本發(fā)明涉及l(fā)ed芯片加工領(lǐng)域，尤其涉及一種芯片檢測進(jìn)料機構(gòu)。

背景技術(shù)：

1、半導(dǎo)體發(fā)光器件led(light?emitting?diode)以其壽命長、耗能低、無污染、耐震動、響應(yīng)速度快、應(yīng)用靈活、控制方便等特點，正在從顯示器件發(fā)展成為下一代的主要照明器件。隨著led的關(guān)鍵技術(shù)不斷突破，其發(fā)光效率快速提高。采用led作為半導(dǎo)體照明光源的應(yīng)用領(lǐng)域不斷擴展，科研人員、工程技術(shù)人員和企業(yè)生產(chǎn)者正共同努力爭取在盡可能短的時間內(nèi)實現(xiàn)led作為普通照明光源的應(yīng)用。

2、由于沒有合適的檢測設(shè)備，目前檢測和分選是許多l(xiāng)ed芯片廠商的產(chǎn)能瓶頸，也是led產(chǎn)品成本的一個重要來源。對外延片或者晶圓上每一個led芯片單元的的快速、低成本、無損檢測方法和設(shè)備，成為業(yè)界關(guān)注的焦點。

3、申請?zhí)枺篶n200810070112.9?提出了led芯片/晶圓/外延片的非接觸式檢測方法及檢測裝置，同時實現(xiàn)對led芯片/晶圓/外延片的發(fā)光特性和電特性的非接觸、無損檢測，把led產(chǎn)品的檢測和篩選由“成品”環(huán)節(jié)推進(jìn)到“芯片”環(huán)節(jié)，降低了led的成本。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、為了提供一種使用方便的給非接觸式芯片檢測設(shè)備進(jìn)料的裝置，以完善整套加工設(shè)備，本實用新型設(shè)計了一種芯片檢測進(jìn)料機構(gòu)，其結(jié)構(gòu)包括：料倉，料倉下部設(shè)有左右貫通的推料通道，料倉上部設(shè)有貫通至推料通道頂部的料槽，料槽內(nèi)堆疊有多個的載物板，載物板上設(shè)有用于放置待檢芯片的凹槽；推料通道一端設(shè)有推板，推板由固定于料倉一側(cè)的第一推頂機構(gòu)帶動在推料通道內(nèi)左右移動，料倉在與第一推頂機構(gòu)相鄰的一側(cè)設(shè)有第二推頂機構(gòu)，第二推頂機構(gòu)通過連接板帶動篩料板于推料通道的出口處前后移動。

2、較佳的，所述第一推頂機構(gòu)包括固定于料倉左側(cè)壁的步進(jìn)電機，步進(jìn)電機的輸出軸帶動螺桿旋轉(zhuǎn)，擋板上開設(shè)有螺孔并套接于螺桿外，擋板底部與推板上部固定。

3、較佳的，所述載物板上表面設(shè)有吸光材料層。

4、較佳的，推板厚度、載物板厚度、推料通道的高度三者相等。

5、較佳的，凹槽的深度滿足當(dāng)放入待測芯片時，芯片頂部不凸出于載物板上表面。

6、較佳的，所述推板的長度大于載物板與推料通道的長度之和。

7、本實用新型使用時，將待測芯片放置于載物板上，再疊放移入料倉內(nèi)，需檢驗芯片時，控制第一推頂機構(gòu)將最下方的載物板推出推料通道，由檢測機構(gòu)對其進(jìn)行檢測，若合格則再由推板將載物板推出檢測機構(gòu)的出料口，若不合格則由第二推頂裝置帶動篩料板將載物板由檢測機構(gòu)的側(cè)向頂出，以完成芯片的檢測和篩選，本實用新型設(shè)計精簡合理，送料效率高。

技術(shù)特征：

1.一種芯片檢測進(jìn)料機構(gòu)，其特征在于：包括：料倉，料倉下部設(shè)有左右貫通的推料通道，料倉上部設(shè)有貫通至推料通道頂部的料槽，料槽內(nèi)堆疊有多個的載物板，載物板上設(shè)有用于放置待檢芯片的凹槽；推料通道一端設(shè)有推板，推板由固定于料倉一側(cè)的第一推頂機構(gòu)帶動在推料通道內(nèi)左右移動，料倉在與第一推頂機構(gòu)相鄰的一側(cè)設(shè)有第二推頂機構(gòu)，第二推頂機構(gòu)通過連接板帶動篩料板于推料通道的出口處前后移動。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述芯片檢測進(jìn)料機構(gòu)，其特征在于：所述第一推頂機構(gòu)包括固定于料倉左側(cè)壁的步進(jìn)電機，步進(jìn)電機的輸出軸帶動螺桿旋轉(zhuǎn)，擋板上開設(shè)有螺孔并套接于螺桿外，擋板底部與推板上部固定。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述芯片檢測進(jìn)料機構(gòu)，其特征在于：所述載物板上表面設(shè)有吸光材料層。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述芯片檢測進(jìn)料機構(gòu)，其特征在于：推板厚度、載物板厚度、推料通道的高度三者相等。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述芯片檢測進(jìn)料機構(gòu)，其特征在于：凹槽的深度滿足當(dāng)放入待測芯片時，芯片頂部不凸出于載物板上表面。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述芯片檢測進(jìn)料機構(gòu)，其特征在于：所述推板的長度大于載物板與推料通道的長度之和。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開了一種芯片檢測進(jìn)料機構(gòu)，包括：料倉，料倉下部設(shè)有左右貫通的推料通道，料倉上部設(shè)有貫通至推料通道頂部的料槽，料槽內(nèi)堆疊有多個的載物板，載物板上設(shè)有用于放置待檢芯片的凹槽；推料通道一端設(shè)有推板，推板由固定于料倉一側(cè)的第一推頂機構(gòu)帶動在推料通道內(nèi)左右移動，料倉在與第一推頂機構(gòu)相鄰的一側(cè)設(shè)有第二推頂機構(gòu)，第二推頂機構(gòu)通過連接板帶動篩料板于推料通道的出口處前后移動，本技術(shù)設(shè)計精簡合理，送料效率高。

技術(shù)研發(fā)人員：劉彥成,殷憲啟
受保護(hù)的技術(shù)使用者：江蘇森林金屬裝飾材料有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240228
技術(shù)公布日：2024/12/5