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      一種用于半導(dǎo)體器件的雙電荷注入層的制備方法

      文檔序號:9789359閱讀:630來源:國知局
      一種用于半導(dǎo)體器件的雙電荷注入層的制備方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明屬于半導(dǎo)體器件技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種用于半導(dǎo)體器件的雙電荷注入層的制備方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]在有機(jī)半導(dǎo)體功能器件的制備中,如何提高基片表面的功函數(shù),從而降低空穴注入的勢皇,一直以來都是研究的熱點(diǎn)問題。傳統(tǒng)的做法都是通過制備過渡金屬氧化物薄膜來實(shí)現(xiàn)這一目的,而且往往是采取真空蒸鍍的方式來完成薄膜的沉積,但此種薄膜沉積方法對設(shè)備的要求高,能耗大,材料利用率低,人員操作要求苛刻,同時此種方法局限了大面積有機(jī)半導(dǎo)體實(shí)用化器件的制備與發(fā)展。隨著有機(jī)半導(dǎo)體器件制備工藝的快速發(fā)展,其濕法制備的工藝應(yīng)運(yùn)而生。但是此種制備有機(jī)半導(dǎo)體器件的方法也仍然存在很多問題,而其中最亟待解決的問題就是相鄰有機(jī)薄膜層的制備時的互溶問題。
      [0003]本發(fā)明設(shè)計(jì)采用了油性溶液旋轉(zhuǎn)涂布與水性溶液旋轉(zhuǎn)涂布相間成膜的方式,形成雙電荷注入層,來解決上述存在的諸多不足之處。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]解決的技術(shù)問題:針對現(xiàn)有的薄膜沉積方法對設(shè)備的要求高、能耗大、材料利用率低以及相鄰有機(jī)薄膜層易互溶的缺點(diǎn),本發(fā)明提供一種用于半導(dǎo)體器件的雙電荷注入層的制備方法。
      [0005]技術(shù)方案:一種用于半導(dǎo)體器件的雙電荷注入層的制備方法,該方法的步驟如下:
      (1)將HAT-CN和F4-TCNQ以質(zhì)量比為1:(2_6)的比例混合溶于丙酮中,待完全溶解后靜置l-2h,得到溶液A,其中溶液A中HAT-CN和F4-TCNQ的總濃度為2mg/mL;
      (2)將CuPc和MoO3分別溶于水中制成水溶液,在大氣環(huán)境下分別攪拌1h后,以體積比1:1的比例混合,靜置l_2h,得到溶液B,其中CuPc和MoO3水溶液的濃度分別為4mg/mL和Img/mL;
      (3)將待涂布的基板放置于紫外臭氧機(jī)中臭氧處理20min,然后用步驟(I)中得到的溶液A通過旋轉(zhuǎn)涂布的方法均勻的涂布在基板表面,并在60°C的溫度下退火15min,此時基板表面形成一層油性薄膜;
      (4)將步驟(2)中得到的溶液B通過旋轉(zhuǎn)涂布的方法均勻的涂布在第三步得到的油性薄膜表面,并在150°C的溫度下退火15min,此時ITO基片表面形成了油性-水性雙注入層的薄膜,即為用于半導(dǎo)體器件的雙電荷注入層。
      [0006]上述所述的步驟(I)中將HAT-CN和F4-TCNQ以質(zhì)量比為1:4的比例混合溶于丙酮中。
      [0007]上述所述的步驟(I)中完全溶解后靜置時間為1.5h。
      [0008]上述所述的步驟(2)中靜置時間為1.5h。
      [0009 ]上述所述的步驟(3 )中的基板為單晶硅基板或ITO玻璃基板。
      [0010]有益效果:本發(fā)明提供的一種用于半導(dǎo)體器件的雙電荷注入層的制備方法,具有以下有益效果:
      1.本發(fā)明制作工藝簡單便捷,設(shè)備要求低,在大氣條件中即可進(jìn)行制備操作,毋須采用昂貴的真空蒸鍍設(shè)備,成本低廉,大大降低了半導(dǎo)體器件的生產(chǎn)成本,便于大規(guī)模的生產(chǎn)制造;
      2.本發(fā)明采用水作為溶劑,綠色環(huán)保無污染,符合環(huán)境友好型材料制備工藝;
      3.本發(fā)明所用的材料溶解性強(qiáng),薄膜厚度可通過溶液濃度、旋轉(zhuǎn)涂布的速度、時間等因素調(diào)控,均勻性和平整性好,薄膜質(zhì)量高,能有效修飾基片表面缺陷;
      4.本發(fā)明所用油性-水性雙空穴注入層,大大提高了空穴的注入效率,且水性注入層有效的將油性注入層和發(fā)光層分隔開,巧妙的解決了溶液法制備半導(dǎo)體器件中容易產(chǎn)生的互溶問題。
      【附圖說明】
      [0011]圖1為采用實(shí)施例1、對比例I和對比例2制備得到的電荷注入層制備的OLED器件的電壓-電流密度曲線圖。
      [0012]圖2為采用實(shí)施例1、對比例I和對比例2制備得到的電荷注入層制備的OLED器件的電壓-亮度曲線圖。
      [0013]圖3為采用實(shí)施例1、對比例I和對比例2制備得到的電荷注入層制備的OLED器件的電流密度-電流效率曲線圖。
      [0014]圖4為采用實(shí)施例1、對比例I和對比例2制備得到的電荷注入層制備的OLED器件的電流密度-功率效率曲線圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0015]實(shí)施例1
      一種用于半導(dǎo)體器件的雙電荷注入層的制備方法,該方法的步驟如下:
      (1)將ITO玻璃基板進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化清洗;
      (2)將HAT-CN和F4-TCNQ以質(zhì)量比為1:4的比例混合溶于丙酮中,待完全溶解后靜置1.5h,得到溶液A,其中溶液A中HAT-CN和F4-TCNQ的總濃度為2mg/mL;
      (3)將CuPc和MoO3分別溶于水中制成水溶液,在大氣環(huán)境下分別攪拌1h后,以體積比1:1的比例混合,靜置1.5h,得到溶液B,其中CuPc和MoO3水溶液的濃度分別為4mg/mL和Img/mL;
      (4)將待涂布的基板放置于紫外臭氧機(jī)中臭氧處理20min,然后用步驟(2)中得到的溶液A通過旋轉(zhuǎn)涂布的方法均勻的涂布在基板表面,并在60°C的溫度下退火15min,此時基板表面形成一層油性薄膜;
      (5 )將步驟(3 )中得到的溶液B通過旋轉(zhuǎn)涂布的方法均勻的涂布在第三步得到的油性薄膜表面,并在150°C的溫度下退火15min,此時ITO基片表面形成了油性-水性雙注入層的薄膜,即為用于半導(dǎo)體器件的雙電荷注入層。
      [0016]實(shí)施例2
      一種用于半導(dǎo)體器件的雙電荷注入層的制備方法,該方法的步驟如下: (1)將ITO玻璃基板進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化清洗;
      (2)將HAT-CN和F4-TCNQ以質(zhì)量比為1:2的比例混合溶于丙酮中,待完全溶解后靜置1.5h,得到溶液A,其中溶液A中HAT-CN和F4-TCNQ的總濃度為2mg/mL;
      (3)將CuPc和MoO3分別溶于水中制成水溶液,在大氣環(huán)境下分別攪拌1h后,以體積比1:1的比例混合,靜置1.5h,得到溶液B,其中CuPc和MoO3水溶液的濃度分別為4mg/mL和Img/mL;
      (4)將待涂布的基板放置于紫外臭氧機(jī)中臭氧處理20min,然后用步驟(2)中得到的溶液A通過旋轉(zhuǎn)涂布的方法均勻的涂布在基板表面,并在60°C的溫度下退火15min,此時基板表面形成一層油性薄膜;
      (5 )將步驟(3 )中得到的溶液B通過旋轉(zhuǎn)涂布的方法均勻的涂布在第三步得到的油性薄膜表面
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