3上。然后，分析處理裝置4基于像點(diǎn)地探測(cè)光學(xué)成像中的局部強(qiáng)度最大值并且確定、尤 其僅僅確定這些局部強(qiáng)度最大值的數(shù)量。如果在不同像點(diǎn)位置上存在的局部強(qiáng)度最大值的 數(shù)量大于或等于預(yù)先確定的數(shù)量，其中所述數(shù)量至少為2,則可以驗(yàn)證所述安全元件。
[0086] 此外，設(shè)備1包括第一白光光源8和第二白光光源9。第一白光光源8在此相對(duì)于 所述區(qū)段7如此設(shè)置，使得借助于第一白光光源8將白光10以預(yù)先確定的第一入射角度發(fā) 射到區(qū)段7上。由區(qū)段7反射的光同樣借助透鏡5成像到C⑶芯片3上。然后，分析處理 裝置4可以確定所反射的光的色調(diào)。第二白光光源9相應(yīng)地相對(duì)于區(qū)段7如此設(shè)置，使得 借助于第二白光光源9將白光11以預(yù)先確定的第二入射角發(fā)射到區(qū)段7上，其中第一入射 角不同于第二入射角。由區(qū)段7反射的光同樣借助透鏡5成像到C⑶芯片3上。然后，分 析處理裝置4可以確定所反射的光的色調(diào)或者譜頻率。
[0087] 如果探測(cè)到通過光學(xué)可變顏料的特性和入射角確定的預(yù)先確定的色調(diào)，則可以驗(yàn) 證安全元件。
[0088] 圖2示出激勵(lì)電場(chǎng)和照射關(guān)于時(shí)間t的示例性信號(hào)變化。激勵(lì)電場(chǎng)的電壓變化12 具有預(yù)先確定的頻率和預(yù)先確定的振幅。同樣示出了由激勵(lì)場(chǎng)決定的發(fā)光輻射的強(qiáng)度變化 13。所述發(fā)光輻射同樣具有取決于電致發(fā)光顆粒的特性、激勵(lì)場(chǎng)的頻率和強(qiáng)度以及電致發(fā) 光顆粒與場(chǎng)移元件的混合比例的強(qiáng)度。發(fā)光輻射的譜范圍取決于電致發(fā)光顆粒的特性以及 激勵(lì)電場(chǎng)的頻率。
[0089] 此外示出了在圖中1示出的第一白光光源8和/或第二白光光源9的激活信號(hào)的 時(shí)間變化14。僅當(dāng)激勵(lì)電場(chǎng)的電壓小于或大于預(yù)先確定的闕值時(shí)，才激活白光光源8、9并 且由此所述白色光源才將白光1〇、11發(fā)射到區(qū)段7上。由此可以避免通過白光10、11干擾 性地影響發(fā)光輻射到CCD芯片3 (見圖1)上的成像。
[0090] 在圖3中示出了在圖3中示出的條帶狀的區(qū)段7的示意性光學(xué)成像16。在此，光 學(xué)成像16具有多個(gè)局部強(qiáng)度最大值15。所述局部強(qiáng)度最大值15在此在空間上分布并且具 有不同的大小。除局部強(qiáng)度最大值15的數(shù)量以外也可以分析處理空間分布、尤其是局部強(qiáng) 度最大值15相互之間的間距以及局部強(qiáng)度最大值15的大小以驗(yàn)證安全元件。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種用于檢驗(yàn)安全文件（6)的安全元件的方法，其中，所述安全元件包含至少一種 具有電致發(fā)光特性的顆粒狀物質(zhì)和至少一個(gè)場(chǎng)移元件，所述方法包括以下方法步驟： 以激勵(lì)電場(chǎng)加載所述安全元件； 在產(chǎn)生所述激勵(lì)電場(chǎng)之后或期間，產(chǎn)生所述安全元件的至少一個(gè)區(qū)域的光學(xué)成像 (16)； 探測(cè)所述光學(xué)成像（16)中的局部強(qiáng)度最大值（15); 如果在不同像點(diǎn)位置上存在的局部強(qiáng)度最大值（15)的數(shù)量大于或等于預(yù)先確定的數(shù) 量，其中，所述數(shù)量至少為2,則驗(yàn)證了所述安全元件，其中，確定所述局部強(qiáng)度最大值（15) 的空間間距，其中，如果滿足了預(yù)先確定的間距特性，則驗(yàn)證了所述安全元件，和/或，確定 所述局部強(qiáng)度最大值（15)的區(qū)域的空間大小，其中，如果滿足了預(yù)先確定的大小特性，則 驗(yàn)證了所述安全元件，和/或，確定為了產(chǎn)生所述成像而檢測(cè)的發(fā)光輻射的至少一種發(fā)光 特定的特性，其中，如果滿足了所述發(fā)光特定的特性，則驗(yàn)證了所述安全元件。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，確定至少一個(gè)局部強(qiáng)度最大值（15)的強(qiáng) 度值，其中，如果滿足至少一個(gè)預(yù)先確定的強(qiáng)度條件，則驗(yàn)證了所述安全元件。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，確定在產(chǎn)生所述光學(xué)成像（16)時(shí)檢 測(cè)的輻射的總強(qiáng)度，其中，如果所述總強(qiáng)度小于或大于預(yù)先確定的強(qiáng)度值或位于預(yù)先確定 的強(qiáng)度區(qū)間內(nèi)，則驗(yàn)證了所述安全元件。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，附加地以第一入射角度下 的白光輻射并且以第二入射角度下的白光輻射照射所述安全元件的至少一個(gè)第一子區(qū)域， 其中，檢測(cè)由所述第一子區(qū)域反射的輻射，其中，確定所反射的輻射的色調(diào)，其中，如果探測(cè) 到兩種波長(zhǎng)特定且角度特定的色調(diào)，則驗(yàn)證了所述安全元件，或者，附加地以第一入射角度 下的白光輻射照射所述安全元件的至少一個(gè)第一子區(qū)域，并且附加地以第二入射角度下的 白光輻射照射第二子區(qū)域，其中，檢測(cè)由所述第一子區(qū)域和所述第二子區(qū)域反射的輻射，其 中，確定由所述第一子區(qū)域反射的輻射的色調(diào)和由所述第二子區(qū)域反射的輻射的色調(diào)，其 中，如果由所述第一子區(qū)域反射的輻射的色調(diào)相應(yīng)于由所述第一波長(zhǎng)和所述第一入射角度 特定的色調(diào)并且由所述第二子區(qū)域反射的輻射的色調(diào)相應(yīng)于由所述第二波長(zhǎng)和所述第二 入射角度特定的色調(diào)，則驗(yàn)證了所述安全元件。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，附加地以第一入射角度下的 第一輻射并且以第二入射角度下的另一輻射照射所述安全元件的至少一個(gè)第一子區(qū)域，其 中，所述第一輻射具有第一波長(zhǎng)或第一譜范圍，其中，所述另一輻射具有另一波長(zhǎng)或另一譜 范圍，其中，檢測(cè)由所述第一子區(qū)域反射的輻射，其中，確定所反射的輻射的強(qiáng)度，其中，如 果強(qiáng)度大于預(yù)先確定的強(qiáng)度，則驗(yàn)證了所述安全元件，或者，附加地以第一入射角度下的第 一輻射照射所述安全元件的至少一個(gè)第一子區(qū)域并且以第二入射角度下的另一輻射照射 第二子區(qū)域，其中，檢測(cè)由所述第一子區(qū)域和所述第二子區(qū)域反射的輻射，其中，確定由所 述第一子區(qū)域反射的輻射的強(qiáng)度以及由所述第二子區(qū)域反射的輻射的強(qiáng)度，其中，如果由 所述第一子區(qū)域反射的輻射的強(qiáng)度大于預(yù)先確定的強(qiáng)度并且由所述第二子區(qū)域反射的輻 射的強(qiáng)度大于預(yù)先確定的強(qiáng)度，則驗(yàn)證了所述安全元件。
6. 根據(jù)權(quán)利要求4或5任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，以白光輻射或以第一波長(zhǎng)的輻 射和第二波長(zhǎng)的輻射與加載所述激勵(lì)電場(chǎng)時(shí)間錯(cuò)開地進(jìn)行所述照射。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，如果所述激勵(lì)電場(chǎng)的電壓小于預(yù)先確定 的闕值，則以白光輻射或第一波長(zhǎng)和第二波長(zhǎng)的輻射進(jìn)行所述照射。
8. -種用于檢驗(yàn)安全文件（6)的安全元件的設(shè)備，其中，所述設(shè)備（1)包括至少一個(gè)用 于產(chǎn)生激勵(lì)電場(chǎng)的裝置、至少一個(gè)用于圖像檢測(cè)的裝置和至少一個(gè)分析處理裝置（4)， 其中，能夠借助所述用于產(chǎn)生激勵(lì)電場(chǎng)的裝置產(chǎn)生激勵(lì)電場(chǎng)，以所述激勵(lì)電場(chǎng)加載所 述安全元件，其中，借助所述用于圖像檢測(cè)的裝置在產(chǎn)生所述激勵(lì)電場(chǎng)之后或期間能夠產(chǎn) 生所述安全元件的至少一個(gè)區(qū)域的光學(xué)成像（16)， 其特征在于， 借助所述分析處理裝置（4)能夠探測(cè)所述光學(xué)成像（16)中的局部強(qiáng)度最大值（15)，其 中，如果在不同像點(diǎn)位置上存在的局部強(qiáng)度最大值（15)的數(shù)量大于或等于一個(gè)預(yù)先確定 的數(shù)量，其中，所述數(shù)量至少為2,則能夠借助所述分析處理裝置（4)驗(yàn)證所述安全元件，其 中，能夠確定所述局部強(qiáng)度最大值（15)的空間間距，其中，如果滿足了預(yù)先確定的間距特 性，則所述安全元件能夠被驗(yàn)證，和/或，能夠確定所述局部強(qiáng)度最大值（15)的區(qū)域的空間 大小，其中，如果滿足了預(yù)先確定的大小特性，則所述安全元件能夠被驗(yàn)證，和/或，能夠確 定為了產(chǎn)生所述成像而檢測(cè)的發(fā)光輻射的至少一個(gè)發(fā)光特定的特性，其中，如果滿足了所 述發(fā)光特定的特性，則所述安全元件能夠被驗(yàn)證。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備（1)附加地包括至少一個(gè)第一光 源（8)，其中，所述第一光源（8)如此設(shè)置和構(gòu)造，使得能夠以第一入射角度下的輻射照射 第一子區(qū)域并且能夠以第二入射角度下的輻射照射第二子區(qū)域，或者，所述設(shè)備（1)附加 地包括至少一個(gè)第二光源（9)，其中，所述第二光源（9)如此設(shè)置和構(gòu)造，使得能夠以第二 入射角度下的輻射照射所述第一子區(qū)域或所述第二子區(qū)域。
【專利摘要】本發(fā)明涉及用于檢驗(yàn)安全文件(6)的安全元件的方法和設(shè)備，其中所述安全元件包含至少一種具有電致發(fā)光特性的顆粒狀物質(zhì)和至少一個(gè)場(chǎng)移元件，所述方法包括以下方法步驟：以激勵(lì)電場(chǎng)加載所述安全元件；在產(chǎn)生所述激勵(lì)電場(chǎng)之后或期間，產(chǎn)生所述安全元件的至少一個(gè)區(qū)域的光學(xué)成像(16)；探測(cè)所述光學(xué)成像(16)中的局部強(qiáng)度最大值(15)；如果在不同像點(diǎn)位置上存在的局部強(qiáng)度最大值(15)的數(shù)量大于或等于預(yù)先確定的數(shù)量，其中，所述數(shù)量至少為2，則驗(yàn)證了所述安全元件。
【IPC分類】G07D7-12, G07D7-00
【公開號(hào)】CN104854625
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201380056990
【發(fā)明人】M·佩施克, O·庫(kù)利科夫斯卡, J·菲舍爾, D·斯塔里克
【申請(qǐng)人】聯(lián)邦印刷有限公司
【公開日】2015年8月19日
【申請(qǐng)日】2013年10月29日
【公告號(hào)】DE102012219905A1, EP2915146A1, WO2014067922A1