAS裝置，而此終端模塊能 夠自行產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)并產(chǎn)生比對(duì)結(jié)果，進(jìn)行與SAS背板間的數(shù)據(jù)傳輸?shù)臏y(cè)試。由于測(cè)試時(shí) 不需要使用到SAS裝置與主機(jī)或服務(wù)器，亦不需等待操作系統(tǒng)重新啟動(dòng)，故能以低成本的 裝置達(dá)到快速測(cè)試SAS背板的目的。此外，即使將來(lái)欲測(cè)試的SAS背板的總線頻率規(guī)格提 高，僅需置換具有對(duì)應(yīng)頻率的物理層集成電路亦可對(duì)應(yīng)。當(dāng)然，本發(fā)明還可有其它多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下，熟 悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變 形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
一種序列式小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口背板的測(cè)試裝置，適用于測(cè)試一SAS背板，該背板具有多個(gè)SAS連接端口，其特征在于，該測(cè)試裝置包括一控制模塊，用以發(fā)送一控制命令；一終端模塊，包括一物理層集成電路，電性連接于該些SAS連接端口其中之一；一控制元件，是承接該控制命令并令該物理層集成電路發(fā)送一測(cè)試信號(hào)予該SAS背板，該測(cè)試信號(hào)為一仿真SAS裝置的信號(hào)；一信號(hào)回送模塊，電性連結(jié)于該SAS背板，并把來(lái)自于該SAS背板的該測(cè)試信號(hào)回送給該SAS背板，該SAS背板于接收該回送的測(cè)試信號(hào)后，并把該回送的測(cè)試信號(hào)傳送予該物理層集成電路，該物理層集成電路把該回送的測(cè)試信號(hào)與該發(fā)送的測(cè)試信號(hào)進(jìn)行比對(duì)后，記錄一比對(duì)結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的序列式小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口背板的測(cè)試裝置，其特征在于， 其中該比對(duì)結(jié)果是以一指示燈表示。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的序列式小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口背板的測(cè)試裝置，其特征在于， 其中該控制命令包含一頻率設(shè)定命令，該控制元件接收到該頻率設(shè)定命令時(shí)，令該物理層 集成電路依據(jù)該頻率設(shè)定命令設(shè)定該測(cè)試信號(hào)的頻率。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的序列式小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口背板的測(cè)試裝置，其特征在于， 其中該測(cè)試裝置包含另一該終端模塊，另一該終端模塊的該控制元件是承接該終端模塊的 該控制元件的該控制命令，該控制命令使得另一該終端模塊的該物理層集成電路發(fā)送、以 及接收該測(cè)試信號(hào)并由另一該終端模塊的該物理層集成電路記錄該比對(duì)結(jié)果。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的序列式小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口背板的測(cè)試裝置，其特征在于， 其中該控制命令包含一尋址命令，該尋址命令是令該些控制元件依據(jù)該尋址命令設(shè)定該些 控制元件的地址。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的序列式小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口背板的測(cè)試裝置，其特征在于， 其中該控制命令包含一回傳命令，該回傳命令是令該些控制元件把該些比對(duì)結(jié)果傳送給該 控制模塊。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種SAS背板的測(cè)試裝置，適用于測(cè)試一SAS背板。SAS背板具有多個(gè)SAS連接端口。SAS背板測(cè)試裝置包括一控制模塊用以發(fā)送一控制命令，一終端模塊，以及一信號(hào)回送模塊。終端模塊包括一物理層集成電路以及一控制元件?？刂圃薪涌刂泼畈⒘钗锢韺蛹呻娐钒l(fā)送一測(cè)試信號(hào)予SAS背板。信號(hào)回送模塊電性連結(jié)于SAS背板，并把來(lái)自于SAS背板的測(cè)試信號(hào)回送給SAS背板。SAS背板接收回送的測(cè)試信號(hào)后，把回送的測(cè)試信號(hào)傳予物理層集成電路。物理層集成電路把回送的測(cè)試信號(hào)與發(fā)送的測(cè)試信號(hào)進(jìn)行比對(duì)后，記錄一比對(duì)結(jié)果。
文檔編號(hào)G06F11/267GK101930393SQ20091013962
公開日2010年12月29日 申請(qǐng)日期2009年6月26日 優(yōu)先權(quán)日2009年6月26日
發(fā)明者鄭全階, 金志仁, 陳玄同 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司