專利名稱：元件測試分選機的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種元件測試分選系統(tǒng)，特別是涉及一種可自動偵測分類每一不同屬性壓控振蕩器的測試分選系統(tǒng)。
背景技術：
按現(xiàn)今為了有效節(jié)省人力以及提高生產效率，都以發(fā)展自動化生產設備為導向，其中品質的控管也為自動化工業(yè)制作工藝中相當重要一環(huán)，尤其為精密化的電子零件，其誤差值要求相對更為嚴謹，因此在出品前都需先進行品質篩選，而傳統(tǒng)檢測的方式是由人力利用工具分別針對每一元件進行測試后，再進行合格品與不合格品的分類篩選，如此隨著檢測項目的復雜程度的增加，往往需耗費更多的人力成本來配合檢測，且在實際制造上，為爭取產能時效，常易因人為疏忽而導致出品不合格率增加。
但是，上述的架構是通過適當處的落料孔落下，進行分選作業(yè)，故往往僅能設定單一的項目進行分選，因此若要檢測多個項目，則需再次修改程序，尤其對于頻率特性不同的振蕩器，其除了檢測所實施的集成電路的接腳的電氣特性是否正常外，更需針對其特性的不同進行分類檢測，而在實際制造上，為爭取一線完成的時程效率維持，常需另添購檢測不同項目的分選系統(tǒng)，或以人工的方式配合檢視分類，如此即需額外增加相當大的成本，且效果未必很顯著。
實用新型內容本實用新型的主要目的在于提供一種元件測試分選機，其可將不同屬性測試實際值的待測試元件，予以執(zhí)行歸納分類。
本實用新型的另一目的在于提供一種元件測試分選機，其可針對該待測試元件彈性調整執(zhí)行及存儲射頻信道選擇及信號的測量項目與測量值。
本實用新型的又一目的在提供一種元件測試分選機，其可根據(jù)實際需求設定執(zhí)行及存儲射頻信號是否異常的規(guī)格判斷程序。
為了達成上述的目的，本實用新型主要包括振動入料組，具有可容納待測試元件的料斗，并在該料斗一端延伸一導料管，該導料管末端形成定位架；轉盤，其周圍環(huán)設有數(shù)個溝槽洞，以依序接收及輸送上述定位架之每一待測試元件；測試系統(tǒng)機構，依行進程序逐一探測每一溝槽洞的待測試元件，并執(zhí)行既定的射頻測試校驗項目及存儲校驗修正值的對比分析后，再根據(jù)測試項目與測試值的預設屬性進行分類；及收料管架，具有多組收納區(qū)，以分別收納經由分類后的已測試元件。
其中所述的待測試元件為經表面黏著處理(Surface-Mount Technology)的無線電射頻分片模塊。
而本實用新型的另一實施例還包括振動入料組，具有可容納待測試元件的料斗，并在該料斗一端延伸一導料管，該導料管末端形成定位架；轉盤，其周圍環(huán)設有數(shù)個溝槽洞，以依序接收及輸送上述定位架的每一待測試元件；測試系統(tǒng)機構，依行進程序逐一探測每一溝槽洞的待測試元件，并執(zhí)行既定的射頻測試校驗項目及存儲校驗修正值的對比分析后，再根據(jù)測試項目與測試值的預設屬性進行分類；收料管架，具有多組收納區(qū)；入料臂，用以由定位架依序吸起(取)待測試元件置入溝槽洞上；旋轉臂，用以依序由溝槽洞上吸起(取)待測試元件進行翻轉；及出料臂，用以吸起(取)經測試后之待測試元件，置入于指定收料管架的收納區(qū)。
其中上述的振動入料組還包括振動器分別振動料斗及導料管，并包括一氣壓元件，及在料斗內設有光電傳感器，以當待測試元件定位異常時，啟動該氣壓元件振出該待測試分片重新篩選。
其中上述的轉盤還包括一伺服角度定位馬達，由計算機控制接收的時序與每次輸送的樞轉角度；盤面待測載具，以預定間距排設于每一溝槽洞內；及光電傳感器，設在每一盤面待側載具上，以檢測所接收的待測試元件狀態(tài)的。
其中上述的測試系統(tǒng)機構還包括高頻測試頭，用以檢測每一待測試元件；滑臺，定位該高頻測試頭；定位機構，用以定位該滑臺與轉盤的相對高度及位置；及附帶光電傳感器的直線型氣缸，用以傳動該高頻測試頭進行探測。
其中上述的入料臂由計算機控制的旋轉及直線型氣壓缸所組成，其中該直線氣壓缸的末端設有一吸嘴。
其中上述的旋轉臂由計算機控制的旋轉及直線型氣壓缸所組成，其中該直線氣壓缸的末端設有一吸嘴，該旋轉氣壓缸則進行180度推轉。
其中上述的出料臂由計算機控制的旋轉及直線型氣壓缸所組成，其中該直線氣壓缸的末端設有一吸嘴。
其中上述之收料管架由計算機控制之伺服角度定位馬達，光電傳感器，管架導槽，管架及收納管所組成。


圖1為本實用新型試舉一較佳的實施外觀示意圖；圖2為本實用新型實施例中振動入料組與轉盤間的外觀示意圖；圖3為本實用新型實施例中振動入料組與轉盤于另一角度的外觀示意圖；圖4為本實用新型實施例中將振動入料組的待測試元件移至轉盤的動作示意圖；圖5為本實用新型實施例中將轉盤內的待測試元件進行轉向的動作示意圖；圖6為本實用新型實施例中測試系統(tǒng)機構檢測待測試元件的動作示意圖；圖7為本實用新型實施例中將待測試元件分類移至收料管架的動作示意圖。
具有實施方式如圖1所示，本實用新型提供一種元件測試分選系統(tǒng)，其主要包括一振動入料組1、一轉盤2、一測試系統(tǒng)機構3及一收料管架4所組成，以將數(shù)個待測試元件A依序利用可程控進行單顆手動和自動連續(xù)測試等程序后，再個別予以分類收集，其中該振動入料組1(請配合參閱圖2、圖3所示)具有可容納待測試元件A的料斗11，并在該料斗11一端延伸一導料管12，該導料管12末端形成定位架13；該轉盤2周圍環(huán)設有數(shù)溝槽洞21，以依序接收及輸送上述定位架13的每一待測試元件A；該測試系統(tǒng)機構3(請配合參閱圖6所示)具有高頻測試頭32，以依行進程序逐一探測每一溝槽洞21的待測試元件A，并執(zhí)行既定的射頻測試校驗項目及存儲校驗修正值的對比分析后，再根據(jù)測試項目與測試值的預設屬性進行分類；該收料管架4(請配合參閱圖7所示)具有多組收納區(qū)40，以分別收納經由分類后的已測試元件。
其中上述待測試元件A是經表面黏著處理(Surface-Mount Technology)的無線電射頻元件分片模塊，且該待測試元件A采用印刷電路板或陶瓷基板，使該測試系統(tǒng)機構可針對該待測試元件執(zhí)行及存儲射頻信道選擇及信號的測量項目與測量值(其包括功率、頻率、調變量、消耗電源、靈敏度、相位噪聲儀器)，以及執(zhí)行及存儲射頻信號是否異常的規(guī)格判斷程序(其包括功率、頻率、調變量、消耗電源、靈敏度、相位噪聲測量。
以下將本實用新型針對上述實施例的細部構件進一步介紹，其包括有振動入料組1、轉盤2、測試系統(tǒng)機構3、收料管架4、入料臂5、旋轉臂6及出料臂7(再如圖1所示)；其中該振動入料組1(請配合參閱圖2、圖3所示)具有可容納待測試元件A的圓形料斗11，并在該料斗11一端延伸一導料管12，該導料管12末端形成定位架13，且該料斗11側緣貼設一圓形振動器(圖未示)，該導料管12側緣則貼設有一直線型振動器(圖未示)，以將待測試元件A裝入該料斗11內后，通過振動由導料管12的導引送出至定位架13定位，以等待進行輸送。
該轉盤2(請配合參閱圖4所示)由計算機控制的伺服角度定位馬達22與光電傳感器23及盤面待側載具24所組成；其中該伺服角度定位馬達22由計算機控制接收的時序與每次輸送的樞轉角度；該盤面待測載具24，以預定間距排設于每一溝槽洞21內；該光電傳感器23設于每一盤面待測載具24上，以檢測所接收的待測試元件A狀態(tài)。
該測試系統(tǒng)機構3(請配合參閱圖6所示)可包括一高頻測試頭32，其中前端具有一探針31，用以檢測每一待測試元件的測試端置狀態(tài)；滑臺33，定位該高頻測試頭32；定位機構34，用以定位該滑臺33與轉盤32的相對高度及位置；及附帶光電傳感器35的直線型氣缸36，用以傳動該高頻測試頭32進行探測者，以依行進程序逐一探測每一溝槽洞21的待測試元件A，并執(zhí)行既定的射頻測試校驗項目及存儲校驗修正值的對比分析后，再根據(jù)測試項目與測試值的預設屬性進行分類，其中該測試系統(tǒng)機構3的定位機構34為X-Y-Z三軸附帶米達尺的機構，如此即可各沿著X軸，Y軸及Z軸進行三度空間的位移，以精確微調定位該高頻測試頭32與轉盤2的相對位置與高度。
該收料管架4(請配合參閱圖7所示)由計算機控制的伺服角度定位馬達、光電傳感器41、管架導槽42、管架43及收納管44所組成，在管架導槽42間形成多組收納區(qū)40。
該入料臂5(請配合參閱圖4所示)由計算機控制的旋轉型氣壓缸51及直線型氣壓缸52所組成，其中該直線氣壓缸52的末端設有一吸嘴53用以由定位架13依序吸起(取)待測試元件A置入轉盤的溝槽洞21上。
該旋轉臂6(請配合參閱圖5所示)由計算機控制的旋轉型氣壓缸61及直線型氣壓缸62所組成，其中該直線氣壓缸62的末端設有一吸嘴63，該旋轉氣壓缸61則進行180度推轉，用以依序由轉盤2的溝槽洞21上吸起(取)待測試元件片進行翻轉。
該出料臂7(請配合參閱圖7所示)由計算機控制的旋轉型氣壓缸71及直線型氣壓缸72所組成，其中該直線氣壓缸72的末端設有一吸嘴73，用以吸起(取)經測試后的已測試元件，轉移至指定管架導槽42上方，再置入相應預設條件的管架的收納管區(qū)域。
通過上述的結構組成，即可將每一欲檢測分類的待測試元件A裝入振動入料組1的料斗11內(如圖2所示，再依序通過振動器一一振動，并透過導料管12送至定位架13上，再由入料臂5撿出放置轉盤2上的溝槽洞21中(如圖4所示)，其中如遇待測試元件A反向時，則利用旋轉臂6撿出反轉后(如圖5所示)，再放置回轉盤2上的溝槽洞21中，復經測試系統(tǒng)3通過高頻測試頭32的探針31透過滑臺33位移依序接觸每一待測試元件A的測試端(如圖6所示)，以測試得到不同的實際測試值后，再通過出料臂7配合不同測試值的屬性范圍分類分別送入收料管架4處理(如圖7所示)。
此外該轉盤2的盤面待測載具24由不導電材料所構成，故可與待測試元件A的測試端保持絕緣，以防止因短路而影響測試準確值。
再者(如圖2、圖3所示)，該振動入料組1還包括一氣壓元件(圖未示)及在圓形料斗11內設有光電傳感器14，用以監(jiān)測每一振動送出的待測試元件A，即當待測試元件A定位異常時(如現(xiàn)今一般測試是采焊接面反面測試的方式，若監(jiān)測送出的待測試元件分片是以蓋子朝上的姿態(tài)送出)，則啟動控制該氣壓元件以氣壓吹襲將振出通往定位架13的待測試元件A吹下料斗11內重新篩選，且經篩選的待測試元件分片A會進入導料管12，而該導料管12的末端由一直線且不連續(xù)的定位架13所組成，以精確定位該待測試元件A，以待入料臂以由定位架13依序吸起(取)待測試元件分片A置入轉盤2內，如此在使用上更具方便性。
本實用新型所提供的元件測試分選系統(tǒng)，與其它現(xiàn)有技術相互比較時，更具有下列的優(yōu)點1、可將不同屬性測試實際值，予以執(zhí)行歸納分類。
2、可針對該待測試元件彈性調整執(zhí)行及存儲射頻信道選擇及信號的測量項目與測量值。
3、可根據(jù)實際需求設定執(zhí)行及存儲射頻信號是否異常的規(guī)格判斷程序。
權利要求1.一種元件測試分選機，其特征在于，包括振動入料組，具有可容納待測試元件的料斗，并在該料斗一端延伸一導料管，該導料管末端形成定位架；轉盤，其周圍環(huán)設有數(shù)溝槽洞，以依序接收及輸送上述定位架的每一待測試元件；用于探測及分類待測試元件的測試系統(tǒng)機構；及收料管架，具有用以分別收納經由分類后的待測試元件的多組收納區(qū)。
2.如權利要求1所述的元件測試分選機，其特征在于，所述待測試元件為經表面黏著處理的無線電射頻元件分片模塊。
3.如權利要求1所述的元件測試分選機，其特征在于，該測試系統(tǒng)機構包括一用以檢測每一待測試元件的高頻測試頭；一用于定位該高頻測試頭的滑臺；一用以定位該滑臺與轉盤的相對高度及位置的定位機構；及一用以傳動該高頻測試頭的直線型氣缸，附帶有光電傳感器。
4.一種元件測試分選機，其特征在于，包括振動入料組，具有可容納待測試元件的料斗，并在該料斗一端延伸一導料管，該導料管末端形成定位架；轉盤，其周圍環(huán)設有數(shù)個溝槽洞，以依序接收及輸送上述定位架的每一待測試元件；用于探測并分類已測試元件的測試系統(tǒng)機構；收料管架，具有多組收納區(qū)；入料臂，用以由定位架依序吸起(取)待測試元件置入溝槽洞上；旋轉臂，用以依序由溝槽洞上吸起(取)待測試元件進行翻轉；及出料臂，用以吸起(取)經測試后的已測試元件，置入于指定收料管架的收納區(qū)。
5.如權利要求4所述的元件測試分選機，其特征在于，該待測試元件為經表面黏著處理的無線電射頻元件分片模塊。
6.如權利要求4所述的元件測試分選機，其特征在于，在該料斗側緣設有一振動器，在該導料管側緣設有另一振動器。
7.如權利要求4所述的元件測試分選機，其特征在于，該振動入料組還包括一用于可吹襲該待測試元件的氣壓元件，及在料斗內設有用以監(jiān)測待測試元件狀態(tài)的光電傳感器。
8.如權利要求4所述的元件測試分選機，其特征在于，該轉盤還包括一由計算機控制的伺服角度定位馬達；盤面待測載具，以預定間距排設于每一溝槽洞內；及用于檢測所接收的待測試元件狀態(tài)的光電傳感器，設于每一盤面待測載具上。
9.如權利要求4所述的元件測試分選機，其特征在于，該測試系統(tǒng)機構還包括用以檢測每一待測試元件的高頻測試頭；用以定位該高頻測試頭的滑臺；用以定位該滑臺與轉盤的相對高度及位置的定位機構；及用以傳動該高頻測試頭的直線型氣缸，附帶有光電傳感器。
10.如權利要求4所述的元件測試分選機，其特征在于，該入料臂由計算機控制的旋轉型氣壓缸及直線型氣壓缸所組成，其中該直線氣壓缸的末端設有一吸嘴。
11.如權利要求4所述的元件測試分選機，其特征在于，該旋轉臂由計算機控制的旋轉型氣壓缸及直線型氣壓缸所組成，其中該直線氣壓缸的末端設有一吸嘴。
12.如權利要求4所述的元件測試分選機，其特征在于，該出料臂由計算機控制的旋轉型氣壓缸及直線型氣壓缸所組成，其中該直線氣壓缸的末端設有一吸嘴。
13.如權利要求4所述的元件測試分選機，其特征在于，該收料管架由計算機控制的伺服角度定位馬達，光電傳感器，管架導槽，管架及收納管所組成。
14.如權利要求5所述的元件測試分選機，其特征在于，所述的待測試元件為印刷電路板。
15.如權利要求5所述的元件測試分選機，其特征在于，所述的待測試元件為陶瓷基板。
16.如權利要求8所述的元件器測試分選機，其特征在于，該盤面待測載具為不導電材料。
17.如權利要求9所述的元件器測試分選機，其特征在于，該測試系統(tǒng)機構的定位機構為X-Y-Z三軸附帶米達尺的機構。
專利摘要本實用新型提供一種元件測試分選機，包括振動入料組，具有可容納待測試元件分片的料斗，并在該料斗一端延伸一導料管，該導料管末端形成定位架；轉盤，其周圍環(huán)設有數(shù)個溝槽洞，以依序接收及輸送上述定位架的每一待測試元件；測試系統(tǒng)機構，依行進程序逐一探測每一溝槽洞的待測試元件，并執(zhí)行既定的射頻測試校驗項目及存儲校驗修正值的對比分析后，再根據(jù)測試項目與測試值的預設屬性進行分類；及收料管架，具有多組收納區(qū)，以分別收納經由分類后的已測試元件。
文檔編號G01N23/00GK2781361SQ20042000155
公開日2006年5月17日 申請日期2004年1月16日 優(yōu)先權日2004年1月16日
發(fā)明者高敏 申請人:達方電子股份有限公司