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      一種氣相重?fù)搅讌^(qū)熔硅單晶的生產(chǎn)方法

      文檔序號:8143029閱讀:620來源:國知局
      專利名稱:一種氣相重?fù)搅讌^(qū)熔硅單晶的生產(chǎn)方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種硅單晶的生產(chǎn)方法,特別是一種氣相重?fù)搅讌^(qū)熔硅單晶的生產(chǎn)方 法。
      背景技術(shù)
      重?fù)焦鑶尉?,其單晶電阻率可達(dá)10_2 10_3Ω ^m,主要用于制造超大規(guī)模集成電 路開關(guān)電源、彩色電視中的變?nèi)荻O管等,市場前景相當(dāng)廣闊。目前幾乎所有生產(chǎn)重?fù)焦鑶?晶的方法都使用直拉法,其生產(chǎn)的硅單晶,或是因氧含量高而引起電阻率熱不穩(wěn)定性和可 逆性,造成直拉重?fù)焦鑶尉г谙嚓P(guān)的器件制造過程中的局限性的。如果能采用區(qū)熔法來生 產(chǎn)重?fù)搅坠鑶尉t可以有效的控制單晶中氧雜質(zhì)含量及軸向電阻率。磷烷作為區(qū)熔常規(guī)的 摻雜氣體,在進(jìn)行區(qū)熔氣相重?fù)诫s單晶生產(chǎn)過程中會出現(xiàn)很多的問題。首先,在重?fù)诫s情況進(jìn)行拉晶的過程中,電磁銅線圈的表面會逐漸變成黑色,從而 導(dǎo)致拉晶無法正常進(jìn)行。這主要是因為,磷烷受熱會分解為單質(zhì)磷和氫氣,在重?fù)诫s情況 下,單質(zhì)磷和電磁銅線圈在高溫下會反應(yīng)生成CU3P2而毀壞線圈。其次,運用一般的區(qū)熔氣 摻拉晶工藝進(jìn)行重?fù)搅桌r,經(jīng)常會出現(xiàn)銅線圈打火的問題,這是由于在高溫和重?fù)角?況下,磷雜質(zhì)已電離致使銅線圈的正負(fù)極直接導(dǎo)電。還有,由于拉晶過程中爐膛溫度很高, 磷烷的入氣管道的地方磷烷就已分解為磷,在重?fù)降那闆r下,大量分解的單質(zhì)磷會堵塞摻 雜管道使得無法進(jìn)行氣相摻雜。最后,在區(qū)熔重?fù)搅椎睦н^程中經(jīng)常會出現(xiàn)大量位錯而 導(dǎo)致無法成晶的問題。因此,現(xiàn)有的區(qū)熔的銅線圈已無法正常完成重?fù)搅坠鑶尉У睦Ч?作,同時采用怎樣的重?fù)搅讌^(qū)熔拉晶工藝也是需要攻破的技術(shù)難題。

      發(fā)明內(nèi)容
      鑒于上述所存在的問題,本發(fā)明的目的就是提供一種氣相重?fù)搅讌^(qū)熔硅單晶的生 產(chǎn)方法,在重?fù)诫s情況進(jìn)行拉晶的過程中,采用具有雙水路水冷的電磁銅線圈,在正常拉晶 過程中,線圈的溫度可以控制在10-20°C之間,這樣有效避免了高溫下磷與銅線圈發(fā)生化學(xué) 反應(yīng)損壞線圈這種問題,從而導(dǎo)致拉晶無法正常進(jìn)行。另外,由于多晶棒靠近線圈的正負(fù)極縫隙處的受熱最強(qiáng),在拉晶過程中采用將線 圈位置水平偏置的辦法,使得多晶棒盡可能接近縫隙從而多晶棒最大程度地受熱,這樣可 以減小拉晶時的平均功率和爐膛作業(yè)溫度,有效緩解摻雜管道堵塞問題。在氣相摻雜過程中加入保護(hù)氣氮氣,有效地減小位錯的生成保證拉晶地正常進(jìn) 行。利用該重?fù)诫s電磁銅線圈,通過區(qū)熔重?fù)搅桌Чに?,可成功地實現(xiàn)氣相重?fù)搅讌^(qū)熔硅 單晶的生產(chǎn)。本發(fā)明的目的是通過這樣的技術(shù)方案實現(xiàn)的一種氣相重?fù)搅讌^(qū)熔硅單晶的生產(chǎn) 方法,包括區(qū)熔氣相重?fù)诫s和拉晶工藝,其特征在于所述區(qū)熔氣相重?fù)诫s和拉晶工藝中采 用的區(qū)熔氣相重?fù)诫s電磁銅線圈為具有雙水路水冷的電磁銅線圈,在正常拉晶過程中,線 圈的溫度可以控制在10-20°C之間,所述區(qū)熔氣相重?fù)诫s和拉晶工藝包括如下次序步驟
      (1)裝爐、抽真空、充氬氣利用纖維紙擦拭爐膛、電磁銅線圈、保溫桶、多晶與籽 晶夾持器及摻雜進(jìn)氣管道的管口 ;將多晶硅棒固定在多晶夾持器上;將籽晶裝入籽晶夾持 器上;關(guān)閉爐門,抽真空充氬氣,氬氣氣體流量控制在10士 lL/min ;(2)硅棒預(yù)熱、化料打開發(fā)生器電源,調(diào)節(jié)電壓設(shè)定值到15-25%對硅棒進(jìn)行預(yù) 熱;待硅棒微紅,調(diào)節(jié)電壓設(shè)定值到30-50%,啟動上轉(zhuǎn)為3-4rpm化料;(3)充入重?fù)诫s氣體磷烷及保護(hù)氣氮氣打開觸摸屏上的摻雜開關(guān),充入?yún)^(qū)熔爐 的重?fù)诫s氣體磷烷氣體流量和氮氣的氣體流量之比控制在1 10到1 20之間;(4)引晶,生長細(xì)徑將籽晶與熔區(qū)點接觸,同時啟動上、下部傳送裝置,調(diào)整電壓 設(shè)定值到40-50%,以生長細(xì)徑;(5)放肩、線圈偏置、等徑生長生長完細(xì)頸后開始放肩,調(diào)整電壓設(shè)定值到 50-60%放肩到要求的直徑后,先將線圈向線圈正負(fù)極縫隙的反方向偏置3-5mm,緩慢調(diào)整 電壓設(shè)定值到40-50%左右,再進(jìn)行等徑生長單晶;(6)收尾、拉斷;(7)停氣、停爐、拆爐。根據(jù)上述方法生產(chǎn)的氣相重?fù)搅讌^(qū)熔硅單晶具有氧含量Ippm以下;軸向電阻率均勻度士 10%以內(nèi);電阻率0· 002Ω. cm。本發(fā)明的重?fù)搅讌^(qū)熔硅單晶的拉晶工藝,采用具有雙水路水冷的電磁銅線圈,由 于具有雙水路的水冷作用,在正常拉晶過程中,線圈的溫度可以控制在10-20°C之間,這樣 有效避免了高溫下磷與銅線圈發(fā)生化學(xué)反應(yīng)損壞線圈的問題,同時也解決了雜質(zhì)磷在線圈 附近由于高溫電離而導(dǎo)致線圈打火的問題,采用本發(fā)明方法所生產(chǎn)的氣相重?fù)搅讌^(qū)熔硅單 晶具有氧含量低(lppm以下)、軸向電阻率均勻(士 10%以內(nèi))、電阻率低(最低可以達(dá)到 0. 002 Ω. cm)等特點。由于這些特點很好地滿足了瞬態(tài)電壓抑制器(TVS)對于硅襯底材料 的嚴(yán)格要求,運用該發(fā)明方法生產(chǎn)重?fù)搅讌^(qū)熔硅單晶以滿足國內(nèi)外TVS器件對于硅襯底材 料的需要。


      圖1是本發(fā)明中雙水路水冷的電磁銅線圈示意圖。圖中,雙水路水冷的電磁銅線圈包括1.雙水路,2.雙水路入水管道,3.雙水路出 水管道,4.電源正負(fù)極端口。
      具體實施例方式為了更清楚的理解本發(fā)明,結(jié)合附圖和實施例詳細(xì)描述本發(fā)明如圖1所示雙水路水冷的電磁銅線圈包括雙水路1,雙水路入水管道2,雙水路出 水管道3,電源正負(fù)極端口 4;采用具有雙水路水冷的電磁銅線圈,在正常拉晶過程中,線圈 的溫度可以控制在10-20°C之間,有效降低溫度,這樣有效避免了高溫下磷與銅線圈發(fā)生化 學(xué)反應(yīng)損壞線圈這種問題,從而導(dǎo)致拉晶無法正常進(jìn)行。下面給出具體的實施案例,進(jìn)一步說明本發(fā)明是如何實現(xiàn)的。
      1.本實施案例的主要設(shè)備及原材料如下區(qū)熔爐型號FZ_30 ;摻雜控制器型號0154E ;多晶硅一級料基硼彡9000 Ω · cm 基磷彡900 Ω · cm ;高純氬氣露點-70°C 純度> 99. 9993% 氧含量< IPPma ;氫氟酸優(yōu)級純;硝酸優(yōu)級純;磷烷純度99·999% ;籽晶檢驗標(biāo)準(zhǔn)按《硅片檢測操作規(guī)程》。2.本實施案例主要原材料消耗定額拉制lkg04"合格單晶一次成晶需消耗(以美國ASIMI的硅材料為例)多晶硅1. 8kg ;氫氟酸0. 08L ;硝酸0. 4L ;氬氣:2m3 ;籽晶每顆單晶1-2顆。3.以下是氣相摻雜區(qū)熔硅單晶的生產(chǎn)方法的具體步驟(1)裝爐、抽空、充氬氣操作者利用纖維紙擦拭爐膛、電磁銅線圈、保溫桶、多晶 與籽晶夾持器及三路聯(lián)合進(jìn)氣管道的管口 ;將多晶硅棒固定在多晶夾持器上;將籽晶裝入 籽晶夾持器上;關(guān)閉爐室、爐門,擰緊爐門固定螺栓,抽真空、充氬氣。在觸屏上設(shè)定抽空程 序設(shè)定氬氣流量為lOL/min,抽空程序包括抽空次數(shù)(2次)、抽空后室壓力為0. 050mbar,抽 空時間取決于抽空壓力,啟動自動抽空至自動抽空結(jié)束。(2)硅棒預(yù)熱、化料打開發(fā)生器電源,調(diào)節(jié)電壓設(shè)定值到15-25%對硅棒進(jìn)行預(yù) 熱;待硅棒微紅,調(diào)節(jié)電壓設(shè)定值到30-50%,啟動上轉(zhuǎn)為3-4rpm化料;(3)充入重?fù)诫s氣體磷烷及保護(hù)氣氮氣打開觸摸屏上的摻雜開關(guān),充入?yún)^(qū)熔爐 的重?fù)诫s氣體磷烷氣體流量和氮氣的氣體流量之比控制在1 10左右。例重?fù)搅淄闅怏w濃度下拉制Φ4" (101. 4mm),電阻率0. 005-0· 02 Ω . cm單晶。多晶料N型 <111>,電阻率 400 Ω .cm,0110-120mm摻雜劑量磷烷氣體流量100 士 lOmL/min,而充入氮氣的氣體流量控制在 1000士100mL/min。(4)引晶,生長細(xì)徑將籽晶與熔區(qū)點接觸,調(diào)整電壓設(shè)定值到40-50%,并確保熔 區(qū)長度為8 10mm,回熔區(qū)的直徑在7 9mm。減小功率并停止下部傳送,增加下轉(zhuǎn),停止 上部傳送,以生長細(xì)徑。然后不斷調(diào)節(jié)功率以保持恒定的熔區(qū)高度(15mm),要不斷調(diào)節(jié)上速 以保持恒定的直徑。(5)放肩、線圈偏置、等徑生長生長完細(xì)頸后開始放肩,使用上速控制放肩角度, 放肩角度應(yīng)<60°。用功率的變化控制熔區(qū)的形狀,調(diào)整電壓設(shè)定值到50-60%放肩到 要求的直徑后,先將線圈向線圈正負(fù)極縫隙的反方向偏置3-5mm,緩慢調(diào)整電壓設(shè)定值到 40-50%左右,再進(jìn)行等徑生長單晶;根據(jù)上料直徑、單晶直徑和單晶走速計算上壓速度,計 算公式如下V±= (Dt/D±)2XVt。再根據(jù)上料的大小和單晶爐的下部行程定時1 2小 時,定時器報警時開始釋放夾持器。(6)收尾、拉斷當(dāng)上限位報警時,開始緩慢的降低上速,保持單晶的生長到最后 拉斷。拉斷晶體時逐漸降低上部壓速和功率,使單晶直徑減小至20mm,拉斷晶體。(7)停氣、停爐、拆爐在觸摸屏上關(guān)閉摻雜開關(guān),并關(guān)閉摻雜氣體控制裝置。熔區(qū) 拉斷后,進(jìn)行慢速降溫過程。當(dāng)觀察到晶體變黑時,停止加熱。當(dāng)晶體冷卻后,打開爐門和
      5下部爐室,取出單晶。
      權(quán)利要求
      一種氣相重?fù)搅讌^(qū)熔硅單晶的生產(chǎn)方法,包括區(qū)熔氣相重?fù)诫s和拉晶工藝,其特征在于所述區(qū)熔氣相重?fù)诫s和拉晶工藝中采用的區(qū)熔氣相重?fù)诫s電磁銅線圈為具有雙水路水冷的電磁銅線圈,在正常拉晶過程中,線圈的溫度可以控制在10 20℃之間,所述區(qū)熔氣相重?fù)诫s和拉晶工藝包括如下次序步驟(1)裝爐、抽真空、充氬氣利用纖維紙擦拭爐膛、電磁銅線圈、保溫桶、多晶與籽晶夾持器及摻雜進(jìn)氣管道的管口;將多晶硅棒固定在多晶夾持器上;將籽晶裝入籽晶夾持器上;關(guān)閉爐門,抽真空充氬氣,氬氣氣體流量控制在10±1L/min;(2)硅棒預(yù)熱、化料打開發(fā)生器電源,調(diào)節(jié)電壓設(shè)定值到15 25%對硅棒進(jìn)行預(yù)熱;待硅棒微紅,調(diào)節(jié)電壓設(shè)定值到30 50%,啟動上轉(zhuǎn)為3 4rpm化料;(3)充入重?fù)诫s氣體磷烷及保護(hù)氣氮氣打開觸摸屏上的摻雜開關(guān),充入?yún)^(qū)熔爐的重?fù)诫s氣體磷烷氣體流量和氮氣的氣體流量之比控制在1∶10到1∶20之間;(4)引晶,生長細(xì)徑將籽晶與熔區(qū)點接觸,同時啟動上、下部傳送裝置,調(diào)整電壓設(shè)定值到40 50%,以生長細(xì)徑;(5)放肩、線圈偏置、等徑生長生長完細(xì)頸后開始放肩,調(diào)整電壓設(shè)定值到50 60%放肩到要求的直徑后,先將線圈向線圈正負(fù)極縫隙的反方向偏置3 5mm,緩慢調(diào)整電壓設(shè)定值到40 50%左右,再進(jìn)行等徑生長單晶;(6)收尾、拉斷;(7)停氣、停爐、拆爐;根據(jù)上述方法生產(chǎn)的氣相重?fù)搅讌^(qū)熔硅單晶具有氧含量1ppm以下;軸向電阻率均勻度±10%以內(nèi);電阻率0.002Ω.cm。
      全文摘要
      本發(fā)明涉及一種氣相重?fù)搅讌^(qū)熔硅單晶的生產(chǎn)方法,包括區(qū)熔氣相重?fù)诫s和拉晶工藝,工藝采用具有雙水路水冷的電磁銅線圈,使線圈的溫度可以控制在10-20℃之間,有效避免了高溫下磷與銅線圈發(fā)生化學(xué)反應(yīng)損壞線圈,同時也解決了雜質(zhì)磷在線圈附近由于高溫電離而導(dǎo)致線圈打火的問題,根據(jù)上述方法生產(chǎn)的氣相重?fù)搅讌^(qū)熔硅單晶具有氧含量1ppm以下;軸向電阻率均勻度±10%以內(nèi);電阻率0.002Ω.cm的特點,很好地滿足了瞬態(tài)電壓抑制器(TVS)對于硅襯底材料的嚴(yán)格要求,滿足TVS器件對于硅襯底材料的需要。
      文檔編號C30B13/12GK101979719SQ20101052915
      公開日2011年2月23日 申請日期2010年11月3日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月3日
      發(fā)明者周衛(wèi)斌, 張雪囡, 沈浩平, 王剛, 王巖, 王彥君, 趙宏波, 高樹良 申請人:天津市環(huán)歐半導(dǎo)體材料技術(shù)有限公司
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