一種提高相控陣寬角掃描增益的裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明設(shè)及小型相控陣寬角掃描增益的提高，屬于相控陣寬角掃描領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002] 相控陣天線因波束指向可W靈活控制而得到了廣泛應(yīng)用。由于陣列單元間互禪的 影響W及單元方向圖自身的波束寬度的限制，天線陣列的增益在波束掃到較寬的角度時下 降較大。比如微帶天線單元的相控陣天線在波束掃描到±50度時增益下降4~5地。提高 寬角度掃描時天線的增益一直是天線研究人員研究的難題，近年來人們提出了一些方法來 提高寬角掃描時增益下降較大的問題：
[0003]文獻(xiàn)IJain,S.Mittra,R;Abdel_Mageed,M.E5roadbandflat-baseLunebu;rglens antennaforwideanglescan[J].AntennasandPropagationSocietyInternational Symposium(APSURSI), 2014,化ge(s) :771-772 ;在天線陣面上方添加一些材料改善寬角掃 描增益，而一般該種添加的材料的結(jié)構(gòu)尺寸都很大。
[0004] 文獻(xiàn)2Yan-YingBai;ShaoqiuXiao;Ming-ChunTang;Zhu〇-FuDing;Bing-Zhong Wang.Wide-AngleScanningPhasedArrayWithPatternReconfigurableElements. AntennasandPropagation,IE邸TransactionsonD0I:10.1109/TAP. 2011.2164176201 1，化ge(s) : 4071-4076 ;通過改變天線結(jié)構(gòu)來改善寬角掃描時的增益，如通過可重構(gòu)天線或 者寄生貼片形式，在波束掃到某一邊時就利用改變天線的結(jié)構(gòu)來控制天線單元的波束形狀 W達(dá)到提高寬角掃描時天線的增益的目的；該種方式結(jié)構(gòu)復(fù)雜，控制也較麻煩，從而限制了 該種技術(shù)的推廣應(yīng)用。
[000引 文獻(xiàn)SNoordin,N.H.;Haridas,N. ;EI-RayiS,A. 0. ;Erdogan,A.T.; Arslan,T.Antennaarraywithwideanglescanningproperties[J].Antennasand Propagation(抓CAP), 20126thEluropeanConferenceonDOI: 10. 1109/E；uCAP. 2012. 6206 0922012,化ge(s) : 1636-1640 ;是通過改變天線陣列排列結(jié)構(gòu)，利用S面線性陣列結(jié)構(gòu)W提 高寬角掃描時陣列的增益。該類天線陣列類似于共形陣列，可W實現(xiàn)寬角掃描，但天線增益 不局。
[0006] 綜上所述，現(xiàn)有文獻(xiàn)未能給出一種簡潔有效的結(jié)構(gòu)提高相控陣寬角掃描增益。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007] 為了克服小型相控陣陣列寬角掃描時增益下降過大的不足，本發(fā)明提供一種結(jié)構(gòu) 簡單且不改變天線結(jié)構(gòu)本身、利于低剖面的、適用于多種天線類型的相控陣寬角掃描高增 益技術(shù)，此技術(shù)應(yīng)用不對天線結(jié)構(gòu)本身做出任何改變，利于相控陣低剖面并且能夠適應(yīng)于 多種天線。
[0008] 本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是；在微帶天線陣列的金屬接地板與微 帶天線介質(zhì)板之間增加一塊介質(zhì)板，所述介質(zhì)板與金屬接地板表面緊密貼合，介質(zhì)板尺寸 與金屬接地板大小一致。
[0009] 本發(fā)明的有益效果是：在不影響天線本身結(jié)構(gòu)的前提下，改變單元方向圖福射性 能，減小后瓣，提高了陣列天線寬角度掃描時具有較高的增益，其在-60° < 0 <60°內(nèi)增 益下降不超過3地。參考圖5、圖6W及表1、表2的對比，可W得出添加介質(zhì)板后，天線半波 功率角變小，旁瓣電平減小，隨著掃描角0的增大，增益下降趨勢明顯減小。
[0010] 表1未添加介質(zhì)板陣列福射性能參數(shù)
[0011]
【主權(quán)項】
1. 一種提高相控陣寬角掃描增益的裝置，其特征在于：在微帶天線陣列的金屬接地板 與微帶天線介質(zhì)板之間增加一塊介質(zhì)板，所述介質(zhì)板與金屬接地板表面緊密貼合，介質(zhì)板 尺寸與金屬接地板大小一致。
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種提高相控陣寬角掃描增益的裝置，在微帶天線陣列的金屬接地板與微帶天線介質(zhì)板之間增加一塊介質(zhì)板，所述介質(zhì)板與金屬接地板表面緊密貼合，介質(zhì)板尺寸與金屬接地板大小一致。本發(fā)明在不影響天線本身結(jié)構(gòu)的前提下，改變單元方向圖輻射性能，減小后瓣，提高了陣列天線寬角度掃描時具有較高的增益。
【IPC分類】H01Q21-00, H01Q1-38, H01Q1-48
【公開號】CN104810614
【申請?zhí)枴緾N201510125463
【發(fā)明人】李建瀛, 楊光偉, 魏昆, 張兆林, 王伶, 楊祎
【申請人】西北工業(yè)大學(xué)
【公開日】2015年7月29日
【申請日】2015年3月20日