本申請涉及通信，尤其涉及一種用于存儲器自檢及修復的方法及裝置。

背景技術：

1、芯片在生產(chǎn)制造時，基于內(nèi)部功能需求，會設置存儲器。由于存儲器內(nèi)部比較復雜，容易出現(xiàn)故障，例如，存儲器進行讀寫操作的過程中的讀寫控制電路故障，再例如，地址譯碼電路出現(xiàn)的故障，而存儲器的核心存儲單元陣列由數(shù)以萬計的存儲單元排列而成，出現(xiàn)故障的概率更高。

2、內(nèi)存內(nèi)置自測試(memory?built-in?self-test，mbist)是一種在芯片內(nèi)部集成的測試邏輯，用于在芯片制造后的測試階段以及芯片的實際使用過程中自動檢測和修復存儲器中的故障。在執(zhí)行mbist時，是根據(jù)芯片內(nèi)部邏輯固定的算法執(zhí)行測試和修復，如果芯片在設計時只支持某一檢測故障算法，而用戶希望使用另一種檢測故障算法，導致該用戶不會選擇此款芯片。

3、并且芯片封裝時可能會根據(jù)客戶需求裁剪功能，導致一部分內(nèi)存不使用，但檢測邏輯仍會對芯片內(nèi)部所有內(nèi)存進行測試和修復，浪費資源和時間。同時mbist功能由內(nèi)存或者后端廠家提供，每組內(nèi)存會自帶bist(built-in?self-test，內(nèi)建自測試)功能，內(nèi)存越多，實現(xiàn)bist功能所需的資源也越多，導致資源浪費。

技術實現(xiàn)思路

1、本申請?zhí)峁┮环N用于存儲器自檢及修復的方法及裝置，以解決資源浪費的問題。

2、第一方面，本申請?zhí)峁┮环N用于存儲器自檢及修復的方法，包括：

3、根據(jù)控制信號定義或測試模式配置，預定義存儲器測試算法；

4、根據(jù)測試算法啟動存儲器測試邏輯，以獲取待測存儲器的讀數(shù)據(jù)，所述測試邏輯包括數(shù)據(jù)處理模塊；

5、如果所述讀數(shù)據(jù)和比較數(shù)據(jù)不一致，記錄錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)；

6、根據(jù)所述錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)，計算故障率；

7、如果故障率小于或等于故障率閾值，調(diào)用所述數(shù)據(jù)處理模塊，所述數(shù)據(jù)處理模塊用于生成修復信息；

8、基于所述修復信息對所述待測存儲器的錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)修復。

9、在一些可行的實施例中，還包括：

10、如果所述故障率大于錯誤閾值，輸出錯誤信息，所述錯誤信息表征所述錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)無法修復。

11、在一些可行的實施例中，還包括：

12、獲取所述待測存儲器的位寬；

13、對所述待測存儲器中的數(shù)據(jù)執(zhí)行循環(huán)移位，所述移位的次數(shù)為位寬次數(shù)的移位；

14、如果比較數(shù)據(jù)的指定位與讀數(shù)據(jù)的指定位數(shù)據(jù)不同，輸出第一值，所述比較數(shù)據(jù)與所述讀數(shù)據(jù)的位序列相同；

15、如果輸出第一值的次數(shù)為1，基于所述修復信息對所述待測存儲器的錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)修復；

16、如果輸出第一值的次數(shù)大于1，輸出錯誤信息。

17、在一些可行的實施例中，所述輸出錯誤信息后，包括：

18、根據(jù)所述錯誤信息，觸發(fā)重試機制，以得到重試結(jié)果，所述重試機制用于重新嘗試訪問存儲器；

19、如果所述重試結(jié)果為成功，輸出正確信息，所述正確信息表征基于所述修復信息對所述待測存儲器的錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)修復；

20、如果所述重試結(jié)果為失敗，輸出錯誤信息。

21、在一些可行的實施例中，所述如果故障率小于或等于故障率閾值，調(diào)用所述數(shù)據(jù)處理模塊后，還包括；

22、根據(jù)所述錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)，獲取冗余列；

23、利用所述冗余列對所述待測存儲器的錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)修復。

24、在一些可行的實施例中，所述根據(jù)測試算法啟動存儲器測試邏輯，以獲取待測存儲器的讀數(shù)據(jù)，包括：

25、響應于預定義存儲器測試算法的指令，設置測試邏輯為啟動狀態(tài)，所述配置信息至少包括起始地址和結(jié)束地址；

26、根據(jù)所述測試算法和配置信息，生成讀寫控制信號以及測試數(shù)據(jù)，所述讀寫控制信號包括使能信號、地址信號；

27、將所述控制信號或測試數(shù)據(jù)發(fā)送至存儲器封裝器，以觸發(fā)存儲器寫操作或接收讀數(shù)據(jù)。

28、在一些可行的實施例中，所述測試邏輯還包括比較模塊；

29、所述如果所述讀數(shù)據(jù)和比較數(shù)據(jù)不一致，記錄錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)包括：

30、調(diào)用所述比較模塊，以通過比較邏輯對比所述讀數(shù)據(jù)和比較數(shù)據(jù)，以及，通過錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)計算故障率，所述比較模塊包括所述測試邏輯的比較邏輯。

31、在一些可行的實施例中，所述測試邏輯還包括狀態(tài)機，所述狀態(tài)機用于拉高比較使能信號；

32、所述如果所述讀數(shù)據(jù)和比較數(shù)據(jù)不一致，記錄錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)，包括：

33、響應于所述狀態(tài)機拉高比較使能信號，對比所述讀數(shù)據(jù)和比較數(shù)據(jù)；

34、對所述讀數(shù)據(jù)和比較數(shù)據(jù)執(zhí)行逐位異或操作，如果異或結(jié)果為1，記錄錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)。

35、在一些可行的實施例中，還包括：

36、計算存儲器數(shù)據(jù)的第一校驗和，并將所述第一校驗和存儲在校驗位中，所述校驗位設置在所述存儲器的區(qū)域；

37、響應于數(shù)據(jù)被讀取的指令，計算存儲器數(shù)據(jù)的第二校驗和；

38、如果所述第一校驗和與第二校驗和不同，調(diào)用數(shù)據(jù)處理模塊，所述數(shù)據(jù)處理模塊用于生成修復信息；

39、基于所述修復信息對所述待測存儲器的錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)修復。

40、第二方面，本申請還提供一種用于存儲器自檢及修復的裝置，包括：

41、獲取單元，用于根據(jù)控制信號定義或測試模式配置，預定義存儲器測試算法；以及，根據(jù)測試算法啟動存儲器測試邏輯，以獲取存儲器的讀數(shù)據(jù)，所述測試邏輯包括數(shù)據(jù)處理模塊；如果所述讀數(shù)據(jù)和比較數(shù)據(jù)不一致，所述獲取單元還用于記錄錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)；如果所述讀數(shù)據(jù)和比較數(shù)據(jù)不一致，所述獲取單元還用于記錄錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)；

42、計算單元，用于根據(jù)所述錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)，計算故障率；

43、處理單元，如果故障率小于或等于故障率閾值，所述處理單元用于調(diào)用數(shù)據(jù)處理模塊，所述數(shù)據(jù)處理模塊用于生成修復信息；

44、所述處理單元還用于基于所述修復信息對所述待測存儲器的錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)修復。

45、由以上技術方案可知，本申請?zhí)峁┮环N用于存儲器自檢及修復的方法及裝置，所述方法包括：根據(jù)控制信號定義或測試模式配置，預定義存儲器測試算法；根據(jù)測試算法啟動存儲器測試邏輯，以獲取待測存儲器的讀數(shù)據(jù)，所述測試邏輯包括數(shù)據(jù)處理模塊；如果所述讀數(shù)據(jù)和比較數(shù)據(jù)不一致，記錄錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)；根據(jù)所述錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)，計算故障率；如果故障率小于或等于故障率閾值，調(diào)用所述數(shù)據(jù)處理模塊，所述數(shù)據(jù)處理模塊用于生成修復信息；基于所述修復信息對所述待測存儲器的錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)修復。所述方法通過一個測試邏輯，可完成對存儲器的自檢和修復，還可通過管腳或寄存器靈活選擇存儲器的數(shù)量以及檢測方案，使方法更靈活，以解決資源浪費的問題。

技術特征：

1.一種用于存儲器自檢及修復的方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于存儲器自檢及修復的方法，其特征在于，還包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于存儲器自檢及修復的方法，其特征在于，還包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的用于存儲器自檢及修復的方法，其特征在于，所述輸出錯誤信息后，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于存儲器自檢及修復的方法，其特征在于，所述如果故障率小于或等于故障率閾值，調(diào)用所述數(shù)據(jù)處理模塊后，還包括；

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于存儲器自檢及修復的方法，其特征在于，所述根據(jù)測試算法啟動存儲器測試邏輯，以獲取待測存儲器的讀數(shù)據(jù)，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于存儲器自檢及修復的方法，其特征在于，所述測試邏輯還包括比較模塊；

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于存儲器自檢及修復的方法，其特征在于，所述測試邏輯還包括狀態(tài)機，所述狀態(tài)機用于拉高比較使能信號；

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于存儲器自檢及修復的方法，其特征在于，還包括：

10.一種用于存儲器自檢及修復的裝置，其特征在于，用于執(zhí)行權(quán)利要求1-9任一項所述的用于存儲器自檢及修復的方法，包括：

技術總結(jié)
本申請?zhí)峁┮环N用于存儲器自檢及修復的方法及裝置，所述方法包括：根據(jù)控制信號定義或測試模式配置，預定義存儲器測試算法；根據(jù)測試算法啟動存儲器測試邏輯，以獲取待測存儲器的讀數(shù)據(jù)，所述測試邏輯包括數(shù)據(jù)處理模塊；如果所述讀數(shù)據(jù)和比較數(shù)據(jù)不一致，記錄錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)；根據(jù)所述錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)，計算故障率；如果故障率小于或等于故障率閾值，調(diào)用所述數(shù)據(jù)處理模塊，所述數(shù)據(jù)處理模塊用于生成修復信息；基于所述修復信息對所述待測存儲器的錯誤地址和錯誤數(shù)據(jù)修復。所述方法通過一個測試邏輯，可完成對存儲器的自檢和修復，還可通過管腳或寄存器靈活選擇存儲器的數(shù)量以及檢測方案，使方法更靈活，以解決資源浪費的問題。

技術研發(fā)人員：汪又金,閆振林,史順達
受保護的技術使用者：蘇州雄立科技有限公司
技術研發(fā)日：
技術公布日：2024/11/14