本發(fā)明涉及計算機，具體涉及一種固態(tài)硬盤的壞塊檢測方法、裝置、設備及存儲介質(zhì)。

背景技術：

1、固態(tài)硬盤是用于固態(tài)電子存儲芯片陣列制成的硬盤，其主要存儲單元為閃存顆粒(nand?flash)，一個nand?flash由多個塊(block)組成，一個block由多個page組成，由于nand?flash的工藝難以保證其中的存儲器陣列在其生命周期中保持性能的可靠性，因此在生產(chǎn)和使用過程中會產(chǎn)生壞塊，壞塊是指閃存中的某些區(qū)域不能進行擦寫操作。在出廠階段會有一定概率出現(xiàn)壞塊，稱為固有壞塊。在使用過程中如果出現(xiàn)程序錯誤等情況，可將這個block作為壞塊處理會將這個壞標記出來。

2、壞塊會導致浮柵極充不進電子、浮柵極的電子容易跑出來或浮柵極里面的電子跑不出來。通常會在硬盤中存儲壞塊表，其中包括出廠壞塊以及新增壞塊。隨著對固態(tài)硬盤性能的要求越來越高，需要確定固態(tài)硬盤中存在壞塊的部分閃存顆粒的位置，以便對其進行及時的攔截和替換。

技術實現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本發(fā)明實施例提供了一種固態(tài)硬盤的壞塊檢測方法、裝置、設備及存儲介質(zhì)，以解決準確定位固態(tài)硬盤中存在壞塊的閃存顆粒的問題。

2、第一方面，本發(fā)明實施例提供了一種固態(tài)硬盤的壞塊檢測方法，所述方法包括：

3、獲取固態(tài)硬盤的壞塊表，所述壞塊表包括所述固態(tài)硬盤中所有壞塊組；

4、對所述壞塊表進行解析，確定各壞塊組中的壞塊數(shù)量，并判斷所述壞塊組中的壞塊數(shù)量是否超過預設閾值；

5、當所述壞塊組中的壞塊數(shù)量超過預設閾值，獲取所述壞塊組中每個壞塊的通道與片選信號的組合；

6、基于所述通道與片選信號的組合從預設對照表中確定所述通道與片選信號的組合對應的閃存顆粒的位置，所述預設對照表中存儲所述通道與片選信號的組合和閃存顆粒的位置的映射關系。

7、本發(fā)明實施例提供的固態(tài)硬盤的壞塊檢測方法，通過解析壞塊表，對壞塊組進行篩選，當壞塊組中的壞塊數(shù)量超過預設閾值，則根據(jù)對壞塊組中壞塊的解析得到各個壞塊對應的通道與片選信號的組合，進而基于預設對照表確定各通道與片選信號的組合對應的閃存顆粒的位置，以此準確定位固態(tài)硬盤中存在壞塊的閃存顆粒，提升異常閃存顆粒的定位效率。在確定閃存顆粒的位置后，可對閃存顆粒進行更換，避免因人力檢測耗費較多時間，該方法可減少故障硬盤的維修時間和測試成本，提高固態(tài)硬盤的質(zhì)量。

8、在一些可選的實施方式中，所述對所述壞塊表進行解析，確定各壞塊組中的壞塊數(shù)量，包括：

9、讀取所述壞塊表，從所述壞塊表中確定所有壞塊組；

10、基于所述壞塊組中各個塊的數(shù)據(jù)，確定各壞塊組中的壞塊數(shù)量。

11、在一些可選的實施方式中，所述基于所述壞塊組中各個塊的數(shù)據(jù)，確定各壞塊組中的壞塊數(shù)量，包括：

12、讀取壞塊組中的各塊在同一行的數(shù)據(jù)；

13、對所述各塊在同一行的數(shù)據(jù)進行轉(zhuǎn)換并求和，以確定各壞塊組中的壞塊數(shù)量。

14、在一些可選的實施方式中，所述對所述各塊在同一行的數(shù)據(jù)進行轉(zhuǎn)換并求和，以確定各壞塊組中的壞塊數(shù)量，包括：

15、將所述各塊在同一行的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為二進制，得到二進制數(shù)據(jù)；

16、對所述二進制數(shù)據(jù)取或，得到所述各塊在同一行數(shù)據(jù)對應的位數(shù)；

17、計算壞塊組中所有位數(shù)之和，以確定各壞塊組中的壞塊數(shù)量。

18、本發(fā)明實施例提供的方法，讀取各個壞塊組中各個塊的數(shù)量，經(jīng)過對各個塊中同一行數(shù)據(jù)的讀取、轉(zhuǎn)換以及取或操作，得到其中置1的數(shù)量，將各位數(shù)相加，得到該壞塊組中的壞塊數(shù)量。

19、在一些可選的實施方式中，所述判斷所述壞塊組中的壞塊數(shù)量是否超過預設閾值，包括：

20、基于所述固態(tài)硬盤的內(nèi)存大小確定對應的預設閾值；

21、判斷所述壞塊組中的壞塊數(shù)量是否超過所述固態(tài)硬盤對應的預設閾值。

22、本發(fā)明實施例提供的方法，設定不同內(nèi)存大小的固態(tài)硬盤有不同的預設閾值，根據(jù)固態(tài)硬盤的內(nèi)存大小確定對應的預設閾值，再判斷壞塊組中的壞塊數(shù)量是否超過對應的預設閾值。該方法考慮不同內(nèi)存的固態(tài)硬盤有針對性地執(zhí)行判斷過程，得到的判斷結(jié)果更加準確。

23、在一些可選的實施方式中，所述獲取所述壞塊組中每個壞塊的通道與片選信號的組合，包括：

24、讀取壞塊組中每個壞塊對應的預設描述表，所述預設描述表包括每個壞塊的通道、片選信號分別對應的比特位；

25、從所述預設描述表中確定每個壞塊的通道與片選信號分別對應的比特位，并讀取所述比特位對應的數(shù)據(jù)，以確定所述壞塊組中每個壞塊的通道與片選信號的組合。

26、本發(fā)明實施例提供的方法，根據(jù)壞塊中的預設描述表讀取不同比特位的數(shù)據(jù)，進而確定不同比特位對應的壞塊參數(shù)。

27、在一些可選的實施方式中，所述獲取所述固態(tài)硬盤的壞塊表，包括：

28、查詢所述固態(tài)硬盤的老化狀態(tài)與老化進度；

29、當所述老化狀態(tài)與所述老化進度滿足預設條件，獲取所述固態(tài)硬盤的壞塊表。

30、本發(fā)明實施例提供的方法，首先需要查詢固態(tài)硬盤的老化狀態(tài)以及老化進度，當老化狀態(tài)和老化進度滿足預設條件后再獲取固態(tài)硬盤的壞塊表，避免因固態(tài)硬盤老化異常而導致的其他原因，提升檢測的準確性。

31、第二方面，本發(fā)明實施例提供了一種固態(tài)硬盤的壞塊檢測裝置，所述裝置包括：

32、壞塊表獲取模塊，用于獲取所述固態(tài)硬盤的壞塊表，所述壞塊表包括所述固態(tài)硬盤中所有壞塊組；

33、壞塊解析模塊，用于對所述壞塊表進行解析，確定各壞塊組中的壞塊數(shù)量，并判斷所述壞塊組中的壞塊數(shù)量是否超過預設閾值；

34、數(shù)據(jù)獲取模塊，用于當所述壞塊組中的壞塊數(shù)量超過預設閾值，獲取所述壞塊組中每個壞塊的通道與片選信號的組合；

35、位置確定模塊，用于基于所述通道與片選信號的組合從預設對照表中確定所述通道與片選信號的組合對應的閃存顆粒的位置，所述預設對照表中存儲所述通道與片選信號的組合和閃存顆粒的位置的映射關系。

36、在一些可選的實施方式中，壞塊解析模塊包括：

37、壞塊表讀取單元，用于讀取所述壞塊表，從所述壞塊表中確定所有壞塊組；

38、壞塊數(shù)量確定單元，用于基于所述壞塊組中各個塊的數(shù)據(jù)，確定各壞塊組中的壞塊數(shù)量。

39、在一些可選的實施方式中，壞塊數(shù)量確定單元包括：

40、數(shù)據(jù)讀取子單元，用于讀取壞塊組中的各塊在同一行的數(shù)據(jù)；

41、數(shù)量確定子單元，用于對所述各塊在同一行的數(shù)據(jù)進行轉(zhuǎn)換并求和，以確定各壞塊組中的壞塊數(shù)量。

42、在一些可選的實施方式中，數(shù)量確定子單元包括：

43、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換子單元，用于將所述各塊在同一行的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為二進制，得到二進制數(shù)據(jù)；

44、數(shù)據(jù)取或子單元，用于對所述二進制數(shù)據(jù)取或，得到所述各塊在同一行數(shù)據(jù)對應的位數(shù)；

45、位數(shù)求和子單元，用于計算壞塊組中所有位數(shù)之和，以確定各壞塊組中的壞塊數(shù)量。

46、在一些可選的實施方式中，壞塊解析模塊包括：

47、預設確定單元，用于基于所述固態(tài)硬盤的內(nèi)存大小確定對應的預設閾值；

48、數(shù)據(jù)判斷單元，用于判斷所述壞塊組中的壞塊數(shù)量是否超過所述固態(tài)硬盤對應的預設閾值。

49、在一些可選的實施方式中，數(shù)據(jù)獲取模塊包括：

50、描述表讀取單元，用于讀取壞塊組中每個壞塊對應的預設描述表，所述預設描述表包括每個壞塊的通道、片選信號分別對應的比特位；

51、參數(shù)讀取單元，用于從所述預設描述表中確定每個壞塊的通道與片選信號分別對應的比特位，并讀取所述比特位對應的數(shù)據(jù)，以確定所述壞塊組中每個壞塊的通道與片選信號的組合。

52、在一些可選的實施方式中，壞塊表獲取模塊包括：

53、老化查詢單元，用于查詢所述固態(tài)硬盤的老化狀態(tài)與老化進度；

54、壞塊表獲取單元，用于當所述老化狀態(tài)與所述老化進度滿足預設條件，獲取所述固態(tài)硬盤的壞塊表。

55、第三方面，本發(fā)明實施例提供了一種計算機設備，包括：存儲器和處理器，存儲器和處理器之間互相通信連接，存儲器中存儲有計算機指令，處理器通過執(zhí)行計算機指令，從而執(zhí)行上述第一方面或其對應的任一實施方式的固態(tài)硬盤的壞塊檢測方法。

56、第四方面，本發(fā)明實施例提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì)，該計算機可讀存儲介質(zhì)上存儲有計算機指令，計算機指令用于使計算機執(zhí)行上述第一方面或其對應的任一實施方式的固態(tài)硬盤的壞塊檢測方法。