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      靜電放電ESD保護器件和半導體裝置的制作方法

      文檔序號:11214274閱讀:來源:國知局

      技術(shù)特征:

      技術(shù)總結(jié)
      本發(fā)明公開了一種ESD保護器件和半導體裝置,涉及半導體技術(shù)領(lǐng)域。ESD保護器件包括:襯底結(jié)構(gòu),其包括襯底以及在襯底上的至少兩個半導體鰭片,所述至少兩個半導體鰭片包括分離的第一和第二鰭片,該襯底結(jié)構(gòu)包括橫向相鄰并具有不同導電類型的第一和第二摻雜區(qū),第一摻雜區(qū)包括襯底的第一部分和其上的第一鰭片的第一區(qū)域,第二摻雜區(qū)包括襯底的第二部分及其上的第一鰭片的第二區(qū)域和其上的第二鰭片;第一柵極結(jié)構(gòu),在第一區(qū)域的表面的一部分和第二區(qū)域的表面的至少一部分上;第一高摻雜區(qū),位于第一區(qū)域中,導電類型與第一摻雜區(qū)相同,摻雜濃度高于第一摻雜區(qū);第二高摻雜區(qū),位于第二鰭片中,導電類型與第二摻雜區(qū)相同,摻雜濃度高于第二摻雜區(qū)。

      技術(shù)研發(fā)人員:李勇
      受保護的技術(shù)使用者:中芯國際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國際集成電路制造(北京)有限公司
      技術(shù)研發(fā)日:2016.03.29
      技術(shù)公布日:2017.10.10
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