鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及集成電路測試領(lǐng)域，尤其是一種鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法。
【背景技術(shù)】
[0002]鎖相環(huán)主要包括分頻器、鑒相器、環(huán)路濾波器、壓控振蕩器等，其鎖定時(shí)間指指鎖相環(huán)從一個(gè)指定頻率跳變到另一個(gè)指定頻率(在給定的頻率誤差范圍內(nèi))所用的時(shí)間，是表征所述鎖相環(huán)性能的一個(gè)重要參數(shù)，它決定了所述鎖相環(huán)的輸出能從一個(gè)頻點(diǎn)快速跳變到另一個(gè)頻點(diǎn)的能力。在所述鎖相環(huán)從一個(gè)指定頻率跳變到另一個(gè)指定頻率的過程中，所述鎖相環(huán)穩(wěn)定輸出的控制電壓也相應(yīng)發(fā)生跳變。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)所述鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量是通過分立儀器進(jìn)行測量的。一種方法是直接采用所述分立儀器對(duì)所述鎖相環(huán)進(jìn)行測量。也就是說，所述鎖相環(huán)的鎖定時(shí)間可以采用頻譜儀直接進(jìn)行測量，或者采用示波器對(duì)鎖相環(huán)的兩次頻點(diǎn)所對(duì)應(yīng)輸出電壓的改變時(shí)間進(jìn)行測試。這種方法測試時(shí)間長，測試結(jié)果需要人工讀取，且自動(dòng)化程度不高，通常只適用于實(shí)驗(yàn)室驗(yàn)證測試。
[0004]另一種方法是采用ATE測試設(shè)備外掛分立儀器進(jìn)行測試，這種方法通常應(yīng)用于量產(chǎn)中。所述ATE測試設(shè)備與分立儀器通過GPIB或者USB接口進(jìn)行通信，所述分立儀器測試完成后，由所述ATE測試設(shè)備從所述分立儀器讀回測試結(jié)果，基本可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測試。但是多工位并行測試能力差，且所述ATE測試設(shè)備與所述分立儀器接口通訊時(shí)間較長，導(dǎo)致測試效率低下。所述ATE測試設(shè)備外掛所述分立儀器時(shí)，所述ATE測試設(shè)備的射頻電纜與被測芯片連接不便，尤其在進(jìn)行晶圓測試時(shí)。
[0005]隨著射頻芯片的迅速發(fā)展，存在很大的射頻芯片鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測試需要，但是采用現(xiàn)有技術(shù)，無法高效率的進(jìn)行大規(guī)模的量產(chǎn)測試。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的在于提供一種鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法，以解決測試效率低的問題。
[0007]為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供了一種鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法，包括以下步驟:
[0008]將鎖相環(huán)在第一頻率上鎖定，ATE測試設(shè)備測量所述鎖相環(huán)在所述第一頻率上的第一輸出電壓；
[0009]將所述鎖相環(huán)在第二頻率上鎖定，所述ATE測試設(shè)備測量所述鎖相環(huán)在所述第二頻率上的第二輸出電壓；
[0010]使得所述鎖相環(huán)從所述第一頻率跳變到所述第二頻率，所述ATE測試設(shè)備采集并處理所述鎖相環(huán)在跳變過程中的輸出電壓；
[0011]根據(jù)所述ATE測試設(shè)備對(duì)所述輸出電壓的處理結(jié)果計(jì)算出所述鎖相環(huán)的鎖定時(shí)間。
[0012]優(yōu)選的，在上述的鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法中，利用所述ATE測試設(shè)備的電壓測量模塊來測量所述第一輸出電壓和所述第二輸出電壓。
[0013]優(yōu)選的，在上述的鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法中，所述ATE測試設(shè)備采集并處理所述鎖相環(huán)在跳變過程中的輸出電壓包括以下步驟:
[0014]所述ATE測試設(shè)備測量所述鎖相環(huán)從所述第一頻率跳變到所述第二頻率過程中的輸出電壓；
[0015]對(duì)所述輸出電壓進(jìn)行濾波處理；
[0016]所述ATE測試設(shè)備按照一第一采樣頻率對(duì)進(jìn)行過濾波處理后的所述輸出電壓進(jìn)行采樣，并將相應(yīng)的采樣點(diǎn)存儲(chǔ)在一數(shù)組中；
[0017]在所述數(shù)組中找出所述鎖相環(huán)跳變過程中開始跳變和結(jié)束跳變分別對(duì)應(yīng)的采樣點(diǎn)。
[0018]優(yōu)選的，在上述的鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法中，所述ATE測試設(shè)備上的電壓測量模塊測量所述鎖相環(huán)從所述第一頻率跳變到所述第二頻率過程中的電壓。
[0019]優(yōu)選的，在上述的鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法中，利用所述ATE測試設(shè)備上的高精度模擬信號(hào)采集模塊對(duì)所述輸出電壓進(jìn)行采樣。
[0020]優(yōu)選的，在上述的鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法中，所述ATE測試設(shè)備對(duì)所述輸出電壓的采樣時(shí)間大于所述鎖相環(huán)的預(yù)判鎖定時(shí)間。
[0021]優(yōu)選的，在上述的鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法中，在所述數(shù)組中找出所述鎖相環(huán)跳變過程中開始跳變時(shí)所對(duì)應(yīng)的采樣點(diǎn)的步驟包括:
[0022]當(dāng)所述數(shù)組中連續(xù)十個(gè)采樣點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的輸出電壓與所述第一輸出電壓的差均大于一第一標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，所述連續(xù)十個(gè)采樣點(diǎn)中的第一個(gè)采樣點(diǎn)即為所述鎖相環(huán)開始跳變時(shí)所對(duì)應(yīng)的采樣點(diǎn)。
[0023]優(yōu)選的，在上述的鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法中，所述第一標(biāo)準(zhǔn)值為lmV。
[0024]優(yōu)選的，在上述的鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法中，在所述數(shù)組中找出所述鎖相環(huán)跳變過程中跳變結(jié)束時(shí)所對(duì)應(yīng)的采樣點(diǎn)的步驟包括:
[0025]當(dāng)所述數(shù)組中連續(xù)十個(gè)采樣點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的輸出電壓與所述第二輸出電壓的差均小于一第二標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，所述連續(xù)十個(gè)采樣點(diǎn)中的第一個(gè)采樣點(diǎn)即為所述鎖相環(huán)跳變結(jié)束時(shí)所對(duì)應(yīng)的采樣點(diǎn)。
[0026]優(yōu)選的，在上述的鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法中，所述第二標(biāo)準(zhǔn)值為lmV。
[0027]優(yōu)選的，在上述的鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法中，所述鎖相環(huán)的鎖定時(shí)間=(結(jié)束跳變時(shí)對(duì)應(yīng)的采樣點(diǎn)-開始跳變時(shí)對(duì)應(yīng)的采樣點(diǎn))/第一采樣頻率。
[0028]優(yōu)選的，在上述的鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法中，所述第一頻率與所述第二頻率不相等。
[0029]在本發(fā)明提供的鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法中，無需外掛分立儀器，直接利用ATE測試設(shè)備獲取所述鎖相環(huán)從所述第一頻率跳變到所述第二頻率過程中的輸出電壓，根據(jù)所述ATE測試設(shè)備對(duì)所述輸出電壓的處理結(jié)果直接計(jì)算出所述鎖相環(huán)的鎖定時(shí)間，大大提高了測試效率。
【附圖說明】
[0030]圖1為本發(fā)明實(shí)施例中鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法的流程圖；
[0031]圖2為圖1中步驟S3的具體流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0032]下面將結(jié)合示意圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行更詳細(xì)的描述。根據(jù)下列描述和權(quán)利要求書，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征將更清楚。需說明的是，附圖均采用非常簡化的形式且均使用非精準(zhǔn)的比例，僅用以方便、明晰地輔助說明本發(fā)明實(shí)施例的目的。
[0033]如圖1所示，本發(fā)明提供了一種鎖相環(huán)鎖定時(shí)間的測量方法，包括以下步驟:
[0034]S1:將鎖相環(huán)在第一頻率上鎖定，ATE測試設(shè)備測量所述鎖相環(huán)在所述第一頻率上的第一輸出電壓。
[0035]S2:將鎖相環(huán)在第二頻率上鎖定，所述ATE測試設(shè)備測量所述鎖相環(huán)在所述第二頻率上的第二輸出電壓。
[0036]當(dāng)所述鎖相環(huán)從一個(gè)頻點(diǎn)跳變到另一個(gè)頻點(diǎn)時(shí)，所述鎖相環(huán)穩(wěn)定輸出的電壓也相應(yīng)的從一個(gè)電平經(jīng)過抖動(dòng)跳變到另一個(gè)電平。
[0037]也就是說當(dāng)所述鎖相環(huán)從所述第一頻率跳變到所述第二頻率時(shí)，所述鎖相環(huán)穩(wěn)定輸出的電壓也從所述第一輸出電壓跳變到所述第二輸出電壓。將所述鎖相環(huán)分別在所述第一頻率和所述第二頻率時(shí)鎖定，采用所述ATE測試設(shè)備的電壓測量模塊來測量所述第一輸出電壓和所述第二輸出電壓。其中，所述第一頻率與所述第二頻率不相等。
[0038]S3:使得所述鎖相環(huán)從所述第一頻率跳變到所述第二頻率，所述ATE測試設(shè)備采集并處理所述鎖相環(huán)在跳變過程中的輸出電壓。
[0039]具體的，如圖2所示，包括以下步驟:
[0040]S31:所述ATE測試設(shè)備測量所述鎖相環(huán)從所述第一頻率跳變到所述第二頻率過程中的輸出電壓。
[0041]同步驟SI和步驟S2 —樣，采用所述ATE測試設(shè)備的電壓測量模塊來測量所述鎖相環(huán)從所述第一頻率跳變到所述第二頻率過程中的輸出電壓。
[0042]S32:對(duì)所述輸出電壓進(jìn)行濾波處理。
[0043]步驟S31中所獲取的所述輸出電壓有很多噪聲，需要對(duì)其進(jìn)行濾波處理?？梢酝ㄟ^物理連接外部濾波器對(duì)所述輸出電壓進(jìn)行濾波，也就是說可以通過與所述ATE測試設(shè)備連接的濾波器過濾掉所述輸出電壓中的噪聲。還可以通過軟件的方式對(duì)所述輸出電壓進(jìn)行濾波處理，也就是說在程序設(shè)計(jì)過程中對(duì)所述輸出電壓進(jìn)行濾波處理，以減少噪聲對(duì)所述輸出電壓的影響。
[0044]S33:所述ATE測試設(shè)備按照一第一采樣頻率對(duì)進(jìn)行過濾波處理后的所述輸出電壓進(jìn)行采樣，并將相應(yīng)的采樣點(diǎn)存儲(chǔ)在一數(shù)組中。
[0045]利用所述ATE測試設(shè)備上的高精度模擬信號(hào)采集模塊，且所述高