專利名稱：盤區(qū)域檢測(cè)方法和設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種盤，更特別地，涉及一種盤區(qū)域類型檢測(cè)方法和設(shè)備。
背景技術(shù)：
如光盤的光信息存儲(chǔ)介質(zhì)被廣泛地使用，與可記錄和再現(xiàn)信息的光學(xué)拾取設(shè)備關(guān)聯(lián)而不用物理接觸。
壓縮盤(CD)和數(shù)字多用盤(DVD)是兩種類型的光盤，每種都有不同的記錄容量。光盤還可被分為只讀盤和可記錄盤。前者的示例是650MB CD和4.7GB DVD-ROM。后者的示例是650MB CD-可讀(R)和CD-可寫(RW)，和4.7GB DVD+R/RW、DVD-RAM和DVD-R/RW。并且，具有23GB或更高的記錄容量的高密度光盤(HD-DVD)還在開發(fā)中。
普通的光信息存儲(chǔ)介質(zhì)使用通過(guò)以凹坑或者凹槽抖動(dòng)的形式來(lái)記錄數(shù)據(jù)的方法。這里，凹槽是在制造期間通過(guò)雕刻基底形成的孔，并且凹槽信號(hào)作為抖動(dòng)的值被檢測(cè)。所述凹槽抖動(dòng)是以波的形式在底部形成的凹槽，并且凹槽抖動(dòng)信號(hào)作為推挽信號(hào)被檢測(cè)。
圖1示出根據(jù)傳統(tǒng)技術(shù)的光信息存儲(chǔ)介質(zhì)的示例。
參照?qǐng)D1，傳統(tǒng)高密度可寫光記錄信息存儲(chǔ)介質(zhì)包括在其中記錄用戶數(shù)據(jù)的用戶數(shù)據(jù)區(qū)域120，在用戶區(qū)域里面的導(dǎo)入?yún)^(qū)域110，和在用戶數(shù)據(jù)區(qū)域外面的導(dǎo)出區(qū)域130。存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)信息區(qū)域111占用了全部或者部分導(dǎo)入?yún)^(qū)域110，并且僅存儲(chǔ)如存儲(chǔ)介質(zhì)的相關(guān)信息的用于再現(xiàn)的數(shù)據(jù)。所述用于再現(xiàn)的數(shù)據(jù)由高頻抖動(dòng)(high frequency wobble)形成。覆蓋了部分導(dǎo)入?yún)^(qū)域110、用戶數(shù)據(jù)區(qū)域120、和導(dǎo)出區(qū)域130的可記錄區(qū)域由相對(duì)的低頻抖動(dòng)形成，并且在所述槽中用戶數(shù)據(jù)可被記錄。因此，由于用戶數(shù)據(jù)區(qū)域的抖動(dòng)形式與存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域的抖動(dòng)形式不同，所以PLL條件在存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)可被讀取之前必須被改變。因此，需要通過(guò)確定激光束投射向用戶數(shù)據(jù)區(qū)域還是投射向存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域來(lái)改變PLL條件。
同時(shí)，根據(jù)傳統(tǒng)的技術(shù)的推挽信號(hào)產(chǎn)生方法現(xiàn)在將被簡(jiǎn)要地解釋。
圖2A至2C示出根據(jù)傳統(tǒng)技術(shù)的推挽信號(hào)產(chǎn)生方法。
在DPP方法中，衍射單元與來(lái)自激光光源的光束對(duì)準(zhǔn)成一行，并且在光盤中由第九級(jí)衍射的光(主光束)和第一級(jí)衍射的光(副光束)的三個(gè)光束形成三個(gè)光斑。來(lái)自每一光斑的反射光被相應(yīng)的光電檢測(cè)機(jī)接收，并且由主光束形成的主要光斑被用于記錄或讀取信號(hào)，而由副光束形成的副光斑被用于檢測(cè)軌道誤差。
在DPP方法中，通過(guò)使用主光斑和兩個(gè)副光斑，產(chǎn)生尋軌誤差信號(hào)。參照?qǐng)D2B，主要光電檢測(cè)器23從主要光斑接收光。光電檢測(cè)器23在垂直和水平方向被分成了四部分。參照?qǐng)D2A和2C，兩副光電檢測(cè)器21和25的每個(gè)從副光斑接收光并且每一光電檢測(cè)器21和25在水平方向被分成兩部分。當(dāng)光電檢測(cè)器的輸出信號(hào)由A、B、C、D、E、F、G、和H表示時(shí)，尋軌誤差信號(hào)分別由如下方程獲得MPP＝(B+C)-(A+D)SPP1＝E-FSPP2＝G-HDPP＝MPP-k(SPP1+SPP2)這里，主推挽(MPP)信號(hào)是由在主光電檢測(cè)器中產(chǎn)生的信號(hào)的對(duì)角差，副推挽(SPP)1和SPP2是由分別在副光電檢測(cè)器產(chǎn)生的信號(hào)的差。此外，k表示系數(shù)，DPP表示由DPP方法產(chǎn)生的尋軌誤差信號(hào)。
參照?qǐng)D2A，第一減法器22執(zhí)行由在第一副光電檢測(cè)器21產(chǎn)生的E和F信號(hào)的減法，以產(chǎn)生SPP1信號(hào)，并且第三減法器26執(zhí)行在第二副光電檢測(cè)器25產(chǎn)生的G和H信號(hào)的減法，以產(chǎn)生SPP2信號(hào)。同時(shí)，第二減法器24使用在主要光電檢測(cè)器23產(chǎn)生的A、B、C、和D信號(hào)來(lái)產(chǎn)生由MPP＝(B+C)-(A+D)給出的MPP信號(hào)。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供一種能夠?qū)ΡP區(qū)域類型進(jìn)行簡(jiǎn)單識(shí)別的盤區(qū)域類型檢測(cè)方法和設(shè)備。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種盤區(qū)域類型檢測(cè)方法，該方法包括基于從盤反射的信號(hào)檢測(cè)在副推挽(SPP)1信號(hào)和SPP2信號(hào)之間的差值；和基于所述差值，確定在盤上的區(qū)域是存儲(chǔ)介質(zhì)的相關(guān)信息區(qū)域還是用戶數(shù)據(jù)區(qū)域。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，差值的檢測(cè)可包括檢測(cè)(SPP1-SPP2)的峰峰值。此時(shí)，確定區(qū)域類型可包括如果(SPP1-SPP2)的峰峰值超過(guò)預(yù)定的閾值，則確定所述區(qū)域是存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，差值的檢測(cè)可包括檢測(cè)在SPP1和SPP2之間的相位差。此時(shí)檢測(cè)區(qū)域類型還可包括如果相位差被作為直流(DC)輸出，則確定所述區(qū)域是存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，所述方法還可包括基于確定結(jié)果向鎖相環(huán)(PLL)輸出PLL的條件。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種用于檢測(cè)盤的區(qū)域的類型的盤區(qū)域類型檢測(cè)設(shè)備，該設(shè)備包括差值信號(hào)檢測(cè)單元，用于基于從盤反射的信號(hào)來(lái)檢測(cè)在SPP1信號(hào)和SPP2信號(hào)之間的差值；和區(qū)域確定單元，用于基于檢測(cè)的差值來(lái)確定盤上的區(qū)域是存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域還是用戶數(shù)據(jù)區(qū)域。
本發(fā)明的另外方面和/或優(yōu)點(diǎn)將在如下的描述中被部分地闡述，部分地，從描述中將變得明顯，或可通過(guò)本發(fā)明的實(shí)施被理解。


通過(guò)結(jié)合附圖進(jìn)行的對(duì)實(shí)施例的如下的描述，本發(fā)明的這些和/或其他方面和優(yōu)點(diǎn)將變得清楚和易于理解，其中圖1示出根據(jù)傳統(tǒng)技術(shù)的光信息存儲(chǔ)介質(zhì)的示例；圖2A至2C示出根據(jù)傳統(tǒng)技術(shù)的推挽信號(hào)產(chǎn)生方法；圖3A和3B示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的子光束的相位關(guān)系以解釋確定存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域的概念；圖4是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的包括區(qū)域檢測(cè)單元的光記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的結(jié)構(gòu)的示圖；圖5示出在圖4中所示的區(qū)域檢測(cè)單元的實(shí)施例；圖6示出在圖4中所示的區(qū)域檢測(cè)單元的另一實(shí)施例；圖7A和7B顯示在偏軌(off-track)狀態(tài)下對(duì)用戶數(shù)據(jù)區(qū)域和存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域的(SPP1-SPP2)信號(hào)的比較的圖表；圖8A至8D顯示在R-tilt變化情況下的比較(SPP1-SPP2)信號(hào)的圖；圖9A至9D顯示在T-tilt變化情況下的比較(SPP1-SPP2)信號(hào)的圖；和圖10A和10B示出在偏軌狀態(tài)下用戶數(shù)據(jù)區(qū)域和存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域的相位差信號(hào)的圖。
具體實(shí)施例方式
現(xiàn)在，將詳細(xì)地參照本發(fā)明的實(shí)施例和附圖中所示的實(shí)例，其中相同的標(biāo)號(hào)指的是表示相同的部件。實(shí)施例被描述如下以通過(guò)參照附圖解釋本發(fā)明。
參照?qǐng)D3A，可以看出在用戶數(shù)據(jù)區(qū)域的SPP1和SPP2精確地對(duì)應(yīng)，而在圖3B中，在存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域中在SPP1和SPP2之間則有相位差。
因此，本發(fā)明的實(shí)施例基于通過(guò)檢測(cè)子光束SPP1和SPP2的相位差可將用戶數(shù)據(jù)區(qū)域與存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域進(jìn)行區(qū)別的事實(shí)。
圖4是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的包括區(qū)域檢測(cè)單元的光記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的結(jié)構(gòu)的示圖。
本發(fā)明所使用的光記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備包括光盤410、拾取器(pickup)420、RF和伺服誤差產(chǎn)生單元440、伺服控制單元450、聚焦伺服驅(qū)動(dòng)單元460、尋軌伺服驅(qū)動(dòng)單元470、滑動(dòng)伺服驅(qū)動(dòng)單元480、滑動(dòng)發(fā)動(dòng)機(jī)430、和PLL 490。
拾取器420包括包括激光二極管的光系統(tǒng)、光檢測(cè)器、多個(gè)透鏡、和聚焦/尋軌驅(qū)動(dòng)器。根據(jù)伺服控制單元450的尋軌和聚焦，光束被會(huì)聚到物鏡上，并且拾取器420指引光束到光盤410的軌道上。并且，為了檢測(cè)聚焦誤差信號(hào)和尋軌誤差信號(hào)，從光盤410的記錄表面上反射的光被再次會(huì)聚到物鏡上并且被指引到光檢測(cè)器上。
光電檢測(cè)器包括多個(gè)光電檢測(cè)裝置，并且將與由每一光電檢測(cè)裝置獲得的光數(shù)量成比例的電信號(hào)輸出到RF和伺服誤差產(chǎn)生單元440。
RF和伺服誤差產(chǎn)生單元440從在光電檢測(cè)器的每一光電檢測(cè)裝置輸出的電信號(hào)來(lái)產(chǎn)生用于再現(xiàn)數(shù)據(jù)的RF信號(hào)、用于伺服控制的聚焦誤差(FE)信號(hào)和尋軌誤差(TE)信號(hào)。
產(chǎn)生的RF信號(hào)被輸出到數(shù)據(jù)解碼器(未示出)，并且聚焦誤差(FE)信號(hào)和尋軌誤差(TE)信號(hào)被輸出到伺服控制單元450。
伺服控制單元450處理聚焦誤差(FE)信號(hào)并將用于聚焦控制的驅(qū)動(dòng)信號(hào)輸出到聚焦伺服驅(qū)動(dòng)單元460，并處理尋軌誤差(TE)信號(hào)并將用于尋軌控制的驅(qū)動(dòng)信號(hào)輸出到尋軌伺服驅(qū)動(dòng)單元470。
聚焦伺服驅(qū)動(dòng)單元460通過(guò)對(duì)在拾取器420中的聚焦驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行驅(qū)動(dòng)來(lái)將拾取器420進(jìn)行上下移動(dòng)以跟隨盤，從而根據(jù)與盤410的旋轉(zhuǎn)一起的向上和向下的移動(dòng)在盤410的表面上形成聚焦。
尋軌伺服驅(qū)動(dòng)單元470通過(guò)對(duì)在拾取器420中的尋軌操作器進(jìn)行驅(qū)動(dòng)來(lái)徑向地移動(dòng)拾取器420的物鏡，從而光束跟隨軌道。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，所述RF和伺服誤差產(chǎn)生單元440包括尋軌誤差信號(hào)產(chǎn)生電路，還包括用于檢測(cè)拾取器420是在盤的用戶數(shù)據(jù)區(qū)域還是在存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域的區(qū)域檢測(cè)單元441。為了解釋的方便，假設(shè)在拾取器420中嵌入的光電檢測(cè)器具有圖2所示的結(jié)構(gòu)，但是顯而易見(jiàn)的是除了在圖2中所示的類型之外各種類型的光電檢測(cè)器可被應(yīng)用于本發(fā)明。
圖5示出在圖4中顯示的區(qū)域檢測(cè)單元的實(shí)施例。
參照?qǐng)D5，區(qū)域檢測(cè)單元441包括SPP1信號(hào)產(chǎn)生單元510、SPP2信號(hào)產(chǎn)生單元520、減法單元530、和區(qū)域確定單元540。
SPP1信號(hào)產(chǎn)生單元510從E信號(hào)中減去F信號(hào)，并且產(chǎn)生和輸出SPP1信號(hào)。
SPP2信號(hào)產(chǎn)生單元520從G信號(hào)中減去H信號(hào)，并且產(chǎn)生和輸出SPP2信號(hào)。
減法單元530接收SPP1信號(hào)和SPP2信號(hào)，從SPP1信號(hào)減去SPP2信號(hào)，并且將結(jié)果輸出到區(qū)域確定單元540。
如果由從SPP1信號(hào)減去SPP2信號(hào)得到結(jié)果的信號(hào)的峰峰值比預(yù)定的閾值小，則區(qū)域確定單元540確定所述拾取器在用戶數(shù)據(jù)區(qū)域中，如果得到結(jié)果的值比預(yù)定閾值大，則區(qū)域確定單元540確定所述拾取器在存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域中。然后，根據(jù)確定的區(qū)域，區(qū)域確定單元540向PLL 490輸出PLL控制條件信息。
圖6示出在圖4中顯示的區(qū)域檢測(cè)單元的另一實(shí)施例。
參照?qǐng)D6，區(qū)域檢測(cè)單元441包括SPP1信號(hào)產(chǎn)生單元610、二進(jìn)制單元620、SPP2信號(hào)產(chǎn)生單元630、二進(jìn)制單元640、相位檢測(cè)單元650、低通濾波器(LPF)660、減法單元680、和區(qū)域確定單元690。
SPP1信號(hào)產(chǎn)生單元610從E信號(hào)中減去F信號(hào)并產(chǎn)生和輸出SPP1信號(hào)，二進(jìn)制單元620對(duì)SPP1信號(hào)進(jìn)行二值化并向相位檢測(cè)單元650輸出結(jié)果。
SPP2信號(hào)產(chǎn)生單元630從G信號(hào)中減去H信號(hào)并產(chǎn)生和輸出SPP2信號(hào)，以及二進(jìn)制單元640對(duì)SPP2信號(hào)進(jìn)行二值化并向相位檢測(cè)單元650輸出結(jié)果。
相位檢測(cè)單元650接收二進(jìn)制的SPP1和SPP2信號(hào)并檢測(cè)相位差。如果SPP1信號(hào)的相位比較大，則相位差被輸出到LPF 660，以及如果SPP2信號(hào)的相位比較大，則相位差被輸出到LPF 670。
LPF 660和LPF 670濾波器的任何一個(gè)從相位檢測(cè)單元650接收信號(hào)，并向減法單元680輸出結(jié)果。
減法單元680從由LPF 660輸出的信號(hào)減去由LPF670輸出的信號(hào)，并向區(qū)域檢測(cè)單元690輸出減法結(jié)果PIC_s。
如果接收的PIC_s值接近0，則區(qū)域檢測(cè)單元690確定拾取器在用戶數(shù)據(jù)區(qū)域中，并且如果所述值是預(yù)定的正數(shù)或負(fù)數(shù)值時(shí)，區(qū)域預(yù)定單元690確定拾取器在存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域中。
圖7A和7B顯示在偏軌(off-track)狀態(tài)下對(duì)用戶數(shù)據(jù)區(qū)域和存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域的(SPP1-SPP2)信號(hào)的比較的圖表。
參照?qǐng)D7A，由于SPP1和SPP2在用戶數(shù)據(jù)區(qū)域中幾乎相同，所以可看出(SPP1-SPP2)在預(yù)定的上限和下限之間。即，可看出峰峰值接近0。
同時(shí)，參照?qǐng)D7B，由于在存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域中在SPP1和SPP2之間有相位差，所以(SPP1-SPP2)以正弦波的形式出現(xiàn)，因此可看出峰峰值超過(guò)預(yù)定的閾值。
因此，如果(SPP1-SPP2)的峰峰值比預(yù)定的閾值小，則可確定拾取器在用戶數(shù)據(jù)區(qū)域中，并且如果峰峰值比預(yù)定的閾值大，則可確定拾取器在存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域中。
因此，當(dāng)盤被傾斜時(shí)，通過(guò)使用在SPP1和SPP2之間的差值來(lái)確定區(qū)域也可被應(yīng)用。
圖8A至8D顯示在R-tilt變化情況下的比較(SPP1-SPP2)信號(hào)的圖。
參照?qǐng)D8A至8D，由于當(dāng)如圖8A所示的R-tilt是-1.0，如圖8B所示的0，如圖8C所示的+1.0時(shí)所有的(SPP1-SPP2)的峰峰值超過(guò)了預(yù)定的閾值，所以可確定拾取器在存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域。
圖9A至9D顯示在T-tilt變化情況下的比較(SPP1-SPP2)信號(hào)的圖表。
參照?qǐng)D9A至9D，由于當(dāng)如圖9A所示的T-tilt是-0.5，如圖9B所示的0，如圖9C所示的+0.5時(shí)，所有的(SPP1-SPP2)的峰峰值超過(guò)了預(yù)定的閾值，所以可確定拾取器在存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域。
圖10A和10B示出在偏軌狀態(tài)下用戶數(shù)據(jù)區(qū)域和存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域的信號(hào)的相位差的圖表。
圖10A顯示用戶數(shù)據(jù)區(qū)域的PIC_s信號(hào)，并且圖10B顯示存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域的PIC_s信號(hào)。
參照?qǐng)D10A，在用戶數(shù)據(jù)區(qū)域，PIC_s接近零。
參照?qǐng)D10B，在存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域，PIC_s為vcc*0.2或-vcc*0.2。極性根據(jù)激光束的移動(dòng)方向而改變。因此，當(dāng)PIC_s接近零時(shí)，可確定拾取器在用戶數(shù)據(jù)區(qū)域中，并且當(dāng)PIC_s超過(guò)預(yù)定的正數(shù)或者負(fù)數(shù)值時(shí)，可確定拾取器在存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域中。
同時(shí)，在對(duì)軌狀態(tài)下，通過(guò)檢測(cè)(SPP1-SPP2)和確定值是DC，可簡(jiǎn)單地確定拾取器是否在存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域中。
雖然本發(fā)明參照其示例性實(shí)施例的本發(fā)明已被具體地顯示和描述，但本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將理解，在不脫離所附權(quán)利要求所定義的本發(fā)明的精神和范圍的情況下可以在形式和細(xì)節(jié)上在其中進(jìn)行各種改變。
根據(jù)如上描述的本發(fā)明，允許合適的PLL控制執(zhí)行，可很容易地區(qū)別用戶數(shù)據(jù)區(qū)域和存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域。
權(quán)利要求
1.一種盤區(qū)域類型檢測(cè)方法包括基于從盤反射的信號(hào)檢測(cè)在副推挽(SPP)1信號(hào)和SPP2信號(hào)之間的差值；和基于所述差值，確定在盤上的區(qū)域是存儲(chǔ)介質(zhì)的相關(guān)信息區(qū)域還是用戶數(shù)據(jù)區(qū)域。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，檢測(cè)差值包括檢測(cè)(SPP1-SPP2)的峰峰值。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中，確定盤區(qū)域類型包括如果(SPP1-SPP2)的峰峰值超過(guò)預(yù)定的閾值，則確定盤的區(qū)域是存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，檢測(cè)差值包括檢測(cè)在SPP1和SPP2之間的相位差。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中，確定區(qū)域類型還包括如果相位差被輸出直流(DC)，則確定盤的區(qū)域是存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括基于所述區(qū)域是存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域還是用戶數(shù)據(jù)區(qū)域的確定來(lái)向鎖相環(huán)(PLL)輸出PLL條件。
7.一種檢測(cè)盤區(qū)域的類型的盤區(qū)域類型檢測(cè)設(shè)備，包括差值信號(hào)檢測(cè)單元，用于基于從盤反射的信號(hào)來(lái)檢測(cè)在副推挽(SPP)1信號(hào)和SPP2信號(hào)之間的差值；和區(qū)域確定單元，用于基于檢測(cè)的差值來(lái)確定盤上的區(qū)域是存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域還是用戶數(shù)據(jù)區(qū)域。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的設(shè)備，其中，差值信號(hào)檢測(cè)單元檢測(cè)(SPP1-SPP2)的峰峰值。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其中，如果(SPP1-SPP2)的峰峰值超過(guò)預(yù)定的閾值，則區(qū)域確定單元確定該區(qū)域是存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的設(shè)備，其中，差值信號(hào)檢測(cè)單元檢測(cè)SPP1和SPP2之間的相位差。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的設(shè)備，其中，如果相位差輸出直流(DC)，則區(qū)域確定單元確定所述區(qū)域是存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域。
12.根據(jù)權(quán)利要求7所述的設(shè)備，其中，區(qū)域檢測(cè)單元基于確定的結(jié)果還向鎖相環(huán)(PLL)輸出PLL的條件。
13.根據(jù)權(quán)利要求7所述的設(shè)備，其中，差值信號(hào)檢測(cè)單元包括SPP1信號(hào)產(chǎn)生單元、SPP2信號(hào)產(chǎn)生單元和減法單元。
14.根據(jù)權(quán)利要求7所述的設(shè)備，其中，差值信號(hào)檢測(cè)單元還包括第一二進(jìn)制單元、第二二進(jìn)制單元、相位檢測(cè)單元、第一低通濾波器、第二低通濾波器和減法單元。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的設(shè)備，其中，相位檢測(cè)單元接收二進(jìn)制的SPP1和SPP2信號(hào)并且檢測(cè)在所述信號(hào)之間的相位差。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的設(shè)備，其中，如果SPP1信號(hào)的相位大于SPP2信號(hào)的相位，則相位差被輸出到第一低通濾波器。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的設(shè)備，其中，如果SPP2信號(hào)的相位比SPP1信號(hào)的相位大，則相位差被輸出到第二低通濾波器。
18.根據(jù)權(quán)利要求14所述的設(shè)備，其中，減法單元從第一低通濾波器的輸出信號(hào)減去第二低通濾波器的輸出信號(hào)，并將減法結(jié)果輸出到區(qū)域確定單元。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的設(shè)備，其中，如果減法結(jié)果近似為0，則區(qū)域確定單元確定所述區(qū)域是用戶數(shù)據(jù)區(qū)域，并且如果減法結(jié)果是預(yù)定的正數(shù)或者負(fù)數(shù)值，則區(qū)域確定單元確定所述區(qū)域是存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域。
20.根據(jù)權(quán)利要求14所述的設(shè)備，其中，第一二進(jìn)制單元對(duì)SPP1信號(hào)進(jìn)行二值化并將結(jié)果輸出到相位檢測(cè)單元，以及第二二進(jìn)制單元對(duì)SPP2信號(hào)進(jìn)行二值化并將結(jié)果輸出到相位檢測(cè)單元，并且相位檢測(cè)單元基于輸出的結(jié)果檢測(cè)相位差。
21.一種盤區(qū)域類型檢測(cè)方法，包括基于從盤反射的信號(hào)來(lái)檢測(cè)在第一信號(hào)和第二信號(hào)之間的相位差；和基于在第一和第二信號(hào)之間的相位差確定盤上的區(qū)域是第一類型區(qū)域還是第二類型區(qū)域。
全文摘要
一種盤區(qū)域類型檢測(cè)的方法和設(shè)備，盤區(qū)域類型檢測(cè)方法包括檢測(cè)在副推挽(SPP)1信號(hào)和SPP2信號(hào)之間的差值；和基于檢測(cè)的差值，確定在盤上的區(qū)域是存儲(chǔ)介質(zhì)的相關(guān)信息區(qū)域還是用戶數(shù)據(jù)區(qū)域。根據(jù)所述方法和設(shè)備，盤的用戶數(shù)據(jù)區(qū)域和存儲(chǔ)介質(zhì)相關(guān)的信息區(qū)域可被容易地區(qū)別，允許適當(dāng)?shù)貓?zhí)行鎖相環(huán)(PLL)控制。
文檔編號(hào)G11B20/18GK1755824SQ20051009358
公開日2006年4月5日 申請(qǐng)日期2005年8月26日 優(yōu)先權(quán)日2004年9月2日
發(fā)明者馬炳寅, 金寬俊 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社