專利名稱：半導(dǎo)體存儲裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體存儲裝置，尤其是在內(nèi)部裝有將外部電源電壓降壓并生成內(nèi)部電源電壓的內(nèi)部電源降壓電路的半導(dǎo)體存儲裝置。更具體地說，本發(fā)明涉及用于使內(nèi)部電源電壓電路在接通電源時的消耗電流減小的結(jié)構(gòu)。
隨著半導(dǎo)體存儲裝置存儲容量的增大及日益高度集成化，作為構(gòu)成要素的晶體管元件也日趨微細化。為保證這種微細化的晶體管元件的可靠性以及為減小耗電量，希望能降低工作電源電壓。通過降低工作電源電壓來保證作為構(gòu)成要素的MOS晶體管(絕緣柵型場效應(yīng)晶體管)的柵極絕緣膜的可靠性，同時使功率以與工作電源電壓V的二次方成比例的方式減小。
但是，由于必須保持與前一代半導(dǎo)體存儲裝置的互換性，所以，例如可將作為系統(tǒng)電源的外部電源電壓在內(nèi)部降壓到所需要的電壓電平。


圖10是簡略地表示現(xiàn)有的半導(dǎo)體存儲裝置總體結(jié)構(gòu)的圖。在圖10中，半導(dǎo)體存儲裝置1包含內(nèi)部降壓電路1b，與接受外部電源電壓EXTVcc的電源端子1a連接，用于對外部電源電壓EXTVcc進行降壓并在內(nèi)部電源線2上生成內(nèi)部電源電壓INTVcc；內(nèi)部電源使用電路1c，使用該內(nèi)部電源線2上的內(nèi)部電源電壓INTVcc并執(zhí)行規(guī)定的功能；及外部電源使用電路1d，使用與外部電源端子1a連接的外部電源線3上的外部電源電壓EXTVcc。該外部電源使用電路1d與外部端子1e連接，用于進行與半導(dǎo)體存儲裝置1的外部電路的信號/數(shù)據(jù)的發(fā)送和接收。
內(nèi)部電源使用電路1c以該內(nèi)部電源線2上的內(nèi)部電源電壓INTVcc作為一個工作電源電壓而動作，并進行規(guī)定的處理。該內(nèi)部電源使用電路1c，通過作為接口的外部電源使用電路1d進行與裝置外部的信號發(fā)送和接收。
圖11是表示圖10所示內(nèi)部降壓電路1b結(jié)構(gòu)的一例的圖。在圖11中，內(nèi)部降壓電路1b包含比較器10a，用于將來自圖中未示出的基準電壓發(fā)生電路的基準電壓Vref與內(nèi)部電源線2上的內(nèi)部電源電壓INTVcc進行激活時比較；電流源晶體管10b，響應(yīng)降壓激活信號ACT的激活，將該比較器10a激活；驅(qū)動晶體管10c，由連接在外部電源端子1a與內(nèi)部電源線2之間并在其柵極上接受比較器10a的輸出信號的p溝道MOS晶體管構(gòu)成；及預(yù)充電晶體管10d，由響應(yīng)降壓激活信號ACT的非激活狀態(tài)而將該驅(qū)動晶體管10c的柵極電位保持在外部電源電壓EXTVcc電平的p溝道MOS晶體管構(gòu)成。降壓激活信號ACT，其產(chǎn)生形態(tài)將在后文中說明，在內(nèi)部電源使用電路10c變?yōu)楣ぷ鳡顟B(tài)的激活期間，它變?yōu)橥獠侩娫措妷篍XTVcc電平的激活狀態(tài)。下面，簡單說明該圖11所示內(nèi)部降壓電路1b的動作。
當(dāng)降壓激活信號ACT為非激活狀態(tài)的L電平時，電流源晶體管10b處在非導(dǎo)通狀態(tài)，比較器10a處在非激活狀態(tài)。另一方面，預(yù)充電晶體管10d響應(yīng)該非激活狀態(tài)的降壓激活信號ACT而導(dǎo)通，并將驅(qū)動晶體管10c的柵極電位預(yù)充電到外部電源電壓EXTVcc電平。驅(qū)動晶體管10c，其柵極和源極的電位變得相同，因而保持非導(dǎo)通狀態(tài)。因此，在降壓激活信號ACT為非激活狀態(tài)期間，內(nèi)部降壓電路處在非激活狀態(tài)，使生成內(nèi)部電源電壓INTVcc的動作停止。
降壓激活信號ACT如變?yōu)榧せ顮顟B(tài)的H電平，則電流源晶體管10b導(dǎo)通，形成與比較器10a相對應(yīng)的電流路徑，將比較器10a激活。比較器10a由對內(nèi)部電源線2上的內(nèi)部電源電壓INTVcc和基準電壓Vref進行差動放大和輸出的差動放大電路構(gòu)成(關(guān)于其結(jié)構(gòu)將在后文中詳細說明)。當(dāng)內(nèi)部電源電壓INTVcc高于基準電壓Vref時，該比較器10a的輸出信號變?yōu)镠電平，驅(qū)動晶體管10c為非導(dǎo)通狀態(tài)。另一方面，當(dāng)內(nèi)部電源電壓INTVcc低于基準電壓Vref時，比較器10a的輸出信號電平降低，驅(qū)動晶體管10c的電導(dǎo)變大。驅(qū)動晶體管10c根據(jù)其電導(dǎo)值從外部電源端子1a向內(nèi)部電源線2供給電流。并使內(nèi)部電源電壓INTVcc上升。
在使用該內(nèi)部電源線2上的內(nèi)部電源電壓INTVcc的內(nèi)部電源使用電路1c工作時，降壓激活信號ACT變?yōu)榧せ顮顟B(tài)。在這種狀態(tài)下，在內(nèi)部電源使用電路1c內(nèi)流過大的工作電流，因而存在著使內(nèi)部電源電壓INTVcc降低的可能性。為補償在該內(nèi)部電源使用電路1c工作時引起的內(nèi)部電源電壓INTVcc的降低，使內(nèi)部降壓電路1b隨著降壓激活信號ACT激活。內(nèi)部電源使用電路1c不工作時(等待狀態(tài)時)不使用內(nèi)部電源電壓INTVcc，僅產(chǎn)生極微小的等待電流(漏泄電流)，因而可將該內(nèi)部電源電壓INTVcc基本上保持在恒定的電壓電平。
圖12是表示圖11所示比較器10a結(jié)構(gòu)的一例的圖。在圖12中，比較器10a包含p溝道MOS晶體管10aa和10ab，與電源節(jié)點3a連接，用于構(gòu)成從該電源節(jié)點3a供給電流的電流鏡電路；及n溝道MOS晶體管10ac和10ad，用于構(gòu)成將內(nèi)部電源電壓INTVcc與基準電壓Vref進行比較的比較級。p溝道MOS晶體管10aa，其柵極和漏極與n溝道MOS晶體管10ac的漏極連接。p溝道MOS晶體管10ab，其柵極與p溝道MOS晶體管10aa的柵極連接且其漏極與n溝道MOS晶體管10ad的漏極連接。MOS晶體管10ac及10ad的源極共同連接于電流源晶體管10b的漏極。內(nèi)部電源電壓INTVcc加在MOS晶體管10ac的柵極上，基準電壓Vref加在MOS晶體管10ad的柵極上。MOS晶體管10ab和10ad的連接節(jié)點(漏極)與驅(qū)動晶體管10c的柵極連接。以下，說明該圖12所示比較電路(包含比較器10a及電流源晶體管10b)的動作。
當(dāng)降壓激活信號ACT為L電平時，電流源晶體管10b處在非導(dǎo)通狀態(tài)。因此，將電流從電源節(jié)點3a流向接地節(jié)點的路徑切斷，該比較電路中的消耗電流只是該電流源晶體管10b的例如幾μA左右的漏泄電流。
降壓激活信號ACT如變?yōu)镠電平，則電流源晶體管10b導(dǎo)通，形成使電流從電源節(jié)點3a流向接地節(jié)點的路徑。當(dāng)內(nèi)部電源電壓INTVcc高于基準電壓Vref時，MOS晶體管10ac的電導(dǎo)變得大于MOS晶體管10ad的電導(dǎo)，因而MOS晶體管10ac比MOS晶體管10ad流過的電流大。流過該MOS晶體管10ac的電流由MOS晶體管10aa供給。MOS晶體管10aa和10ab構(gòu)成電流鏡電路，所以MOS晶體管10aa和10ab流過大小相同的電流(MOS晶體管10aa和10ab的尺寸相同)。MOS晶體管10ad不能對由MOS晶體管10ab供給的電流進行全部放電，所以使驅(qū)動晶體管10c的柵極電位上升。
另一方面，當(dāng)內(nèi)部電源電壓INTVcc低于基準電壓Vref時，MOS晶體管10ac的電導(dǎo)變得小于MOS晶體管10ad的電導(dǎo)，因而流過MOS晶體管10ac的電流比流過MOS晶體管10ad的電流小。通過MOS晶體管10ab供給的電流與通過該MOS晶體管10ac流動的電流相等，MOS晶體管10ad對由該MOS晶體管10ab供給的電流進行放電，使該MOS晶體管10ad的漏極電位降低，因此MOS晶體管10c的電導(dǎo)相應(yīng)增大。
當(dāng)由內(nèi)部電源使用電路1c(參照圖10)使用內(nèi)部電源電壓INTVcc時，該比較電路通過驅(qū)動晶體管10c向內(nèi)部電源線2供給電流，以補償該電壓電平的降低。當(dāng)內(nèi)部電源使用電路1c工作時，流過較大的工作電流(例如幾十mA)。為了可靠地補償由該較大的消耗電流引起的內(nèi)部電源電壓INTVcc的降低，該比較電路的響應(yīng)速度應(yīng)十分快速。因此，使該電流源晶體管10b流過例如幾mA左右的電流，并根據(jù)內(nèi)部電源電壓INTVcc與基準電壓Vref之差快速地改變驅(qū)動晶體管10c的柵極電位。
通過使包含使用該較大電流的比較電路的內(nèi)部降壓電路在必要時動作，可達到減小消耗電流的目的。
圖13是簡略地表示降壓激活信號ACT發(fā)生部結(jié)構(gòu)的圖。在圖13中，降壓激活信號發(fā)生部包含輸入緩沖器15，用于接受行地址選通信號/RAS及電源接通檢測信號ZPOR；及降壓激活信號發(fā)生電路16，根據(jù)該輸入緩沖器15的輸出信號產(chǎn)生降壓激活信號ACT。輸入緩沖器15包含當(dāng)行地址選通信號/RAS為L電平且電源接通檢測信號ZPOR為H電平時輸出L電平信號的選通電路15a。降壓激活信號發(fā)生電路16包含用于將該選通電路15a的輸出信號反相的反相器16b。
行地址選通信號/RAS，當(dāng)半導(dǎo)體存儲裝置為DRAM(動態(tài)隨機存取存儲器)時，用于確定該DRAM的存儲周期。當(dāng)行地址選通信號/RAS變?yōu)長電平的激活狀態(tài)時，在該DRAM內(nèi)部使用該內(nèi)部電源電壓INTVcc，并開始存儲單元的選擇動作。電源接通檢測信號ZPOR，當(dāng)來自外部的電源電壓EXTVcc被接通并達到規(guī)定電壓電平或到達穩(wěn)定狀態(tài)時，變?yōu)镠電平的激活狀態(tài)。當(dāng)外部電源電壓EXTVcc為不穩(wěn)定的電壓電平時，利用該電源接通檢測信號ZPOR來禁止內(nèi)部電路的動作。下面，參照圖14和圖15所示波形圖說明在該圖13中示出的降壓激活信號發(fā)生部的動作。
首先，參照圖14，說明當(dāng)在將行地址選通信號/RAS設(shè)定在H電平的狀態(tài)下將外部電源電壓EXTVcc接通到半導(dǎo)體存儲裝置時的動作。在時刻t1，接通電源，外部電源電壓EXTVcc的電壓電平上升。響應(yīng)該外部電源電壓EXTVcc的接通，對比較電路的內(nèi)部節(jié)點進行充電，所以隨著該電源的接通，在比較電路中產(chǎn)生較大的峰值電流。在圖14中，流過該比較電路的電流以符號Ic表示。在內(nèi)部節(jié)點充電到規(guī)定電平后，作為構(gòu)成要素的MOS晶體管分別保持規(guī)定的狀態(tài)(初始狀態(tài))，并使內(nèi)部節(jié)點的電位隨著外部電源電壓EXTVcc的上升而上升。在這種狀態(tài)下，比較電路處在穩(wěn)定狀態(tài)(初始狀態(tài))，比較電路的電流Ic穩(wěn)定在很小的值(信號ACT為L電平)。
在時刻t2，當(dāng)外部電源電壓EXTVcc到達規(guī)定的電壓電平、并且即使內(nèi)部電路動作但產(chǎn)生誤動作的可能性很小時，電源接通檢測信號ZPOR上升到H電平。盡管電源接通檢測信號ZPOR上升到H電平，而施加到選通電路15a的行地址選通信號/RAS為H電平，所以選通電路15a的輸出信號為H電平，因此由反相器16b輸出的降壓激活信號ACT處在L電平。因而內(nèi)部降壓電路保持非激活狀態(tài)，其消耗電流不會增加。
在時刻t3，為進行將在后文中說明的空操作周期，使行地址選通信號/RAS下降到L電平。響應(yīng)行地址選通信號/RAS的下降，從選通電路15a輸出的信號下降到L電平，使由反相器16b輸出的降壓激活信號ACT相應(yīng)地變?yōu)镠電平。響應(yīng)信號ACT的上升，內(nèi)部降壓電路被激活，使比較電路進行比較動作。隨著該降壓激活信號ACT的激活，比較電路的電流源晶體管導(dǎo)通，所以在該比較電路中流過較大的電流Ic。
如該圖14所示，當(dāng)在將行地址選通信號/RAS設(shè)定在H電平的狀態(tài)下接通外部電源電壓EXTVcc時，降壓激活信號ACT保持接通電源時的L電平，因而在接通電源時的內(nèi)部降壓電路中的消耗電流基本上是可以忽略的程度(漏泄電流電平)。
其次，參照圖15，說明當(dāng)在將行地址選通信號/RAS設(shè)定在L電平的狀態(tài)下進行電源接通時的動作。在將行地址選通信號/RAS設(shè)定在L電平的狀態(tài)下，在時刻t1接通電源，外部電源電壓EXTVcc的電壓電平上升。這時，與前面圖14所示情況一樣，為將內(nèi)部降壓電路的內(nèi)部節(jié)點設(shè)定在初始狀態(tài)，電流Ic也瞬時增加，然后恢復(fù)到穩(wěn)定狀態(tài)。盡管行地址選通信號/RAS為L電平，但電源接通檢測信號ZPOR為L電平，所以選通電路15a的輸出信號為H電平，因而降壓激活信號ACT相應(yīng)地處在L電平。
在時刻t2，當(dāng)外部電源電壓EXTVcc到達規(guī)定的電壓電平、并判定已到達可使內(nèi)部電路在不發(fā)生誤動作的情況下工作的電壓電平時，電源接通檢測信號ZPOR上升到H電平。當(dāng)電源接通檢測信號ZPOR上升到H電平時，選通電路15a的輸出信號下降為L電平，并使降壓激活信號ACT變?yōu)镠電平的激活狀態(tài)。相應(yīng)地將內(nèi)部降壓電路激活，并使其比較電路進行比較動作。由此，比較電路的電流Ic變成與通常動作時同樣大的值。因此，在這種將行地址選通信號/RAS設(shè)定為L電平并將DRAM設(shè)定在激活狀態(tài)下進行電源的接通時，內(nèi)部降壓電路隨著電源接通檢測信號ZPOR的激活而被激活，因而存在著消耗大電流并且在接通電源后消耗電流增加的問題。
有鑒于此，本發(fā)明的目的是提供一種能可靠地減小電源接通后半導(dǎo)體存儲裝置的內(nèi)部降壓電路的消耗電流的半導(dǎo)體存儲裝置。
本發(fā)明的另一目的是提供一種無論作為存儲周期規(guī)定信號的行地址選通信號為何種邏輯電平都能在電源接通后減小內(nèi)部降壓電路的消耗電流的半導(dǎo)體存儲裝置。
本發(fā)明的第一種半導(dǎo)體存儲裝置備有內(nèi)部降壓電路，響應(yīng)降壓激活信號的激活而被激活，用于將來自外部的電源電壓降壓并生成內(nèi)部電源電壓；電源接通檢測電路，用于產(chǎn)生響應(yīng)該外部電源電壓的接通而變?yōu)榧せ顮顟B(tài)的電源接通檢測信號；及控制裝置，響應(yīng)電源接通檢測信號的激活而將降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)。
本發(fā)明的第二種半導(dǎo)體存儲裝置，還備有將電源接通檢測信號延遲規(guī)定時間并供給控制裝置的延遲裝置?？刂蒲b置包含響應(yīng)該延遲裝置輸出信號的非激活狀態(tài)而將對降壓激活信號的非激活狀態(tài)的保持停止的裝置。
本發(fā)明的第三種半導(dǎo)體存儲裝置，是在本發(fā)明第一或第二種半導(dǎo)體存儲裝置的控制裝置中備有空操作周期檢測裝置，響應(yīng)動作周期指示信號，檢測使內(nèi)部電路復(fù)位到初始狀態(tài)的空操作周期被指示的情況；及響應(yīng)來自該空操作周期檢測裝置的空周期檢測指示信號的激活，使將降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)的動作停止的裝置。
本發(fā)明的第四種半導(dǎo)體存儲裝置，是在本發(fā)明的第三種半導(dǎo)體存儲裝置中，備有激活控制信號發(fā)生裝置，用于根據(jù)動作周期指示信號產(chǎn)生將內(nèi)部降壓電路激活用的激活控制信號。控制裝置中所備有的停止裝置包含選通電路，響應(yīng)該空操作周期檢測指示信號的激活并根據(jù)激活控制信號產(chǎn)生降壓激活信號。
本發(fā)明的第五種半導(dǎo)體存儲裝置，備有；內(nèi)部降壓電路，響應(yīng)降壓激活信號的激活而被激活，用于將來自外部的電源電壓降壓并生成內(nèi)部電源電壓；內(nèi)部動作激活信號發(fā)生裝置，響應(yīng)來自外部的動作周期規(guī)定信號，用于產(chǎn)生將該降壓激活信號激活用的內(nèi)部動作激活信號；電源接通檢測電路，用于產(chǎn)生響應(yīng)該外部電源電壓的接通而變?yōu)榧せ顮顟B(tài)的電源接通檢測信號；空操作周期檢測裝置，響應(yīng)電源接通檢測信號及動作周期規(guī)定信號，檢測使內(nèi)部電路復(fù)位到初始狀態(tài)用的空操作周期被指示的情況，并產(chǎn)生在該檢出時激活的空操作周期檢測信號；及控制裝置，在該空操作周期檢測信號被激活前根據(jù)內(nèi)部動作激活信號停止降壓激活信號的產(chǎn)生，并將降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)。
本發(fā)明的第六種半導(dǎo)體存儲裝置，是在本發(fā)明的第五種半導(dǎo)體存儲裝置中還備有用于將電源接通檢測信號延遲規(guī)定時間的延遲電路。控制裝置包含響應(yīng)該延遲電路的輸出信號處在激活狀態(tài)且空操作周期檢測信號為非激活狀態(tài)的情況并根據(jù)內(nèi)部動作激活信號進行使降壓激活信號的產(chǎn)生停止及將降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)的動作的裝置。
本發(fā)明的第七種半導(dǎo)體存儲裝置，是在本發(fā)明第五種半導(dǎo)體存儲裝置的控制裝置中包含響應(yīng)電源接通檢測信號的激活狀態(tài)及空操作周期檢測信號的非激活狀態(tài)并根據(jù)內(nèi)部動作激活信號進行使降壓激活信號的產(chǎn)生停止及將降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)的動作的裝置。
在接通電源后，通過將降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)，能可靠地將內(nèi)部降壓電路保持在非激活狀態(tài)，從而能抑制內(nèi)部電路中的消耗電流。
圖1是簡略地表示本發(fā)明實施形態(tài)1的半導(dǎo)體存儲裝置主要部分的結(jié)構(gòu)的圖。
圖2是表示圖1所示電路動作的信號波形圖。
圖3是表示圖1所示電路動作的信號波形圖。
圖4(A)示出圖1所示電源接通檢測電路結(jié)構(gòu)的一例，(B)是表示其動作波形的圖。
圖5是表示圖1所示空操作周期檢測電路結(jié)構(gòu)的一例的圖。
圖6是表示圖1所示激活控制信號發(fā)生電路結(jié)構(gòu)的一例的圖。
圖7是簡略地表示本發(fā)明實施形態(tài)2的半導(dǎo)體存儲裝置主要部分的結(jié)構(gòu)的圖。
圖8是表示圖7所示電路動作的信號波形圖。
圖9是表示圖7所示電路動作的信號波形圖。
圖10是簡略地表示現(xiàn)有的半導(dǎo)體存儲裝置總體結(jié)構(gòu)的圖。
圖11是簡略地表示圖10所示內(nèi)部降壓電路結(jié)構(gòu)的圖。
圖12是表示圖11所示比較電路結(jié)構(gòu)的一例的圖。
圖13是表示圖11和圖12所示降壓激活信號發(fā)生部結(jié)構(gòu)的一例的圖。
圖14是圖13所示電路的動作波形圖。
圖15是表示圖13所示電路動作的信號波形圖。1a外部電源節(jié)點、20電源接通檢測電路、22空操作周期檢測電路、24激活控制信號發(fā)生電路、26控制電路、1b內(nèi)部降壓電路、1ba工作降壓電路、32選通電路、34AND電路。圖1是簡略地表示本發(fā)明實施形態(tài)1的半導(dǎo)體存儲裝置主要部分的結(jié)構(gòu)的圖。在圖1中內(nèi)部降壓電路包含工作降壓電路1ba，當(dāng)降壓激活信號激活時被激活，用于從外部電源節(jié)點1aa向內(nèi)部電源線2供給電流；及等待降壓電路1bb，進行正常動作，用于從外部電源節(jié)點1aa向內(nèi)部電源線2供給電流。等待降壓電路1bb的電流驅(qū)動力非常小，用于保持半導(dǎo)體存儲裝置在等待狀態(tài)時的內(nèi)部電源電壓INTVcc的電壓電平。工作降壓電路1ba在降壓激活信號ACT激活時被激活，以大的電流驅(qū)動力工作，用于補償當(dāng)內(nèi)部電源使用電路工作時的大的工作電流引起的內(nèi)部電源電壓INTVcc的降低。工作降壓電路1ba的結(jié)構(gòu)，與圖11和圖12所示結(jié)構(gòu)相同，包含比較器，在降壓激活信號ACT激活時被激活，用于將基準電壓Vref與內(nèi)部電源電壓INTVcc進行比較；電流驅(qū)動晶體管，根據(jù)該比較器的輸出信號，從外部電源節(jié)點1aa向內(nèi)部電源線2供給電流；及在降壓激活信號ACT為非激活狀態(tài)時導(dǎo)通并將外部電源電壓傳送到電流驅(qū)動晶體關(guān)的柵極以使電流驅(qū)動晶體管變?yōu)榉菍?dǎo)通狀態(tài)的晶體管。等待降壓電路1bb包含比較器，進行正常動作，用于將基準電壓與內(nèi)部電源電壓進行比較；及電流驅(qū)動晶體管，根據(jù)該比較器的輸出信號，從外部電源節(jié)點1aa向內(nèi)部電源線2供給電流。這種結(jié)構(gòu)與在圖11所示結(jié)構(gòu)中使電流源晶體管10b進行正常動作而不設(shè)置預(yù)充電晶體管10d的結(jié)構(gòu)是等效的。
半導(dǎo)體存儲裝置還包含電源接通檢測電路20，與外部電源端子1a連接，用于檢測對該半導(dǎo)體存儲裝置的電源接通；空操作周期檢測電路22，響應(yīng)來自該電源接通檢測電路20的電源接通檢測信號ZPOR的激活而復(fù)位，且根據(jù)從外部施加的行地址選通信號/RAS檢測空操作周期被指定的情況；激活控制信號發(fā)生電路24，根據(jù)從外部施加的行地址選通信號/RAS輸出用于激活工作降壓電路1ba的激活控制信號VDACT；及控制電路26，用于接受空操作周期檢測信號ZPOR8和激活控制信號VDACT，輸出降壓激活信號ACT。
當(dāng)供給該電源端子1a的外部電源電壓EXTVcc達到一定的電壓電平或穩(wěn)定狀態(tài)時，電源接通檢測電路20使電源接通檢測信號ZPOR變?yōu)榧せ顮顟B(tài)的H電平。
空操作周期檢測電路22響應(yīng)來自該電源接通檢測電路20的電源接通檢測信號ZP OR的激活而被激活(進行初始化)，并根據(jù)行地址選通信號/RAS的激活檢測空操作周期被指定的情況，當(dāng)檢測出指定了該空操作周期時，將空操作周期檢測信號ZPOR8驅(qū)動到H電平的激活狀態(tài)。
激活控制信號發(fā)生電路24，與行地址選通信號/RAS同步地將激活控制信號VDACT驅(qū)動到激活狀態(tài)?？刂齐娐?6包含接受該空操作周期檢測信號ZPOR8和激活控制信號VDACT的AND電路26a。因此，在接通電源后，在空操作周期檢測信號ZPOR8變?yōu)榧せ顮顟B(tài)之前，不管該激活控制信號VDACT為何種狀態(tài)，加給工作降壓電路1ba的降壓激活信號ACT都保持非激活狀態(tài)。下面，參照圖2和圖3所示的波形圖說明在該圖1中示出的電路的動作。
首先，參照圖2，說明當(dāng)在將行地址選通信號/RAS設(shè)定在H電平的狀態(tài)下進行電源接通時的動作。
在時刻t1，接通電源，外部電源電壓EXTVcc的電壓電平上升。當(dāng)該外部電源電壓EXTVcc的電壓電平達到規(guī)定電壓電平或到達穩(wěn)定狀態(tài)時，在時刻t2，來自該電源接通檢測電路20的電源接通檢測信號ZPOR變?yōu)镠電平的激活狀態(tài)。因行地址選通信號/RA S保持在H電平，所以來自空操作周期檢測電路22的空操作周期檢測信號ZPOR8和來自激活控制信號發(fā)生電路24的激活控制信號VDACT都處在L電平。因此，從控制電路26輸出的降壓激活信號ACT處在L電平，工作降壓電路1ba保持非激活狀態(tài)。等待降壓電路1bb響應(yīng)該電源的接通而動作，向內(nèi)部電源線2供給電流，直到使內(nèi)部電源電壓INTVcc上升到規(guī)定的電壓電平。因行地址選通信號/RAS處在H電平，所以內(nèi)部電路(內(nèi)部電源使用電路及外部電源使用電路)隨著該內(nèi)部電源電壓和外部電源電壓的上升而將內(nèi)部節(jié)點從等待狀態(tài)驅(qū)動到初始狀態(tài)。這時的消耗電流全部由等待降壓電路1bb供給。
為了將內(nèi)部電路可靠地設(shè)定在初始狀態(tài)的等待狀態(tài)，執(zhí)行空操作周期。在該空操作周期中，將行地址選通信號/RAS反復(fù)觸發(fā)8次，使內(nèi)部的與該行地址選通信號/RAS相關(guān)的電路進行動作。在DRAM中，根據(jù)該行地址選通信號/RAS的激活/非激活，進行行選擇及內(nèi)部信號線的預(yù)充電。因此，通過進行該空操作周期，能可靠地將內(nèi)部電路的各信號線及內(nèi)部節(jié)點預(yù)充電到等待狀態(tài)時的電壓電平。
在該圖2中，在時刻t3，行地址選通信號/RAS從H電平下降到L電平，開始空操作周期。隨著該空操作周期的開始，從空操作周期檢測電路22輸出的空操作周期檢測信號ZPOR8變?yōu)镠電平的激活狀態(tài)，控制電路26使降壓激活信號ACT隨著來自激活控制信號發(fā)生電路24的激活控制信號VDACT而變化。該激活控制信號VDACT是與行地址選通信號/RAS同步的信號。因此，在該空操作周期中，激活控制信號VDACT隨著行地址選通信號/RAS的激活/非激活而變?yōu)榧せ?非激活狀態(tài)，相應(yīng)地使降壓激活信號ACT也隨之變?yōu)榧せ?非激活狀態(tài)。因此，工作降壓電路1ba隨著該降壓激活信號而激活/非激活，從而使在空操作周期中因內(nèi)部電路動作時的大工作電流引起的內(nèi)部電源電壓INTVcc的降低得到補償。因此，防止了進行空操作周期時因內(nèi)部電源電壓INTVcc的電壓電平降低引起的內(nèi)部電路誤動作造成的將內(nèi)部信號線和內(nèi)部節(jié)點預(yù)充電為錯誤的電位電平。
在空操作周期被指定的時刻t3之前，將降壓激活信號ACT可靠地保持在非激活狀態(tài)。因此，在這段時間里可以使工作降壓電路1ba為非激活狀態(tài)，因而能夠減小接通電源時工作降壓電路1ba的消耗電流。
其次，參照圖3，說明當(dāng)在將行地址選通信號/RAS設(shè)定在L電平的狀態(tài)下進行電源接通時的動作。
在將行地址選通信號/RAS設(shè)定在L電平的狀態(tài)下，在時刻t1將電源接通。當(dāng)隨著該電源的接通外部電源電壓EXTVcc的電壓電平上升時，來自激活控制信號發(fā)生電路24的激活控制信號VDACT的電壓電平也上升。在時刻t2，當(dāng)外部電源電壓EXTVcc達到規(guī)定電壓電平或到達穩(wěn)定狀態(tài)時，電源接通檢測信號ZPOR變?yōu)镠電平。激活控制信號VDACT也保持在H電平。因空操作周期檢測信號ZPOR8處在L電平的非激活狀態(tài)，所以從控制電路26輸出的降壓激活信號ACT保持L電平的非激活狀態(tài)，相應(yīng)地工作降壓電路1ba也保持在非激活狀態(tài)。等待降壓電路1bb從外部電源節(jié)點1aa向內(nèi)部電源線2供給電流，直到使內(nèi)部電源電壓INTVcc上升到規(guī)定的電壓電平。
為進行空操作周期而將暫時將行地址選通信號/RAS設(shè)定為H電平時，使激活控制信號VDACT相應(yīng)地降低到L電平。在時刻t3，開始空操作周期，并將行地址選通信號/RAS在H電平和L電平之間反復(fù)觸發(fā)多次(8次)。響應(yīng)在時刻t3的行地址選通信號/RAS的下降，空操作周期檢測信號ZPOR8變?yōu)镠電平的激活狀態(tài)，控制電路26使降壓激活信號ACT隨著激活控制信號VDACT而變化。這樣，在空操作周期中當(dāng)內(nèi)部電路動作時(行地址選通信號/RAS的激活狀態(tài))，工作降壓電路1ba被激活，對因該內(nèi)部電路動作時的工作電流引起的內(nèi)部電源電壓INTVcc的降低進行抑制。
如該圖3所示，即使在例如系統(tǒng)電源上升等情況時對存儲器控制器進行了錯誤的初始設(shè)定，并在將行地址選通信號/RAS設(shè)定在L電平的狀態(tài)下對半導(dǎo)體存儲裝置進行了電源接通，在電源接通后，仍能將降壓激活信號ACT可靠地保持在非激活狀態(tài)，因而能減小接通電源后工作降壓電路1ba的消耗電流。
就是說，如按照本發(fā)明的實施形態(tài)1，則在從電源接通到進行空操作周期前的期間里，無論行地址選通信號/RAS為何種邏輯電平，都能可靠地使工作降壓電路1ba停止動作，因而能減小其消耗電流。
圖4(A)是表示圖1所示的電源接通檢測電路20結(jié)構(gòu)的一例的圖。在圖4(A)中，電源接通電路20包含連接在電源節(jié)點1a與節(jié)點20b之間的電阻元件20a；連接在節(jié)點20b與接地節(jié)點之間的電容器20c；接受節(jié)點20b上的電位的反相器20d；及接受反相器20d的輸出信號并輸出電源接通檢測信號ZPOR的反相器20e。該反相器20d和20e以外部電源電壓EXTVcc作為一個工作電源電壓而動作。下面，參照其動作波形圖即圖4(B)說明在該圖4(A)中示出的電源接通電路20的動作。
在時刻t0接通電源，電源節(jié)點1a的外部電源電壓EXTVcc的電壓電平上升。隨著該外部電源電壓EXTVcc的電壓上升，電容器20c通過電阻元件20a充電，節(jié)點20b的電位電平慢慢上升。該節(jié)點20b的電位上升速度由電阻元件20的電阻值和電容器20c的電容值決定。當(dāng)該節(jié)點20b的電位電平為L電平時，反相器20d的輸出信號隨著外部電源電壓的上升而變?yōu)镠電平，相應(yīng)地使電源接通檢測信號ZPOR保持L電平。
在時刻t1，當(dāng)節(jié)點20b的電位電平超過反相器20d的輸入邏輯閾值時，反相器20d的輸出信號變?yōu)長電平，相應(yīng)地使從反相器20e輸出的電源接通檢測信號ZPOR上升到H電平。因此，當(dāng)外部電源電壓EXTVcc達到規(guī)定的電壓電平時，電源接通檢測信號ZPOR變?yōu)镠電平的激活狀態(tài)。
另外，如圖4(B)中的單點鎖線所示，當(dāng)增大電阻元件20的電阻值和電容器20c的電容值使節(jié)點20b的電位上升速度減緩時，在外部電源電壓EXTVcc達到規(guī)定電壓電平以上、且在其電壓電平到達穩(wěn)定狀態(tài)的時刻t2，電源接通檢測信號ZPOR變?yōu)镠電平的激活狀態(tài)。該電源接通檢測信號ZPOR變?yōu)榧せ顮顟B(tài)的定時可以是時刻t1和時刻t2中的任何一個。
圖5是表示圖1所示空操作周期檢測電路22結(jié)構(gòu)的一例的圖。在圖5中，空操作周期檢測電路22包含單觸發(fā)脈沖發(fā)生電路22a，響應(yīng)電源接通檢測信號ZPOR的上升，用于輸出具有規(guī)定時間寬度的單觸發(fā)脈沖信號；單觸發(fā)脈沖發(fā)生電路22b，在空操作周期檢測信號ZPOR8為非激活狀態(tài)時激活，并響應(yīng)行地址選通信號/RAS的下降而產(chǎn)生單觸發(fā)脈沖信號；AND電路22c，用于接受電源接通檢測信號ZPOR和單觸發(fā)脈沖發(fā)生電路22b的輸出信號；置位/復(fù)位觸發(fā)器22d，響應(yīng)AND電路22c的輸出信號的上升而置位，且響應(yīng)單觸發(fā)脈沖發(fā)生電路22a的輸出信號的上升后復(fù)位；及反相器22e，用于將從置位/復(fù)位觸發(fā)器22d輸出的空操作周期檢測信號ZPOR8反相后供給單觸發(fā)脈沖發(fā)生電路22b。
單觸發(fā)脈沖發(fā)生電路22a包含反相器22aa、22ab和22ac，用于接受電源接通檢測信號ZPOR并按3級串聯(lián)連接；及AND電路22ad，用于接受電源接通檢測信號ZPOR和反相器22ac的輸出信號。該AND電路22ad的輸出信號加到置位/復(fù)位觸發(fā)器22d的復(fù)位輸入端R。
單觸發(fā)脈沖發(fā)生電路22b包含NAND電路22ba，用于接受行地址選通信號/RAS和反相器22e的輸出信號；反相器22bb，用于接受NAND電路22ba的輸出信號；反相器22bc，用于接受反相器22bb的輸出信號；及NOR電路22bd，用于接受行地址選通信號/RAS和反相器22bc的輸出信號。該NOR電路22bd的輸出信號加到AND電路22c的一個輸入端。以下，簡單說明其動作。
在單觸發(fā)脈沖發(fā)生電路22a中，當(dāng)電源接通檢測信號ZPOR上升到H電平時，反相器22ac的輸出信號仍處在H電平，因此，AND電路22ad的輸出信號變?yōu)镠電平。在經(jīng)過反相器22aa～22ac具有的延遲時間后，反相器22ac的輸出信號變?yōu)長電平，使AND電路22 ad的輸出信號變?yōu)長電平。置位/復(fù)位觸發(fā)器22d被復(fù)位，將空操作周期檢測信號ZPOR8可靠地初始設(shè)定在L電平的非激活狀態(tài)。在該電源接通檢測信號ZPOR上升到H電平后，AND電路22c被啟動，使單觸發(fā)脈沖發(fā)生電路22b的輸出信號通過。當(dāng)行地址選通信號/RAS為H電平時，NOR電路22bd的輸出信號為L電平。而當(dāng)行地址選通信號/RAS為L電平時，NAND電路22ba的輸出信號為H電平，相應(yīng)地使NOR電路22bd的輸出信號變?yōu)長電平。因此，接通電源時，無論行地址選通信號/RAS被設(shè)定為H電平和L電平中的哪一個，AND電路22c的輸出信號都是L電平，因而置位/復(fù)位觸發(fā)器22d保持復(fù)位狀態(tài)。
當(dāng)行地址選通信號/RAS從H電平下降到L電平時，因反相器22bc的輸出信號在該時處在L電平，所以NOR電路22bd的輸出信號變?yōu)镠電平，AND電路22c的輸出信號相應(yīng)地變?yōu)镠電平，置位/復(fù)位觸發(fā)器22d被置位，使空操作周期檢測信號ZPOR8變?yōu)镠電平的激活狀態(tài)。在經(jīng)過NAND電路22ba、反相器22bb及反相器22bc具有的延遲時間后，反相器22bc的輸出信號變?yōu)镠電平，使NOR電路22bd的輸出信號變?yōu)長電平。另一方面，當(dāng)該空操作周期檢測信號ZPOR8上升到H電平時，反相器22e的輸出信號變?yōu)長電平，將單觸發(fā)脈沖發(fā)生電路22b的NAND電路22ba的輸出信號固定在H電平。因此，在空操作周期檢測信號ZPOR8變?yōu)榧せ顮顟B(tài)后，該單觸發(fā)脈沖發(fā)生電路22b變?yōu)榉羌せ顮顟B(tài)。在以后的空操作周期及通常動作周期中，即使行地址選通信號/RAS從H電平改變?yōu)長電平，該單觸發(fā)脈沖發(fā)生電路22b的輸出信號仍保持L電平。因此，在進行了空操作周期后，使該該單觸發(fā)脈沖發(fā)生電路22b的脈沖產(chǎn)生動作停止，因而能減小消耗電流。
圖6是表示圖1所示激活控制信號發(fā)生電路24結(jié)構(gòu)的一例的圖。在圖6中，激活控制信號發(fā)生電路24包含接受來自外部的行地址選通信號/RAS的反相器24a及接受該反相器24a的輸出信號并輸出激活控制信號VDACT的反相器24b。在該圖6中示出的激活控制信號發(fā)生電路24，實際上是一個對來自外部的行地址選通信號/RAS進行緩沖處理并生成內(nèi)部行地址選通信號的RAS緩沖器。因此，如果將該激活控制信號VDACT用作內(nèi)部行地址選通信號并供給其他RAS相關(guān)電路、即按照行地址選通信號/RAS動作的電路，則在接通電源時能可靠地將這些RAS相關(guān)電路設(shè)定為等待狀態(tài)，因而能防止在接通電源后這些RAS相關(guān)電路變?yōu)榧せ顮顟B(tài)而流過大的工作電流。作為這些RAS相關(guān)電路，有取入來自外部的行地址信號并生成內(nèi)部行地址信號的行地址緩沖器、用于將字線驅(qū)動進入選擇狀態(tài)的譯碼器/字線驅(qū)動器、用于對選擇存儲單元的數(shù)據(jù)進行檢測和放大的讀出放大電路、及用于將各位線對預(yù)充電到規(guī)定電位的位線預(yù)充電電路等。
如上所述，如按照本發(fā)明的實施形態(tài)1，則在接通電源后，在進行空操作周期之前，可將降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)，所以能可靠地抑制接通電源后內(nèi)部降壓電路的消耗電流。圖7是簡略地表示本發(fā)明實施形態(tài)2的半導(dǎo)體存儲裝置主要部分的結(jié)構(gòu)的圖。在圖7中，僅示出產(chǎn)生用于使工作降壓電路激活/非激活的降壓激活信號ACT部分的結(jié)構(gòu)。在圖7中，降壓激活信號發(fā)生部包含電源接通檢測電路20，根據(jù)外部電源節(jié)點(端子)1a上的外部電源電壓EXTVcc的接通，輸出電源接通檢測信號ZPOR；空操作周期檢測電路22，響應(yīng)該電源接通檢測信號ZPOR的激活而復(fù)位并激活，且根據(jù)來自外部的行地址選通信號/RAS檢測空操作周期被指定的情況；激活控制信號發(fā)生電路24，根據(jù)來自外部的行地址選通信號/RAS輸出用于將工作降壓電路激活的激活控制信號VDACT。該電源接通檢測電路20、空操作周期檢測電路22、及激活控制信號發(fā)生電路24的結(jié)構(gòu)，與實施形態(tài)1中給出的結(jié)構(gòu)相同。
降壓激活信號發(fā)生部還包含延遲電路30，用于將電源接通檢測信號ZPOR延遲規(guī)定時間；選通電路32，用于接受延遲電路30輸出的延遲電源接通檢測信號ZPORD及來自空操作周期檢測電路22的空操作周期檢測信號ZPOR8；及AND電路34，用于接受選通電路32輸出的降壓動作停止指示信號STVDC及來自激活控制信號發(fā)生電路24的激活控制信號VDACT。從AND電路34輸出用于將工作降壓電路(參照圖1)激活的降壓激活信號ACT。
選通電路32，僅當(dāng)延遲電路30輸出的延遲電源接通檢測信號ZPORD為H電平、且來自空操作周期檢測電路22的空操作周期檢測信號ZPOR8為L電平時，將降壓動作停止指示信號STVDC設(shè)定在L電平。下面，參照圖8和圖9所示的波形圖說明在該圖7中示出的降壓激活信號發(fā)生部的動作。
首先，參照圖8，說明當(dāng)在將行地址選通信號/RAS設(shè)定在H電平的狀態(tài)下進行電源接通時的動作。
在時刻t0，在將行地址選通信號/RAS設(shè)定在H電平的狀態(tài)下進行電源的接通，外部電源電壓EXTVcc的電壓電平上升。隨著該外部電源電壓EXTVcc的電源接通，內(nèi)部節(jié)點的電位上升，但電源接通檢測電路20的輸出信號ZPOR及空操作周期檢測電路22輸出的空操作周期檢測信號ZPOR8為L電平，選通電路32輸出的信號STVDC，隨著內(nèi)部電源電壓或外部電源電壓的電壓上升，其電壓電平上升。
在時刻t1，當(dāng)外部電源電壓EXTVcc達到規(guī)定的電壓電平或到達穩(wěn)定狀態(tài)時，來自電源接通檢測電路20的電源接通檢測信號ZPOR上升到H電平。這時，延遲電路30輸出的延遲電源接通檢測信號ZPORD仍為L電平，因而信號STVDC為H電平。由于行地址選通信號/RAS為H電平，所以激活控制信號發(fā)生電路24輸出L電平的的激活控制信號VDACT。因此，降壓激活信號ACT仍處在L電平。
在經(jīng)過延遲電路30具有的延遲時間后，該延遲電源接通檢測信號ZPORD上升到H電平。這時，如尚未進行空操作周期，則來自空操作周期檢測電路22的空操作周期檢測信號ZPOR8處在L電平。因此，在時刻t2，當(dāng)延遲電源接通檢測信號ZPORD上升到H電平時，從選通電路32輸出的降壓動作停止指示信號STVDC下降到L電平，AND電路34被禁止，并將降壓激活信號ACT保持在非激活狀態(tài)。
當(dāng)行地址選通信號/RAS下降到L電平并進行空操作周期時，空操作周期檢測信號ZPOR8上升到H電平，相應(yīng)地使降壓動作停止指示信號STVDC上升到H電平，并使降壓激活信號ACT隨著來自該激活控制信號發(fā)生電路24的激活控制信號VDACT而變化。在執(zhí)行空操作周期過程中，當(dāng)內(nèi)部電路動作時，工作降壓電路被激活，對因大的工作電流引起的內(nèi)部電源電壓的降低進行補償，因而能可靠地將內(nèi)部信號線及內(nèi)部節(jié)點設(shè)定在規(guī)定的電位電平。
其次，參照圖9，說明當(dāng)在將行地址選通信號/RAS設(shè)定在L電平的狀態(tài)下進行電源接通時的動作。
在時刻t0，在將行地址選通信號/RAS設(shè)定在L電平的狀態(tài)下進行電源的接通，外部電源電壓EXTVcc的電壓電平上升。在該狀態(tài)下，因延遲電路30輸出的信號ZPORD為L電平，所以從選通電路32輸出的信號STVDC的電壓電平隨著該外部電源電壓EXTVcc的電壓電平的上升而上升。另外，由于行地址選通信號/RAS也被設(shè)定在L電平，所以來自該活控制信號發(fā)生電路24的激活控制信號VDACT，其電壓電平也隨著外部電源電壓而上升。
在時刻t1，當(dāng)外部電源電壓EXTVcc達到規(guī)定的電壓電平或到達穩(wěn)定狀態(tài)時，來自電源接通檢測電路20的電源接通檢測信號ZPOR上升到H電平，空操作周期檢測電路22復(fù)位且被激活。當(dāng)信號STVDC和信號VDACT同時達到規(guī)定電位以上的H電平時，從AND電路34輸出的降壓激活信號ACT變?yōu)镠電平。在圖9中，示出降壓激活信號ACT隨著該電源接通檢測信號ZPOR激活而上升到H電平的方式。為了響應(yīng)該電源接通檢測信號ZPOR的上升而使降壓激活信號ACT變?yōu)榧せ顮顟B(tài)，只需簡單地對AND電路34附加供給電源接通檢測信號ZPOR即可。因此，當(dāng)外部電源電壓EXTVcc穩(wěn)定時，能可靠地使工作降壓電路進入激活狀態(tài)。如單點鎖線所示，也可以使降壓激活信號ACT的電壓電平從時刻t0電源接通后立即上升。
隨著在時刻t1的降壓激活信號ACT的激活，工作降壓電路(參照圖1)被激活，并向內(nèi)部電源線供給電流，因而能可靠地將內(nèi)部電源電壓驅(qū)動到穩(wěn)定狀態(tài)或以高速將內(nèi)部電源電壓設(shè)定在規(guī)定電壓電平。
在經(jīng)過延遲電路30具有的延遲時間后，延遲電源接通檢測信號ZPORD上升到H電平，從選通電路32輸出的降壓動作停止指示信號STVDC變?yōu)長電平，相應(yīng)地將降壓激活信號ACT也驅(qū)動到L電平。因此，工作降壓電路變?yōu)榉羌せ顮顟B(tài)，并使電流消耗停止。
在進行空操作周期之前，將行地址選通信號/RAS驅(qū)動到H電平，相應(yīng)地使激活控制信號VDACT變?yōu)長電平。
在時刻t3，當(dāng)使行地址選通信號/RAS從H電平下降到L電平并開始空操作周期時，來自空操作周期檢測電路22的空操作周期檢測信號ZPOR8上升到H電平，相應(yīng)地使降壓動作停止指示信號STVDC變?yōu)镠電平，并將AND電路34啟動。因此，在空操作周期期間，根據(jù)行地址選通信號/RAS產(chǎn)生激活控制信號VDACT，并與該激活控制信號VDACT同步地使降壓激活信號ACT激活/非激活。
從圖9可以看出，在將行地址選通信號/RAS設(shè)定在L電平的狀態(tài)下進行電源的接通時，從時刻t1到時刻t2之間，降壓激活信號ACT被激活，使工作降壓電路開始工作并消耗電流。但是，當(dāng)來自延遲電路的延遲電源接通檢測信號ZPORD變?yōu)镠電平時，在進行空操作周期前，降壓激活信號ACT處在非激活狀態(tài)，使工作降壓電路處在非激活狀態(tài)。因此，從時刻t2到時刻t3之間，在工作降壓電路中不產(chǎn)生消耗電流，與現(xiàn)有技術(shù)相比，能使消耗電流減小。此外，借助于延遲電路的延遲電源接通檢測信號，使工作降壓電路在電源接通后立即被激活，從而能可靠地將內(nèi)部電源電壓驅(qū)動進入穩(wěn)定狀態(tài)。
另外，用于控制工作降壓電路的降壓激活信號ACT的H電平是外部電源電壓EXTVcc電平。為實現(xiàn)這一點，在前面的實施形態(tài)1和2中，電源接通檢測電路20、空操作周期檢測電路22、及激活控制信號發(fā)生電路24等各部分，在結(jié)構(gòu)上也可以都將外部電源電壓EXTVcc作為一個工作電源電壓而動作。另外，作為代替結(jié)構(gòu)，也可以在輸出降壓激活信號ACT的AND電路26a和34中設(shè)置電平變換功能，用來將內(nèi)部電源電壓電平的信號變換為外部電源電壓電平的信號。
再有，在圖7所示的結(jié)構(gòu)中，當(dāng)在經(jīng)過延遲電路30具有的延遲時間之前進行空操作周期時，選通電路32的降壓動作停止指示信號STVDC隨著空操作周期檢測信號ZPOR8的激活而變?yōu)長電平。因此，在這種情況下，可在進行空操作周期時使工作降壓電路動作。
如上所述，按照本發(fā)明的實施形態(tài)2，如果在接通電源后采用延遲電路而不進行空操作周期，可使降壓電路在該延遲時間內(nèi)動作。因此，當(dāng)行地址選通信號在L電平的狀態(tài)下進行電源接通時，工作降壓電路可在該延遲時間里進行操作，使內(nèi)部電源電壓穩(wěn)定下來。此外，在接通電源時，無論行地址選通信號/RAS被設(shè)定在H電平和L電平的哪一種狀態(tài)，在進行空操作周期前的期間里，因降壓激活信號變?yōu)榉羌せ顮顟B(tài)，所以，能減小工作降壓電路的消耗電流。
另外，在以上的說明中，根據(jù)行地址選通信號/RAS輸出用于驅(qū)動工作降壓電路的激活控制信號VDACT。但是，只要是規(guī)定存儲周期的信號(規(guī)定等待周期和激活周期的信號)，都可以用來代替行地址選通信號/RAS。
如上所述，如按照本發(fā)明，則在接通電源后，在進行空操作周期之前，能將控制內(nèi)部降壓電路的激活/非激活的降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)，所以能夠減小內(nèi)部降壓電路的消耗電流。
就是說，如按照本發(fā)明的第一種半導(dǎo)體存儲裝置，則由于將隨著響應(yīng)外部電源電壓的接通而被激活的電源接通檢測信號的激活使內(nèi)部降壓電路激活用的降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)，所以能使電源接通后的內(nèi)部降壓電路的動作停止，因而能減小消耗電流。
如按照本發(fā)明的第二種半導(dǎo)體存儲裝置，則由于將電源接通檢測信號延遲規(guī)定時間并在該延遲信號為非激活狀態(tài)時，使對降壓激活信號的非激活狀態(tài)的保持動作停止，所以，可在該延遲時間里將降壓激活信號激活，因而可以達到使內(nèi)部電源電壓穩(wěn)定的目的。而在經(jīng)過該延遲時間后，將降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)，抑制消耗電流的產(chǎn)生。
如按照本發(fā)明的第三種半導(dǎo)體存儲裝置，則由于在檢測空操作周期時使將降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)的動作停止，所以在執(zhí)行該空操作周期前的時間里能可靠地將降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)，使內(nèi)部降壓電路的動作停止，因而能減小消耗電流。此外，在執(zhí)行空操作周期時，可以通過將內(nèi)部降壓電路激活而安全地供給大的工作電流，因而能穩(wěn)定地進行空操作周期。
如按照本發(fā)明的第四種半導(dǎo)體存儲裝置，則可根據(jù)在檢測空操作周期時隨著來自外部的動作周期指示信號激活/非激活的激活控制信號，產(chǎn)生降壓激活信號，并可在執(zhí)行空操作周期后，按照來自外部的信號并根據(jù)內(nèi)部動作情況可靠地進行內(nèi)部降壓電路的激活/非激活。
如按照本發(fā)明的第五種半導(dǎo)體存儲裝置，則在接通電源后進行空操作周期前的時間里，能將降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)，因而能減小內(nèi)部降壓電路的消耗電流。
如按照本發(fā)明第六種半導(dǎo)體存儲裝置，則能根據(jù)電源接通檢測信號的延遲信號將該降壓激活信號的非激活狀態(tài)保持動作延遲，并在該延遲時間里將內(nèi)部降壓電路激活，在內(nèi)部降壓電路動作時，可以達到使內(nèi)部電源電壓穩(wěn)定的目的。在執(zhí)行空操作周期之前，能可靠地減小消耗電流，此外，在接通內(nèi)部電源后，能有選擇地使內(nèi)部降壓電路在空操作周期執(zhí)行前激活，因而能使內(nèi)部電源電壓得到穩(wěn)定。
如按照本發(fā)明的第七種半導(dǎo)體存儲裝置，則在電源接通檢測信號為激活狀態(tài)而空操作周期檢測信號為非激活狀態(tài)時，能將降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)，因而在接通電源后可靠地進行空操作周期前能使內(nèi)部降壓電路的動作停止，因而能減小消耗電流。
權(quán)利要求
1.一種半導(dǎo)體存儲裝置，它備有內(nèi)部降壓電路，響應(yīng)降壓激活信號的激活而被激活，用于將來自外部的電源電壓降壓并生成內(nèi)部電源電壓；電源接通檢測電路，用于產(chǎn)生響應(yīng)上述外部電源電壓的接通而變?yōu)榧せ顮顟B(tài)的電源接通檢測信號；及控制裝置，響應(yīng)上述電源接通檢測信號的激活而將上述降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體存儲裝置，其特征在于備有將上述電源接通檢測信號延遲規(guī)定時間并供給上述控制裝置的延遲裝置，上述控制裝置包含響應(yīng)上述延遲裝置輸出信號的非激活狀態(tài)而將對上述降壓激活信號的非激活狀態(tài)的保持停止的裝置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的半導(dǎo)體存儲裝置，其特征在于上述控制裝置備有空操作周期檢測裝置，響應(yīng)動作周期指示信號，檢測使內(nèi)部電路復(fù)位到初始狀態(tài)的空操作周期被指示的情況；及響應(yīng)來自上述空操作周期檢測裝置的空操作周期檢測指示信號的激活，使將上述降壓激活信號保持在非激活周期的動作停止的裝置。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體存儲裝置，其特征在于備有激活控制信號發(fā)生裝置，用于根據(jù)上述動作周期指示信號產(chǎn)生將上述內(nèi)部降壓電路激活用的激活控制信號，上述控制裝置中所備有的停止裝置包含選通電路，用以響應(yīng)上述空操作周期檢測指示信號的激活并根據(jù)上述激活控制信號產(chǎn)生上述降壓激活信號。
5.一種半導(dǎo)體存儲裝置，它備有；內(nèi)部降壓電路，響應(yīng)降壓激活信號的激活而被激活，用于將來自外部的電源電壓降壓并生成內(nèi)部電源電壓；內(nèi)部動作激活信號發(fā)生裝置，響應(yīng)來自外部的動作周期規(guī)定信號，用于產(chǎn)生將上述降壓激活信號激活用的內(nèi)部動作激活信號；電源接通檢測電路，用于產(chǎn)生響應(yīng)上述外部電源電壓的接通而變?yōu)榧せ顮顟B(tài)的電源接通檢測信號；空操作周期檢測裝置，響應(yīng)上述電源接通檢測信號及上述動作周期規(guī)定信號，檢測使內(nèi)部電路復(fù)位到初始狀態(tài)用的空操作周期被指示的情況，并產(chǎn)生在該檢出時激活的空操作周期檢測信號；及控制裝置，用于接受上述空操作周期檢測信號，在上述空操作周期檢測信號被激活前根據(jù)上述內(nèi)部動作激活信號停止上述降壓激活信號的產(chǎn)生，并將上述降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體存儲裝置，其特征在于還備有用于將上述電源接通檢測信號延遲規(guī)定時間的延遲電路，上述控制裝置包含響應(yīng)上述延遲電路的輸出信號的激活狀態(tài)和上述空操作周期檢測信號的非激活狀態(tài)并根據(jù)上述內(nèi)部動作激活信號進行使降壓激活信號的產(chǎn)生停止及將上述降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)的動作的裝置。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體存儲裝置，其特征在于上述控制裝置包含響應(yīng)上述電源接通檢測信號的激活狀態(tài)及空操作周期檢測信號的非激活狀態(tài)并根據(jù)上述內(nèi)部動作激活信號進行使降壓激活信號的產(chǎn)生停止及將上述降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)的動作的裝置。
全文摘要
本發(fā)明的課題是減小電源接通后的消耗電流。接通電源后在進行空操作周期之前,根據(jù)外部控制信號(/RAS)使激活降壓電路用的降壓激活信號(ACT)的產(chǎn)生停止,并將供給該降壓電路(1b)的降壓激活信號保持在非激活狀態(tài)。在從接通電源后到進行空操作周期前的期間里,可將降壓電路保持在非激活狀態(tài),因而能減小消耗電流。
文檔編號G11C11/407GK1190783SQ97121538
公開日1998年8月19日 申請日期1997年10月29日 優(yōu)先權(quán)日1997年2月14日
發(fā)明者伊藤孝 申請人:三菱電機株式會社