專利名稱：像差校正方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)一種光盤機(jī)，尤其是關(guān)于光盤機(jī)中讀取頭光學(xué)元件所產(chǎn)生像 差，用以設(shè)定調(diào)整像差值的像差校正方法。
背景技術(shù)：
由于光盤片上的記號(hào)細(xì)微，光盤機(jī)讀取頭中的光學(xué)元件必需相當(dāng)小，才 能投射足夠小的光點(diǎn)，涵蓋光盤片上微小記號(hào)，并接收記號(hào)的反射光，由反 射光量的差異判讀記號(hào)。而短小光學(xué)元件的材質(zhì)、成形、曲面及平滑度，在
制造過(guò)程中均難以掌控，導(dǎo)致投射光點(diǎn)的亮度不均，容易造成像差(Spherical Aberration,簡(jiǎn)稱SA)，影響記號(hào)判讀的正確性。
如圖1所示，為傳統(tǒng)光盤機(jī)像差校正系統(tǒng)。其中，光盤機(jī)的讀取頭1以 激光裝置2發(fā)出一激光光束，經(jīng)過(guò)多個(gè)光學(xué)元件3至物鏡4，將光束聚焦成 光點(diǎn)投射至光盤片5的數(shù)據(jù)層6，光點(diǎn)經(jīng)數(shù)據(jù)層6反射回讀取頭1,再由光 學(xué)元件3折射，照射在檢光裝置7所劃分的受光面A、 B、 C、 D,分別形成 電信號(hào)傳輸至信號(hào)處理裝置8計(jì)算處理，以受光面(A+B+C+D)總合信號(hào)傳輸 至微處理裝置9，解碼后形成數(shù)據(jù)信號(hào)輸出，信號(hào)處理裝置8另計(jì)算處理受 光面(A+C)-(B+D)信號(hào)，傳輸至微處理裝置9，形成聚焦誤差信號(hào)(Focusing Error,簡(jiǎn)稱FE信號(hào))的控制信號(hào)，輸出至致動(dòng)器10,控制致動(dòng)器10驅(qū)動(dòng)物 鏡4移動(dòng)，將光點(diǎn)聚焦在數(shù)據(jù)層6。
另外，為了校正像差，在光學(xué)元件3至物鏡4的光路徑上，裝設(shè)一像差 校正單元11,由微處理裝置9發(fā)出控制信號(hào)至SA調(diào)整裝置12,調(diào)整像差校 正單元11的分開(kāi)距離，以改變光束投射路徑。校正像差時(shí)，傳統(tǒng)光盤機(jī)像 差校正系統(tǒng)，先將光點(diǎn)聚焦鎖定在數(shù)據(jù)層6,微處理裝置9再選取數(shù)個(gè)不同 的SA值，依次發(fā)出控制信號(hào)至SA調(diào)整裝置12，控制SA調(diào)整裝置12驅(qū)動(dòng) 像差校正單元11調(diào)整相對(duì)的分開(kāi)距離，改變光束投射路徑，經(jīng)過(guò)物鏡4將 聚焦光點(diǎn)投射至數(shù)據(jù)層6，經(jīng)數(shù)據(jù)層6反射，由檢光裝置7經(jīng)信號(hào)處理裝置 8,傳輸至微處理裝置9形成多個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)，比較各數(shù)據(jù)信號(hào)強(qiáng)度或糾錯(cuò)校正值，找出其中最佳的SA值，設(shè)定為系統(tǒng)的SA值。
然而，傳統(tǒng)光盤機(jī)像差校正系統(tǒng)必需在讀取頭將投射的光點(diǎn)鎖定光盤片 的數(shù)據(jù)層，在聚焦伺服的閉回路中，才能進(jìn)行像差校正作業(yè)。像差校正作業(yè) 前的聚焦伺服的閉回路中，讀取頭仍存在像差，其所產(chǎn)生的光信號(hào)誤差，會(huì) 影響回路中信號(hào)增益(Gain)的配置，導(dǎo)致光盤機(jī)信號(hào)處理及傳輸失誤。因此， 傳統(tǒng)光盤機(jī)在像差校正方法上，仍有問(wèn)題亟待解決。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在提供一種像差校正方法，借由讀取頭在聚焦鎖定數(shù)據(jù)層 前，完成像差校正，以免影響信號(hào)增益配置。
本發(fā)明另一目的在提供一種像差校正方法，在讀取頭在聚焦鎖定數(shù)據(jù)層 前，選定數(shù)個(gè)不同SA值，上下移動(dòng)光點(diǎn)通過(guò)數(shù)據(jù)層，利用FE信號(hào)強(qiáng)度變 化，篩選最強(qiáng)的FE信號(hào)，以其SA值作為設(shè)定。
為了達(dá)到前述發(fā)明的目的，本發(fā)明的像差校正方法，首先點(diǎn)亮激光裝置， 在讀取頭鎖定數(shù)據(jù)層前，開(kāi)始設(shè)定系統(tǒng)的SA值，由下往上推升物鏡行經(jīng)測(cè) 試行程，使物鏡投射光點(diǎn)穿越數(shù)據(jù)層，以測(cè)試預(yù)設(shè)數(shù)個(gè)測(cè)試SA值，并記錄 各SA值測(cè)試行程所產(chǎn)生信號(hào)及強(qiáng)度，比較出最強(qiáng)信號(hào)所屬的SA值，以最 強(qiáng)信號(hào)的SA值，設(shè)定為系統(tǒng)的SA值。
本發(fā)明在測(cè)試預(yù)設(shè)數(shù)個(gè)測(cè)試SA值時(shí)，先選擇一預(yù)設(shè)SA值以調(diào)整系統(tǒng) 的SA值，計(jì)次每一SA值測(cè)試，移動(dòng)物4竟行經(jīng)預(yù)設(shè)的測(cè)試行程，記錄該測(cè) 試行程所產(chǎn)生信號(hào)及強(qiáng)度，檢查計(jì)次是否到達(dá)預(yù)定值？假如未到達(dá)，則回繼 續(xù)測(cè)試另一預(yù)設(shè)SA值，假如已到達(dá)，則比較出最強(qiáng)信號(hào)所屬的SA值，作 為設(shè)定。


圖1為傳統(tǒng)光盤機(jī)像差校正系統(tǒng)的功能方塊圖。 圖2為本發(fā)明像差校正產(chǎn)生信號(hào)過(guò)程的示意圖。 圖3為本發(fā)明像差校正方法的流程圖。 主要元件符號(hào)說(shuō)明
1 讀取頭
2 激光裝置3光學(xué)元件
4物鏡
5光盤片
6數(shù)據(jù)層
7檢光裝置7
8信號(hào)處理裝置
9微處理裝置
10致動(dòng)器
11像差校正單元
12SA調(diào)整裝置
Rl點(diǎn)亮激光裝置步驟
R2開(kāi)始設(shè)定SA值步驟
R3調(diào)整一 SA值步驟
R4計(jì)次步驟
R5移動(dòng)物鏡使光點(diǎn)穿過(guò)數(shù)據(jù)層經(jīng)過(guò)測(cè)試行程步驟
R6記錄信號(hào)強(qiáng)度步驟
R7檢查計(jì)次到達(dá)預(yù)定值步驟
R8比較出最強(qiáng)信號(hào)強(qiáng)度步驟
R9以最強(qiáng)信號(hào)強(qiáng)度所屬SA值設(shè)定系統(tǒng)SA值步驟
R10結(jié)束設(shè)定步驟
具體實(shí)施例方式
有關(guān)本發(fā)明為達(dá)成上述目的，所采用的技術(shù)手段及其功效，舉優(yōu)選實(shí)施 例，并配合附圖加以說(shuō)明如下。
請(qǐng)參考圖2，為本發(fā)明像差校正產(chǎn)生信號(hào)過(guò)程。本發(fā)明是在激光裝置點(diǎn) 亮后，讀取頭尚未將聚焦光點(diǎn)鎖定數(shù)據(jù)層前，進(jìn)行像差校正。首先選取設(shè)定 數(shù)個(gè)SA值，例如SA1、 SA2、 SA3、 SA4、 SA5。由微處理裝置采取設(shè)定SA1 值，發(fā)出控制信號(hào)至SA調(diào)整裝置，將像差校正單元分開(kāi)至該SA1值，接著 由微處理裝置控制致動(dòng)器，移動(dòng)物鏡接近光盤片，例如圖中SA1物鏡高度實(shí) 線箭頭所示，以預(yù)定速度由:下往上推升物鏡，使物鏡投射的光點(diǎn)穿越數(shù)據(jù)層。
物鏡投射的光點(diǎn)開(kāi)始移動(dòng)時(shí)，光點(diǎn)位于較低位置，未接觸數(shù)據(jù)層，檢光裝置所接收的數(shù)據(jù)層反射光量有限，由檢光裝置所形成的光信號(hào)，例如光總
合信號(hào)或FE信號(hào)等，以受光面(A+C)-(B+D)所產(chǎn)生的FE信號(hào)為例，信號(hào) 強(qiáng)度接近于零，隨著光點(diǎn)接近數(shù)據(jù)層，檢光裝置所接收的數(shù)據(jù)層反射光量逐 漸增加，F(xiàn)E信號(hào)跟著逐漸增強(qiáng)至最大，然后逐漸減少，當(dāng)FE信號(hào)等于零， 此時(shí)表示光點(diǎn)形成對(duì)稱圓形，聚焦光點(diǎn)正在數(shù)據(jù)層上，光點(diǎn)一通過(guò)光點(diǎn)，F(xiàn)E 信號(hào)由正轉(zhuǎn)負(fù)，并隨著光點(diǎn)穿越凄t據(jù)層而逐漸往負(fù)加大，然后再逐漸減少至 零，構(gòu)成一S形的信號(hào)曲線。推升物鏡到達(dá)設(shè)定終點(diǎn)后，再如SA1值物鏡 高度虛線箭頭所示，將物鏡推回至起始位置，完成SA1值的測(cè)試。
接著，由微處理裝置依次采取SA2、 SA3、 SA4、 SA5等設(shè)定值，完成 各校正值S形信號(hào)曲線的測(cè)試。由在每一校正SA值，改變投射光束路徑不 同，能使檢光裝置獲得最大反射光量的，將使FE信號(hào)強(qiáng)度相對(duì)增強(qiáng)，并增 大S形信號(hào)曲線的幅度。因此，由測(cè)試出各SA1、 SA2、 SA3、 SA4、 SA5 值S形信號(hào)曲線的大小，找出最大者，如SA4值的S形信號(hào)曲線，即可決 定最佳的SA值。而尋找SA值最大的S形信號(hào)曲線，可借由比較各SA值S 形信號(hào)曲線中最大的信號(hào)強(qiáng)度，在讀取頭鎖定數(shù)據(jù)層前，快速完成設(shè)定系統(tǒng) 的最佳的SA值。
如圖3所示，為本發(fā)明像差校正方法的流程。本發(fā)明在讀取頭鎖定數(shù)據(jù) 層前，快速設(shè)定系統(tǒng)SA值的詳細(xì)步驟如下首先在步驟Rl,起動(dòng)光盤機(jī)， 點(diǎn)亮激光裝置，進(jìn)入步驟R2，在讀取頭鎖定數(shù)據(jù)層前，開(kāi)始設(shè)定系統(tǒng)的SA 值，預(yù)設(shè)數(shù)個(gè)測(cè)試SA值，再進(jìn)入步驟R3，由預(yù)設(shè)數(shù)個(gè)測(cè)試SA值，選擇一 SA值，并調(diào)整好系統(tǒng)該SA值進(jìn)行測(cè)試，至步驟R4，對(duì)每一測(cè)試SA值進(jìn) 行累計(jì)計(jì)次，接著至步驟R5,移動(dòng)物鏡行經(jīng)整個(gè)預(yù)設(shè)的測(cè)試行程，使投射 光束的光點(diǎn)穿越數(shù)據(jù)層，至測(cè)試行程再推回測(cè)試起點(diǎn)，以產(chǎn)生信號(hào)。進(jìn)入步 驟R6記錄測(cè)試行程所產(chǎn)生信號(hào)及強(qiáng)度。
接著進(jìn)入步驟R7，；險(xiǎn)查計(jì)次是否到達(dá)預(yù)定值？該預(yù)定值可等于或小于 測(cè)試SA值的預(yù)設(shè)個(gè)數(shù)，以從預(yù)設(shè)數(shù)個(gè)測(cè)試SA值采樣或整個(gè)測(cè)試，本實(shí)施 例以枱r視所有測(cè)試SA值是否均測(cè)試完成為例，^假如未測(cè)試完成，則回至步 驟R3，選擇另一SA值，完成調(diào)整再繼續(xù)測(cè)試，假如預(yù)設(shè)的SA值已測(cè)試完 成，則進(jìn)入步驟R8，由步驟R6所記錄各SA值的信號(hào)及強(qiáng)度，比較信號(hào)強(qiáng) 度，我出最強(qiáng)倌號(hào)所屬的SA值，然后至步驟R9，以該信號(hào)最強(qiáng)的SA值;， 設(shè)定為系統(tǒng)的SA值，最后結(jié)束設(shè)定的步驟RIO。因此，本發(fā)明像差校正方法，即可借由在讀取頭在聚焦鎖定數(shù)據(jù)層前，
選定數(shù)個(gè)不同SA值，上下移動(dòng)光點(diǎn)通過(guò)數(shù)據(jù)層，利用FE信號(hào)強(qiáng)度變化， 篩選最強(qiáng)的FE信號(hào)，以其SA值作為設(shè)定，完成像差校正，達(dá)到避免影響 到聚焦鎖定數(shù)據(jù)層后，聚焦回路信號(hào)增益配置，以提高光盤機(jī)的精確度。
以上所述者，僅用以方便說(shuō)明本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，本發(fā)明的范圍不限 于該等優(yōu)選實(shí)施例，凡依本發(fā)明所做的任何變更，在不脫離本發(fā)明的精神下， 均屬本發(fā)明的范圍。
權(quán)利要求
1.一種像差校正方法，其步驟包括(1)點(diǎn)亮激光裝置；(2)在讀取頭鎖定數(shù)據(jù)層前，開(kāi)始設(shè)定系統(tǒng)的SA值；(3)測(cè)試預(yù)設(shè)數(shù)個(gè)測(cè)試SA值，并記錄各SA值測(cè)試行程所產(chǎn)生信號(hào)及強(qiáng)度；(4)比較出最強(qiáng)信號(hào)所屬的SA值；以及(5)以最強(qiáng)信號(hào)的SA值，設(shè)定為系統(tǒng)的SA值。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的像差校正方法，其中該步驟(3)測(cè)試預(yù)設(shè)數(shù)個(gè)測(cè) 試SA值及記錄信號(hào)強(qiáng)度，包括步驟(3-1)選擇一預(yù)設(shè)SA值以調(diào)整系統(tǒng)的SA值； (3-2)計(jì)次每一SA值測(cè)試； (3-3)移動(dòng)物鏡行經(jīng)預(yù)設(shè)的測(cè)試行程； (3-4)記錄該測(cè)試行程所產(chǎn)生信號(hào)及強(qiáng)度；(3-5)檢查計(jì)次是否到達(dá)預(yù)定值？假如未到達(dá)，則回至步驟(3-l)繼續(xù)測(cè) 試另一預(yù)設(shè)SA值，假如已到達(dá)，則進(jìn)入步驟(4)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的像差校正方法，其中該預(yù)定值等于預(yù)設(shè)測(cè)試SA 值的個(gè)數(shù)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的像差校正方法，其中該預(yù)定值小于預(yù)設(shè)測(cè)試SA 值的個(gè)數(shù)。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的像差校正方法，其中該預(yù)設(shè)測(cè)試行程使物鏡投 射光點(diǎn)穿越數(shù)據(jù)層。
6. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的像差校正方法，其中該移動(dòng)物鏡是以預(yù)定速度 由下往上推升物鏡。
7. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的像差校正方法，其中該測(cè)試行程開(kāi)始時(shí)，位于 光點(diǎn)未接觸數(shù)據(jù)層，信號(hào)強(qiáng)度為零位置。
8. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的像差校正方法，其中該記錄測(cè)試行程所產(chǎn)生的 信號(hào)為聚焦誤差信號(hào)。
9. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的像差校正方法，其中該記錄測(cè)試行程所產(chǎn)生的 信號(hào)為光總合信號(hào)。
全文摘要
一種像差校正方法，首先點(diǎn)亮激光裝置，在讀取頭鎖定數(shù)據(jù)層前，開(kāi)始設(shè)定系統(tǒng)的SA值，由下往上推升物鏡行經(jīng)測(cè)試行程，使物鏡投射光點(diǎn)穿越數(shù)據(jù)層，以測(cè)試預(yù)設(shè)數(shù)個(gè)SA值，并記錄各SA值測(cè)試行程所產(chǎn)生信號(hào)及強(qiáng)度，比較出最強(qiáng)信號(hào)所屬的SA值，以最強(qiáng)信號(hào)的SA值，設(shè)定為系統(tǒng)的SA值，以免影響回路增益配置。
文檔編號(hào)G11B7/135GK101494063SQ200810004638
公開(kāi)日2009年7月29日 申請(qǐng)日期2008年1月21日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月21日
發(fā)明者黃朝群, 黃識(shí)忠 申請(qǐng)人:廣明光電股份有限公司