在薄膜輸入裝置上檢測觸壓點(diǎn)的方法
【專利摘要】在薄膜輸入裝置上檢測觸壓點(diǎn)的方法。在薄膜輸入裝置包含的薄膜元件上檢測觸壓點(diǎn)時，通過薄膜輸入裝置包含的處理器的控制，先行將薄膜元件上的縱向感應(yīng)線與橫向感應(yīng)線皆以直流電壓源進(jìn)行充電，再將欲檢測的縱向感應(yīng)線接地并將其余的縱向感應(yīng)線皆浮接，以及通過將與欲檢測的橫向感應(yīng)線浮接并將其余的橫向感應(yīng)線皆掛載于感應(yīng)電阻以耦接于直流電壓源，使得出現(xiàn)多個被觸壓的觸壓點(diǎn)時，防止被觸壓的感應(yīng)線交錯點(diǎn)受到感應(yīng)電阻并聯(lián)而減小阻值的影響而被誤判為未觸壓點(diǎn)，并可節(jié)省采用高電阻值的感應(yīng)電阻所帶來的高成本與大集成電路面積。
【專利說明】在薄膜輸入裝置上檢測觸壓點(diǎn)的方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明公開一種在薄膜輸入裝置上檢測觸壓點(diǎn)的方法，尤其涉及一種通過動態(tài)掛 載無需過高阻值的感應(yīng)電阻于薄膜輸入裝置上的部分感應(yīng)線以使多個被觸壓的感應(yīng)線交 錯點(diǎn)不致因感應(yīng)電阻并聯(lián)而減小阻值造成電位過高而被誤判為未被觸壓的方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 含純碳的碳混合銀漿膜因?yàn)槠洳牧铣杀鞠鄬冦y漿膜來的低廉許多，因此未來極 有可能作為制造鍵盤為主的各種薄膜輸入裝置時的主要材料。然而，由于碳混合銀漿膜的 電阻值比純銀漿膜的電阻值來的大上非常多，因此若薄膜輸入裝置所使用的感應(yīng)電阻值不 夠大，多個鍵被按壓時，其感應(yīng)電阻會受并聯(lián)而明顯減小阻值，而使得以碳混合銀漿膜制造 的薄膜輸入裝置在被使用時，常會有誤判被按壓的按鍵為未被按壓的按鍵的情形發(fā)生。
[0003] 請參閱圖1，其為一般以碳銀漿混合膜制造的一薄膜輸入裝置100中薄膜電阻的 等效電路示意圖。如圖1所示，薄膜輸入裝置100包含了一薄膜元件101以及一未圖示的 處理器。薄膜元件101包含了至少多條縱向感應(yīng)線SL1、SL2與多條橫向感應(yīng)線RL1、RL2、 RL3,其中縱向感應(yīng)線SLl上包含有多個串聯(lián)的電阻1^11、1^12、1^13、1^14，縱向感應(yīng)線51^2 上包含有多個串聯(lián)的電阻Rs21、Rs22、Rs33、Rs24,橫向感應(yīng)線RLl上包含有多個串聯(lián)的電 阻此11、此12、此13，橫向感應(yīng)線1^2上包含有多個串聯(lián)的電阻1^21、1^22、1^23，橫向感應(yīng) 線RL3上包含有多個串聯(lián)的電阻Rr31、Rr32、Rr33。如圖1所示，縱向感應(yīng)線SL1、SL2與橫 向感應(yīng)線RL1、RL2、RL3交錯出共六個交錯點(diǎn)，且這些交錯點(diǎn)上的電位可用來判定這些交錯 點(diǎn)是否被按壓，而據(jù)以判定出使用者對薄膜輸入裝置100的正確觸壓點(diǎn)。另外，當(dāng)未被按壓 時，各橫向感應(yīng)線與各縱向感應(yīng)線之間彼此不會接觸，反之，當(dāng)一橫向感應(yīng)線與一縱向感應(yīng) 線之間的交錯點(diǎn)被按壓時，該橫向感應(yīng)線與該縱向感應(yīng)線之間會彼此接觸。另外，圖1所示 的橫向開關(guān)SWR1、SWR2、SWR3、縱向開關(guān)SWL1、SWL2、以及感應(yīng)電阻Rpul、Rpu2、Rpu3、Rpu4 等皆被包含于上述的處理器中。
[0004] 薄膜輸入裝置100檢測觸壓點(diǎn)的方式主要是：（1)將單一縱向感應(yīng)線（例如圖1 所示的縱向感應(yīng)線SL1)的一端接地，以將該縱向感應(yīng)線放電，并將其他縱向感應(yīng)線都通過 一感應(yīng)電阻（例如縱向感應(yīng)線SL2通過縱向開關(guān)SWL2所掛載的感應(yīng)電阻Rpu4)而掛載于 一直流電壓源VDD ;⑵將⑴中與被接地的縱向感應(yīng)線交錯的所有橫向感應(yīng)線（例如圖1 所示的橫向感應(yīng)線RL1、RL2、RL3)都通過感應(yīng)電阻（例如橫向感應(yīng)線RL1、RL2、RL3各自通 過橫向開關(guān)SWRl、SWR2、SWR3所各自掛載的感應(yīng)電阻Rpul、Rpu2、Rpu3)而掛載于直流電壓 源VDD。通過步驟（1)、步驟（2)，可將該單一縱向感應(yīng)線上的所有觸壓點(diǎn)檢測出來，且可再 依序?qū)⒉襟E（1)、步驟（2)實(shí)施于其他的單一縱向感應(yīng)線，以完整掌握薄膜輸入裝置100上 的所有觸壓點(diǎn)。在此文案中都假設(shè)每一感應(yīng)線所掛載的感應(yīng)電阻的電阻值皆相等為一感應(yīng) 電阻值Rpu，也就是說感應(yīng)電阻RpuI、Rpu2、Rpu3、Rpu4的電阻值皆相等為感應(yīng)電阻值Rpu。
[0005] 步驟（1)與步驟（2)的實(shí)施方式將更詳細(xì)描述如下。當(dāng)縱向感應(yīng)線SLl被檢測時， 如果與之交錯的一橫向感應(yīng)線（例如橫向感應(yīng)線RL1)上的電位被檢測到低于一臨界按壓 電位Vth (其可為代表邏輯值O的一低電位），則代表該縱向感應(yīng)線與該橫向感應(yīng)線的交錯 點(diǎn)被按壓而使得該縱向感應(yīng)線暫時接觸于該橫向感應(yīng)線，并使得該交錯點(diǎn)的電位因通過該 縱向感應(yīng)線所連接的接地端而被放電至低于該臨界按壓電位；反之，如果該橫向感應(yīng)線上 的電位被檢測到未低于該臨界按壓電位，則代表該縱向感應(yīng)線與該橫向感應(yīng)線的交錯點(diǎn)因 為未被按壓而使得該縱向感應(yīng)線此時未接觸于該橫向感應(yīng)線，使得該交錯點(diǎn)的電位大約等 于直流電壓源VDD的電位。
[0006] 感應(yīng)電阻Rpul的理想最小電阻值可由以下過程推導(dǎo)。此時橫向開關(guān)SWRUSWR2、 SWR3皆被切換為短路，且假設(shè)縱向開關(guān)SWLl被切換至一接地端使得縱向感應(yīng)線SWLl將可 被檢測，同時縱向開關(guān)SW2被切換以通過感應(yīng)電阻Rpu4來耦接于直流電壓源VDD。在此文案 中都假設(shè)該臨界按壓電位為直流電壓源VDD的電位的三分之一，并假設(shè)在此文案中這些橫 向感應(yīng)線與這些縱向感應(yīng)線上的所有等效電阻（也就是橫向電阻Rrll、Rrl2、Rrl3、Rr21、 Rr22、Rr23、Rr31、Rr32、Rr33 與縱向電阻 Rsll、Rsl2、Rsl3、Rsl4、Rs21、Rs22、Rs23、Rs24) 的電阻值皆為R。如果在某一時刻，縱向感應(yīng)線Rsll與橫向感應(yīng)線Rrll之間的交錯點(diǎn)Vl 被按壓，則在觀察由直流電壓源VDD通過感應(yīng)電阻Rpu 1、橫向開關(guān)SWRl、橫向電阻Rr 11、縱 向電阻RslU縱向開關(guān)SWL1、再至接地端的路徑后，可發(fā)現(xiàn)要滿足感應(yīng)電阻Rpul的電阻值 Rpu為最小的等式如下：

【權(quán)利要求】
1. 一種在一薄膜輸入裝置上檢測觸壓點(diǎn)的方法，該薄膜輸入裝置包含多個縱向感應(yīng)線 W及多個橫向感應(yīng)線，每一縱向感應(yīng)線上包含有多個串聯(lián)的縱向電阻及一縱向開關(guān)，該每 一縱向感應(yīng)線W交錯點(diǎn)被按壓時才彼此接觸的方式交錯于每一橫向感應(yīng)線，每一橫向感應(yīng) 線上包含有多個串聯(lián)的橫向電阻、一感應(yīng)電阻、W及一橫向開關(guān)，該橫向開關(guān)禪接于該多個 橫向電阻與該感應(yīng)電阻之間，且該感應(yīng)電阻禪接于該橫向開關(guān)與一電壓源之間，該方法包 含： (a)將該多個縱向感應(yīng)線與該多個橫向感應(yīng)線充電至一第一電位； 化）將該每一縱向感應(yīng)線上的該縱向開關(guān)切換至開路，W浮接（float)該每一縱向感 應(yīng)線； (C)將該多個縱向感應(yīng)線中的一第一縱向感應(yīng)線進(jìn)行放電； (d) 將該多個橫向感應(yīng)線中至少一個第一橫向感應(yīng)線上的橫向開關(guān)切換至開路，W浮 接該至少一個第一橫向感應(yīng)線； (e) 檢測該至少一個第一橫向感應(yīng)線上的電位；及 (f) 當(dāng)檢測到該至少一個第一橫向感應(yīng)線上的一第一橫向感應(yīng)線上的電位低于一臨界 按壓電位時，判定電位低于該臨界按壓電位的該第一橫向感應(yīng)線與該第一縱向感應(yīng)線之間 的一第一交錯點(diǎn)被按壓。
2. 如權(quán)利要求1所述的方法，還包含： (g) 當(dāng)檢測到該至少一個第一橫向感應(yīng)線上的一第一橫向感應(yīng)線上的電位未低于該臨 界按壓電位時，判定電位未低于該臨界按壓電位的該第一橫向感應(yīng)線與該第一縱向感應(yīng)線 之間的一第二交錯點(diǎn)未被按壓。
3. 如權(quán)利要求1所述的方法，還包含： 化）將該至少一個第一橫向感應(yīng)線上的橫向開關(guān)切換至短路； (i) 將該多個橫向感應(yīng)線中除了該至少一個第一橫向感應(yīng)線的至少一個第二橫向感應(yīng) 線上的橫向開關(guān)切換至開路，W浮接該至少一個第二橫向感應(yīng)線； (j) 檢測該至少一個第二橫向感應(yīng)線上的電位；及 化）當(dāng)檢測到該至少一個第二橫向感應(yīng)線上的一第二橫向感應(yīng)線上的電位低于該臨界 按壓電位時，判定電位低于該臨界按壓電位的該第二橫向感應(yīng)線與該第一縱向感應(yīng)線之間 的一第H交錯點(diǎn)被按壓。
4. 如權(quán)利要求3所述的方法，還包含： (l) 當(dāng)該多個橫向感應(yīng)線與該第一縱向感應(yīng)線的所有交錯點(diǎn)是否被按壓的狀況皆已被 判定后，將該多個橫向感應(yīng)線與該多個縱向感應(yīng)線充電至該第一電位； (m) 將該每一縱向感應(yīng)線上的該縱向開關(guān)切換至開路，W浮接該每一縱向感應(yīng)線； (n) 將該多個縱向感應(yīng)線的一第二縱向感應(yīng)線進(jìn)行放電； (O) 將該多個橫向感應(yīng)線中至少一個第H橫向感應(yīng)線上的橫向開關(guān)切換至開路，W浮 接該至少一個第H橫向感應(yīng)線； (P)檢測該至少一個第H橫向感應(yīng)線上的電位；及 (f)當(dāng)檢測到該至少一個第H橫向感應(yīng)線上的一第H橫向感應(yīng)線上的電位低于該臨界 按壓電位時，判定電位低于該臨界按壓電位的該第H橫向感應(yīng)線與該第二縱向感應(yīng)線之間 的一第四交錯點(diǎn)被按壓。
5. 如權(quán)利要求4所述的方法，還包含： (0)當(dāng)檢測到該至少一個第H橫向感應(yīng)線上的一第H橫向感應(yīng)線上的電位未低于該臨 界按壓電位時，判定電位未低于該臨界按壓電位的該第H橫向感應(yīng)線與該第二縱向感應(yīng)線 之間的一第五交錯點(diǎn)未被按壓。
6. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中該感應(yīng)電阻的一電阻值為該薄膜輸入裝置的一最大 回路阻值為基礎(chǔ)，且該感應(yīng)電阻的電阻值調(diào)整或選用與被判斷已被按壓的交錯點(diǎn)的個數(shù)成 正比。
【文檔編號】G06F3/045GK104461210SQ201310499528
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2013年10月22日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月13日
【發(fā)明者】潘克寧, 張瓊文 申請人:偉詮電子股份有限公司