一種用于存儲設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于控制應(yīng)用領(lǐng)域，尤其涉及一種用于存儲設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]近年來，隨著技術(shù)日益成熟，存儲設(shè)備(固態(tài)硬盤、U盤等)在消費市場得到廣泛應(yīng)用，并從消費領(lǐng)域逐漸深入到工業(yè)、軍事等特殊領(lǐng)域。這些特殊領(lǐng)域的市場對固態(tài)硬盤的高低溫環(huán)境適應(yīng)性、可靠性、通斷電測試(power cycle)等方面提出了更高的要求，也引起固態(tài)硬盤生產(chǎn)廠家的重視。由于固態(tài)硬盤的閃存(flash)供應(yīng)及其制造技術(shù)全部由國外少數(shù)幾個廠家控制，特殊用途的、寬溫的閃存芯片存在購買困難和限售等問題，使得硬盤生產(chǎn)廠家在生產(chǎn)時不僅需要做高低溫環(huán)境試驗，還需要進行批量生產(chǎn)的高低溫篩選，極大地增加了存儲測試設(shè)備的測試難度和復雜度。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中，對存儲設(shè)備的測試通常將其接在測試電腦，在測試電腦中運行測試程序?qū)崿F(xiàn)識盤、格式化、初始化、讀寫速度、連續(xù)物理讀寫，power cycle、全盤擦除等測試項目，從而判斷存儲設(shè)備性能是否符合標準。但現(xiàn)有技術(shù)中存儲設(shè)備生產(chǎn)廠家普遍缺乏專用的高低溫設(shè)備，存儲設(shè)備的高低溫測試通常采用標準的高低溫試驗箱加外置測試電腦的方法，即將被測存儲設(shè)備放置在高低溫試驗箱中，從試驗箱中引出數(shù)據(jù)延長線與測試電腦相連接。該方法存在操作困難、布置凌亂、測試盤數(shù)量少、效率低下、不適合大批量生產(chǎn)等明顯弊端。雖然現(xiàn)有技術(shù)中也有專用高低溫設(shè)備，但也是僅僅經(jīng)高低溫試驗箱和多個測試電腦簡單合成一體，雖然在整體操作性能上得到了一定改進，但對線路布置、測試盤擴展等問題并未進行深入的研究，還存在諸多問題，從而影響存儲設(shè)備測試的精度和效率。
[0004]參見圖1，所示為現(xiàn)有技術(shù)中存儲設(shè)備高低溫測試系統(tǒng)的連接框圖，測試線路板上設(shè)有多個用于連接被測存儲設(shè)備的存儲設(shè)備接口，現(xiàn)以SATA接口的硬盤為例，與被測SATA硬盤相連接的SATA硬盤接口以焊接的方式固定在測試線路板上，同時在測試線路板設(shè)置SATA信號接口和電源信號接口，通過數(shù)據(jù)線和電源線使其與電腦主板的SATA接口和電源接口相連接，再在測試線路板上布置線路與SATA硬盤接口電氣連接。該連接方式中，電腦主板的SATA信號通過測試線路板進行信號中轉(zhuǎn)后再與被測硬盤相連接，導致硬盤數(shù)據(jù)信號衰減，從而影響測試的可靠性和標準性。
[0005]故，針對目前現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述缺陷，實有必要進行研究，以提供一種方案，解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺陷。
【實用新型內(nèi)容】
[0006]本實用新型的目的是針對上述問題，提供一種適用于各種存儲設(shè)備、測試盤數(shù)量多、效率高、適合大批量生產(chǎn)測試的溫控式測試系統(tǒng)。
[0007]為達到上述目的，本實用新型采用了下列技術(shù)方案:
[0008]一種用于存儲設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)，包括溫控試驗腔體、置于所述溫控試驗腔體內(nèi)的至少一塊測試控制單元，用于在所述溫控試驗腔體內(nèi)產(chǎn)生高溫或者低溫的制冷/制熱裝置、與所述溫控試驗腔體相鄰設(shè)置的測試腔體、以及置于所述測試腔體內(nèi)用于控制所述制冷/制熱裝置和所述測試控制單元的測試系統(tǒng)，其中，
[0009]所述測試系統(tǒng)包括至少一臺測試主機，該測試主機主板上設(shè)有多個第一存儲數(shù)據(jù)接口 ；
[0010]所述測試控制單元包括至少一個用于與被測試存儲設(shè)備相連接的存儲設(shè)備測試接口和控制線路板，所述測試控制單元與所述測試主機相連接，用于接收所述測試主機的控制信號、數(shù)據(jù)信號和電源信號；所述存儲設(shè)備測試接口固定在所述測試控制單元上，其正面設(shè)有與被測試存儲設(shè)備相卡合的標準接口，其背面直接設(shè)有與所述標準接口相連接的信號延長線，所述信號延長線另一端中用于接收數(shù)據(jù)信號的部分設(shè)有第二存儲數(shù)據(jù)接口，所述第一存儲數(shù)據(jù)接口和所述第二存儲數(shù)據(jù)接口之間對應(yīng)連接使所述存儲設(shè)備測試接口與所述測試主機直接連接；所述信號延長線另一端中用于接收電源信號的部分設(shè)有存儲電源接口，所述存儲電源接口與所述控制線路板相連接并受控于所述控制線路板。
[0011]優(yōu)選地，所述第一存儲數(shù)據(jù)接口由該測試主機主板本身自帶或者通過在該主板上的多個PC1-E插槽插接存儲數(shù)據(jù)接口擴展卡擴展得到。
[0012]優(yōu)選地，所述制冷/制熱裝置設(shè)置在所述溫控試驗腔體的上方。
[0013]優(yōu)選地，所述測試系統(tǒng)與所述溫控試驗腔體左右設(shè)置，所述測試系統(tǒng)的多臺測試主機與所述溫控試驗腔體內(nèi)的多塊測試控制單元一一對應(yīng)且基本處于同一水平位置上。
[0014]優(yōu)選地，所述測試控制單元還包括多個擋板，所述擋板用于固定所述存儲設(shè)備測試接口和所述控制線路板。
[0015]優(yōu)選地，所述溫控試驗腔體和所述測試腔體之間還設(shè)有隔板。
[0016]優(yōu)選地，所述溫控試驗腔體靠近所述測試腔體一側(cè)的內(nèi)壁上還設(shè)有多個與所述測試腔體連通的出線孔，所述出線孔與所述測試系統(tǒng)和所述測試控制單元之間的連接線的尺寸相適應(yīng)。
[0017]優(yōu)選地，所述出線孔中還設(shè)有絕熱膠泥，所述絕熱膠泥用于封閉所述溫控試驗腔體的引出連接線與所述出線孔之間的空隙。
[0018]優(yōu)選地，還包括與所述測試主機相連接的常溫測試區(qū)，所述常溫測試區(qū)設(shè)置在所述測試腔體的側(cè)門上，并設(shè)有多個與所述測試系統(tǒng)相連接的存儲設(shè)備測試接口。
[0019]優(yōu)選地，所述存儲設(shè)備測試接口為SATA接口、SAS接口、PC1-E接口或USB接口中的一種或者幾種組合；所述第一存儲數(shù)據(jù)接口或所述第二存儲數(shù)據(jù)接口為SATA接口、SAS接口、PC1-E接口或USB接口中的任一種；所述控制線路板與所述測試主機之間通過SATA、SAS、PC1-E、UART或USB等數(shù)據(jù)總線相連接。
[0020]與現(xiàn)有的技術(shù)相比，本實用新型的優(yōu)點在于:
[0021]1、本實用新型的一種用于存儲設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)，通過將存儲設(shè)備測試接口固定在測試控制單元上(而非現(xiàn)有技術(shù)中將存儲設(shè)備測試接口焊接在測試板上)，并在存儲設(shè)備測試接口的背面通過線纜引出存儲數(shù)據(jù)接口使其直接插接在測試主機的主板上，從而存儲數(shù)據(jù)信號無需經(jīng)過測試板中轉(zhuǎn)，使存儲數(shù)據(jù)信號的傳輸更為可靠穩(wěn)定，大大提高了測試的可靠性和標準性。
[0022]2、通過PC1-E接口來擴展存儲測試接口，從而使單臺測試主機可測試存儲設(shè)備的數(shù)量大大增加，縮減設(shè)備體積并簡化內(nèi)部布置。
[0023]3、控制線路板采用串入并出邏輯芯片實現(xiàn)擴展控制，從而實現(xiàn)多路電源控制。
【附圖說明】
[0024]圖1是現(xiàn)有技術(shù)存儲設(shè)備高低溫測試系統(tǒng)的接線連接圖。
[0025]圖2是本實用新型提供的用于存儲設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)的正面結(jié)構(gòu)框圖。
[0026]圖3是本實用新型提供的用于存儲設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)框圖。
[0027]圖4是本實用新型提供的用于存儲設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)的連接示意圖。
[0028]圖5是本實用新型提供的用于存儲設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)中測試控制單元的連接示意圖。
[0029]圖6是本實用新型提供的用于存儲設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)中控制線路板的原理框圖。
[0030]圖7是本實用新型提供的控制線路板中的電源保護芯片的連接圖。
【具體實施方式】
[0031]以下是實用新型的具體實施例并結(jié)合附圖，對本實用新型的技術(shù)方案作進一步的描述，但本實用新型并不限于這些實施例。
[0032]在深入研究現(xiàn)有技術(shù)存儲設(shè)備高低溫測試系統(tǒng)存在的缺陷后，本實用新型發(fā)現(xiàn)，現(xiàn)有技術(shù)中均采用標準的存儲設(shè)備接口，其正面是與被測存儲設(shè)備相連接的標準接口，背面是排針接口，用于將存儲設(shè)備接口以焊接方式固定在測試線路板上；正是采用了現(xiàn)有技術(shù)這種慣用的連接方式，使數(shù)據(jù)信號需要通過測試線路板中轉(zhuǎn)，從而造成了數(shù)據(jù)信號的衰減，而數(shù)據(jù)信號(SATA數(shù)據(jù))都是高頻數(shù)據(jù)信號，任何微弱的信號衰減都可能造成數(shù)據(jù)錯誤，導致測試結(jié)果不準確。
[0033]針對現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，參見圖2、圖3和圖4，所示為本實用新型一種用于存儲設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)的連接結(jié)構(gòu)框圖，包括溫控試驗腔體1、設(shè)置在箱門上用于觀察溫控試驗腔體I的觀察窗6、置于溫控試驗腔體I內(nèi)的至少一測試控制單元2，用于在溫控試驗腔體I內(nèi)產(chǎn)生高溫或者低溫的制冷/制熱裝置3、與溫控試驗腔體I相鄰設(shè)置的測試腔體4以及置于測試腔體4用于控制制冷/制熱裝置3和測試控制單元2的測試系統(tǒng)5，其中，
[0034]測試系統(tǒng)5包括至少一臺測試主機51，該測試主機51主板上設(shè)有多個第一存儲數(shù)據(jù)接口，該第一存儲數(shù)據(jù)接口通常為SATA接口、SAS接口、PC1-E接口或USB接口中的任一種；
[0035]測試系統(tǒng)5還包括輸入外設(shè)52 (鍵盤、鼠標等)、顯示器53、測試控制面板54以及用于多臺測試主機51共用一個顯示器53和輸入外設(shè)52的KVM切換器。
[0036]參見圖5，所示為本實用新型提供的用于存儲設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)中測試控制單元的連接示意圖，測試控制單元2包括至少一個用于與被測試存儲設(shè)備相連接的存儲設(shè)備測試接口 21和控制線路板(圖2和圖3中并未示出)，被測試存儲設(shè)備直接插接在存儲設(shè)備測試接口 21上；測試控制單元2通過連接線纜與測試主機51相連接，用于接收測試主機51的控制信號、數(shù)據(jù)信號和電源信號，相應(yīng)的，連接線纜包括控制信號線、數(shù)據(jù)信號線和電源信號線。電源信號接測試主機51的電源為測試控制單元2提供電源供電，數(shù)據(jù)信號用于傳輸被測試存儲設(shè)備的存儲信息，控制信號用于測試控制(比如通斷電測試)，控制線路板接收該控制信號并完成對被測試存儲設(shè)備的電源控制。存儲設(shè)備測試接口 21固定在測試控制單元2中，其正面設(shè)有與被測試存儲設(shè)備相卡合的標準接口，其背面直接設(shè)有與標準接口相連接的信號延長線，信號延長線另一端用于接收數(shù)據(jù)信號的線纜設(shè)有第二存儲數(shù)據(jù)接口，第二存儲數(shù)據(jù)接口與第一存儲數(shù)據(jù)接口對應(yīng)連接，為SATA接口、SAS接口、PC1-E接口或USB接口中的任一種；第一存儲數(shù)據(jù)接口和第二存儲數(shù)據(jù)接口卡合連接后使存儲設(shè)備測試接口 21與測試主機51直接連接；信號延長線另一端用于接收電源信號的線纜設(shè)有存儲電源接口，電源信號線的另一端設(shè)有存儲電源接口，存儲電源接口與控制線路板相連接并受控于控制線路板。
[0037]本實用新型通過將存儲設(shè)備測試接口 21固定在測試控制單元2上(而非現(xiàn)有技術(shù)中將存儲設(shè)備測試接口 21焊接在測試板上)，并在存儲設(shè)備測試接口 21的背面通過線纜引出存儲數(shù)據(jù)接口使其直接插接在測試主機51的主板上，從而存儲數(shù)據(jù)信號無需經(jīng)過測試板中轉(zhuǎn)，使存儲數(shù)據(jù)信號的傳輸更為可