光盤設備、其控制方法、程序和信息存儲介質的制作方法
【技術領域】
[0001]本公開涉及讀取記錄在諸如⑶、DVD和藍光盤(注冊商標)之類的光盤介質中的信息的光盤設備、其控制方法、程序和信息存儲介質。
【背景技術】
[0002]近年來，各種類型光盤介質用作信息記錄介質。為了讀取記錄在這種光盤介質中的信息，使用光盤設備。光盤設備包括將光聚焦在光盤介質上的物鏡(objective lens)。光盤設備接收通過光盤介質由物鏡聚焦的光的反射獲得的反射光，以由此讀取記錄在光盤介質中的信息。
[0003]當光盤設備讀取來自光盤介質的信息時，需要實施物鏡的球面像差校正。例如，在光拾取器中，提供準直器透鏡以校正將光聚焦在光盤介質上的物鏡的球面像差。通過適當調(diào)整該準直器透鏡的位置，可以校正物鏡的球面像差，并且可以以高精確度將來自物鏡的光聚焦在光盤介質上。
[0004]光盤設備內(nèi)部地將準直器透鏡的位置管理為稱為SA參數(shù)的參數(shù)值。該SA參數(shù)的最優(yōu)值依賴于作為讀取目標的光盤介質的類型、個體差異等改變。因此，當在光盤設備中重新設置光盤介質時，該設備在開始信息的讀取之前執(zhí)行SA參數(shù)的調(diào)整處理(例如參考日本專利特開第2003-16660號)。該調(diào)整處理是以下控制。具體地，首先，光盤設備在可設置范圍中改變SA參數(shù)的設置值。另外，光盤設備試圖在其中設置不同設置值的三種或者更多種狀態(tài)中的每個狀態(tài)下從介質讀取信息，并且在那時評估信息讀取的精確度。然后，光盤設備計算這種SA參數(shù)的設置值，以通過使用與多個設置值的每個對應獲得的讀取精確度的評估值，允許增強信息讀取的精確度，并且將該計算出的值設置為SA參數(shù)的值。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]SA參數(shù)的最優(yōu)值不僅僅由光盤介質的個體差異確定。例如，即使利用相同的光盤介質，SA參數(shù)的最優(yōu)值在光盤介質具有多個數(shù)據(jù)記錄層的情況下，對于每個數(shù)據(jù)記錄層不同。另外，由于物鏡的溫度依賴特性，SA參數(shù)的最優(yōu)值在使用期間也依賴于光盤設備的溫度改變而改變。因此，光盤設備應當在不同類型的定時(諸如當改變作為讀取目標的數(shù)據(jù)記錄層時)重新計算SA參數(shù)的最優(yōu)值。然而，采用一定量的時間來執(zhí)行類似上面描述那樣的SA參數(shù)的調(diào)整處理。因此，迫使用戶在每次改變作為讀取目標的數(shù)據(jù)記錄層時和在其它場合下等待是否執(zhí)行調(diào)整處理。
[0006]已經(jīng)鑒于以上問題作出本公開。需要本公開提供可以以比較短的時間執(zhí)行物鏡的球面像差校正的光盤設備、其控制方法、程序和信息存儲介質。
[0007]根據(jù)本公開的實施例，提供一種讀取光盤介質中記錄的信息的光盤設備。該光盤設備包括:物鏡，配置為將光聚焦在光盤介質上；球面像差校正機構，配置為根據(jù)預定參數(shù)的設置值改變物鏡的球面像差量；以及評估值測量部分，配置為測量指示從光盤介質讀取信息的精確度的評估值。該光盤設備還包括控制部分，配置為執(zhí)行這樣的調(diào)整處理，在該調(diào)整處理中，控制部分與通過球面像差校正機構改變物鏡的球面像差量同時地，通過評估值測量部分實施評估值的多次測量，并且基于通過多次測量獲得的多個評估值，計算參數(shù)的最優(yōu)設置值。
[0008]根據(jù)本公開的另一實施例，提供光盤設備的控制方法，該光盤設備包括:物鏡，將光聚焦在光盤介質上；球面像差校正機構，根據(jù)預定參數(shù)的設置值改變物鏡的球面像差量；評估值測量部分，測量指示從光盤介質讀取信息的精確度的評估值。該控制方法包括:與通過球面像差校正機構改變物鏡的球面像差量同時地，通過評估值測量部分實施評估值的多次測量；以及執(zhí)行這樣的調(diào)整處理，在該調(diào)整處理中，基于通過多次測量獲得的多個評估值，計算參數(shù)的最優(yōu)設置值。
[0009]根據(jù)本公開的另一實施例，提供控制光盤設備的程序，該光盤設備包括:物鏡，將光聚焦在光盤介質上；球面像差校正機構，根據(jù)預定參數(shù)的設置值改變物鏡的球面像差量；評估值測量部分，測量指示從光盤介質讀取信息的精確度的評估值。用于計算機的該程序包括:與通過球面像差校正機構改變物鏡的球面像差量同時地，通過評估值測量部分實施評估值的多次測量；以及執(zhí)行這樣的調(diào)整處理，在該調(diào)整處理中，基于通過多次測量獲得的多個評估值，計算參數(shù)的最優(yōu)設置值。
[0010]根據(jù)本公開的另一實施例，提供用于程序的計算機可讀信息存儲介質，包括控制光盤設備的程序，該光盤設備包括物鏡，將光聚焦在光盤介質上；球面像差校正機構，根據(jù)預定參數(shù)的設置值改變物鏡的球面像差量；評估值測量部分，測量指示從光盤介質讀取信息的精確度的評估值。用于計算機的該程序包括:與通過球面像差校正機構改變物鏡的球面像差量同時地，通過評估值測量部分實施評估值的多次測量；以及執(zhí)行這樣的調(diào)整處理，在該調(diào)整處理中，基于通過多次測量獲得的多個評估值，計算參數(shù)的最優(yōu)設置值。
【附圖說明】
[0011]圖1是示出根據(jù)本公開實施例的光盤設備的配置示例的框圖；
[0012]圖2是示出根據(jù)本公開實施例的光盤設備的光拾取器的內(nèi)部配置示例的概述圖；
[0013]圖3是示出SA參數(shù)的設置值和評估值之間的關系的一個示例的圖；
[0014]圖4示出現(xiàn)有技術的數(shù)據(jù)記錄層改變控制的一個示例的圖；
[0015]圖5是示出根據(jù)本實施例的由光盤設備實施的數(shù)據(jù)記錄層改變控制的一個示例的圖；
[0016]圖6是示出準直器透鏡位置的時間改變的圖；
[0017]圖7是示出評估值的測量結果的一個示例的圖；
[0018]圖8是示出準直器透鏡位置和評估值之間的關系的一個示例的圖；以及
[0019]圖9是示出根據(jù)實施例的由光盤設備執(zhí)行的SA參數(shù)調(diào)整處理的流程的一個示例的流程圖。
【具體實施方式】
[0020]下面將基于附圖詳細描述本公開的實施例。
[0021]根據(jù)本公開的一個實施例的光盤設備I是讀取光盤介質中記錄的信息的設備。如圖1所示，其包括介質支撐器11、主軸馬達12、光拾取器13、饋送馬達15、驅動電路16、信號輸出電路17、伺服信號處理器18、記錄信號處理器19和控制部分20。
[0022]作為由光盤設備I信息讀取的目標的光盤介質M通過堆疊其中記錄信息的數(shù)據(jù)記錄層和從其兩側保護數(shù)據(jù)記錄層的保護層形成。在下文中，在其上記錄數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)記錄層的表面將被稱為單表面。光盤設備I可以這樣被配置，以能夠不僅讀取光盤介質M中記錄的信息，而且能夠向光盤介質M寫入信息。另外，光盤設備I可以這樣被配置，以能夠讀取諸如CD、DVD和藍光盤之類的多個類型的光盤介質M中記錄的信息。
[0023]介質支撐器11可旋轉地支撐光盤介質M。該介質支撐器11通過從主軸馬達12傳送的力旋轉光盤介質M。
[0024]光拾取器13向光盤介質M福射激光，并且檢測通過光盤介質M由被福射光的反射而獲得的反射光。另外，光拾取器13根據(jù)檢測到的反射光輸出輸出信號。圖2是示出光拾取器13的內(nèi)部配置的一個示例的圖。在該圖的示例中，光拾取器13包括光發(fā)射元件31、偏振分束器32、球面像差校正機構33、升高鏡(rising mirror) 35、物鏡36、光電檢測器37和物鏡驅動器38。球面像差校正機構33包括準直器透鏡33a和準直器透鏡驅動器33b。
[0025]光發(fā)射元件31是輸出具有預定波長的激光的半導體激光器元件。從光發(fā)射元件31發(fā)射的輸出光經(jīng)過偏振分束器32和準直器透鏡33a，然后由升高鏡35反射。由升高鏡35反射的輸出光聚焦在離開物鏡36物鏡36的焦距F的位置上，并且由光盤介質M反射。
[0026]從由光盤介質M反射產(chǎn)生的反射光通過物鏡36，然后由升高鏡35反射，以通過偏振分束器32朝光電檢測器37引導。光電檢測器37由多個光接收元件形成。當來自光盤介質M的反射光到達這些光接收元件時，光電檢測器37根據(jù)由多個光接收元件中的每個接收到的光的強度輸出信號作為輸出信號。
[0027]球面像差校正機構33是校正物鏡36的球面像差的機構。準直器透鏡驅動器33b由致動器等形成，并且沿著激光的光軸方向前后地驅動準直器透鏡33a。通過準直器透鏡驅動器33b的準直器透鏡33a沿著光軸方向的移動改變物鏡36的球面像差量。通過適當調(diào)整準直器透鏡33a的位置，可以校正物鏡36的球面像差。
[0028]物鏡驅動器38由致動器等形成，并且在兩個方向(光盤介質M的徑向方向(在下文中稱為尋跡方向