一種多芯片rfid的測試方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種多芯片RFID的測試方法，該方法通過讀卡設(shè)備實現(xiàn)，所述RFID包括標(biāo)簽芯片和標(biāo)簽天線，所述讀卡設(shè)備包括線圈，所述的測試方法包括準(zhǔn)備步驟，分別拆除所述RFID的標(biāo)簽天線和讀卡設(shè)備的線圈，并分別在該RFID和讀卡設(shè)備的對應(yīng)位置安裝電感；安裝步驟，將若干個經(jīng)過所述準(zhǔn)備步驟的讀卡設(shè)備并聯(lián)連接后通過串口同時與一外部計算機(jī)連接，且每個讀卡設(shè)備分別與一經(jīng)過所述準(zhǔn)備步驟的RFID電感耦合。本發(fā)明不僅徹底解決了讀卡設(shè)備線圈間的相互干擾問題，而且還可以實現(xiàn)八個RFID標(biāo)簽芯片的同時測試，從而大大降低了測試時間和成本。
【專利說明】—種多芯片RFID的測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種多芯片RFID(電子標(biāo)簽)的測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]眾所周知，RFID根據(jù)工作方式可分為主動式(有源)和被動式(無源)兩大類，其中，被動式RFID由標(biāo)簽芯片和標(biāo)簽天線或線圈組成，利用電感耦合或電磁反向散射耦合原理實現(xiàn)與讀寫器之間的通訊。RFID中存儲一個唯一編碼，通常為64bits、96bits甚至更高，其地址空間大大高于條碼所能提供的空間，因此可以實現(xiàn)單品級的物品編碼。當(dāng)RFID進(jìn)入讀寫器的作用區(qū)域，就可以根據(jù)電感耦合原理(近場作用范圍內(nèi))或電磁反向散射耦合原理(遠(yuǎn)場作用范圍內(nèi))在標(biāo)簽天線兩端產(chǎn)生感應(yīng)電勢差，并在標(biāo)簽芯片通路中形成微弱電流，如果這個電流強度超過一個閥值，就將激活RFID標(biāo)簽芯片電路工作，從而對標(biāo)簽芯片中的存儲器進(jìn)行讀/寫操作。
[0003]天線(或線圈)是RFID和讀寫器之間實現(xiàn)射頻信號空間傳播和建立無線通訊連接的設(shè)備。RFID系統(tǒng)中包括兩類天線，一類是RFID上的天線，另一類是讀寫器天線，此類天線既可以內(nèi)置于讀寫器中，也可以通過同軸電纜與讀寫器的射頻輸出端口相連。然而在實際使用中，由于讀卡器天線線圈的面積較大，并且容易相互之間產(chǎn)生干擾，因此，對于RFID的標(biāo)簽芯片測試來說，無法實現(xiàn)多標(biāo)簽芯片RFID的測試。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，本發(fā)明旨在提供一種多芯片RFID的測試方法，以達(dá)到用有線方式取代無線方式同時測試多芯片RFID的目的。
[0005]由于采用了上述的技術(shù)解決方案，本發(fā)明通過用電感分別取代RFID的標(biāo)簽天線和讀卡設(shè)備的線圈，使RFID和讀卡設(shè)備直接以變壓器的形式連接，同時通過串口使并聯(lián)的若干讀卡設(shè)備在計算機(jī)上實現(xiàn)同時控制，從而實現(xiàn)了用有線方式取代無線方式的多芯片RFID的測試；本發(fā)明不僅徹底解決了讀卡設(shè)備線圈間的相互干擾問題，而且還可以實現(xiàn)八個RFID標(biāo)簽芯片的同時測試，從而大大降低了測試時間和成本。
【具體實施方式】
[0006]本發(fā)明，即一種多芯片RFID的測試方法，該方法通過讀卡設(shè)備實現(xiàn)，RFID包括標(biāo)簽芯片和標(biāo)簽天線，讀卡設(shè)備包括線圈。本發(fā)明的測試方法包括下列步驟:
[0007]準(zhǔn)備步驟，分別拆除RFID的標(biāo)簽天線和讀卡設(shè)備的線圈，并分別在該RFID和讀卡設(shè)備的對應(yīng)位置安裝電感；
[0008]調(diào)整步驟，調(diào)整經(jīng)準(zhǔn)備步驟的RFID上的電感匝數(shù)，使RFID的標(biāo)簽芯片具有足夠的工作電壓:
[0009]安裝步驟，將若干個經(jīng)過準(zhǔn)備步驟的讀卡設(shè)備并聯(lián)連接后通過串口同時與一外部計算機(jī)連接，且每個讀卡設(shè)備分別與一經(jīng)過準(zhǔn)備步驟的RFID電感耦合；至此，即可順利實[0010]現(xiàn)多芯片RFID的同時測試。
[0011]在本實施例中，安裝步驟中的讀卡設(shè)備的數(shù)量為八個，即本發(fā)明可實現(xiàn)八個RFID標(biāo)簽芯片的同時測試。
[0012]綜上所述，本發(fā)明不僅徹底解決了讀卡設(shè)備線圈間的相互干擾問題，而且還大大降低了 RFID的測試時間和成本。
[0013]以上結(jié)合實施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域中普通技術(shù)人員可根據(jù)上述說明對本發(fā)明做出種種變化例。因而，實施例中的某些細(xì)節(jié)不應(yīng)構(gòu)成對本發(fā)明的限定，本發(fā)明將以所附權(quán)利要求書界定的范圍作為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種多芯片RFID的測試方法，該方法通過讀卡設(shè)備實現(xiàn)，所述RFID包括標(biāo)簽芯片和標(biāo)簽天線，所述讀卡設(shè)備包括線圈，其特征在于，所述的測試方法包括下列步驟，準(zhǔn)備步驟，分別拆除所述RFID的標(biāo)簽天線和讀卡設(shè)備的線圈，并分別在該RFID和讀卡設(shè)備的對應(yīng)位置安裝電感；安裝步驟，將若干個經(jīng)過所述準(zhǔn)備步驟的讀卡設(shè)備并聯(lián)連接后通過串口同時與一外部計算機(jī)連接，且每個讀卡設(shè)備分別與一經(jīng)過所述準(zhǔn)備步驟的RFID電感耦合。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多芯片RFID的測試方法，其特征在于，所述的測試方法還包括在所述安裝步驟之前的調(diào)整步驟，調(diào)整經(jīng)過所述準(zhǔn)備步驟的RFID上的電感匝數(shù)，使該RFID的標(biāo)簽芯片具有足夠的工作電壓。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的多芯片RFID的測試方法，其特征在于，所述安裝步驟中，讀卡設(shè)備的數(shù)量為八個。
【文檔編號】G06K7/00GK103761491SQ201310416731
【公開日】2014年4月30日 申請日期:2013年9月10日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月10日
【發(fā)明者】楊斌 申請人:天津傳世科技有限公司