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      一種太陽(yáng)能電池的表面鈍化方法

      文檔序號(hào):7052124閱讀:334來(lái)源:國(guó)知局
      一種太陽(yáng)能電池的表面鈍化方法
      【專利摘要】本發(fā)明公開了一種太陽(yáng)能電池的表面鈍化方法,在鍍膜工序制作減反射膜層時(shí),采用CO2或CO2與SiH4作為反應(yīng)氣體,與太陽(yáng)能電池硅片表面反應(yīng)制作鈍化膜層,然后在鈍化膜層表面再鍍一層氮化硅減反膜層;采用CO2作為反應(yīng)氣體時(shí),CO2流量為500~15000sccm,射頻功率為4000~8000W,時(shí)間為30~300s,鈍化膜層的膜厚為5~20nm;采用CO2與SiH4作為反應(yīng)氣體時(shí),CO2與SiH4的流量比例為1~45:1,射頻功率為4000~8000W,時(shí)間為30~300s,鈍化膜層的膜厚為5~20nm;本發(fā)明能有效提高太陽(yáng)能電池的轉(zhuǎn)換效率,節(jié)約生產(chǎn)成本,且與傳統(tǒng)太陽(yáng)能電池生產(chǎn)線兼容。
      【專利說(shuō)明】一種太陽(yáng)能電池的表面鈍化方法

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種太陽(yáng)能電池制作方法,具體涉及一種太陽(yáng)能電池的表面鈍化方法。

      【背景技術(shù)】
      [0002]目前,隨著太陽(yáng)能電池片生產(chǎn)技術(shù)不斷進(jìn)步,生產(chǎn)成本不斷降低,轉(zhuǎn)換效率不斷提高,使光伏發(fā)電的應(yīng)用日益普及并迅猛發(fā)展,逐漸成為電力供應(yīng)的重要來(lái)源。太陽(yáng)能電池片是一種能量轉(zhuǎn)換的光電元件,它可以在太陽(yáng)光的照射下,把光的能量轉(zhuǎn)換成電能,從而實(shí)現(xiàn)光伏發(fā)電。生產(chǎn)電池片的工藝比較復(fù)雜,一般要經(jīng)過硅片檢測(cè)、表面制絨、擴(kuò)散制結(jié)、去磷硅玻璃、等離子刻蝕、鍍減反射膜、絲網(wǎng)印刷、快速燒結(jié)和檢測(cè)分裝等主要步驟。鍍減反射膜之前的硅片表面的反射率為25%,為了減少表面反射,提高電池的轉(zhuǎn)換效率,需要沉積一層氮化硅減反射膜。現(xiàn)在工業(yè)生產(chǎn)中常采用PECVD設(shè)備制備減反射膜。PECVD即等離子增強(qiáng)型化學(xué)氣相沉積。它的技術(shù)原理是利用低溫等離子體作能量源,樣品置于低氣壓下輝光放電的陰極上,利用輝光放電使樣品升溫到預(yù)定的溫度,然后通入適量的反應(yīng)氣體SiH4和NH3,氣體經(jīng)一系列化學(xué)反應(yīng)和等離子體反應(yīng),在樣品表面形成固態(tài)薄膜即氮化硅薄膜。一般情況下,使用這種等離子增強(qiáng)型化學(xué)氣相沉積的方法沉積的薄膜厚度在SOnm左右。這樣厚度的薄膜具有光學(xué)的功能性。利用薄膜干涉原理,可以使光的反射大為減少,電池的短路電流和輸出就有很大增加,效率也有相當(dāng)?shù)奶岣摺H绾胃M(jìn)一步提高電池轉(zhuǎn)換效率,降低成本成為現(xiàn)在重要課題。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種太陽(yáng)能電池的表面鈍化方法,能有效提高太陽(yáng)能電池的轉(zhuǎn)換效率,節(jié)約生產(chǎn)成本,且與傳統(tǒng)太陽(yáng)能電池生產(chǎn)線兼容,適合于大規(guī)模生產(chǎn)。
      [0004]本發(fā)明解決技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:一種太陽(yáng)能電池的表面鈍化方法,其特征在于:在鍍膜工序制作減反射膜層時(shí),采用CO2或CO2與SiH4作為反應(yīng)氣體,與太陽(yáng)能電池硅片表面反應(yīng)制作鈍化膜層,然后在鈍化膜層表面再鍍一層氮化硅減反膜層;
      采用CO2作為反應(yīng)氣體時(shí)的具體步驟如下:
      (1)將P型多晶硅片完成酸制絨、磷擴(kuò)散、刻蝕清洗工序后置于鍍膜機(jī)臺(tái)中;
      (2)在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體CO2,在硅片表面生成一層鈍化膜層,所述CO2流量為500?15000sccm,射頻功率為4000?8000W,時(shí)間為30?300s,所述鈍化膜層的膜厚為5?20nm,折射率為2.0?2.1 ;
      (3)鈍化膜層制作完成后,在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體NH3和SiH4,在鈍化膜層表面沉積一層均勻的氮化硅膜層,所述NH3與SiH4的流量比例為I?45:1,所述氮化硅減反膜層的膜厚為10?lOOnm,折射率為1.8?2.5 ;
      采用CO2與SiH4作為反應(yīng)氣體時(shí)的具體步驟如下: (1)將P型多晶硅片完成酸制絨、磷擴(kuò)散、刻蝕清洗工序后置于鍍膜機(jī)臺(tái)中;
      (2)在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體CO2與SiH4,在硅片表面生成一層鈍化膜層,所述CO2與SiH4的流量為比例為I?45:1,射頻功率為4000?8000W,時(shí)間為30?300s,所述鈍化膜層的膜厚為5?20nm,折射率為2.0?2.1 ;
      (3)鈍化膜層制作完成后,在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體NH3和SiH4,在鈍化膜層表面沉積一層均勻的氮化硅膜層,所述NH3與SiH4的流量比例為I?45:1,所述氮化硅減反膜層的膜厚為10?lOOnm,折射率為1.8?2.5。
      [0005]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明通過優(yōu)化設(shè)計(jì)鍍膜的氣體配方和鍍膜的膜層形式,使太陽(yáng)能電池效率有0.1%左右的提升,節(jié)約生產(chǎn)成本,且與傳統(tǒng)太陽(yáng)能電池生產(chǎn)線兼容,適合于大規(guī)模生產(chǎn)。

      【專利附圖】

      【附圖說(shuō)明】
      [0006]圖1為本發(fā)明實(shí)施例太陽(yáng)能電池表面鈍化后結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0007]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步說(shuō)明。

      【具體實(shí)施方式】
      [0008]一種太陽(yáng)能電池的表面鈍化方法,在鍍膜工序制作減反射膜層時(shí),采用CO2或CO2與SiH4作為反應(yīng)氣體,與太陽(yáng)能電池硅片I表面反應(yīng)制作鈍化膜層2,然后在鈍化膜層2表面再鍍一層氮化硅減反膜層3 (如附圖1所示)。
      [0009]實(shí)施例1:一種太陽(yáng)能電池的表面鈍化方法,采用CO2作為反應(yīng)氣體時(shí)的具體步驟如下:
      (1)將P型多晶硅片I完成酸制絨、磷擴(kuò)散、刻蝕清洗工序后置于鍍膜機(jī)臺(tái)中;
      (2)在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體CO2,在硅片I表面生成一層鈍化膜層2,所述CCV流量為2000SCCm,射頻功率為5000W,時(shí)間為250s,鈍化膜層的膜厚為10nm,折射率為2.03 ;
      (3)鈍化膜層2制作完成后,在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體NH3和SiH4,在鈍化膜層2表面沉積一層均勻的氮化硅膜層,所述NH3的流量為7000SCCm,SiH4的流量為680sCCm所述氮化硅減反膜層的膜厚為80nm,折射率為2.06。
      [0010]實(shí)施例2:另一種太陽(yáng)能電池的表面鈍化方法,采用CO2與SiH4作為反應(yīng)氣體時(shí)的具體步驟如下:
      (1)將P型多晶硅片I完成酸制絨、磷擴(kuò)散、刻蝕清洗工序后置于鍍膜機(jī)臺(tái)中;
      (2)在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體CO2與SiH4,在硅片I表面生成一層鈍化膜層2,所述CO2與SiH4的流量為比例為20:1,射頻功率為5500W,時(shí)間為120s,鈍化膜層的膜厚為8nm,折射率為2.05 ;
      (3)鈍化膜層2制作完成后,在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體NH3和SiH4,在鈍化膜層2表面沉積一層均勻的氮化硅膜層,所述NH3的流量為6800SCCm,SiH4的流量為720sCCm所述氮化硅減反膜層的膜厚為83nm,折射率為2.08。
      [0011]實(shí)施例3:第三種太陽(yáng)能電池的表面鈍化方法,采用CO2作為反應(yīng)氣體時(shí)的具體步驟如下:
      (I)將P型多晶硅片I完成酸制絨、磷擴(kuò)散、刻蝕清洗工序后置于鍍膜機(jī)臺(tái)中; (2)在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體CO2,在硅片I表面生成一層鈍化膜層2,所述CCV流量為500SCCm,射頻功率為4000W,時(shí)間為30s,鈍化膜層的膜厚為5nm,折射率為2.0 ;
      (3)鈍化膜層2制作完成后,在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體NH3和SiH4,在鈍化膜層2表面沉積一層均勻的氮化硅膜層,所述NH3的流量為7000SCCm,SiH4的流量為680sCCm所述氮化硅減反膜層的膜厚為70nm,折射率為2.0。
      [0012]實(shí)施例4:第四種太陽(yáng)能電池的表面鈍化方法,采用CO2與SiH4作為反應(yīng)氣體時(shí)的具體步驟如下:
      (1)將P型多晶硅片I完成酸制絨、磷擴(kuò)散、刻蝕清洗工序后置于鍍膜機(jī)臺(tái)中;
      (2)在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體CO2與SiH4,在硅片I表面生成一層鈍化膜層2,所述CO2與SiH4的流量為比例為10:1,射頻功率為8000W,時(shí)間為300s,鈍化膜層的膜厚為5nm,折射率為2.0 ;
      (3)鈍化膜層2制作完成后,在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體NH3和SiH4,在鈍化膜層2表面沉積一層均勻的氮化硅膜層,所述NH3的流量為6800SCCm,SiH4的流量為720sCCm所述氮化硅減反膜層的膜厚為75nm,折射率為2.1。
      [0013]實(shí)施例5:第五種太陽(yáng)能電池的表面鈍化方法,采用CO2作為反應(yīng)氣體時(shí)的具體步驟如下:
      (1)將P型多晶硅片I完成酸制絨、磷擴(kuò)散、刻蝕清洗工序后置于鍍膜機(jī)臺(tái)中;
      (2)在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體CO2,在硅片I表面生成一層鈍化膜層2,所述CCV流量為15000SCCm,射頻功率為8000W,時(shí)間為300s,鈍化膜層的膜厚為20nm,折射率為2.1 ;
      (3)鈍化膜層2制作完成后,在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體NH3和SiH4,在鈍化膜層2表面沉積一層均勻的氮化硅膜層,所述NH3的流量為9000SCCm,SiH4的流量為880sCCm所述氮化硅減反膜層的膜厚為lOOnm,折射率為2.5。
      [0014]實(shí)施例6:第六種太陽(yáng)能電池的表面鈍化方法,米用CO2與SiH4作為反應(yīng)氣體時(shí)的具體步驟如下:
      (1)將P型多晶硅片I完成酸制絨、磷擴(kuò)散、刻蝕清洗工序后置于鍍膜機(jī)臺(tái)中;
      (2)在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體CO2與SiH4,在硅片I表面生成一層鈍化膜層2,所述CO2與SiH4的流量為比例為45: 1,射頻功率為8000W,時(shí)間為300s,鈍化膜層的膜厚為20nm,折射率為2.1 ;
      (3)鈍化膜層2制作完成后,在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體NH3和SiH4,在鈍化膜層2表面沉積一層均勻的氮化硅膜層,所述NH3的流量為8800 sccm, SiH4的流量為920sCCm所述氮化硅減反膜層的膜厚為lOOnm,折射率為2.5。
      【權(quán)利要求】
      1.一種太陽(yáng)能電池的表面鈍化方法,其特征在于:在鍍膜工序制作減反射膜層時(shí),采用CO2或CO2與SiH4作為反應(yīng)氣體,與太陽(yáng)能電池硅片(I)表面反應(yīng)制作鈍化膜層(2),然后在鈍化膜層(2 )表面再鍍一層氮化硅減反膜層(3 ); 采用CO2作為反應(yīng)氣體時(shí)的具體步驟如下: 1)將P型多晶硅片(I)完成酸制絨、磷擴(kuò)散、刻蝕清洗工序后置于鍍膜機(jī)臺(tái)中; 2)在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體CO2,在硅片(I)表面生成一層鈍化膜層(2),所述CO2流量為500?15000sccm,射頻功率為4000?8000W,時(shí)間為30?300s,所述鈍化膜層的膜厚為5?20nm,折射率為2.0?2.1 ; 3)鈍化膜層(2)制作完成后,在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體NH3和SiH4,在鈍化膜層(2)表面沉積一層均勻的氮化硅膜層,所述NH3與SiH4的流量比例為I?45:1,所述氮化硅減反膜層的膜厚為10?lOOnm,折射率為1.8?2.5 ; 采用CO2與SiH4作為反應(yīng)氣體時(shí)的具體步驟如下: 1)將P型多晶硅片(I)完成酸制絨、磷擴(kuò)散、刻蝕清洗工序后置于鍍膜機(jī)臺(tái)中; 2)在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體CO2與SiH4,在硅片(I)表面生成一層鈍化膜層(2),所述CO2與SiH4的流量為比例為I?45:1,射頻功率為4000?8000W,時(shí)間為30?300s,所述鈍化膜層的膜厚為5?20nm,折射率為2.0?2.1 ; 3)鈍化膜層(2)制作完成后,在鍍膜設(shè)備中通入反應(yīng)氣體NH3和SiH4,在鈍化膜層(2)表面沉積一層均勻的氮化硅膜層,所述NH3與SiH4的流量比例為I?45:1,所述氮化硅減反膜層的膜厚為10?lOOnm,折射率為1.8?2.5。
      【文檔編號(hào)】H01L31/18GK104167466SQ201410295070
      【公開日】2014年11月26日 申請(qǐng)日期:2014年6月27日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月27日
      【發(fā)明者】黃紀(jì)德, 蔣方丹, 金浩, 郭俊華, 陳康平 申請(qǐng)人:浙江晶科能源有限公司, 晶科能源有限公司
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