專利名稱：測(cè)試元件的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種安裝在測(cè)試儀上用于測(cè)試集成電路板線路測(cè)試的測(cè)試元件。
技術(shù)背景現(xiàn)有的用于集成電路板線路測(cè)試的測(cè)試元件一般是由導(dǎo)線、連接端子、測(cè)試端子構(gòu)成。所述測(cè)試端子是由測(cè)試桿、桿套和彈簧構(gòu)成，所述彈簧安裝在桿套內(nèi)，所述測(cè)試桿一端帶有錐形探頭，其另一端插入桿套內(nèi)并固定在彈簧的活動(dòng)端。導(dǎo)線的一端裸露，其裸露端與測(cè)試端子導(dǎo)電連接，導(dǎo)線的另一端通過(guò)連接端子連接到測(cè)試機(jī)上，使用時(shí)根據(jù)測(cè)試的對(duì)象不同而選擇探頭尺寸匹配的測(cè)試元件，這樣才可以開(kāi)始測(cè)試集成電路板的線路，而測(cè)試時(shí)主要是依靠彈簧使探頭與集成電路板接觸式探測(cè)。因此，這種結(jié)構(gòu)普遍存在著一些不可避免的缺陷，如這種接觸式的探測(cè)方式一方面是探測(cè)只能單板測(cè)試，另一方面也常常會(huì)因?yàn)閺椈蓮椥缘膿p壞而造成接觸不穩(wěn)定從而導(dǎo)致測(cè)試性能不穩(wěn)定；由于測(cè)試元件的結(jié)構(gòu)復(fù)雜，從而造成加工的工藝復(fù)雜，因此也引起產(chǎn)品的制作成本和使用成本較高；測(cè)試元件的復(fù)雜結(jié)構(gòu)也造成測(cè)試端子的體型不能縮小，因此可以探測(cè)的點(diǎn)間距較大；另外，彈簧的壽命嚴(yán)重影響到測(cè)試元件的使用壽命，造成測(cè)試元件壽命較短。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便、節(jié)省成本、測(cè)試性能穩(wěn)定、使用壽命長(zhǎng)、可實(shí)現(xiàn)批量測(cè)試的測(cè)試元件。
為解決上述技術(shù)方案，本實(shí)用新型所采取的技術(shù)方案是一種測(cè)試元件，所述測(cè)試元件為長(zhǎng)直線形的測(cè)試針。
所述測(cè)試針的兩端均可以呈圓錐形。
所述測(cè)試針的針體的上部可以設(shè)置有一扁形限位。
所述測(cè)試針的針體的頂端可以設(shè)置有固定頭。
所述固定頭可以呈圓柱形，其圓柱形的頂端帶有圓錐形的尖頂。
所述固定頭的底端可以呈階梯狀漸細(xì)。
所述固定頭可以呈球形，所述針體的底端為梅花形齒。
所述測(cè)試針的針體的頂端可以設(shè)置有一扁形限位，所述限位的頂部呈球狀，所述針體的底端為梅花形齒。
所述測(cè)試針的針體的上部靠近頂端處可以設(shè)置有固定頭，所述固定頭為一圓柱形的塑膠膠粒。
在上述技術(shù)方案中，我們采用結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的測(cè)試針取代傳統(tǒng)的測(cè)試元件，從而改變了傳統(tǒng)的接觸式測(cè)試的方式，而實(shí)現(xiàn)了測(cè)試針插入集成電路板的線路中的連線通孔中，以插入測(cè)試的方式，有效的測(cè)試線路。因此本實(shí)用新型相對(duì)現(xiàn)有技術(shù)不僅結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，大大降低了生產(chǎn)成本和工藝的復(fù)雜性，同時(shí)延長(zhǎng)了測(cè)試元件的使用壽命，增強(qiáng)了測(cè)試的穩(wěn)定性，另外也減小了測(cè)試的最小點(diǎn)間距，擴(kuò)大了測(cè)試范圍，而且還可以實(shí)現(xiàn)多塊集成電路板同時(shí)測(cè)試，從而提高了工效。


附圖1為本實(shí)用新型測(cè)試元件的第一種實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；附圖2為本實(shí)用新型測(cè)試元件的第二種實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；附圖3為本實(shí)用新型測(cè)試元件的第三種實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；附圖4為本實(shí)用新型測(cè)試元件的第四種實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；附圖5為本實(shí)用新型測(cè)試元件的第五種實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；附圖6為本實(shí)用新型測(cè)試元件的第六種實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；附圖7為本實(shí)用新型測(cè)試元件的第七種實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合說(shuō)明書附圖及具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型測(cè)試元件作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。
參考附圖1，本實(shí)用新型測(cè)試元件的第一種實(shí)施例是測(cè)試元件為一種長(zhǎng)直線型的金屬測(cè)試針。所述測(cè)試針的針體1結(jié)構(gòu)勻稱，其針體兩端均呈圓錐形。
參考附圖2，本實(shí)用新型的第二種實(shí)施例提供的測(cè)試元件為一種長(zhǎng)直線形的金屬測(cè)試針。其針體1的頂端設(shè)置有圓柱形且?guī)A錐形尖頂?shù)墓潭^2，針體1底端呈圓錐形。
參考附圖3，本實(shí)用新型的第三種實(shí)施例提供的測(cè)試元件為一種長(zhǎng)直線形的金屬測(cè)試針。其針體1的頂端設(shè)置有圓柱形帶球形頂端的固定頭2，所述固定頭2的底端呈階梯狀漸細(xì)，所述針體1的底端為梅花形。
參考附圖4，本實(shí)用新型的第四種實(shí)施例提供的測(cè)試元件為一種長(zhǎng)直線形的金屬測(cè)試針。其針體1的上部設(shè)置有經(jīng)壓制而成的扁形限位3，其針體1的兩端均呈圓錐形。
參考附圖5，本實(shí)用新型的第五種實(shí)施例提供的測(cè)試元件為一種長(zhǎng)直線形的金屬測(cè)試針。其針體1的頂部設(shè)置有經(jīng)壓制而成的扁形限位3，且所述限位3的頂部呈球狀，其針體1的底端帶有梅花形齒4。
參考附圖6，本實(shí)用新型的第六種實(shí)施例提供的測(cè)試元件為一種長(zhǎng)直線形的金屬測(cè)試針。其針體1的頂端設(shè)置球形的固定頭2，其針體1的底端帶有梅花形齒4。
參考附圖7，本實(shí)用新型的第七種實(shí)施例提供的測(cè)試元件為一種長(zhǎng)直線形的金屬測(cè)試針。其針體1的上部靠近頂端處設(shè)置有固定頭2，所述固定頭2為圓柱形的塑膠膠粒，所述針體1的兩端為光滑的水平面。
本實(shí)用新型提供的測(cè)試元件是與德國(guó)LM型測(cè)試機(jī)、瑪尼亞測(cè)試機(jī)、復(fù)合式測(cè)試機(jī)(萬(wàn)用測(cè)試機(jī))等測(cè)試儀器配合使用。使用時(shí)，將多塊相同的集成電路板疊放成一摞，并置于測(cè)試機(jī)的測(cè)試架的托架上，同時(shí)將測(cè)試針直接插入測(cè)試架的測(cè)試頂板上。測(cè)試時(shí)測(cè)試機(jī)將一根帶電的測(cè)試針穿入各塊集成電路板上一個(gè)相同的連線通孔中，并與各個(gè)連線通孔相接觸，這時(shí)測(cè)試機(jī)上便顯示出各個(gè)連線通孔的線路導(dǎo)通狀況，從而測(cè)試集成電路板是否合格。
根據(jù)采用測(cè)試機(jī)的型號(hào)的不同，測(cè)試元件的結(jié)構(gòu)略有不同，其中固定頭和限位的設(shè)置是為了利用測(cè)試機(jī)上的夾具固定測(cè)試針，并防止測(cè)試針從集成電路板的連線通孔中脫落。而梅花形齒的設(shè)置是為了與測(cè)試機(jī)的托架上的梅花形槽相匹配而設(shè)計(jì)。
由于本實(shí)用新型采用了測(cè)試針取代現(xiàn)有技術(shù)中的測(cè)試元件，從而簡(jiǎn)化的測(cè)試元件的結(jié)構(gòu)，降低了成本以及加工工藝的難度，并且將可測(cè)試的最小點(diǎn)間距從現(xiàn)有技術(shù)的0.2mm提高至0.08mm。另外也克服了現(xiàn)有技術(shù)中由于受到彈簧壽命的影響容易出現(xiàn)測(cè)試性能不穩(wěn)定的現(xiàn)象，使每根測(cè)試針的可準(zhǔn)確測(cè)試次數(shù)為200萬(wàn)次以上，而現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試元件的可測(cè)次數(shù)僅約為30萬(wàn)次。而且，由于采用插入式的測(cè)試方法，從而改變了傳統(tǒng)技術(shù)中僅可以單板測(cè)試的現(xiàn)狀，實(shí)現(xiàn)了多板批量測(cè)試，大大提高了工效。
權(quán)利要求1.一種測(cè)試元件，其特征在于所述測(cè)試元件為長(zhǎng)直線形的測(cè)試針。
2.如權(quán)利要求1所述測(cè)試元件，其特征在于所述測(cè)試針的兩端均呈圓錐形。
3.如權(quán)利要求2所述測(cè)試元件，其特征在于所述測(cè)試針的針體的上部設(shè)置有一扁形限位。
4.如權(quán)利要求1所述測(cè)試元件，其特征在于所述測(cè)試針的針體的頂端設(shè)置有固定頭。
5.如權(quán)利要求4所述測(cè)試元件，其特征在于所述固定頭呈圓柱形，其固定頭的頂端帶有圓錐形的尖頂。
6.如權(quán)利要求5所述測(cè)試元件，其特征在于所述固定頭的底端呈階梯狀漸細(xì)。
7.如權(quán)利要求4所述測(cè)試元件，其特征在于所述固定頭呈球形，所述針體的底端為梅花形齒。
8.如權(quán)利要求1所述測(cè)試元件，其特征在于所述測(cè)試針的針體的頂端設(shè)置有一扁形限位，所述限位的頂部呈球狀，所述針體的底端為梅花形齒。
9.如權(quán)利要求1所述測(cè)試元件，其特征在于所述測(cè)試針的針體的上部靠近頂端處設(shè)置有固定頭，所述固定頭為一圓柱形的塑膠膠粒。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種測(cè)試元件，為一種長(zhǎng)直線形的金屬測(cè)試針。使用時(shí)配合測(cè)試儀，從而實(shí)現(xiàn)了插入式測(cè)試集成電路板的線路的方法。因此本實(shí)用新型相對(duì)現(xiàn)有技術(shù)不僅結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，大大降低了生產(chǎn)成本和工藝的復(fù)雜性，同時(shí)延長(zhǎng)了測(cè)試元件的使用壽命，增強(qiáng)了測(cè)試的穩(wěn)定性，另外也減小了測(cè)試的最小點(diǎn)間距，擴(kuò)大了測(cè)試范圍，而且還可以實(shí)現(xiàn)多塊集成電路板同時(shí)測(cè)試，從而提高了工效。
文檔編號(hào)G01R1/067GK2634484SQ0326630
公開(kāi)日2004年8月18日 申請(qǐng)日期2003年6月26日 優(yōu)先權(quán)日2003年6月26日
發(fā)明者王俊峰 申請(qǐng)人:王俊峰