一種制備無(wú)色碳化硅晶體的方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種制備無(wú)色碳化硅晶體的方法及裝置,屬于晶體生長(zhǎng)技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]寶石的美取決于寶石與光的相互作用,因此寶石的光學(xué)性質(zhì)是決定寶石價(jià)值的重要因素之一。寶石的折射率決定了寶石能否在日光下能否閃光和呈現(xiàn)美麗的光澤。寶石的顏色也是寶石一種很重要的體現(xiàn)。寶石的顏色取決于很多因素如雜質(zhì)離子、晶體本身的物理性質(zhì)。寶石的透明度是指寶石過(guò)可見(jiàn)光的能力,主要與寶石對(duì)光吸收的強(qiáng)弱有關(guān)。寶石的熱穩(wěn)定性和化學(xué)穩(wěn)定性非常重要。寶石的耐久性也是非常重要的因素之一。所以硬度、折射率、顏色、熱/化學(xué)穩(wěn)定性和韌性這些特性一起決定了材料能否制作寶石。
[0003]SiC寶石具有與鉆石相同的光澤,僅次于鉆石的高硬度(8.5-9.25),比鉆石略高的折射率(2.5-2.71),透明度高,具有(0001)解理面,化學(xué)穩(wěn)定性好,幾乎不于其他物質(zhì)反應(yīng),韌性好,熱導(dǎo)率高,熱穩(wěn)定性好,在空氣中加熱到1400°C而不損壞,因此是目前最佳的鉆石仿制品。
[0004]而SiC晶體是一種復(fù)雜的材料系統(tǒng),已經(jīng)發(fā)現(xiàn)200余種多型體。碳化硅晶體摻雜不同的元素會(huì)獲得不同顏色的晶體。SiC的摻雜物有N(n型)和八1、8、86、6&、0、5(3(?型)等,因?yàn)锳l具有比較淺的受主能級(jí),成為最常用的P型摻雜物。在6H-SIC中摻氮(η型)和鋁(P型),分別得到了綠色和藍(lán)色的6H-SIC晶體。在4H-sic中摻入低濃度的氮可得到淡棕色的晶體。未摻雜的顯無(wú)色。3C-SIC顯黃色,而摻氮的3C-SIC顯黃綠色。因?yàn)榫w生長(zhǎng)使用的高純石墨及保溫材料中均含有一定量的雜質(zhì)離子,如N、B、Al、T1、Cr、Fe、V等。這些雜質(zhì)離子會(huì)隨著晶體生長(zhǎng)進(jìn)入晶體,從而導(dǎo)致晶體含有一定量的雜質(zhì)離子,形成P型或η型兩者均有或只有其中一種,從而使晶體存在一定顏色,因此無(wú)色寶石是很難獲得的。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005]本發(fā)明通過(guò)去除或減少碳化硅晶體生長(zhǎng)過(guò)程中的Β、Ν、金屬雜色離子等離子,減少或平衡SiC晶體中的P型和η型摻雜物,獲得無(wú)色碳化硅晶體。
[0006]一種制備無(wú)色碳化硅晶體的方法,通過(guò)如下裝置實(shí)現(xiàn);
[0007]該裝置包括生長(zhǎng)室,所述生長(zhǎng)室采用下開蓋方式,生長(zhǎng)室的外部設(shè)置可上下移動(dòng)的感應(yīng)加熱器,所述生長(zhǎng)室的下部連接有大氣隔離室,大氣隔離室上設(shè)置有操作窗口,大氣隔離室的一側(cè)連接有過(guò)渡室,所述過(guò)渡室內(nèi)設(shè)有去除雜質(zhì)的加熱裝置,所述大氣隔離室、過(guò)渡室和生長(zhǎng)室上均設(shè)有保持內(nèi)部環(huán)境處于保護(hù)氣體狀態(tài)或真空狀態(tài)的機(jī)構(gòu),大氣隔離室的下部還設(shè)有吸塵器接口;
[0008]所述大氣隔離室以及生長(zhǎng)室內(nèi)均充滿惰性氣體;
[0009]制備無(wú)色碳化硅晶體的方法,具體步驟為:
[0010](I)將生長(zhǎng)SiC晶體用坩禍、保溫材料及原料置于過(guò)渡室(15)內(nèi),對(duì)過(guò)渡室(15)同時(shí)進(jìn)行抽真空和加熱干燥,然后向其中充入惰性氣體,最后將坩禍、保溫材料及原料置入充有惰性氣體的大氣隔離室(I);
[0011](2)將大氣隔離室(I)中的坩禍、保溫材料移入生長(zhǎng)室(9)中,抽真空并加熱至1800 ?2000。。,保溫 5-10h ;
[0012](3)將處理后的保溫材料及坩禍返回大氣隔離室內(nèi),放入原料,并且在大氣隔離室內(nèi)將其裝配起來(lái),重新移入生長(zhǎng)室,進(jìn)行長(zhǎng)晶,在生長(zhǎng)過(guò)程中通入含有氯基氣體及含氫氣體的、以惰性氣體為載氣的混合氣體,在1800-2300°C下反應(yīng)40-100h,即得到無(wú)色碳化硅晶體。
[0013]針對(duì)上述方法要求,本發(fā)明提出了一種制備無(wú)色碳化硅晶體的裝置,包括生長(zhǎng)室,所述生長(zhǎng)室采用下開蓋方式,生長(zhǎng)室的外部設(shè)置感應(yīng)加熱器,所述生長(zhǎng)室的下部連接有大氣隔離室,大氣隔離室上設(shè)置有操作窗口,大氣隔離室的一側(cè)連接有過(guò)渡室,所述過(guò)渡室內(nèi)設(shè)有去除雜質(zhì)的加熱裝置,所述大氣隔離室和過(guò)渡室上均設(shè)有保持內(nèi)部環(huán)境處于保護(hù)氣體狀態(tài)或真空狀態(tài)的機(jī)構(gòu),大氣隔離室的下部還設(shè)有吸塵器接口。
[0014]所述感應(yīng)加熱器為感應(yīng)線圈;所述感應(yīng)線圈通過(guò)滑塊設(shè)置在生長(zhǎng)室兩側(cè)的支架上。
[0015]所述機(jī)構(gòu)除包括設(shè)置在生長(zhǎng)室和過(guò)渡室的兩端進(jìn)出物料處的密封法蘭,還包括抽真空裝置,所述抽真空裝置包括設(shè)置在各自空間壁上的進(jìn)氣口接口、出氣口接口和壓力控制器。
[0016]所述生長(zhǎng)室由上端的密封法蘭、石英管、下端的密封法蘭構(gòu)成,所述石英管為中間存在一個(gè)空腔的雙層結(jié)構(gòu),并在石英管的外壁上設(shè)有通向空腔的進(jìn)出冷卻水的水接口。
[0017]所述生長(zhǎng)室下端的密封法蘭為可拆卸式的,該密封法蘭和上部連接部分之間設(shè)有密封墊。
[0018]所述大氣隔離室的內(nèi)部設(shè)置有滾珠絲杠,滾珠絲杠與生長(zhǎng)室下部的下密封法蘭連接。
[0019]所述過(guò)渡室的加熱裝置為紅外加熱器或電阻加熱器。
[0020]所述大氣隔離室的外部操作窗口處安裝至少兩副操作手套。
[0021]當(dāng)進(jìn)行無(wú)色碳化硅晶體生長(zhǎng)時(shí),首先,打開過(guò)渡室進(jìn)料處的密封法蘭,將生長(zhǎng)SiC晶體用坩禍、保溫材料及原料放入過(guò)渡室內(nèi),關(guān)閉進(jìn)料處的密封法蘭,此時(shí),過(guò)渡室內(nèi)的加熱裝置對(duì)其進(jìn)行加熱,在進(jìn)行加熱的同時(shí),通過(guò)抽真空裝置對(duì)其抽真空,一是去除坩禍、保溫材料及原料中的水分,因?yàn)樗魵獾拇嬖诳梢杂绊懻婵斩?;二是將附著在坩禍、保溫材料、原料表面的N元素解吸附,使其進(jìn)入到空氣中,從而,該過(guò)程中產(chǎn)生的水蒸氣、氮?dú)庖约斑^(guò)渡室內(nèi)的空氣通過(guò)過(guò)渡室空間壁上的出氣口接口被抽到外界。抽真空和加熱干燥后,通過(guò)過(guò)渡室進(jìn)氣接口向過(guò)渡室內(nèi)充入惰性氣體,并通過(guò)壓力控制器控制其與外界大氣壓平衡。由于大氣隔離室以及生長(zhǎng)室內(nèi)均充滿惰性氣體,因此,待過(guò)渡室內(nèi)充滿氣體后,整個(gè)裝置中均充滿惰性氣體。此時(shí),打開過(guò)渡室與大氣隔離室之間的密封法蘭,將坩禍、保溫材料及原料置入充有惰性氣體的大氣隔離室中待用,同時(shí)關(guān)閉過(guò)渡室與大氣隔離室之間的密封法蘭。本發(fā)明中,大氣隔離室的一個(gè)作用是放置原料、坩禍及保溫材料,它們一經(jīng)放入大氣隔離室后就不再取出,完全與外界隔離,通過(guò)減少與外界的接觸次數(shù)來(lái)控制雜質(zhì)元素的含量。
[0022]一種制備無(wú)色碳化硅晶體的方法,惰性氣體選自氬氣或氦氣等。
[0023]一種制備無(wú)色碳化硅晶體的方法,步驟(I)中所述的惰性氣體流速為50cc/min-500cc/mino
[0024]一種制備無(wú)色碳化硅晶體的方法,步驟(3)所述的氯基氣體的流速為2-20cc/min,含氫氣體的流速為2_20cc/min,惰性氣體的流速為50cc/min-500cc/min。
[0025]一種制備無(wú)色碳化硅晶體的方法,步驟(3)所述的氯基氣體為氯氣,所述的含氫氣體為氯化氫或氫氣或甲烷中的一種或幾種。
[0026]步驟⑴中,往過(guò)渡室內(nèi)通入惰性氣體,惰性氣體可以隔絕空氣,防止空氣中的水分、氮?dú)?、二氧化碳等再次吸附于保溫材料及坩禍等?br>[0027]步驟(2)中溫度1800°C?2000°C的條件下進(jìn)行處理,在這個(gè)溫度下金屬離子能夠揮發(fā),此過(guò)程可以有效去除材料中的部分Fe、Al等金屬雜質(zhì)離子,高于這個(gè)溫度,一般不好控制達(dá)到,低于這個(gè)溫度離子可能就不會(huì)揮發(fā)出去,此過(guò)程利用了部分金屬雜質(zhì)離子在高溫下變?yōu)闅鈶B(tài),通過(guò)氣體將其帶出生長(zhǎng)爐膛的原理;
[0028]步驟(3)中以惰性氣體為主導(dǎo)氣體,同時(shí)通入氯基氣體和含氫氣體,其中氯基氣體的流量控制在2-20cc/min,含氫氣體的流量控制在2-20cc/min,惰性氣體的流速為50cc/min-500cc/min,且三者的流速比為1: 1:60-100。氯基氣體在高溫下與碳和B反應(yīng),生成氣體物質(zhì)(三氯化硼),從而去除生長(zhǎng)過(guò)程中的硼。同時(shí)氯基氣體能將T1、Cr等離子從低價(jià)態(tài)氧化成高價(jià)態(tài),減少T1、Cr等離子形成的P型摻雜物。通入一定量的含氫氣體,控制生長(zhǎng)溫度,可以鈍化生長(zhǎng)界面,抑止氮元素參與生長(zhǎng),N在前期就去除了吸附引入,而通入含氫氣體可以防止保溫材料中少量N參入生長(zhǎng),從而得到無(wú)色碳化硅寶石。系統(tǒng)保持溫度在1800?2300°C,這個(gè)溫度能夠生長(zhǎng)出4H晶體碳化硅,而高于低于這個(gè)溫度可能會(huì)出多型,導(dǎo)致不是晶體,而有顏色。另外保持反應(yīng)時(shí)間為40?100h,在這個(gè)時(shí)間范圍內(nèi)能夠長(zhǎng)出我們需要的晶體厚度。氯基氣體,含氫氣體,惰性氣體三者的流速比為1:1:60-100,低了可能部分氣體不能完全起到反應(yīng)的作用,高了的話可能有點(diǎn)浪費(fèi)。
[0029]本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn):
[0030]I,這種方法可以有效的減少致色離子,從而獲得無(wú)色碳化硅寶石。
[0031]2,這種方法有減輕碳化硅晶體中的碳包裹體作用。在去除B元素過(guò)程中,硼與碳與氯氣反應(yīng),這樣就減少部分C,從而在后期減少了碳包裹體的形成。
[0032]3,可以減輕晶體中的氮含量,提高晶體質(zhì)量。
【附圖說(shuō)明】
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[0033]圖1是本發(fā)明裝置的主視圖;
[0034]圖2為圖1的俯視圖;
[0035]圖中,1、大氣隔離室,2、出氣口接口 1,3、支架,4、滑塊,5、感應(yīng)線圈,6、雙層石英管,7、上密封法蘭,8、出氣口接口 11,9、生長(zhǎng)室,10、密封墊,11、進(jìn)氣口接口 III,12、下密封法蘭,13、出氣口接口 IV,14、加熱裝置,15、過(guò)渡室,16、右密封法蘭,17、托盤,18、進(jìn)氣口接口 V,19、左密封法蘭,20、進(jìn)氣口接口 VI,21、滾珠絲桿,