本實(shí)用新型涉及網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種測(cè)試板卡。

背景技術(shù)：

多功能車輛總線(Multifunction Vehicle Bus，MVB)是由來(lái)自不同供應(yīng)商的器件組成的總線電路。在實(shí)際使用過(guò)程中，需要保證MVB的各個(gè)器件具有良好的兼容性，才能保證MVB正常工作。因此，對(duì)MVB各器件的網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試，是搭建MVB的首要前提。

在現(xiàn)有的對(duì)MVB的網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試技術(shù)中，通常由技術(shù)人員采用手動(dòng)測(cè)試的方式進(jìn)行。技術(shù)人員根據(jù)網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試規(guī)范中的規(guī)定，逐一對(duì)MVB中的各個(gè)器件進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試。由于在測(cè)試過(guò)程中，對(duì)不同器件的網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試需要使用到不同的測(cè)試設(shè)備，因此，技術(shù)人員需要頻繁地更換測(cè)試設(shè)備，才能完成對(duì)MVB所有器件的網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試，其過(guò)程繁瑣，且需要花費(fèi)大量的連線及連接設(shè)備的時(shí)間，測(cè)試效率較低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

基于上述現(xiàn)有技術(shù)的缺陷和不足，本實(shí)用新型提出一種測(cè)試板卡，使用該測(cè)試板卡對(duì)MVB進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試，不需要技術(shù)人員頻繁更換測(cè)試設(shè)備。

一種測(cè)試板卡，包括：

設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元、控制模塊、電源模塊及供電控制模塊；

其中，所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元分別與所述控制模塊連接，用于連接被測(cè)設(shè)備和測(cè)試設(shè)備，根據(jù)所述控制模塊的控制指令，控制所述測(cè)試設(shè)備，對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試；

所述控制模塊，用于與控制設(shè)備連接，根據(jù)所述控制設(shè)備的測(cè)試指令生成控制指令；所述控制指令用于控制所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試，以及控制所述供電控制模塊為所述被測(cè)設(shè)備供電；

所述電源模塊，與所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元、所述控制模塊以及所述供電控制模塊連接，用于為所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元、所述控制模塊以及所述供電控制模塊供電；

所述供電控制模塊，與所述控制模塊連接，用于為所述被測(cè)設(shè)備供電。

優(yōu)選地，所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元，包括：

終端阻抗測(cè)試單元、電感測(cè)試單元、插入損耗測(cè)試單元、波形測(cè)試單元、接收器行為測(cè)試單元、幀間隔測(cè)試單元、功能測(cè)試單元、冗余測(cè)試單元、中繼器測(cè)試1單元、中繼器測(cè)試2單元。

優(yōu)選地，所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元連接被測(cè)設(shè)備時(shí)，具體用于：

所述終端阻抗測(cè)試單元、所述電感測(cè)試單元、所述插入損耗測(cè)試單元、所述波形測(cè)試單元、所述接收器行為測(cè)試單元、所述幀間隔測(cè)試單元、所述功能測(cè)試單元和所述冗余測(cè)試單元連接常規(guī)被測(cè)設(shè)備；所述中繼器測(cè)試1單元和所述中繼器測(cè)試2單元連接中繼器被測(cè)設(shè)備。

優(yōu)選地，所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元連接測(cè)試設(shè)備時(shí)，具體用于：

所述終端阻抗測(cè)試單元連接萬(wàn)用表；所述電感測(cè)試單元連接LCR分析儀；所述插入損耗測(cè)試單元連接信號(hào)發(fā)生器和示波器；所述波形測(cè)試單元連接陪試設(shè)備和示波器；所述接收器行為測(cè)試單元連接陪試設(shè)備和示波器；所述幀間隔測(cè)試單元連接FPGA板卡、陪試設(shè)備和示波器；所述功能測(cè)試單元連接陪試設(shè)備；所述冗余測(cè)試單元連接陪試設(shè)備和信號(hào)發(fā)生器；所述中繼器測(cè)試1單元連接陪試設(shè)備、FPGA板卡和示波器；所述中繼器測(cè)試2單元連接陪試設(shè)備。

優(yōu)選地，所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元通過(guò)D型數(shù)據(jù)接口連接器DB9連接被測(cè)設(shè)備和測(cè)試設(shè)備。

優(yōu)選地，所述控制模塊通過(guò)RS232串行通信接口與控制設(shè)備連接。

優(yōu)選地，所述控制指令控制所述供電控制模塊為所述被測(cè)設(shè)備供電時(shí)，具體用于：

控制所述供電控制模塊為所述被測(cè)設(shè)備的供電繼電器提供5V直流電源。

本實(shí)用新型提出的測(cè)試板卡，包括設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元、控制模塊、電源模塊及供電控制模塊；其中，所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元分別與所述控制模塊連接，用于連接被測(cè)設(shè)備和測(cè)試設(shè)備，根據(jù)所述控制模塊的控制指令，控制所述測(cè)試設(shè)備，對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試；所述控制模塊，用于與控制設(shè)備連接，根據(jù)所述控制設(shè)備的測(cè)試指令生成控制指令；所述控制指令用于控制所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試，以及控制所述供電控制模塊為所述被測(cè)設(shè)備供電；所述電源模塊，與所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元、所述控制模塊以及所述供電控制模塊連接，用于為所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元、所述控制模塊以及所述供電控制模塊供電；所述供電控制模塊，與所述控制模塊連接，用于為所述被測(cè)設(shè)備供電。采用上述測(cè)試板卡對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試，只需通過(guò)控制模塊控制測(cè)試單元即可實(shí)現(xiàn)測(cè)試設(shè)備的切換，省去在測(cè)試過(guò)程中更換測(cè)試設(shè)備的工作，測(cè)試效率更高。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)提供的附圖獲得其他的附圖。

圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種測(cè)試板卡的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的另一種測(cè)試板卡的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種測(cè)試板卡的終端阻抗測(cè)試電路示意圖；

圖4是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種測(cè)試板卡的電感測(cè)試電路的示意圖；

圖5是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種測(cè)試板卡的插入損耗測(cè)試電路的示意圖；

圖6是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種測(cè)試板卡的波形測(cè)試電路的示意圖；

圖7是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種測(cè)試板卡的接收器行為測(cè)試電路的示意圖；

圖8是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種測(cè)試板卡的幀間隔測(cè)試電路的示意圖；

圖9是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種測(cè)試板卡的功能測(cè)試電路的示意圖；

圖10是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種測(cè)試板卡的冗余測(cè)試電路的示意圖；

圖11是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種測(cè)試板卡的中繼器測(cè)試1電路的示意圖；

圖12是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種測(cè)試板卡的中繼器測(cè)試2電路的示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

一種測(cè)試板卡，參見(jiàn)圖1所示，包括：

設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元、控制模塊101、電源模塊102及供電控制模塊103；

其中，所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元分別與所述控制模塊101連接，用于連接被測(cè)設(shè)備和測(cè)試設(shè)備，根據(jù)所述控制模塊101的控制指令，控制所述測(cè)試設(shè)備，對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試；

具體的，各個(gè)測(cè)試單元內(nèi)部，實(shí)際上是用于對(duì)多功能車輛總線MVB進(jìn)行功能測(cè)試的測(cè)試電路，其功能主要是控制被測(cè)設(shè)備與測(cè)試設(shè)備之間的電路繼電器的通斷。具體的，在控制模塊101的控制下，各個(gè)測(cè)試單元內(nèi)部的電路按照設(shè)定規(guī)則控制測(cè)試設(shè)備與被測(cè)設(shè)備之間電路中的繼電器的通斷，完成對(duì)被測(cè)設(shè)備的功能測(cè)試。

所述控制模塊101，用于與控制設(shè)備連接，根據(jù)所述控制設(shè)備的測(cè)試指令生成控制指令；所述控制指令用于控制所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試，以及控制所述供電控制模塊103為所述被測(cè)設(shè)備供電；

具體的，控制模塊101與外置的控制設(shè)備，如計(jì)算機(jī)等連接。在控制設(shè)備上，通過(guò)軟件實(shí)現(xiàn)對(duì)控制模塊101的控制。具體的，控制模塊101將控制設(shè)備發(fā)送的控制指令，轉(zhuǎn)換成用于控制測(cè)試單元內(nèi)部電路開(kāi)關(guān)的開(kāi)關(guān)信令。通過(guò)控制測(cè)試單元內(nèi)部電路開(kāi)關(guān)的通斷，實(shí)現(xiàn)控制測(cè)試設(shè)備與被測(cè)設(shè)備之間的電路通斷，從而達(dá)到控制測(cè)試設(shè)備完成對(duì)被測(cè)設(shè)備的網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試的目的。另一方面，控制模塊101控制供電控制模塊103為被測(cè)設(shè)備提供符合要求的電源。

所述電源模塊102，與所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元、所述控制模塊101以及所述供電控制模塊103連接，用于為所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元、所述控制模塊101以及所述供電控制模塊103供電；

所述供電控制模塊103，與所述控制模塊101連接，用于為所述被測(cè)設(shè)備供電。

具體的，供電控制模塊103在控制模塊101的控制下，將電源模塊102提供的電源，轉(zhuǎn)換成符合被測(cè)設(shè)備用電要求的電壓，提供給被測(cè)設(shè)備。

本實(shí)用新型提出的測(cè)試板卡，包括設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元、控制模塊、電源模塊及供電控制模塊；其中，所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元分別與所述控制模塊連接，用于連接被測(cè)設(shè)備和測(cè)試設(shè)備，根據(jù)所述控制模塊的控制指令，控制所述測(cè)試設(shè)備，對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試；所述控制模塊，用于與控制設(shè)備連接，根據(jù)所述控制設(shè)備的測(cè)試指令生成控制指令；所述控制指令用于控制所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試，以及控制所述供電控制模塊為所述被測(cè)設(shè)備供電；所述電源模塊，與所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元、所述控制模塊以及所述供電控制模塊連接，用于為所述設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元、所述控制模塊以及所述供電控制模塊供電；所述供電控制模塊，與所述控制模塊連接，用于為所述被測(cè)設(shè)備供電。采用上述測(cè)試板卡對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)一致性測(cè)試，只需通過(guò)控制模塊控制測(cè)試單元即可實(shí)現(xiàn)測(cè)試設(shè)備的切換，省去在測(cè)試過(guò)程中更換測(cè)試設(shè)備的工作，測(cè)試效率更高。

可選的，在本實(shí)用新型的另一個(gè)實(shí)施例中，參見(jiàn)圖2所示，設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元，包括：

終端阻抗測(cè)試單元104、電感測(cè)試單元105、插入損耗測(cè)試單元106、波形測(cè)試單元107、接收器行為測(cè)試單元108、幀間隔測(cè)試單元109、功能測(cè)試單元110、冗余測(cè)試單元111、中繼器測(cè)試1單元112、中繼器測(cè)試2單元113。

具體的，上述終端阻抗測(cè)試單元104內(nèi)部的終端阻抗測(cè)試電路如圖3所示，終端阻抗測(cè)試電路實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)設(shè)備(Implementation Under Test，IUT)與萬(wàn)用表的連接切換，其工作原理如下：

(1)被測(cè)設(shè)備完全下電，控制萬(wàn)用表接入繼電器及IUT接入繼電器，分別測(cè)量IUT被測(cè)設(shè)備連接器1的A1_Data_P&A1_Data_N、B1_Data_P&B1_Data_N、A1_Term_P&A1_Term_N、B1_Term_P&B1_Term_N之間的電阻值。

(2)針對(duì)IUT被測(cè)設(shè)備連接器2，執(zhí)行相同的測(cè)試。

上述電感測(cè)試電路105內(nèi)部的電感測(cè)試電路如圖4所示，電感測(cè)試電路實(shí)現(xiàn)對(duì)IUT被測(cè)設(shè)備與LCR測(cè)試儀的連接切換，其工作原理如下：

(1)控制LCR測(cè)試儀接入繼電器及短路控制繼電器，進(jìn)行LCR測(cè)試儀校正工作。

(2)被測(cè)設(shè)備完全下電，控制LCR分析儀接入繼電器及IUT接入繼電器，分別測(cè)量IUT被測(cè)設(shè)備連接器1的A1_Term_P&A1_Term_N、B1_Term_P&B1_Term_N引腳之間的相位角。

(3)針對(duì)IUT被測(cè)設(shè)備連接器2，執(zhí)行相同的測(cè)試。

上述插入損耗測(cè)試單元106內(nèi)部的插入損耗測(cè)試電路如圖5所示，插入損耗測(cè)試電路實(shí)現(xiàn)對(duì)IUT被測(cè)設(shè)備、信號(hào)發(fā)生器及示波器的連接切換，其工作原理如下：

(1)接通信號(hào)發(fā)生器、示波器及20m線短路繼電器，通過(guò)調(diào)整信號(hào)發(fā)生器輸出的幅值使得示波器測(cè)得的電壓值為V0(有效值，對(duì)應(yīng)的正弦波信號(hào)最大值為4V)。

(2)接通信號(hào)發(fā)生器、示波器及被測(cè)設(shè)備A通道的接入繼電器，接通A通道電路，測(cè)試A通道的信號(hào)幅值V1，通過(guò)公式IL＝-20logV1/V0獲取A通道的插入損耗值；然后給設(shè)備上電，測(cè)量設(shè)備上電時(shí)的信號(hào)幅值，用同樣的公式計(jì)算設(shè)備上電時(shí)的插入損耗值。

(3)針對(duì)被測(cè)設(shè)備B通道重復(fù)上述測(cè)試。

上述波形測(cè)試單元107內(nèi)部的波形測(cè)試電路如圖6所示，波形測(cè)試電路實(shí)現(xiàn)對(duì)IUT被測(cè)設(shè)備、陪試設(shè)備3(TE3)及示波器的連接切換。電路中，IUT的連接器2的輸入端采用濾波器進(jìn)行測(cè)試電路反射波抑制，保證反射波不影響測(cè)試結(jié)果(波形的超調(diào)量及信號(hào)幅值)，測(cè)試電路中的電阻采用1％精度的電阻。其工作原理如下：

(1)接通陪試設(shè)備3(TE3)B通道、被測(cè)設(shè)備IUT的A通道，以及示波器的通道CH1，分別接入測(cè)試電路(重載測(cè)試電路、輕載測(cè)試電路、閑置測(cè)試電路)，測(cè)試信號(hào)的波形。

(2)接通陪試設(shè)備3(TE3)A通道、被測(cè)設(shè)備IUT的B通道，以及示波器的通道CH2，分別接入測(cè)試電路(重載測(cè)試電路、輕載測(cè)試電路、閑置測(cè)試電路)，測(cè)試信號(hào)的波形。

上述接收器行為測(cè)試單元108內(nèi)部的接收器行為測(cè)試電路如圖7所示，接收器行為測(cè)試電路實(shí)現(xiàn)對(duì)IUT被測(cè)設(shè)備、陪試設(shè)備1(TE1)、陪試設(shè)備2(TE2)、衰減電阻及示波器的連接切換。電路中，衰減電阻電路采用程控電阻矩陣的方式，通過(guò)9組電阻實(shí)現(xiàn)0～2048Ω的衰減電阻模擬，步進(jìn)4Ω，衰減電阻可在A通道或B通道使用，可程控切換。其工作原理如下：

(1)接通被測(cè)設(shè)備IUT、陪試設(shè)備1(TE1)、陪試設(shè)備2(TE2)的A通道，以及示波器的通道1，程控調(diào)整衰減電阻的阻值，分別使得主幀信號(hào)的波形衰減到300mV、750mV，判斷被測(cè)設(shè)備能否正常響應(yīng)從幀。

(2)接通被測(cè)設(shè)備IUT、陪試設(shè)備1(TE1)、陪試設(shè)備2(TE2)的B通道，以及示波器的通道2，程控調(diào)整衰減電阻的阻值，分別使得主幀信號(hào)的波形衰減到300mV、750mV，判斷被測(cè)設(shè)備能否正常響應(yīng)從幀。

上述幀間隔測(cè)試單元109內(nèi)部的幀間隔測(cè)試電路如圖8所示，幀間隔測(cè)試電路實(shí)現(xiàn)對(duì)IUT被測(cè)設(shè)備、FPGA激勵(lì)信號(hào)、陪試設(shè)備2(TE2)及示波器的連接切換，其工作原理如下：

(1)接通被測(cè)設(shè)備IUT、陪試設(shè)備2(TE2)及終端電阻的A通道，以及示波器的通道1，并接通FPGA激勵(lì)信號(hào)，分別測(cè)試主幀和從幀時(shí)間間隔、主幀與主幀時(shí)間間隔及宿設(shè)備對(duì)主幀與從幀時(shí)間間隔為T_ignore＝42.7us的接收能力。

(2)針對(duì)B通道重復(fù)上述測(cè)試。

上述功能測(cè)試單元110內(nèi)部的功能測(cè)試電路如圖9所示，功能測(cè)試電路實(shí)現(xiàn)對(duì)IUT被測(cè)設(shè)備、陪試設(shè)備2(TE2)的連接切換，其工作原理如下：

(1)接通被測(cè)設(shè)備IUT、陪試設(shè)備2(TE2)及終端電阻的A通道，通過(guò)測(cè)試設(shè)備檢測(cè)通訊功能是否正常。

(2)針對(duì)B通道重復(fù)上述測(cè)試。

上述冗余測(cè)試單元111內(nèi)部的冗余測(cè)試電路如圖10所示，冗余測(cè)試電路實(shí)現(xiàn)對(duì)IUT被測(cè)設(shè)備、陪試設(shè)備2(TE2)、信號(hào)發(fā)生器及地的連接切換，其工作原理如下：

接通被測(cè)設(shè)備IUT、陪試設(shè)備2(TE2)及終端電阻的A通道，分別制造線路故障情況如下：(1)A通道斷開(kāi)(2)A通道中其中的一根線斷開(kāi)(3)A通道的一根線與屏蔽地短路(4)A通道的兩根線短接(5)采用信號(hào)發(fā)生器對(duì)A通道進(jìn)行干擾。通過(guò)測(cè)試設(shè)備檢測(cè)通訊功能是否正常。

上述中繼器測(cè)試1單元112內(nèi)部的中繼器測(cè)試1電路如圖11所示，中繼器測(cè)試1電路實(shí)現(xiàn)對(duì)IUT被測(cè)設(shè)備、陪試設(shè)備1(TE1)、陪試設(shè)備2(TE2)、FPGA激勵(lì)信號(hào)及示波器等的連接切換。激勵(lì)信號(hào)采用FPGA+MVB信號(hào)收發(fā)電路的方式生成，實(shí)現(xiàn)靈活的激勵(lì)信號(hào)輸入，可接收TTL電平脈沖信號(hào)，MVB收發(fā)電路采用收發(fā)器(MAX3292ESD或MAX3088ESA)+變壓器(T60403-Y4021-X123)組合，可在預(yù)加重波形及非預(yù)加重模型兩種模式進(jìn)行程控切換，以適應(yīng)不同被測(cè)樣件的需求。其工作原理如下：

(1)接通中繼器被測(cè)設(shè)備IUT段1與陪試設(shè)備1(TE1)的A通道，以及示波器的通道CH2，并接通FPGA激勵(lì)信號(hào)，檢查中繼器對(duì)MVB信號(hào)的轉(zhuǎn)發(fā)能力。

(2)接通中繼器被測(cè)設(shè)備IUT段2與陪試設(shè)備2(TE2)的A通道，以及示波器的通道CH1，并接通FPGA激勵(lì)信號(hào)，檢查中繼器對(duì)MVB信號(hào)的轉(zhuǎn)發(fā)能力。

(3)針對(duì)B通道重復(fù)上述測(cè)試。

上述中繼器測(cè)試2單元113內(nèi)部的中繼器測(cè)試2電路如圖12所示，中繼器測(cè)試2電路實(shí)現(xiàn)對(duì)IUT被測(cè)設(shè)備與陪試設(shè)備1(TE1)、陪試設(shè)備2(TE2)、陪試設(shè)備3(TE3)的連接切換，其工作原理如下：

(1)接通陪試設(shè)備1(TE1)、陪試設(shè)備3(TE3)、中繼器被測(cè)設(shè)備IUT段1及陪試設(shè)備2(TE2)的A通道，并接入中繼器及陪試設(shè)備2(TE2)的A通道終端電阻，檢查中繼器對(duì)碰撞處理。

(2)接通陪試設(shè)備1(TE1)、陪試設(shè)備3(TE3)、中繼器被測(cè)設(shè)備IUT段2及陪試設(shè)備2(TE2)的B通道，并接入中繼器及陪試設(shè)備2(TE2)的B通道終端電阻，檢查中繼器對(duì)碰撞處理。

(3)針對(duì)B通道重復(fù)上述測(cè)試。

可選的，在本實(shí)用新型的另一個(gè)實(shí)施例中，設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元連接被測(cè)設(shè)備時(shí)，具體用于：

所述終端阻抗測(cè)試單元104、所述電感測(cè)試單元105、所述插入損耗測(cè)試單元106、所述波形測(cè)試單元107、所述接收器行為測(cè)試單元108、所述幀間隔測(cè)試單元109、所述功能測(cè)試單元110和所述冗余測(cè)試單元111連接常規(guī)被測(cè)設(shè)備；所述中繼器測(cè)試1單元112和所述中繼器測(cè)試2單元113連接中繼器被測(cè)設(shè)備。

具體的，如圖2所示，根據(jù)各個(gè)測(cè)試單元所測(cè)試的功能的不同，連接相應(yīng)的被測(cè)設(shè)備。

可選的，在本實(shí)用新型的另一個(gè)實(shí)施例中，設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元連接測(cè)試設(shè)備時(shí)，具體用于：

所述終端阻抗測(cè)試單元104連接萬(wàn)用表；所述電感測(cè)試單元105連接LCR分析儀；所述插入損耗測(cè)試單元106連接信號(hào)發(fā)生器和示波器；所述波形測(cè)試單元107連接陪試設(shè)備和示波器；所述接收器行為測(cè)試單元108連接陪試設(shè)備和示波器；所述幀間隔測(cè)試單元109連接FPGA板卡、陪試設(shè)備和示波器；所述功能測(cè)試單元110連接陪試設(shè)備；所述冗余測(cè)試單元111連接陪試設(shè)備和信號(hào)發(fā)生器；所述中繼器測(cè)試1單元112連接陪試設(shè)備、FPGA板卡和示波器；所述中繼器測(cè)試2單元113連接陪試設(shè)備。

具體的，參見(jiàn)圖2所示，根據(jù)各個(gè)測(cè)試單元所測(cè)試的被測(cè)設(shè)備，選擇相應(yīng)的測(cè)試設(shè)備進(jìn)行連接，便于利用測(cè)試設(shè)備對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行功能測(cè)試。

可選的，在本實(shí)用新型的另一個(gè)實(shí)施例中，設(shè)定數(shù)量的測(cè)試單元通過(guò)D型數(shù)據(jù)接口連接器DB9連接被測(cè)設(shè)備和測(cè)試設(shè)備。

具體的，在本實(shí)用新型實(shí)施例中，各個(gè)測(cè)試單元通過(guò)DB9專用連接器與被測(cè)設(shè)備和測(cè)試設(shè)備連接。需要說(shuō)明的是，由于被測(cè)設(shè)備采用的是DB9接口，因此，本實(shí)用新型實(shí)施例也采用DB9接口與被測(cè)設(shè)備連接，以實(shí)現(xiàn)接口統(tǒng)一。顯而易見(jiàn)的，當(dāng)本實(shí)用新型應(yīng)用于測(cè)試其它設(shè)備時(shí)，可以根據(jù)被測(cè)設(shè)備或測(cè)試設(shè)備的接口，靈活選取數(shù)據(jù)接口。在連接測(cè)試設(shè)備時(shí)，還可以通過(guò)專用測(cè)試線，實(shí)現(xiàn)DB9接口與被測(cè)設(shè)備的連接。

可選的，在本實(shí)用新型的另一個(gè)實(shí)施例中，控制模塊101通過(guò)RS232串行通信接口與控制設(shè)備連接。

具體的，在本實(shí)用新型實(shí)施例中，根據(jù)控制設(shè)備的接口，選取與控制設(shè)備的接口類型。在本實(shí)用新型實(shí)施例中，選用計(jì)算機(jī)為控制設(shè)備，計(jì)算機(jī)中配置有RS232串行接口，因此，本實(shí)用新型選用RS232串行通信接口與控制設(shè)備連接。顯而易見(jiàn)的，在實(shí)際使用本實(shí)用新型時(shí)，可以靈活選取控制模塊101與控制設(shè)備之間的通信接口。

可選的，在本實(shí)用新型的另一個(gè)實(shí)施例中，所述控制指令控制所述供電控制模塊103為所述被測(cè)設(shè)備供電時(shí)，具體用于：

控制所述供電控制模塊103為所述被測(cè)設(shè)備的供電繼電器提供5V直流電源。

具體的，控制模塊101生成用于控制供電控制模塊103的供電電壓的指令，控制供電控制模塊103將電源模塊102提供的電源轉(zhuǎn)換成5V直流電源，并輸出給被測(cè)設(shè)備的供電繼電器。另一方面，控制模塊101還能進(jìn)一步控制供電控制模塊103供電的啟停，以實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)設(shè)備的上電與下電控制。

對(duì)所公開(kāi)的實(shí)施例的上述說(shuō)明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本實(shí)用新型。對(duì)這些實(shí)施例的多種修改對(duì)本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來(lái)說(shuō)將是顯而易見(jiàn)的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本實(shí)用新型的精神或范圍的情況下，在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此，本實(shí)用新型將不會(huì)被限制于本文所示的這些實(shí)施例，而是要符合與本文所公開(kāi)的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬的范圍。