專利名稱：用于檢測平臺預(yù)制坑的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于對光記錄介質(zhì)上的標(biāo)記進行檢測的方法，該方法包括通過獲得包括一個與待掃描標(biāo)記相關(guān)的信息的掃描信號來對光記錄介質(zhì)上的磁跡進行掃描。此外，本發(fā)明涉及一種用于對光記錄介質(zhì)上的標(biāo)記進行檢測的相應(yīng)裝置。
背景技術(shù)：
在為大家所熟知的DVD-R的ECMA標(biāo)準(zhǔn)(“ECMA-格式化信息和通信系統(tǒng)80mm(每側(cè)1,23千兆字節(jié))和120mm(每側(cè)3,95千兆字節(jié))”)以及DVD-RW的ECMA 338標(biāo)準(zhǔn)(“ECMA格式化信息和通信系統(tǒng)80mm(每側(cè)1,46千兆字節(jié))和120mm(每側(cè)4,70千兆字節(jié))DVD可再記錄的磁盤(DVD-RW)”)中，將用于識別未記錄磁盤上的位置的地址信息保存在所謂的平臺預(yù)制坑(LPP)中。這些預(yù)制坑彼此位于是用于分離記錄溝槽，即磁跡的區(qū)域的平臺中。在磁盤的主處理過程中形成了作為可記錄區(qū)的溝槽以及用于保持平臺預(yù)制坑的平臺，即其在未記錄的/空白磁盤上是可用的。
該溝槽是具有較小半徑正弦波的圓形或者螺旋形，該正弦波的形狀具有圖1所示被稱為磁跡擺動的偏離。利用諸如推挽信號的磁跡誤差信號來檢測各個磁跡擺動信號。另外，可應(yīng)用某種過濾或者AC耦合。同時，由于所述推挽信號還示出了與平臺相鄰的溝槽外緣上的反射率變化，所以，也可利用這些推挽信號來檢測平臺預(yù)制坑，。
屬于實際上被讀取或者被記錄的溝槽的平臺預(yù)制坑總是位于該溝槽的一側(cè)。根據(jù)ECMA-279，它們被壓印在對抗該磁跡的磁跡擺動調(diào)制的預(yù)定位置上。溝槽擺動被認(rèn)為是正弦波并且溝槽擺動與平臺預(yù)制坑之間的相位關(guān)系(PWP)被規(guī)定為90°±10°。因此，測定PWP值以作為LPP信號的最大點與擺動的平均零交叉點之間的相位。因此通過檢測PWP值來觸發(fā)LPP搜索。
此外磁跡擺動信號可以被用于在記錄或者播放過程中對光記錄介質(zhì)的轉(zhuǎn)速進行控制。為了創(chuàng)建可靠的記錄介質(zhì)速度信號，通常使用被用于鎖定磁跡擺動的鎖相環(huán)(PLL)。該PLL的時鐘輸出可用于關(guān)閉記錄介質(zhì)轉(zhuǎn)速回路。如果該PLL鎖定了磁跡擺動，那么也可得到用于對平臺預(yù)制坑檢測塊進行控制的定時信號。
在ECMA-279(附錄Q)中提出了簡單的檢測系統(tǒng)(圖2)。如已經(jīng)描述的，從推挽信號1中獲得了平臺預(yù)制坑信號以及磁跡擺動頻率。產(chǎn)生推挽信號的信號代數(shù)是(A+B)-(C+D)，其中A、B、C、以及D是用于對所反射的激光束的位置進行檢測的四象限檢測器(在這里未給出)的四個信號。將該推挽信號提供給限幅器2，該限幅器2切掉其大于典型的推挽幅值的峰值，并且此后由帶通濾波器3對其進行處理，該帶通濾波器3切去其比標(biāo)準(zhǔn)的磁跡擺動頻率大或者小的頻率分量。此后添加電壓V1。利用第一比較器4將該信號處理的結(jié)果與原始信號進行比較。PLL(未給出)鎖定磁跡擺動頻率。PLL創(chuàng)建了其具有與磁跡擺動頻率相同頻率及相位的鎖定正弦波信號。由用于創(chuàng)建檢測窗的第二比較器來對PLL的輸出信號和第二參考電壓V2進行比較。通過噪聲選通6來組合兩個比較器4、5的輸出，該噪聲選通6典型的執(zhí)行邏輯與操作。
圖3給出了對應(yīng)信號的示意圖。圖3中的曲線A是提供給第一比較器4的信號。推挽信號PPS具有典型的由某種噪音所疊加的正弦波形。在點P1，PPS信號出現(xiàn)了失真。在點P2，由于平臺預(yù)制坑而使PPS信號變形。圖3A中的第二曲線BPF+V1示出了由帶通濾波器3所濾波的并且其向下移動了恒定電壓V1的PPS信號。比較器4檢測到在點P1和P2處信號PPS小于信號BPF+V1。圖3B給出了最終的比較器信號。并行的第二比較器5對其具有與PPS信號相同頻率的PLL信號與如圖3C所示的恒定電壓信號V2進行比較。其結(jié)果是第二比較器5輸出如圖3D所示的選通信號。圖3B和3D的信號的與操作導(dǎo)致了如圖3E所示的信號。因此，通過該AND操作來除去由點P1處的失真所造成的比較器信號并且獲得可用的平臺預(yù)制坑信號。
在ECMA-279系統(tǒng)中，平臺預(yù)制坑脈沖所產(chǎn)生的信號不具有恒定幅值。此外，由于在減法(A+B)-(C+D)過程中不夠理想的公共模式刪除，其會受到HF分量的影響。
同樣，還出現(xiàn)了由于相鄰磁跡所造成的對磁跡擺動幅值及平臺預(yù)制坑幅值的影響。在磁跡擺幅的情況下，該效果被稱作擺動拍。
在ECMA-279中所提出的平臺預(yù)制坑檢測器是基于對受限的且?guī)ǖ男盘柵c原始信號的比較結(jié)果。如果磁跡擺動信號的幅值顯著的上升到限幅器值之上或者下降到限幅器值之下，則第一比較器4未能檢測到現(xiàn)存的平臺預(yù)制坑。同時，如果播放速度或者記錄速度改變了，如CAV模式中的例子，那么因此必須調(diào)整BPF 3。標(biāo)準(zhǔn)檢測器電路的另一個缺點就是PLL(未給出)必須創(chuàng)建合成的等幅正弦波以使能創(chuàng)建可靠的噪聲選通信號。
就此而言，文件EP1184850A2公開了這樣一種錄放裝置，該錄放裝置可以較高的精確度來對光盤上的平臺預(yù)制坑進行可靠的檢測。從分離檢測器(split detector)輸出的多個信號之一與一個預(yù)定的系數(shù)相乘，所述預(yù)定系數(shù)依據(jù)檢測平臺預(yù)制坑的誤差速率、物鏡的透鏡位移量、以及相對于數(shù)據(jù)信號而言的平臺預(yù)制坑信號和擺動信號的電平而變化。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個目的就是提供一種用于對平臺預(yù)制坑信號進行可靠檢測的可替換方法及裝置。
根據(jù)本發(fā)明，該目的可由一種用于對光記錄介質(zhì)上的標(biāo)記進行檢測的裝置來解決，該裝置包括掃描裝置、存儲裝置以及確定裝置。該掃描裝置通過獲得包括與待檢測的所述標(biāo)記相關(guān)的信息的掃描信號對所述光記錄介質(zhì)上的磁跡進行掃描。該存儲裝置在預(yù)定的采樣時間存儲所述掃描信號以作為參考信號。如果所述掃描信號以預(yù)定的方式而偏離所述參考信號，那么該確定裝置確定一標(biāo)記。
此外，根據(jù)本發(fā)明，提出了一種用于對光記錄介質(zhì)上的標(biāo)記進行檢測的方法，該方法包括步驟通過獲得這樣的掃描信號來對所述光記錄介質(zhì)上的磁跡進行掃描，該掃描信號即就是包括與所檢測的所述標(biāo)記有關(guān)的信息；在預(yù)定的采樣時間存儲所述掃描信號以作為參考信號；以及如果所述掃描信號以預(yù)定的方式偏離所述參考信號，那么確定一標(biāo)記。
與已知的解決方案相比較，本發(fā)明具有下述的優(yōu)點，即不使用根據(jù)轉(zhuǎn)速(CAV模式等等)的變化而對其進行調(diào)整的帶通濾波器。此外，根據(jù)本發(fā)明所獲得的平臺預(yù)制坑信號呈現(xiàn)出與輸入振幅的改變較小的相關(guān)性，因為未使用限幅器。另外，由于從時鐘計時中獲得定時，所以，選通定時的創(chuàng)建呈現(xiàn)出與信號電平較小的相關(guān)性，。另外，與單步檢測相比較，平臺預(yù)制坑信號呈現(xiàn)出與檢測窗精確度(相位)較小的相關(guān)性。
有利的，存儲裝置包括一采樣/保持(S/H)裝置或者用于存儲實際磁跡擺動信號值的一數(shù)字存儲裝置。
該光記錄介質(zhì)可以是DVD-R或者DVD-RW，并且所檢測的標(biāo)記可以是平臺預(yù)制坑。
有利的，確定裝置包括用于從掃描信號中減去參考信號的相減裝置、用于對相減信號進行積分的積分裝置、以及用于對積分信號與閾值進行比較的比較裝置。在這種情況下積分信號取決于基準(zhǔn)信號與采樣信號的絕對差?？蛇x的，本發(fā)明的裝置包括這樣的格式化裝置，該格式化裝置使減法信號格式化。
或者，確定裝置包括用于對參考信號與掃描信號進行比較第一比較裝置、用于對第一比較信號進行積分的積分裝置、以及對積分信號與閾值進行比較的第二比較裝置。在這種情況下，積分信號僅取決于參考信號與采樣信號之間的相對差。
最好是，掃描信號是磁跡擺動信號。此外，根據(jù)采樣信號的相位來確定預(yù)定的采樣時間。
有利的，在用于讀和/或?qū)懝庥涗浗橘|(zhì)的裝置中執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的方法。這可對光記錄介質(zhì)上的平臺預(yù)制坑進行可靠的檢測。


現(xiàn)在結(jié)合附圖對本發(fā)明進行更加詳細的描述，在附圖中圖1給出了如ECMA-279及ECMA-338中所描述的擺動與平臺預(yù)制坑之間的相位關(guān)系；圖2給出了在標(biāo)準(zhǔn)中所描述的平臺預(yù)制坑檢測器；圖3給出了標(biāo)準(zhǔn)檢測器的信號波形；圖4給出了根據(jù)本發(fā)明的模擬檢測器的方框圖；圖5給出了本發(fā)明的檢測器的信號波形；圖6給出了圖4所示的檢測器的電路圖；圖7給出了數(shù)字檢測器的方框圖；圖8給出了另一種模擬檢測器的方框圖；圖9給出了另一種數(shù)字檢測器的方框圖；圖10給出了第一格式化電路的方框圖；圖11給出了第二格式化電路的方框圖；
圖12給出了添加到圖4電路中的一格式化電路的方框圖；圖13給出了添加到圖7電路中的一格式化電路的方框圖；圖14給出了添加到圖6電路中的一格式化電路的方框圖；圖15給出了根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)表示沒有相移的已鎖定狀態(tài)的一PLL的典型信號示意圖；圖16給出了根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)表示沒有相移的已鎖定狀態(tài)的一PLL的另一個典型信號示意圖；圖17給出了根據(jù)圖15但分別具有負(fù)或正相移的信號示意圖；圖18給出了根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的一PLL，該PLL形成了圖15和17所示的信號；圖19給出了根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的一PLL，該PLL形成了圖16所示的信號；圖20給出了當(dāng)利用現(xiàn)有技術(shù)的位于LPP范圍內(nèi)的一PLL時的信號示意圖；圖21給出了當(dāng)利用根據(jù)第一實施例的第一方案的一PLL時的信號示意圖；圖22給出了當(dāng)利用根據(jù)第二實施例的第一方案的一PLL時的信號示意圖；圖23給出了當(dāng)利用根據(jù)第二實施例的第二方案的一PLL時的信號示意圖；圖24給出了根據(jù)第一實施例的第一方案的一PLL，該PLL形成了圖21(A)所示的信號；圖25給出了根據(jù)第一實施例的第二方案的一PLL，該PLL形成了圖21(C)所示的信號；圖26給出了根據(jù)第二實施例的兩個方案的一PLL，該PLL形成了圖22或者圖23所示的信號；圖27給出了一信號示意圖，該信號示意圖表示了LPP檢測所產(chǎn)生的控制信號以及對相位誤差信號進行校正而所需的信號；圖28給出了與相位誤差的可替換校正有關(guān)的信號示意圖；以及圖29給出了根據(jù)本發(fā)明的方法的流程圖。
具體實施例方式
為了產(chǎn)生用于控制LPP檢測器的定時的定時信號，最好使用執(zhí)行與預(yù)定因數(shù)相乘的時鐘乘法的PLL。例如，如果使用8的時鐘乘法，那么可實現(xiàn)在360°磁跡擺動周期內(nèi)45°的分辨率。因此，利用較高的乘數(shù)，這可使從PLL時鐘中所得到的時間分辨率增加。因為平臺預(yù)制坑位于預(yù)定的標(biāo)稱中間位置(在DVD-R/RW中270°±10°)并且具有預(yù)定的標(biāo)稱幅值(8-10T，即在DVD-R/RW中±7.5°)，因此根據(jù)相乘的磁跡擺動PLL時鐘而利用一計數(shù)器和一邏輯來創(chuàng)建檢測窗，其中該邏輯根據(jù)計數(shù)器值來確定選通信號。這些選通信號控制采樣/保持以及可選的積分器。還創(chuàng)建了用于驅(qū)動D-FF(D型觸發(fā))的觸發(fā)器，該觸發(fā)器對比較器輸出的邏輯電平進行采樣以確定在該選通期間內(nèi)是否檢測到了平臺預(yù)制坑。
圖4中的方框圖給出了根據(jù)本發(fā)明的模擬實現(xiàn)的一例子。直接的以及通過采樣/保持元件10而將磁跡擺動輸入信號TWin送到減法器11。TWin信號輸入到其內(nèi)的PLL電路12獲得了S/H元件10的時間信號。時間信號通過在所希望的LPP的開始位置之前略微的保持而創(chuàng)建了采樣窗。保持功能仍對LPP的標(biāo)稱長度是使能的。
將減法器11的輸出提供給積分器13，該積分器13還受控于其對PLL電路12的時鐘循環(huán)進行計數(shù)的計數(shù)器。在比較器14中對積分器13的輸出與恒定電壓VI進行比較。將比較器14的輸出信號提供給D-FF15，該D-FF15也受控于PLL電路12的時鐘。D-FF15在采樣窗結(jié)束時對比較器14所執(zhí)行的比較結(jié)果進行存儲以用于進一步的信號處理。
圖5給出了對應(yīng)信號的示意圖。在圖5的部分A中，在檢測電路的輸入端存在TWin信號。TWin信號具有大約正弦波形狀。在TWin信號的正極大值處，所檢測到的分別位于P3和P4位置處的平臺預(yù)制坑使正弦波形狀失真。略微在所期望的LPP位置之前開始采樣視窗S3、S4并且其正好在所期望的LPP結(jié)束之后停止。因為LPP相對于擺動信號TWin的過零點而言具有標(biāo)稱相移，因此可從這樣一個計數(shù)器中得到時間，該計數(shù)器即就是作為用于對Twin信號進行鎖定的PLL的一部件。因此如圖1所示產(chǎn)生了與所期望的LPP觸發(fā)點相靠近的采樣窗。
將位于采樣窗開始處的TWin信號值作為參考值。從實際的TWin信號中減去該參考值以便獲得圖5B的信號。如圖5C所示，對該信號進行積分并且將其與閾值進行比較。在圖5C的左側(cè)以及右側(cè)這兩種情況下，積分信號上升到閾值之上，其表明已檢測到平臺預(yù)制坑。
在圖5A的采樣點所示的數(shù)字信號處理的情況下，在采樣窗S3和S4中將實際所采樣的值與先前所采樣的值進行比較。如果實際值大于先前值，那么計數(shù)器加一。否則，如圖5D所示計數(shù)器減一(圖7的比較電路)。
圖6給出了位于圖4之中的LPP檢測器的示例性實施例的詳細電路圖。
檢測選通的(Enlnt；可進行積分)開始將S/H 10從采樣狀態(tài)轉(zhuǎn)換到保持狀態(tài)，該保持狀態(tài)使S/H 10的運算放大器的非倒相輸入保持在恰好這樣一個位置之前的電平上，即希望平臺預(yù)制坑脈沖位于該位置上(圖5中的采樣窗S3、S4的開始)。同時，啟動積分器13，如果存在平臺預(yù)制坑，那么該積分器13可顯著的改變其輸出電壓。從這樣一個電壓中減去TWin信號，即通過減法器11而經(jīng)由S/H 10來保持上述電壓，并且結(jié)果是其即就是LPP脈沖的積分的一電壓。在LPP脈沖結(jié)束時，該積分信號通常具有其最大幅值。將積分器13的差分放大器的輸出提供給電壓比較器14，該電壓比較器14對所積分的電壓和預(yù)定閾值電壓V1進行比較，該預(yù)定閾值電壓是由分壓器所有利創(chuàng)建的。選擇閾值電壓V1以便積分脈沖電壓總是較大的，但是非現(xiàn)存脈沖的積分小于閾值電壓。因此閾值電壓V1總是正電壓。例如，假定TWin信號的LPP內(nèi)容還具有如標(biāo)準(zhǔn)中所示的標(biāo)稱幅值，V1可以是出廠所調(diào)整的其是標(biāo)稱積分電壓幾分之一的一定值。
標(biāo)準(zhǔn)描述了格式化的作為被除以平均鏡像電壓A+B+C+D
的平臺預(yù)致坑峰值的平臺預(yù)制坑幅值。如果在與平臺預(yù)制坑長度相匹配的恒定周期期間對平臺預(yù)制坑進行積分，那么所生成的電壓仍是鏡像電壓的幾分之一，即被除以鏡像電壓的積分電壓具有視積分時間常數(shù)而定的一可預(yù)測值。由于疊加在TWin信號上的平臺預(yù)制坑是利用記錄介質(zhì)的反射以及激光功率定標(biāo)的，因此可有利的改變閾值電壓V1。最容易的用于標(biāo)度V1的方式就是使分壓器的電源電壓與鏡像信號產(chǎn)生塊(未給出)相連，而不是如圖6所示的使其與固定電壓相連。在選通S3、S4結(jié)束之前不久，由D-FF15來對比較器的輸出進行采樣，此后復(fù)位積分器13并且S/H 10轉(zhuǎn)換回到采樣模式以對在360°的倍數(shù)之后所出現(xiàn)的下一個平臺預(yù)制坑脈沖進行檢測。
可將如上所述的方法轉(zhuǎn)用到數(shù)字領(lǐng)域(圖7)。首先由A/D轉(zhuǎn)換器16對磁跡擺動信號進行轉(zhuǎn)換。在PLL和控制邏輯18所創(chuàng)建的檢測窗的開始時，將經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換的值存儲在存儲器17中。此后將數(shù)字差置入減法器11中以計算實際采樣值與所存儲的一個采樣值之間的差值。數(shù)字累加器或積分器13將所采樣的差值相加以建立采樣差值的積分。在檢測窗結(jié)束時，比較器14對積分值與預(yù)定閾值19進行比較以檢測平臺預(yù)制坑的存在。假定由使TW時鐘與預(yù)定因數(shù)相乘的磁跡擺動PLL 18來控制采樣，那么，采樣數(shù)和積分?jǐn)?shù)與磁跡擺動頻率以及由此導(dǎo)致的驅(qū)動器記錄速度或播放速度無關(guān)。在這種情況下，由于數(shù)字積分器13使用TW頻率自動定標(biāo)，所以，數(shù)字積分器13優(yōu)于模擬積分器，其中需要對模擬積分器的τ＝R·C定標(biāo)。如果n是基于預(yù)定標(biāo)稱速度/磁跡擺動頻率的速度因數(shù)，那么必須成反比的定標(biāo)電阻器或者電容(1/n·C或者1/n·R)。那么，平臺預(yù)制坑脈沖的積分結(jié)果與記錄速度無關(guān)。
下述是略有不同的方法(圖8是模擬實現(xiàn)，圖9是數(shù)字實現(xiàn))，第一比較器20獲取實際TW值與所存儲TW值之間的差值，并且將比較結(jié)果(方向信號DIR)提供給積分器13的輸入。因此，積分器的電壓根據(jù)差值結(jié)果而上升或者下降，其中，積分斜率不再取決于該差值。這使得積分與平臺預(yù)制坑脈沖的振幅變化無關(guān)。如上所述，利用模擬法的積分仍取決于記錄速度或者TW頻率。至于其它電路元件，參考圖4。
如已指出的，還可以在數(shù)字域中實現(xiàn)上述第二方法(圖9)。由A/D轉(zhuǎn)換器16量化TW信號并在檢測窗開始時將采樣值保存在存儲器17中。在檢測窗期間與采樣時鐘相同步地對實際采樣值與所存儲的值進行比較。比較結(jié)果確定計數(shù)器的數(shù)字遞增/遞減方向，該計數(shù)器21通常在檢測窗開始時從零值開始計數(shù)。計數(shù)器21在由檢測窗之內(nèi)的控制邏輯18所創(chuàng)建的每個時鐘脈沖處向上或向下計數(shù)。在檢測窗結(jié)束時對計數(shù)器值與預(yù)定閾值進行比較。這最好由D-FF 15完成。此后存儲器14及計數(shù)器21被復(fù)位以便為利用另一個檢測窗開始下一個檢測處理作好準(zhǔn)備?？衫糜糜诙〞r的單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器來實現(xiàn)控制邏輯18，但最好是由受來自被鎖定到TW時鐘的PLL時鐘乘法器的時鐘所控制的計數(shù)器及比較器來實現(xiàn)。其輔助元件參考圖7的元件。
如上所述的檢測系統(tǒng)具有若干基本優(yōu)點。在檢測窗結(jié)束時的計數(shù)值的結(jié)果不取決于TW信號的幅值。只是實際值與所存儲值的比較結(jié)果決定計數(shù)方向。由于計數(shù)器從控制邏輯對PLL的應(yīng)答中獲得預(yù)定數(shù)目的時鐘脈沖，因此檢測脈沖結(jié)束時的計數(shù)器值不取決于光記錄介質(zhì)的記錄速度或者播放速度。由于在整個檢測窗過程中執(zhí)行積分，因此與標(biāo)準(zhǔn)中所提出的單脈沖檢測相比，該檢測過程受到平臺預(yù)制坑脈沖失真的影響較小。因為在整個檢測窗過程中執(zhí)行積分，因此與標(biāo)準(zhǔn)中所提出的單脈沖檢測相比，該檢測處理受兩個PLL的相位的相位誤差以及平臺預(yù)制坑脈沖的精確位置的影響較小。
為了在讀(由符號間隔反射變化或者指紋影響所造成的)或?qū)懫陂g獲得對光記錄介質(zhì)的反射變化的改進的LPP檢測，有利的是增加格式化。該格式化例如可應(yīng)用于TWin信號本身或者應(yīng)用于根據(jù)TWin信號與所采樣的(S/H)TWin信號的差值所獲得的信號，如圖4、圖6以及圖7所示。如果由比較器對TWin信號與所采樣的(S/H)TWin信號進行比較，那么不必應(yīng)用格式化，因為比較的結(jié)果是二進制化。因此，比較的結(jié)果不取決于每個信號的電平，并且可省略格式化(如圖8、9所示)。
有利的是格式化的分子可以是如圖10所示的信號TWin或者如圖11所示的TWin與采樣TWin(S/H)的差值。有利的是分母可以是直流耦合RF信號(A+B+C+D)或者是在寫入處理期間表示激光功率等級的一個信號。
另外，在減法器11之后或積分器13之后的檢測比較器14(分別示于圖4、6和7)處的閾值電平V1可以被放大(乘以)表示從光記錄介質(zhì)反射的光量的一個信號(倍)。這可有益地通過與圖4對應(yīng)的圖12以及與圖7對應(yīng)的圖13中所示的乘法器22使用直流耦合的RF信號(A+B+C+D)或表示寫處理期間激光功率的一個信號來執(zhí)行。圖14給出了疊加有比例乘法器22的圖6的模擬電路。
下面將更加詳細的描述圖4和圖8的PLL塊。為了該目的，首先對根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)狀態(tài)的第一方案中的PLL功能進行簡短說明。在由Springer VerlagBerlin所出版的科技書“Halbleiter-Schaltungstechnik”以及另外相關(guān)的技術(shù)文獻中可以找到與PLLs的操作方式有關(guān)的更加詳細的說明。
圖15給出了各個信號的示意圖，其示出了相對于標(biāo)稱相位而言沒有相移這樣一個鎖定情況。將正弦式的第一輸入信號(TWin)以及矩形第二輸入信號(IS)施加到鑒相器上。矩形信號(IS)指出鑒相器是否使第一輸入信號(TWin)乘以+1或者-1以產(chǎn)生如圖15的最后波形所示的相位誤差。
在這種情況下，鑒相器例如可以是所示出的形成了兩個輸入信號(TWin，IS)乘積這樣一個乘法器。在理想情況下，兩個輸入信號的標(biāo)稱相位使乘積(OS)的平均值是零。這是由虛線上、下相同大小的區(qū)域表示的。該乘積被稱為相位誤差。
在圖18中，描述了根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)第一例的PLL。利用環(huán)形濾波器121來計算圖15的相位誤差的平均值，該相位誤差的平均值分別是由相位檢測器和鑒相器120所檢測的。在最容易的情況下，環(huán)形濾波器121是由RC低通濾波器組成的。按照這種方法所獲得的信號對壓控振蕩器(VCO)122的頻率及相位進行控制，該壓控振蕩器122的輸出被傳送到分頻器123。將其被n所除的分頻器123的輸出信號提供給鑒相器120的第二輸入，借此以閉合PLL控制回路。例如將分頻器123設(shè)計成除以40的分頻器。
圖15所示信號示意圖的基礎(chǔ)是相對標(biāo)稱相位的相位偏移是零。由此，將圖15中壓控振蕩器122的電源已經(jīng)被設(shè)置為使VCO 122的頻率與輸入信號TWin頻率的四十倍相對應(yīng)。恰好在該時刻產(chǎn)生分頻器123的輸出信號，該輸出信號的頻率與輸入信號的頻率相同。此后，如圖17A和圖17B所示，在相位誤差信號中，殘留的相位差將變得非常明顯。在圖17A中，相位檢測器第一輸入端處的輸入信號TWin相對于相位檢測器第二輸入端處的分頻器輸出信號的標(biāo)稱相位呈現(xiàn)出-45°的相移，借助于該相移，相位檢測器的輸出信號發(fā)生變化，從而使該平均值變成正值。圖17B示出了相對兩個信號標(biāo)稱相位+45°的相移對于相位檢測器120的輸出具有什么樣的效果。所生成的相位誤差信號的平均值變?yōu)樨?fù)值。如果相位誤差的平均值不是零，改變VCO的設(shè)置以便對由于分頻而造成的信號相移進行校正以到達如圖15所示的相位位置。
圖19給出了根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的數(shù)字PLL的一例子。代替分頻器，提供了計數(shù)器124以及余弦表125。例如將余弦表125構(gòu)造成例如在40個計數(shù)階之后產(chǎn)生完整的余弦波。由于在鎖定狀態(tài)下PLL 12的頻率和相位必須相同，因此在輸入信號的一個周期內(nèi)必須正好經(jīng)過40個階。由此，VCO再次產(chǎn)生輸入頻率40倍的頻率以產(chǎn)生與一個輸入頻率具有相同周期的余弦波。由于輸入信號TWin乘以余弦信號而造成的相位誤差信號如圖16所示，其中相對標(biāo)稱相位的相移與圖15一樣也是零。同時，在這種情況下，由于正負(fù)區(qū)域的大小相同，所以相位誤差的平均值是零，。
圖20借助于信號示意圖示出了在不考慮磁跡擺動信號(TWin)相對于相位檢測器120第二輸入端處方波信號的實際正確相位情況下平臺預(yù)制坑(LPP)的發(fā)生是如何影響相位誤差的產(chǎn)生的。在左手側(cè)描述了LPP信號，該LPP信號未呈現(xiàn)出由容差引起的相對TW信號的任何移位。由于LPP的存在，相位誤差對稱地變化，其中，由于是相同的區(qū)域，所以，通過乘以圖20B的信號而造成的相位誤差(圖20C)仍然是零。在圖20的右側(cè)，由于容差所造成的移位，LPP的位置偏離磁跡擺動信號(TWin)的中間。在該點處產(chǎn)生的相位誤差信號的平均值(圖20C)清楚地具有一負(fù)值，所以，即使沒有LPP，該實際磁跡擺動信號的相位位置也將是正確的。
使用根據(jù)本發(fā)明將通過兩個實施例來解釋的方法，可避免產(chǎn)生有錯誤的相位誤差信號。
圖21示出了第一實施例。由于LPP信號出現(xiàn)在磁跡擺動信號的特定位置(圖21A)并且其相對于該理論位置具有特定的容差，因此可通過視窗信號(S/H GATE，圖21D)來控制采樣/保持塊以便抑制圖21B所示信號接收的相位誤差信號失真。為此目的，對采樣/保持塊進行控制以便在期望存在LPP信號期間保持TW信號的電壓值。就在所期望的LPP結(jié)束之后再次使采樣/保持塊退出工作。
圖24示出了根據(jù)本發(fā)明的PLL 12的第一實施例。采樣/保持塊126連接在相位檢測器120的前面。采樣/保持塊可在由控制信號(S/H GATE，未示出)確定的時間間隔開始時保存輸入信號的值，并且在該時間間隔結(jié)束之前保持該值。為此目的，還將分頻器123設(shè)計成視視窗發(fā)生器，該視窗發(fā)生器將相應(yīng)的控制信號(S/H GATE)傳送到采樣/保持塊126。此外，該分頻器產(chǎn)生將被用在LPP檢測中的信號存儲使能(Store EN)、使能積分(Enlnt)、復(fù)位(RES)和時鐘D觸發(fā)(CLK-DFF)等信號(參見圖7和9)。
如果如圖21D所示由視窗信號來保持輸入信號，那么盡管存在LPP也可產(chǎn)生其具有平均值為零的相位誤差信號(圖21C)。
在可替換方案中，將采樣/保持塊126插入到相位檢測器輸出與環(huán)形濾波器之間(圖25)。在這種也能產(chǎn)生被校正相位誤差信號的情況下，如果使用視窗信號(圖21D)，那么，該相位誤差信號的形狀與圖21C中的一個相對應(yīng)。如圖25所示，視窗發(fā)生器123產(chǎn)生用于對采樣/保持塊126進行控制的視窗信號。該視窗發(fā)生器123是由一計數(shù)器和一數(shù)字比較器組成的，如果計數(shù)器讀數(shù)在兩個預(yù)定值之間，那么該數(shù)字比較器將視窗信號設(shè)置為“L”。此外，可借助其它的多個數(shù)字比較器產(chǎn)生附加的、取決于計數(shù)器讀數(shù)的信號(參看圖21)以便可根據(jù)圖4至14來控制LPP檢測。
例如，如果提供了具有40階的計數(shù)器，那么，一階對應(yīng)于360°/40＝9°的相位角。如果例如希望LPP位于90°±10°處，那么S/H GATE126例如可在7×9°＝63°處開始并且在13×9°＝117°處結(jié)束。在視窗信號是按這種方法所產(chǎn)生的情況下，位于標(biāo)稱位置附近大約±27°寬度之內(nèi)的LPP不會有助于相位檢測器信號。另外，有利的可在計數(shù)器讀數(shù)所定義的位置處使用積分器控制信號(Enlnt)以及D-FF控制信號(Clk-DFF)以用于LPP檢測(圖4至圖14)。有利的，這些控制信號是從與視窗信號(S/H GATE)相同的計數(shù)器中獲得的，同樣如圖27所示。
圖26給出了用于產(chǎn)生不受LPP影響的相位誤差信號的第二實施例。在LPP所存在的時段之內(nèi)，將相位誤差信號轉(zhuǎn)換為零。為此目的，將開關(guān)127插入到相位檢測器輸出與環(huán)形濾波器121之間。圖22E(圖22C中的模擬)給出了所生成的相位誤差信號。參看圖22D，由于在LPP存在期間有錯誤的相位誤差信號受到抑制，已校正的相位誤差信號的平均值(22E)仍然是零。如果需要，相位誤差信號的產(chǎn)生受到抑制的時段可以擴展到LPP所處磁跡擺動信號的整個半波。
代替圖26所示實施例的，是不使用方波信號控制乘法(+1；-1)去產(chǎn)生用于定義乘法三個因數(shù)(+1；0；-1)的信號。還可以根據(jù)計數(shù)器位置得到所述因數(shù)之一有效的位置。圖28示出了在存在LPP的區(qū)域中因數(shù)是零的情況。在這種方式下，在存在LPP的時段內(nèi)使鑒相器的產(chǎn)物保持為零，并且避免產(chǎn)生有錯誤的相位誤差信號。如上所述，可對計數(shù)器讀數(shù)進行分析以產(chǎn)生用于LPP檢測的附加信號，如圖27所示。
在圖29中給出了根據(jù)本發(fā)明方法的流程圖。在步驟150通過獲得這樣的掃描信號對光記錄介質(zhì)進行掃描，該掃描信號即就是包括與所檢測到的標(biāo)記有關(guān)的信息。在步驟151在預(yù)定的采樣時間來保存該掃描信號以作為參考信號。在下一個步驟152中對掃描信號與參考信號進行比較。在掃描信號以預(yù)定的方式而偏離參考信號的情況下，在步驟153中確定一標(biāo)記并且該方法返回到步驟150。在掃描信號未以預(yù)定的方式而偏離參考信號的情況下，該方法返回到掃描步驟150，而無需確定一標(biāo)記。
權(quán)利要求
1.一種用于對光記錄介質(zhì)上的標(biāo)記進行檢測的方法，包括如下步驟通過獲得包括與將被檢測的所述標(biāo)記相關(guān)的信息的掃描信號掃描所述光記錄介質(zhì)上的磁跡；其特征在于，在預(yù)定的采樣時間處存儲所述掃描信號以作為參考信號，和如果所述掃描信號以預(yù)定的方式偏離所述參考信號，則確定一標(biāo)記。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其中，所述標(biāo)記是平臺預(yù)制坑。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2的方法，其中，所述確定標(biāo)記的步驟是通過從所述掃描信號中減去所述參考信號、積分子跟蹤信號和將該積分的信號與一個閾值進行比較來執(zhí)行的。
4.根據(jù)權(quán)利要求3的方法，其中，所述減法信號在被積分之前進行格式化。
5.根據(jù)權(quán)利要求3的方法，其中，使用表示從光記錄介質(zhì)反射的光量或激光功率的信號放大所述閾值信號。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一個的方法，其中，通過對所述參考信號與所述掃描信號進行比較、對所比較的信號進行積分以及對積分信號與閾值進行比較來執(zhí)行所述確定一標(biāo)記的步驟。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一個的方法，其中，在所述掃描信號的基礎(chǔ)上產(chǎn)生定時信號以用于所述采樣、保存和/或確定。
8.根據(jù)權(quán)利要求7的方法，其中，通過抑制所述掃描信號的一部分產(chǎn)生所述定時信號，以便產(chǎn)生與所檢測標(biāo)記無關(guān)的所述時間信號。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一個的方法，其中，根據(jù)所述掃描信號的相位確定所述預(yù)定采樣時間。
10.一種用于對光記錄介質(zhì)上的標(biāo)記進行檢測的裝置，其特征在于該裝置執(zhí)行權(quán)利要求1-9中任一個權(quán)利要求的方法。
11.一種用于對光記錄介質(zhì)上的標(biāo)記進行檢測的裝置，該裝置包括掃描裝置，用于通過獲得包括與將被檢測標(biāo)記相關(guān)的信息的掃描信號掃描所述光盤記錄介質(zhì)上的磁跡；其特征在于還包括存儲裝置(10，17)，用于在預(yù)定的采樣時間處存儲所述掃描信號以作為參考信號；和確定裝置，用于如果所述掃描信號以預(yù)定的方式偏離所述參考信號，則確定一標(biāo)記。
12.用于讀/寫光記錄介質(zhì)的裝置，其特征在于該裝置執(zhí)行權(quán)利要求1-9中任一個所述的方法或包括根據(jù)權(quán)利要求10或11的用于對光記錄介質(zhì)上的標(biāo)記進行檢測的裝置。
全文摘要
可更精確的識別DVD－R或者DVD－RW的地址信息。因此，利用采樣/保持裝置(10)實現(xiàn)該檢測器以存儲將被用于采樣視窗的參考值?？蛇x的積分器(13)用于比較積分信號與參考值(VI)以決定平臺預(yù)制坑的存在。通過將時鐘與預(yù)定因數(shù)相乘，從被鎖定到進入槽擺動信號(TWin)上的鎖相環(huán)(12)中獲得用于控制采樣/保持裝置(10)以及積分器(13)的定時。有益的是，將不包括必須根據(jù)盤速度變化而調(diào)諧的帶通濾波器。此外，由于未使用限幅器，所以建議的平臺預(yù)制坑檢測器很少受到輸入幅值變化的影響。
文檔編號G11B7/007GK1551217SQ20041004453
公開日2004年12月1日 申請日期2004年5月12日 優(yōu)先權(quán)日2003年5月14日
發(fā)明者克里斯琴·比克勒, 克里斯琴 比克勒 申請人:湯姆森特許公司