范圍的中心位置。圖6的圖形上的點(diǎn)指示各自單位時(shí)段中準(zhǔn)直器透鏡33a的識(shí)別出的中心位置。然后，控制部分20將與識(shí)別出的中心位置對應(yīng)的SA參數(shù)的值與關(guān)于對應(yīng)單位時(shí)段計(jì)算出的評估值的代表值相關(guān)聯(lián)。也就是，控制部分20基于在準(zhǔn)直器透鏡33a位于中心位置的狀態(tài)下通過測量獲得評估值的代表值的假設(shè)，計(jì)算最優(yōu)值So。圖8是示出每個(gè)單位時(shí)段的準(zhǔn)直器透鏡33a的中心位置和評估值的代表值之間的關(guān)系的一個(gè)示例的圖。在該圖中，與九個(gè)單位時(shí)段對應(yīng)地繪制評估值的九個(gè)代表值。通過執(zhí)行與這些九個(gè)測量數(shù)據(jù)的正常調(diào)整處理中的二次曲線近似類似的二次曲線近似，計(jì)算最優(yōu)值So。
[0061]下面將通過使用圖9的流程圖描述上面描述的SA參數(shù)調(diào)整處理的流程。
[0062]首先，控制部分20開始驅(qū)動(dòng)控制，以將準(zhǔn)直器透鏡33a移動(dòng)至與目標(biāo)值St對應(yīng)的位置(目標(biāo)位置)(STP1)。然后，控制部分20確定準(zhǔn)直器透鏡33a是否已經(jīng)到達(dá)目標(biāo)位置(STP2) ο如果沒有到達(dá)目標(biāo)位置，則控制部分20測量RF幅度(STP3)并且將測量結(jié)果臨時(shí)存儲(chǔ)在控制部分20的存儲(chǔ)元件中。此后，控制部分20返回步驟2，以確定準(zhǔn)直器透鏡33a是否已經(jīng)到達(dá)目標(biāo)位置。由于這一點(diǎn)，在該時(shí)段重復(fù)執(zhí)行RF幅度的測量，直至準(zhǔn)直器透鏡33a到達(dá)目標(biāo)位置。
[0063]如果在STP2確定準(zhǔn)直器透鏡33a已經(jīng)到達(dá)目標(biāo)位置，則控制部分20通過使用在STP3獲得的RF幅度的多個(gè)測量結(jié)果由與上面描述的統(tǒng)計(jì)處理類似的統(tǒng)計(jì)處理，計(jì)算最優(yōu)值So (STP4)。完成最優(yōu)值So的計(jì)算之后，控制部分20開始驅(qū)動(dòng)控制，以將準(zhǔn)直器透鏡33a移動(dòng)到與最優(yōu)值So對應(yīng)的位置(最優(yōu)位置)(STP5)。然后，控制部分20確定準(zhǔn)直器透鏡33a是否已經(jīng)到達(dá)最優(yōu)位置(STP6)，并且如果已經(jīng)到達(dá)最優(yōu)位置，則結(jié)束該處理。
[0064]根據(jù)上面描述的依據(jù)本實(shí)施例的光盤設(shè)備1，雖然通過球面像差校正機(jī)構(gòu)33改變物鏡36的球面像差量，但是與該改變同時(shí)地測量評估值。由此，與在固定球面相差量的狀態(tài)下測量評估值的情況相比較，可以快速地執(zhí)行多次測量。這可以縮短當(dāng)改變作為讀取目標(biāo)的數(shù)據(jù)記錄層時(shí)執(zhí)行SA參數(shù)的調(diào)整處理花費(fèi)的時(shí)間。具體地，當(dāng)實(shí)施數(shù)據(jù)記錄層改變控制時(shí)，因?yàn)樵赟A參數(shù)設(shè)置為中間值Sm的狀態(tài)下執(zhí)行聚焦跳躍，所以SA參數(shù)改變?yōu)檫m于在執(zhí)行聚焦跳躍之后從其新讀取信息的信號(hào)表面的值。因此，由于SA參數(shù)的該改變，可以通過與準(zhǔn)直器透鏡33a的移動(dòng)同時(shí)地測量評估值，縮短實(shí)施數(shù)據(jù)記錄層改變控制花費(fèi)的時(shí)間。
[0065]本公開的實(shí)施例不限于上面描述的實(shí)施例。例如，關(guān)于當(dāng)改變作為讀取目標(biāo)的數(shù)據(jù)讀取層時(shí)實(shí)施的SA參數(shù)調(diào)整控制作出以上描述。然而，此外，在其他情況下，可以以類似的過程實(shí)施SA參數(shù)調(diào)整處理。具體地，同樣在當(dāng)在設(shè)備中設(shè)置新光盤介質(zhì)M時(shí)實(shí)施的初始調(diào)整處理中，光盤設(shè)備I可以以與上面描述的過程類似的過程執(zhí)行SA參數(shù)的調(diào)整處理。此夕卜，在該情況下，在設(shè)置中間值Sm的狀態(tài)下實(shí)施聚焦檢測之后，SA參數(shù)的值改變?yōu)檫m于在其上設(shè)置聚焦的信號(hào)表面的值。因此，可以通過與伴隨SA參數(shù)的該改變的準(zhǔn)直器透鏡33a的移動(dòng)同時(shí)地測量評估值，以短時(shí)間執(zhí)行初始調(diào)整處理。
[0066]在上面的描述中，在準(zhǔn)直器透鏡33a移動(dòng)到與預(yù)先設(shè)置的目標(biāo)值St對應(yīng)的位置的同時(shí)執(zhí)行測量。然而，不能預(yù)先判定要移動(dòng)準(zhǔn)直器透鏡33a多遠(yuǎn)。在該情況下，與準(zhǔn)直器透鏡33a的移動(dòng)同時(shí)地測量評估值，并且每次獲得預(yù)定數(shù)目的評估值時(shí)或者每次過去預(yù)定時(shí)段時(shí)，控制部分20對到目前為止獲得的多個(gè)評估值執(zhí)行統(tǒng)計(jì)處理，以計(jì)算其代表值。然后，當(dāng)計(jì)算出的代表值示出諸如從增加到降低的轉(zhuǎn)換之類的改變時(shí)，準(zhǔn)直器透鏡33a被估計(jì)為已經(jīng)通過與最有值So對應(yīng)的位置。由此，控制部分20停止準(zhǔn)直器透鏡33a的移動(dòng)，并且通過使用到目前為止獲得的代表值計(jì)算最優(yōu)值So。
[0067]雖然在上面的描述中，RF幅度被用作讀取精確度的評估值，但是例如，尋跡誤差信號(hào)或者拉入信號(hào)也可以用作評估值。
[0068]本公開包含與2013年11月13日向日本專利局提交的日本優(yōu)先權(quán)專利申請JP2013-235488中公開的主題有關(guān)的主題，其全部內(nèi)容以引用的方式并入本文。
[0069]本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，取決于設(shè)計(jì)要求和其他因素可以出現(xiàn)各種修改、組合、子組合和改變，只要他們在權(quán)利要求和其等效物的范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種讀取光盤介質(zhì)中記錄的信息的光盤設(shè)備，該光盤設(shè)備包括: 物鏡，配置為將光聚焦在光盤介質(zhì)上； 球面像差校正機(jī)構(gòu)，配置為根據(jù)預(yù)定參數(shù)的設(shè)置值改變所述物鏡的球面像差量； 評估值測量部分，配置為測量指示從光盤介質(zhì)讀取信息的精確度的評估值；以及控制部分，配置為執(zhí)行這樣的調(diào)整處理，在該調(diào)整處理中，所述控制部分與通過所述球面像差校正機(jī)構(gòu)改變所述物鏡的球面像差量同時(shí)地，通過所述評估值測量部分實(shí)施評估值的多次測量，并且基于通過多次測量獲得的多個(gè)評估值，計(jì)算參數(shù)的最優(yōu)設(shè)置值。
2.如權(quán)利要求1所述的光盤設(shè)備，其中 所述光盤介質(zhì)包括多個(gè)數(shù)據(jù)記錄層，以及 所述控制部分當(dāng)改變多個(gè)數(shù)據(jù)記錄層中作為讀取目標(biāo)的數(shù)據(jù)記錄層時(shí)，執(zhí)行所述調(diào)整處理。
3.如權(quán)利要求2所述的光盤設(shè)備，其中 所述控制部分在朝依賴于新選擇為讀取目標(biāo)的數(shù)據(jù)記錄層判定的目標(biāo)值改變所述物鏡的球面像差量的同時(shí)，實(shí)施評估值的測量。
4.如權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的光盤設(shè)備，其中 所述控制部分將其中測量評估值的時(shí)段劃分為多個(gè)單位時(shí)段，并且對于多個(gè)單位時(shí)段中的每個(gè)，計(jì)算單位時(shí)段中通過測量獲得的多個(gè)評估值的代表值，以及 所述控制部分基于以每個(gè)單位時(shí)段為基礎(chǔ)獲得的代表值，計(jì)算最優(yōu)設(shè)置值。
5.一種光盤設(shè)備的控制方法，該光盤設(shè)備包括: 物鏡，將光聚焦在光盤介質(zhì)上； 球面像差校正機(jī)構(gòu)，根據(jù)預(yù)定參數(shù)的設(shè)置值改變所述物鏡的球面像差量； 評估值測量部分，測量指示從光盤介質(zhì)讀取信息的精確度的評估值， 該控制方法包括: 與通過所述球面像差校正機(jī)構(gòu)改變物鏡的球面像差量同時(shí)地，通過所述評估值測量部分實(shí)施評估值的多次測量；以及 執(zhí)行這樣的調(diào)整處理，在該調(diào)整處理中，基于通過多次測量獲得的多個(gè)評估值，計(jì)算參數(shù)的最優(yōu)設(shè)置值。
6.一種控制光盤設(shè)備的程序，該光盤設(shè)備包括 物鏡，將光聚焦在光盤介質(zhì)上； 球面像差校正機(jī)構(gòu)，根據(jù)預(yù)定參數(shù)的設(shè)置值改變所述物鏡的球面像差量； 評估值測量部分，測量指示從光盤介質(zhì)讀取信息的精確度的評估值， 用于計(jì)算機(jī)的該程序包括: 與通過所述球面像差校正機(jī)構(gòu)改變物鏡的球面像差量同時(shí)地，通過所述評估值測量部分實(shí)施評估值的多次測量；以及 執(zhí)行這樣的調(diào)整處理，在該調(diào)整處理中，基于由多次測量獲得的多個(gè)評估值，計(jì)算參數(shù)的最優(yōu)設(shè)置值。
7.一種用于存儲(chǔ)程序的計(jì)算機(jī)可讀信息存儲(chǔ)介質(zhì)，包括 控制光盤設(shè)備的程序，該光盤設(shè)備包括 物鏡，將光聚焦在光盤介質(zhì)上； 球面像差校正機(jī)構(gòu)，根據(jù)預(yù)定參數(shù)的設(shè)置值改變所述物鏡的球面像差量；以及 評估值測量部分，測量指示從光盤介質(zhì)讀取信息的精確度的評估值， 用于計(jì)算機(jī)的該程序包括: 與通過所述球面像差校正機(jī)構(gòu)改變物鏡的球面像差量同時(shí)地，通過所述評估值測量部分實(shí)施評估值的多次測量；以及 執(zhí)行這樣的調(diào)整處理，在該調(diào)整處理中，基于由多次測量獲得的多個(gè)評估值，計(jì)算參數(shù)的最優(yōu)設(shè)置值。
【專利摘要】本發(fā)明公開光盤設(shè)備、其控制方法、程序和信息存儲(chǔ)介質(zhì)。讀取光盤介質(zhì)中記錄的信息的該光盤設(shè)備包括：物鏡，將光聚焦在光盤介質(zhì)上；球面像差校正機(jī)構(gòu)，根據(jù)預(yù)定參數(shù)的設(shè)置值改變物鏡的球面像差量；以及評估值測量部分，測量指示從光盤介質(zhì)讀取信息的精確度的評估值。該光盤設(shè)備還包括控制部分，該控制部分執(zhí)行這樣的調(diào)整處理，在該調(diào)整處理中，控制部分與通過球面像差校正機(jī)構(gòu)改變物鏡的球面像差量同時(shí)地，通過評估值測量部分實(shí)施評估值的多次測量，并且基于通過多次測量獲得的多個(gè)評估值，計(jì)算參數(shù)的最優(yōu)設(shè)置值。
【IPC分類】G11B7-1374, G11B7-1392, G11B7-135
【公開號(hào)】CN104637503
【申請?zhí)枴緾N201410643599
【發(fā)明人】西形尚之
【申請人】索尼電腦娛樂公司
【公開日】2015年5月20日
【申請日】2014年11月6日
【公告號(hào)】US20150131423