專利名稱：測(cè)試元件的不合格標(biāo)記的標(biāo)記方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于標(biāo)記有缺陷的測(cè)試元件的標(biāo)記方法以及涉及用于生 產(chǎn)測(cè)試元件的生產(chǎn)方法，所述生產(chǎn)方法涉及根據(jù)本發(fā)明的標(biāo)記方法。本 發(fā)明進(jìn)一 步涉及標(biāo)記裝置，特別是用于實(shí)施根據(jù)本發(fā)明的標(biāo)記方法的標(biāo) 記裝置，以及涉及用于生產(chǎn)測(cè)試元件的生產(chǎn)裝置，該裝置包括根據(jù)本發(fā) 明的標(biāo)記裝置。本發(fā)明進(jìn)一步涉及使用根據(jù)本發(fā)明生產(chǎn)方法所生產(chǎn)的測(cè) 試元件的分析測(cè)試儀器。這種標(biāo)記和生產(chǎn)方法、標(biāo)記和生產(chǎn)裝置以及分 析測(cè)試儀器特別用于化學(xué)分析和醫(yī)療4支術(shù)當(dāng)中。例如借助于測(cè)試元件可
以定性和/或定量地測(cè)試待分析物，例如樣品中的代謝物，尤其是在液 體樣品中，例如在血液、尿液、間隙流體或其它體液中。本發(fā)明的重要 應(yīng)用實(shí)例是在血糖診斷領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
在自然科學(xué)及醫(yī)學(xué)等許多技術(shù)領(lǐng)域中，必須可靠地定性和/或定量檢 測(cè)樣品中的待分析物。在許多情況下這是用測(cè)試元件來(lái)完成的，所述測(cè) 試元件靈敏地與一種或多種待分析物進(jìn)行反應(yīng)。特別是，可用使用這樣 的測(cè)試元件，其包括至少一種這樣測(cè)試材料，當(dāng)樣品中存在待分析物時(shí) 或與待分析物接觸的情況下該測(cè)試材料的至少一種可測(cè)量的性質(zhì)發(fā)生 變化。這些性質(zhì)例如可以為電和/或光學(xué)性質(zhì)，下文將要更詳細(xì)地論述。
本發(fā)明的一個(gè)重要的應(yīng)用領(lǐng)域是醫(yī)療診斷，但本發(fā)明并不局限于此。 例如，對(duì)于糖尿病患者來(lái)說，日常生活中血糖濃度的監(jiān)測(cè)是重要的。在 這種情況下必須能夠迅速和簡(jiǎn)單地測(cè)定出血糖濃度， 一般每天進(jìn)行若干 次，以便可以在適當(dāng)?shù)那闆r下采取相應(yīng)的醫(yī)療措施。為了不過分地限制 糖尿病患者的日常生活，通常使用相應(yīng)的非固定儀器，其運(yùn)輸處理應(yīng)該 是簡(jiǎn)〗更的，從而可以迅速、簡(jiǎn)便但可靠地測(cè)定血糖濃度，例如在工作場(chǎng) 所或在閑暇時(shí)間里就可以進(jìn)行測(cè)定。然而也可以使用固定的儀器，例如 使用為醫(yī)院、醫(yī)療實(shí)踐或護(hù)理機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)的儀器。
目前市場(chǎng)上有各種分析儀器，它們有時(shí)按不同的測(cè)量方法運(yùn)行。據(jù)此采用各種診斷方法，例如光學(xué)或電化學(xué)測(cè)量方法。通常以測(cè)試條形式 提供的上述測(cè)試元件往往是這些測(cè)量方法中的重要元件。例如，它們可 能是電化學(xué)和/或光學(xué)測(cè)試條。電化學(xué)測(cè)試條的例子例如描述在美國(guó)專
利5， 286， 362中。光學(xué)測(cè)試元件例如描述在CA 2，050， 677中。其它類型 的測(cè)試元件也是已知的，可用于本發(fā)明的范圍中，例如可植入的測(cè)試元 件(例如參見EP 0 678 308 Bl )。作為例如測(cè)試條或測(cè)試管的測(cè)試元件 的替代，還已知的是保存在匣或在別的類型的存儲(chǔ)裝置中的測(cè)試元件。 例如，許多測(cè)試元件可以剛性地連接在一起，例如在測(cè)試盤的區(qū)域上， 所述測(cè)試盤上存在多個(gè)測(cè)試域。已知的其它類型的多重測(cè)試元件，例如 在帶盒區(qū)域上，其中在共同的帶上設(shè)置多個(gè)測(cè)試元件或測(cè)試域，這樣使 得例如可以一個(gè)接一個(gè)地使用它們。匣的其它具體方案為鼓匣，其中多 個(gè)測(cè)試元件安置在匣鼓中。其它具體方案也是已知的。
待分析物測(cè)試的可靠性起著至關(guān)重要的作用，特別是對(duì)于醫(yī)學(xué)診斷 中的定量測(cè)試方法而言。因此， 一系列進(jìn)一步的決定通常取決于測(cè)試的 結(jié)果，例如決定進(jìn)行胰島素藥物處置或決定另一種醫(yī)療處理。在測(cè)試元 件的生產(chǎn)當(dāng)中，所需的有效質(zhì)量管理要達(dá)到這樣的程度，能可靠地防止 有缺陷的測(cè)試元件步入流通，或者如果它們已在市面流通時(shí)能可靠地防 止使用。這種質(zhì)量管理可能涉及多方面的測(cè)試方法，這些方法可能要使 測(cè)試元件已經(jīng)在生產(chǎn)過程中或生產(chǎn)之后經(jīng)歷特定的功能測(cè)試。例如，可 以進(jìn)行測(cè)試(例如借助于圖^f象識(shí)別、電子測(cè)量、光學(xué)測(cè)量或組合測(cè)量) 以檢查測(cè)試元件的特定功能，從而在一定的可能程度上識(shí)別有缺陷的測(cè) 試元件。
這種測(cè)試元件的生產(chǎn)通常是大批量的過程，其中以大的技術(shù)規(guī)模與 高的生產(chǎn)量制造大量的測(cè)試元件。當(dāng)識(shí)別出有缺陷的測(cè)試元件時(shí)，通常 難以直接棄用這個(gè)測(cè)試元件。因此現(xiàn)有4支術(shù)中已知這樣的方法，其中識(shí) 別出有缺陷的測(cè)試元件在生產(chǎn)方法過程期間或之后被標(biāo)記為有缺陷。這 種標(biāo)記方法的例子披露在US2004 /0048359 Al中，其中缺陷區(qū)用鋼筆或 記號(hào)標(biāo)記。另一種現(xiàn)有4支術(shù)中已知的方法描述在EP 0 1 32790 A2中。 大量的測(cè)試元件在共同的帶上生產(chǎn)出來(lái)，發(fā)現(xiàn)缺陷之后，施加彩色點(diǎn)或 磁標(biāo)記形式的適當(dāng)標(biāo)記，以便于隨后可以簡(jiǎn)單并可靠地棄用有缺陷的測(cè) 試元件。
然而在實(shí)踐中，現(xiàn)有技術(shù)中已知的標(biāo)記和生產(chǎn)方法具有諸多的弊端。例如，已知的標(biāo)記方法通常要使用附加的工作物質(zhì)和輔助物質(zhì)，例如用 于彩色點(diǎn)的油墨、顏料、磁性材料或類似的材料。然而這些附加的工作 及輔助物質(zhì)可能與測(cè)試元件的功能互動(dòng)，例如可能影響測(cè)試材料(例如 用于測(cè)試血糖或其它代謝產(chǎn)物的測(cè)試化學(xué)品)的功能。因此一般來(lái)說， 必須廣泛地檢查并確保用于標(biāo)記的工作及輔助物質(zhì)的安全性，例如為了 取得相應(yīng)的法規(guī)批準(zhǔn)。
已知方法的另一個(gè)缺點(diǎn)是，對(duì)于用來(lái)標(biāo)記的工作及輔助物質(zhì)來(lái)說， 許多已知的應(yīng)用方法復(fù)雜且容易出錯(cuò)。例如，可以借助于印刷方法施加 用于標(biāo)記的顏料或油墨，然而這種方法本身在許多情況下是容易出錯(cuò) 的。
另一個(gè)缺點(diǎn)是，現(xiàn)有技術(shù)中通常用來(lái)標(biāo)記所施加的工作及輔助物質(zhì) 在許多情況下是以液體的形式施加的，這樣在施加之后就需要有干燥時(shí) 間。在許多情況下這些標(biāo)記的干燥時(shí)間限制了生產(chǎn)過程的制造速度，從 而相當(dāng)大地增加生產(chǎn)成本。
發(fā)明內(nèi)容
因此本發(fā)明的目的是提供一種基本上避免已知標(biāo)記方法的上述缺點(diǎn) 的標(biāo)記方法。該標(biāo)記方法應(yīng)該能簡(jiǎn)單、快速和可靠地標(biāo)記有缺陷的測(cè)試 元件，并且旨在能夠以不顯著增加生產(chǎn)成本的方式做到這一點(diǎn)。
本發(fā)明提供用于標(biāo)記有缺陷的測(cè)試元件的標(biāo)記方法、涉及該標(biāo)記方 法的生產(chǎn)方法、用于標(biāo)記有缺陷的測(cè)試元件的標(biāo)記裝置、用于在使用標(biāo) 記裝置時(shí)生產(chǎn)測(cè)試元件的生產(chǎn)裝置以及使用根據(jù)本發(fā)明方法生產(chǎn)的測(cè) 試元件的分析測(cè)試儀器。在所附的權(quán)利要求當(dāng)中給出了本發(fā)明的有利優(yōu) 化。可以單獨(dú)或相互組合地實(shí)施這些優(yōu)化方案。因此在此將所有權(quán)利要 求的措辭引入到說明書內(nèi)容當(dāng)中。
測(cè)試元件適于檢測(cè)樣品中的至少 一種待分析物。它們例如可以是現(xiàn) 有技術(shù)中已知的上述類型的測(cè)試元件，例如用于測(cè)試液體樣品(尤其是 血液、尿液、間隙脂肪組織或其它體液)中的代謝產(chǎn)物的測(cè)試元件。然 而測(cè)試元件也可用于其它類型的待分析物和樣品。測(cè)試元件例如可以設(shè) 置成條的形式、葉的形式、盤的形式、帶的形式或類似的設(shè)置，在每種 情況下為單個(gè)或幾個(gè)組合在一起。測(cè)試元件可以適合一種或多種物質(zhì)的
測(cè)試，它們尤其可以具有一個(gè)或多個(gè)測(cè)試域(test field),樣品可以施加到這些域上，或可以使樣品與這些域接觸。
像現(xiàn)有技術(shù)中已知的方法一樣，設(shè)定標(biāo)記方法，使得對(duì)至少一些測(cè) 試元件提供包含測(cè)試元件缺陷信息的缺陷標(biāo)記。例如，可以對(duì)確定為有 缺陷的測(cè)試元件提供相應(yīng)的標(biāo)記。
與例如進(jìn)行著色標(biāo)記的現(xiàn)有技術(shù)形成對(duì)比的是，該測(cè)試元件包括至 少一種對(duì)輻射敏感的材料。為了被標(biāo)記的目的，使測(cè)試元件暴露于至少 一種輻射，所述至少一種輻射是適于和/或選定用于在輻射敏感材料中 引發(fā)其形式為至少一種光學(xué)可測(cè)試的變化的標(biāo)記。
與現(xiàn)有技術(shù)形成對(duì)比的是，在測(cè)試元件上應(yīng)用附加的標(biāo)記物質(zhì)因此
是不必要的；相反，優(yōu)選利用測(cè)試元件本身的輻射敏感性質(zhì)來(lái)標(biāo)記測(cè)試 元件。作為可選或另外的方案，還可以在測(cè)試元件上應(yīng)用與測(cè)試元件的 功能無(wú)關(guān)的標(biāo)記，特別是測(cè)試元件的測(cè)試域中的測(cè)試化學(xué)物質(zhì)，例如應(yīng) 用到測(cè)試元件的支撐帶上或獨(dú)立于測(cè)試域的單獨(dú)的標(biāo)記域上。標(biāo)記可以 非接觸地進(jìn)行，從而不會(huì)影響測(cè)試元件的生產(chǎn)(例如機(jī)械接觸的形式)。 因此可以避免影響到基本的加工參數(shù)，例如測(cè)試元件帶上的張力，這在 應(yīng)用液體標(biāo)記的手段時(shí)是可能發(fā)生的。此外，借助于輻射施加不合格標(biāo) 記幾乎與制造速度無(wú)關(guān)，因而這是一種非常穩(wěn)固的標(biāo)記方法。標(biāo)記一般 只有 一個(gè)輻射劑量的問題。
此外，除了附加標(biāo)記物質(zhì)的材料成本方面外，根據(jù)本發(fā)明的標(biāo)記方 法也省卻了材料的供應(yīng)、存儲(chǔ)及釋放的成本。還有， 一般沒有必要通過 精細(xì)的實(shí)證測(cè)試來(lái)確定標(biāo)記物質(zhì)與未標(biāo)記的測(cè)試元件是否存在著相互 作用。這同樣也避免了對(duì)特定標(biāo)記物質(zhì)的傳送可靠性的重要依賴。
特別當(dāng)利用測(cè)試元件本身的測(cè)試材料的輻射敏感性質(zhì)時(shí)，所述的優(yōu) 點(diǎn)變得明顯起來(lái)。如上文所迷，許多類型的測(cè)試元件包含這種測(cè)試材料， 它們也經(jīng)常被稱為"檢測(cè)化學(xué)物質(zhì)"或"測(cè)試化學(xué)物質(zhì)"，且被選定和適于 當(dāng)樣品中存在至少一種待分析物時(shí)改變至少一種可測(cè)量的性質(zhì)，尤其是 可測(cè)量的電和/或光學(xué)性質(zhì)。在這方面可參考現(xiàn)有技術(shù)中已知的測(cè)試元 件以及其上所使用的測(cè)試化學(xué)物質(zhì)，后者例如應(yīng)用在測(cè)試元件的測(cè)試域 上。
這種檢測(cè)化學(xué)物質(zhì)或這種測(cè)試材料本身通常具有輻射敏感的性質(zhì)。 尤其是當(dāng)使用光學(xué)測(cè)試元件時(shí)即是如此，其中至少 一種待分析物以顏色 變化或熒光變化的形式被檢測(cè)出來(lái)。然而通過適當(dāng)選擇輻射，使用其它特別優(yōu)選的是，設(shè)計(jì)可檢測(cè)的變化，從而使它們?yōu)椴豢赡娴?。然?至少來(lái)說，可檢測(cè)的變化應(yīng)該具有幾分鐘的穩(wěn)定性，優(yōu)選從數(shù)小時(shí)直到 數(shù)天。如果標(biāo)記保留在測(cè)試元件上，例如為了隨后由相應(yīng)的適用分析儀 器讀出，甚至更長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定性是必要的，例如光學(xué)可檢測(cè)的變化在從 數(shù)月到幾年的時(shí)期上是穩(wěn)定的。
在其中測(cè)試元件的測(cè)試材料本身用作輻射敏感材料并因此存儲(chǔ)可能 的缺陷信息的情況下，可以完全不用為標(biāo)記而在測(cè)試元件上應(yīng)用附加物 質(zhì)。這使上文闡述的優(yōu)點(diǎn)(不必檢查相容性的、成本減少等)特別明顯是 有益的.
如上所述，為了標(biāo)記測(cè)試元件，對(duì)于使用的測(cè)試材料或測(cè)試化學(xué)物 質(zhì)確定測(cè)試元件的測(cè)試域之分析功能的情況來(lái)說，作為這種情況的替代 方案或另外的方案，在測(cè)試元件上的測(cè)試域之外也可以應(yīng)用標(biāo)記。為此， 舉例來(lái)說，測(cè)試元件的支撐材料(例如支撐帶)本身可以包含能用于標(biāo)記 的輻射敏感材料。作為替代或附加的方案，在測(cè)試元件上還可以應(yīng)用與 測(cè)試材料或測(cè)試化學(xué)物質(zhì)無(wú)關(guān)且具有輻射敏感性質(zhì)的單獨(dú)的標(biāo)記材料。 例如，可以提供單獨(dú)的標(biāo)記域，其中包含輻射敏感材料，并因此可以被 標(biāo)記。也可以設(shè)想任何理想的組合，例如在測(cè)試域上的標(biāo)記(在這種情 況下，測(cè)試域具有第一輻射敏感材料)和在單獨(dú)的標(biāo)記域(其中具有第二 輻射敏感材料)上的標(biāo)記。因此，本發(fā)明還提供一種適用于這種標(biāo)記方 法的測(cè)試元件，其具有至少一個(gè)與(多個(gè))測(cè)試域分開并具有輻射敏感材 料的標(biāo)記域。在這里"分開"用意是指功能的分離，但不一定是嚴(yán)格的空 間分離。例如標(biāo)記域可以毗鄰測(cè)試域、與它們部分重疊或者甚至疊放成 層結(jié)構(gòu)(例如在測(cè)試域的下面)，這樣測(cè)試域的整體功能不受標(biāo)記域的影 響。
在輻射敏感材料中的該至少一種光學(xué)可檢測(cè)的變化無(wú)論其只與測(cè)試 域本身有關(guān)還是與單獨(dú)的標(biāo)記域有關(guān)，都可以隨后用適當(dāng)?shù)膫鞲衅鬟M(jìn)行 記錄，并作為不合格標(biāo)記。以下將更詳細(xì)地討論這種記錄的可能設(shè)置。
應(yīng)該指出的是，并非絕對(duì)必須用輻射來(lái)標(biāo)記有缺陷的測(cè)試元件；相 反，借助于所描述的光學(xué)可檢測(cè)的變化的"反向"標(biāo)記也是可行的。例如， 每個(gè)被確認(rèn)為無(wú)缺陷的測(cè)試元件可借助于輻射被標(biāo)記，而每個(gè)被確認(rèn)為 有缺陷的測(cè)試元件則不被標(biāo)記。中間階段或其它類型的缺陷標(biāo)記也是可行的，例如通過利用該至少一種輻射將有關(guān)測(cè)試元件質(zhì)量水平的信息 "書寫"到輻射敏感材料中，例如為比特值的形式。因此缺陷標(biāo)記的信息 內(nèi)容可以不同地進(jìn)行設(shè)置，并可以按不同的方式包含相應(yīng)標(biāo)記的測(cè)試元 件(和/或甚至是多個(gè)測(cè)試元件，即例如一批中的其它多個(gè)測(cè)試元件)的 有關(guān)缺陷(還可以包括不含缺陷)的信息。如上所述，這例如可以涉及到 "有缺陷"、"沒有缺陷"、質(zhì)量水平的信息或類似的信息。借助于至少一 種輻射將這種有關(guān)相應(yīng)的標(biāo)記測(cè)試元件的缺陷的信息引入到輻射敏感 材料中。
說，特別優(yōu)選的是包括電磁輻射。已經(jīng)特別發(fā)現(xiàn)使用紫外輻射是有利的，
即波長(zhǎng)范圍在l nm至400 nm之間的輻射。250 nm至400 nm的波長(zhǎng)范圍是 特別優(yōu)選的，尤其是350 nm至380 nm之間的波長(zhǎng)范圍，因?yàn)檫@一波長(zhǎng)范 圍不僅與常規(guī)測(cè)試材料的感光度吻合良好，而且在技術(shù)上也容易實(shí)現(xiàn)。 因此優(yōu)選使用UV光(尤其是所述優(yōu)選波長(zhǎng)范圍的)是有利的，特別是當(dāng)結(jié) 合使用濕化學(xué)物質(zhì)為缺陷信息的信息介質(zhì)時(shí)，因?yàn)樵S多的這些測(cè)試材料 或濕化學(xué)物質(zhì)能非常敏感地與UV輻射發(fā)生作用，特別是對(duì)于待分析物的 光學(xué)檢測(cè)。例如，測(cè)試材料的有機(jī)成分中的多重鍵可以被UV輻射永久性 地?cái)嗔?，這相應(yīng)地可以由顏色變換或另外的光學(xué)可檢測(cè)的變化識(shí)別出 來(lái)。
為了產(chǎn)生該至少一種輻射，優(yōu)選可以使用白熾燈、氣體放電燈、激 光、發(fā)光二極管、閃光燈或這種光源的組合，它們優(yōu)選相應(yīng)至少部分地 在紫外光譜范圍內(nèi)發(fā)光.
根據(jù)上述的說明，光學(xué)可檢測(cè)的變化例如可以包括顏色變化、發(fā)光 (例如焚光和/或磷光)的變化、反射率的變化或這些變化和/或進(jìn)一步變 化的組合。
建議的標(biāo)記方法例如可以用作"獨(dú)立"方法，用以對(duì)已經(jīng)完全制造出 來(lái)的測(cè)試元件進(jìn)行標(biāo)記。然而特別優(yōu)選的是在生產(chǎn)所述類型的測(cè)試元件 的生產(chǎn)方法范圍內(nèi)將建議的標(biāo)記方法整合在一個(gè)建議的實(shí)施方案中。在 這一生產(chǎn)方法中生產(chǎn)出多個(gè)測(cè)試元件，并且至少 一個(gè)測(cè)試元件(優(yōu)選所 有的測(cè)試元件和/或正在進(jìn)行生產(chǎn)的測(cè)試元件的隨機(jī)樣品)經(jīng)受缺陷檢 查。
例如，正如上文所述，這一缺陷檢查可以涉及光學(xué)檢查(例如顏色和/或熒光測(cè)量)、視覺檢查(例如在模式識(shí)別范圍內(nèi)，特別是借助于數(shù)字 圖像處理程序)熒光檢查或相似類型的缺陷檢查或缺陷檢查的組合。例
形，或者i;已經(jīng)正確地應(yīng)用、檢測(cè)化學(xué)物質(zhì)(例如、是否已經(jīng)應(yīng)用測(cè)試: 和/或是否這一測(cè)試域在應(yīng)用期間已經(jīng)變形)等等。測(cè)試域的均勻性代表 缺陷檢查的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的另一例子。例如，能夠檢查是否均勻地包含測(cè)試 化學(xué)物質(zhì)和/或測(cè)試域上的層厚是否不變。例如可以借助于在可見光、 紅外或紫外光語(yǔ)范圍上的檢查來(lái)檢查這種均勻性。作為替代或附加的方 案，層厚和/或均勻性的檢查也可以通過偏光法、透射法、機(jī)械抽樣法 或其它慣常的層厚測(cè)定法進(jìn)行，這些方法優(yōu)選可以對(duì)表面進(jìn)行取樣或同 時(shí)記錄。因此，舉例來(lái)說，可以找到測(cè)試域生產(chǎn)當(dāng)中的缺陷(例如印刷 方法中的缺陷)。在這種情況下可以規(guī)定均勻性的容許閾值(例如測(cè)試域 內(nèi)層厚值的"容許"范圍)，用以認(rèn)定測(cè)試域或測(cè)試元件為無(wú)缺陷的或有 缺陷的。缺陷檢查的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的另一個(gè)例子是距離檢查，其中使(例如 光學(xué)方式地，借助于模式識(shí)別)測(cè)試元件上和/或中的特定元件的間距與 閾值進(jìn)行比較。例如，可以檢查是否測(cè)試域彼此間具有預(yù)定的距離和/ 或是否測(cè)試域與特定的標(biāo)記具有預(yù)定的距離。二維或三維的距離監(jiān)視也 是可能的。此外還可以規(guī)定這樣的容許范圍，在該范圍內(nèi)的距離測(cè)量仍 然是可以允許的，而該范圍以外的測(cè)試元件被確定為有缺陷的。此外， 作為替代或附加的方案，還可以采用電學(xué)或電化學(xué)的測(cè)量方法，例如電 阻測(cè)量、阻抗測(cè)量或類似類型的測(cè)量。也可以采用所述缺陷檢查類型和
/或其它類型的缺陷檢查的組合，這是本領(lǐng)域的技術(shù)人員已知的。
缺陷檢查可以在測(cè)試元件的生產(chǎn)期間就已經(jīng)開始進(jìn)行，這樣例如可 以使之被整合到生產(chǎn)線中。作為替代或附加的方案，也可以在生產(chǎn)之后 完成缺陷檢查。
可以采用本領(lǐng)域技術(shù)人員已知的常規(guī)方法生產(chǎn)測(cè)試元件，例如厚膜 方法、半導(dǎo)體技術(shù)的方法、印刷方法或者這些/或其它常見方法步驟的 組合。測(cè)試元件的生產(chǎn)是本領(lǐng)域的技術(shù)人員已知的。特別是可以采用下 文更詳細(xì)敘述的帶式方法。此外，可優(yōu)選單獨(dú)地生產(chǎn)測(cè)試材料，隨后將 其應(yīng)用到帶或另外類型的支撐體上(例如層壓方法)。
缺陷檢查期間或之后決定測(cè)試元件是否是有缺陷。類似于以上描述 中的術(shù)語(yǔ)"缺陷信息"或"缺陷標(biāo)記"，應(yīng)廣義地理解術(shù)語(yǔ)"有缺陷的"。例如，其可以涉及"數(shù)碼，，缺陷，例如形式為有缺陷或無(wú)缺陷(在這種情況 下也可以分別規(guī)定容許閾值，例如可容許的缺陷閾值)，或一些中間信 息項(xiàng)目。這種中間信息例如可以相應(yīng)地包含相應(yīng)4皮檢查的測(cè)試元件的質(zhì) 量等級(jí)，而這例如可以再次被表示為比特值。
在缺陷檢查以后或已在缺陷檢查期間，可以相應(yīng)地對(duì)測(cè)試元件提供 缺陷標(biāo)記，其包含有關(guān)相應(yīng)測(cè)試元件缺陷的信息。有關(guān)缺陷的這方面信 息可以參考上述的說明。對(duì)于至少一個(gè)測(cè)試元件的這種標(biāo)記，在給出的 實(shí)施方案之一中采用根據(jù)以上描述的標(biāo)記方法。
例如，如上所述，測(cè)試元件的至少一種測(cè)試材料(測(cè)試化學(xué)物質(zhì))可 以相應(yīng)地被用作標(biāo)記的信息介質(zhì)。例如，同以上的說明一樣，可以設(shè)定 標(biāo)記方法，從而4吏檢測(cè)化學(xué)物質(zhì)或測(cè)試化學(xué)物質(zhì)著色。按這種方式，特 別來(lái)i兌，可以令測(cè)試元件或測(cè)試元件的 一部分(例如特定的測(cè)試域)不可 用，這樣可以從待分析物的檢測(cè)中排除錯(cuò)誤的測(cè)量值。
隨后可以進(jìn)一步利用包含在缺陷標(biāo)記中的這至少一個(gè)信息項(xiàng)目。特 別是，可以棄用在否定步驟中標(biāo)記的測(cè)試元件。這自然是有利的，特別
這樣被標(biāo)記為有缺陷的測(cè)試元件(即，依照所應(yīng)用的缺陷信息的類型， 指出了質(zhì)量水平不足之缺陷信息的標(biāo)記或未標(biāo)記的測(cè)試元件或多個(gè)測(cè) 試元件)可以被丟棄和例如,皮處理掉。例如，可以在共同的支撐帶上生 產(chǎn)出作為帶件的多個(gè)測(cè)試元件，在這種情況下，帶件例如可隨后被保持 在帶盒中。被確定為有缺陷的測(cè)試元件例如可以在被接收于帶盒當(dāng)中之 前被剪除，余下的無(wú)缺陷帶隨后可以在拼接步驟中被重新組裝起來(lái)。按 這樣的方式，即使在帶件當(dāng)中也可以避免有缺陷的測(cè)試元件。作為替代 或附加的方案，隨后也可以分割帶件，從而使得可以棄用有缺陷的測(cè)試 元件。按此方式，相應(yīng)地可以確?；旧纤羞M(jìn)入市場(chǎng)的測(cè)試元件是無(wú) 缺陷的。
還可以這樣設(shè)置帶件，從而(如在對(duì)現(xiàn)有技術(shù)進(jìn)行描述的導(dǎo)言中所述 的那樣)使之被保持在帶盒中。這種情況下測(cè)試帶可以包含多個(gè)測(cè)試元 件，這些測(cè)試元件例如可以被相繼〗吏用。例如，可以特別標(biāo)記缺陷元件， 從而使它們不能被使用，通過分析儀器將它們確定為有缺陷的，或者另 外使它們的使用受到限制。然而作為替代或附加的方案，優(yōu)選的是對(duì)帶 進(jìn)行組裝，從而使之不包含任何有缺陷的測(cè)試元件，例如通過上述的切割過程，隨后進(jìn)行丟棄和其余帶的拼接。
優(yōu)選可以進(jìn)一步設(shè)計(jì)生產(chǎn)方法，從而使之任選在其中應(yīng)用至少一個(gè) 缺陷標(biāo)記的至少一個(gè)方法步驟之后包括檢查步驟。在這個(gè)檢查步驟中可 以檢查是否已經(jīng)正確地應(yīng)用了缺陷標(biāo)記。例如，這可以通過監(jiān)視輻射敏 感材料中的至少一種光學(xué)可檢測(cè)的變化并使之與設(shè)定值比較來(lái)完成。例 如，這個(gè)設(shè)定值可以存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器中，例如存儲(chǔ)在也用于缺陷標(biāo)記 本身的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器(如移位寄存器)中。按此方式可以直接檢查是否已經(jīng) 正確地進(jìn)行了缺陷標(biāo)記。如果發(fā)現(xiàn)并非如此，則可以對(duì)技術(shù)人員發(fā)出提 醒，和/或可以對(duì)有缺陷標(biāo)記的測(cè)試元件進(jìn)行再次標(biāo)記和/或丟棄?？梢?設(shè)想各種其它的可能性。
對(duì)應(yīng)于上面給出的標(biāo)記方法和在所述實(shí)施方案之一中的相應(yīng)的生產(chǎn) 方法，本發(fā)明進(jìn)一步提供了用于標(biāo)記有缺陷的測(cè)試元件的標(biāo)記裝置。該 標(biāo)記裝置尤其可以適于實(shí)施在替代實(shí)施方案之一中所述類型的標(biāo)記方 法。因此，該標(biāo)記裝置具有至少一個(gè)輻射源，用于使測(cè)試元件暴露于至 少一種輻射當(dāng)中。關(guān)于這一輻射的效果和標(biāo)記裝置中的標(biāo)記的可能類 型，可以參考以上的說明。
標(biāo)記裝置可以進(jìn)一步包括至少一個(gè)測(cè)試裝置，其適于使至少一個(gè)測(cè) 試元件經(jīng)受缺陷測(cè)試。優(yōu)選所有的測(cè)試元件或測(cè)試元件的隨機(jī)樣品都經(jīng) 受這種缺陷檢查。關(guān)于缺陷檢查的可能設(shè)置，同樣可以參考以上的說明。 標(biāo)記方法適于識(shí)別和/或確定測(cè)試元件是否是有缺陷的。關(guān)于術(shù)語(yǔ)"有缺 陷的，，及其可能的含意，同樣可以參考以上的說明。
根據(jù)對(duì)可能的標(biāo)記方法的上述說明，輻射源可相應(yīng)地例如具有白熾 燈、氣體放電燈、激光、發(fā)光二極管、閃光燈或者這些和/或其它輻射 源的組合，特別是用于根據(jù)以上的描述產(chǎn)生紫外輻射，并且是上文所述 的優(yōu)選波長(zhǎng)范圍。當(dāng)標(biāo)記裝置具有多個(gè)模塊化構(gòu)造的光源時(shí)，特別優(yōu)選 的是實(shí)現(xiàn)高度的平行性和由此而來(lái)的標(biāo)記方法的高透光率。特別來(lái)說， 這些可以是用于產(chǎn)生紫外光的多個(gè)模塊化構(gòu)造的光發(fā)生器單元。這些模 塊化構(gòu)造的光發(fā)生器單元例如可以包括多個(gè)同樣的光發(fā)生器單元，它們 例如可以被設(shè)置在標(biāo)記裝置的線路隔間中。例如，線路隔間可以以相同 的嵌入式架的形式接收這些光發(fā)生器單元.
標(biāo)記裝置可以包含至少一個(gè)應(yīng)用位置，在這些位置上對(duì)部分或全部 的測(cè)試元件提供缺陷標(biāo)記。為了實(shí)現(xiàn)高水平的平行性和由此而來(lái)的高透光率，也可以提供多個(gè)應(yīng)用位置。例如，可以將一個(gè)或多個(gè)測(cè)試域形式 的測(cè)試材料(測(cè)試化學(xué)物質(zhì)、檢測(cè)化學(xué)物質(zhì))分別應(yīng)用到測(cè)試元件上，在 這種情況下可以對(duì)每個(gè)測(cè)試域提供單獨(dú)的應(yīng)用位置。
特別優(yōu)選的是標(biāo)記裝置進(jìn)一步具有至少一個(gè)波導(dǎo)，所述波導(dǎo)適于將 輻射從該至少一個(gè)輻射源引導(dǎo)到應(yīng)用位置。依照所使用的輻射的類型， 該至少一個(gè)波導(dǎo)尤其可以為光波導(dǎo)。如果輻射使用紫外光，這也是特別 優(yōu)選的，則該光波導(dǎo)應(yīng)與被使用的相應(yīng)波長(zhǎng)相匹配?？梢允褂脛傂曰蛉?性的波導(dǎo)，例如塑料和/或玻璃材料的波導(dǎo)。這種波導(dǎo)例如可以被生產(chǎn) 成剛性塑料波導(dǎo)。然而特別優(yōu)選的是該波導(dǎo)包括至少一種纖維光導(dǎo)，即， 柔性光導(dǎo)。可以分別使用玻璃纖維和/或作為特別優(yōu)選的塑料纖維光導(dǎo)。 依照所需的輻射性能，可以使用多模或單模纖維。
舉例來(lái)說，可以將例如為塑料纖維光導(dǎo)的多個(gè)纖維光導(dǎo)結(jié)合，形成
纖維束。例如，可以通過一個(gè)或多個(gè)纖維束使上述優(yōu)選的uv光發(fā)生器單 元與至少一個(gè)應(yīng)用位置連接，所述uv光發(fā)生器單元優(yōu)選位于標(biāo)記裝置的 線路隔間中。
如果使用纖維束，則特別優(yōu)選標(biāo)記裝置包括至少一個(gè)截面轉(zhuǎn)換器。 使該截面轉(zhuǎn)換器適于保持至少一個(gè)纖維束的多個(gè)纖維光導(dǎo)，使得纖維光 導(dǎo)的纖維末端在應(yīng)用位置上按預(yù)定的模式布置。按此方式，通過纖維末 端的相應(yīng)布置形成一種模式，測(cè)試元件的透光率可以提高，因?yàn)榭梢云?行地暴露多個(gè)測(cè)試元件，可以增大強(qiáng)度和輻射劑量(通過使用多條纖維 的同時(shí)暴露和/或相繼使用多條纖維的暴露)，甚至可以將多個(gè)缺陷標(biāo)記 同時(shí)寫到單個(gè)的測(cè)試元件上。
標(biāo)記裝置的這種設(shè)置明顯是有利的，特別是當(dāng)以連續(xù)的過程生產(chǎn)測(cè) 試元件時(shí)，這同樣也是優(yōu)選的。例如，可以以連續(xù)測(cè)試元件帶的形式生 產(chǎn)測(cè)試元件，如上所述，連續(xù)測(cè)試元件帶隨后被分割，或者作為整體或 分段保持在帶盒中。在這種情況下，通過截面轉(zhuǎn)換器所產(chǎn)生的纖維末端 的模式可以允許在應(yīng)用位置上沿例如平行于帶的運(yùn)行方向和作為替代 或附加地在垂直于帶的運(yùn)行方向上同時(shí)照射。也可以同步處理多條帶， 例如通過多條帶，平行產(chǎn)生測(cè)試元件。例如，當(dāng)生產(chǎn)帶件時(shí)，最初可以 生產(chǎn)出寬帶，多個(gè)測(cè)試元件分別平行設(shè)置，其然后被切成若干子帶(例 如在切割過程中)。
標(biāo)記裝置在應(yīng)用位置上可以具有導(dǎo)引臺(tái)，其中可以使至少兩個(gè)、優(yōu)選至少五個(gè)測(cè)試元件同時(shí)暴露于輻射。例如，可以使五個(gè)帶有測(cè)試元件 的帶或子帶同時(shí)通過導(dǎo)引臺(tái)。
對(duì)于通過截面轉(zhuǎn)換器所產(chǎn)生的預(yù)定模式，特別是線模式(例如平行和 /或垂直于帶的運(yùn)動(dòng)方向的線)，矩陣模式或矩形模式是優(yōu)選的。其它模 式當(dāng)然也是可以的。還可以相互平行地設(shè)置多個(gè)截面轉(zhuǎn)換器，例如纖維 末端分別線性排列的多個(gè)截面轉(zhuǎn)換器。特別在上述替代實(shí)施方案中是有 利的，其中平行地產(chǎn)生多個(gè)帶有測(cè)試元件的測(cè)試帶，因?yàn)槔绨创朔绞剑?截面轉(zhuǎn)換器與纖維末端模式可以分配給每個(gè)帶或子帶。
作為替代或附加的方式，標(biāo)記裝置可以進(jìn)一步具有至少一組對(duì)輻射 進(jìn)行光束整形的光束整形光學(xué)器件。例如，可以提供透鏡系統(tǒng)以便使測(cè) 試元件上的標(biāo)記或標(biāo)記的形狀成為所需的形狀，例如線型或矩形的形 狀。
除了標(biāo)記裝置之外，本發(fā)明進(jìn)一步提供用于生產(chǎn)測(cè)試元件的生產(chǎn)裝 置，特別可以使之適于根據(jù)上述生產(chǎn)方法在所述方法的變化形式之一中 生產(chǎn)測(cè)試元件。生產(chǎn)裝置中具有用于生產(chǎn)多個(gè)測(cè)試元件的制作裝置。如 上所述，現(xiàn)有技術(shù)中已知的生產(chǎn)裝置例如可用做此制作裝置，例如使用 半導(dǎo)體和/或厚膜工藝和/或印刷方法和/或粘接方法運(yùn)行的生產(chǎn)裝置。 尤其是，可以使生產(chǎn)裝置適于連續(xù)地生產(chǎn)多個(gè)測(cè)試元件，例如以帶工藝 的形式，多個(gè)測(cè)試元件保持于帶上。隨后可以分割這些測(cè)試元件，或者 例如可以在帶盒中使用帶本身。
根據(jù)上述實(shí)施方案之一，生產(chǎn)裝置進(jìn)一步具有至少一個(gè)標(biāo)記裝置。 除此以外，生產(chǎn)裝置可進(jìn)一步具有至少一個(gè)用于棄用被標(biāo)記為有缺陷的 測(cè)試元件的分選裝置。當(dāng)例如為帶有測(cè)試元件的帶盒生產(chǎn)帶件時(shí)，優(yōu)選 生產(chǎn)裝置進(jìn)一步具有切割和拼接裝置，即，該裝置可以從帶上切除有缺 陷的測(cè)試元件，以便隨后將此帶再粘接到一起，或以另外的方式重新組 裝，例如進(jìn)行層壓。按此方式可以生產(chǎn)出帶有無(wú)缺陷的測(cè)試元件的環(huán)狀 帶。再次來(lái)說，應(yīng)廣義地理解術(shù)語(yǔ)"有缺陷的"和"無(wú)缺陷的"，對(duì)此可以 參考上述的說明。例如，可以再次規(guī)定容許閾值。依照在生產(chǎn)期間或之 后測(cè)試元件是否被分割的情況，有缺陷的元件不是被丟棄，而是例如還 可以保留在帶上，只是隨后不被使用而已，例如由標(biāo)記讀出(也見下文)。
生產(chǎn)裝置特別可以進(jìn)一步具有至少一個(gè)測(cè)試裝置。該測(cè)試裝置適于 使測(cè)試元件經(jīng)受缺陷檢查。對(duì)此可以采用上文已經(jīng)描述的缺陷檢查方法，即例如電學(xué)、電化學(xué)或光學(xué)測(cè)量或這些缺陷檢查方法的組合。例如， 測(cè)試裝置可以包括相機(jī)，通過它來(lái)記錄測(cè)試元件。作為替代或附加的方 式，例如還可以提供圖像識(shí)別系統(tǒng)，其例如適于檢測(cè)測(cè)試域和/或測(cè)試 元件的形狀與預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)的偏差(例如超出預(yù)定的容許閣值)。作為替代或 附加的情況，還可以使用一個(gè)或多個(gè)測(cè)試光源，例如用以檢查測(cè)試元件 的熒光性質(zhì)和/或顏色性質(zhì)和/或反射性能，例如測(cè)試化學(xué)物質(zhì)和/或一 個(gè)或多個(gè)測(cè)試域的性質(zhì)。此外，作為替代或附加的方式，同樣如上所述， 例如還可以提供一個(gè)或多個(gè)電阻測(cè)量裝置，和/或一個(gè)或多個(gè)阻抗測(cè)量 裝置，和/或用于電學(xué)或電化學(xué)缺陷檢查的類似裝置。生產(chǎn)裝置，特別 是測(cè)試裝置，作為替代或附加的情況，其可以進(jìn)一步包括一個(gè)或多個(gè)數(shù) 據(jù)存儲(chǔ)器，這些數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器可以為易失性和/或非易失性數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器。 在大批量生產(chǎn)的范圍內(nèi)，特別優(yōu)選該至少 一個(gè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器包括至少 一個(gè) 移位寄存器。例如，可相應(yīng)采取連續(xù)或逐步的生產(chǎn)工藝，其中在一個(gè)場(chǎng) 所借助于缺陷檢查裝置進(jìn)行缺陷檢查，在這種情況下的缺陷檢查結(jié)果可 以進(jìn)入數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器當(dāng)中，尤其是移位寄存器中。這樣可以相繼測(cè)試多個(gè) 測(cè)試元件，從而通過例如標(biāo)記裝置的移位寄存器的相應(yīng)讀數(shù)使目前處于 標(biāo)記裝置中的測(cè)試元件(例如在應(yīng)用位置上的一個(gè)或多個(gè)測(cè)試元件)在 信息項(xiàng)目上被賦值。按此方式可以借助于標(biāo)記裝置來(lái)標(biāo)記測(cè)試元件。類 似地，信息也可以隨后用于測(cè)試元件的丟棄。
與上面描述的實(shí)施檢查步驟的優(yōu)選方法類似，生產(chǎn)裝置可以進(jìn)一步 包括至少一個(gè)檢查裝置，其適于檢查在標(biāo)記裝置中是否已經(jīng)正確地進(jìn)行 了標(biāo)記。例如，檢查裝置可相應(yīng)從例如為移位寄存器的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器中接 收數(shù)據(jù)，優(yōu)選使用與標(biāo)記裝置可以訪問并且作為已經(jīng)應(yīng)用測(cè)試元件的缺 陷標(biāo)記之基礎(chǔ)的數(shù)據(jù)相同的數(shù)據(jù)。按此方式，通過交互參考可以確保至 少基本上來(lái)說標(biāo)記裝置在正確運(yùn)轉(zhuǎn)，并且例如可以確定出單個(gè)光源的失 效或其它類型的故障。如果確定出這種故障，則可以對(duì)生產(chǎn)裝置進(jìn)行設(shè) 置，從而使之丟棄有缺陷標(biāo)記的測(cè)試元件和/或向技術(shù)人員發(fā)送提醒或 采取類似的行動(dòng)。檢查裝置例如可以包括一個(gè)或多個(gè)光電二極管和/或 其它類型的光電探測(cè)器，用以監(jiān)視輻射敏感材料中的所述至少一種光學(xué) 可檢測(cè)的變化。還可以提供一個(gè)或多個(gè)光源，例如用以通過輻射敏感材 料的相應(yīng)暴露來(lái)協(xié)助光電探測(cè)器的功能。
本發(fā)明進(jìn)一步提供用于檢測(cè)樣品中的至少 一種待分析物的分析測(cè)試儀器，其包括至少一個(gè)由給出方法的變化形式之一的上述生產(chǎn)方法生產(chǎn) 的測(cè)試元件。作為測(cè)試元件上可能存在的缺陷標(biāo)記的對(duì)應(yīng)物，分析測(cè)試 儀器具有探詢裝置，該裝置被設(shè)置成確認(rèn)測(cè)試元件是否被標(biāo)記。為此目 的，使探詢裝置適于確定輻射敏感材料中的至少一種光學(xué)可檢測(cè)的變 化。
例如，該分析測(cè)試儀器可進(jìn)一步包括用于通過至少一個(gè)測(cè)試元件對(duì) 樣品中的至少一種待分析物進(jìn)行定量和/或定性檢測(cè)的驅(qū)動(dòng)及評(píng)估裝 置。特別優(yōu)選使分析測(cè)試儀器適于確定血糖濃度。在這種情況下，可以 使用單個(gè)的測(cè)試元件、保持在匣中的多個(gè)測(cè)試元件(在這種情況下，例 如測(cè)試元件分別從匣中取出)或保持在帶盒中的測(cè)試元件。其它類型的 測(cè)試元件也是可以的，例如可植入的測(cè)試元件。
因此探詢裝置用于探詢至少一個(gè)測(cè)試元件的缺陷標(biāo)記，優(yōu)選目前正 在使用或擬使用的至少一個(gè)測(cè)試元件。根據(jù)缺陷標(biāo)記中所栽的信息，如 果表明測(cè)試元件是有缺陷的，則可以采取不同的行動(dòng)。其中尤其是，可 以例如通過顯示器、光學(xué)指示器元件(例如提醒燈)、通過聲信號(hào)或通過 這些選項(xiàng)的組合對(duì)分析測(cè)試儀器的使用者發(fā)送提醒。作為替代或附加的 情況，也可以防止使用被標(biāo)記的測(cè)試元件進(jìn)行測(cè)試。此外，作為替代或 附加的情況，可能需要從保持在匣中的多個(gè)測(cè)試元件中取出新的測(cè)試元 件。例如如上文所講，所述匣中的所述測(cè)試元件可以為單個(gè)的測(cè)試元件 或者是柔性或剛性連接的測(cè)試元件。還可以例如使用帶盒，從而使得當(dāng) 一個(gè)測(cè)試域被確定為有缺陷時(shí)，可以向前繞到其后的測(cè)試域上。
本發(fā)明進(jìn)一步的細(xì)節(jié)及特征可見于以下結(jié)合從屬權(quán)利要求對(duì)優(yōu)選典 型實(shí)施方案的描述中。各自的特征可以各自地實(shí)現(xiàn)，或者幾個(gè)特征可以 相互組合地實(shí)現(xiàn)。本發(fā)明并不局限于典型的實(shí)施方案。典型實(shí)施方案示 意性地表示在圖中。圖中同樣的附注標(biāo)號(hào)表示相同的、或功能上等同的、 或就功能而言彼此相應(yīng)的元件。
圖l顯示根據(jù)本發(fā)明具有標(biāo)記裝置的生產(chǎn)裝置之典型實(shí)施方案的示
意結(jié)構(gòu)；
圖2顯示截面轉(zhuǎn)換器的典型實(shí)施方案；
圖3顯示具有多個(gè)測(cè)試域的帶形式的測(cè)試元件，其中一個(gè)測(cè)試域被標(biāo)圖4顯示分析測(cè)試儀器的典型實(shí)施方案；
圖5顯示借助于分析測(cè)試儀器確定待分析物濃度的方法的典型實(shí)施 方案；和
圖6顯示用于根據(jù)圖4之分析測(cè)試儀器的帶盒的典型實(shí)施方案。
標(biāo)記清單110生產(chǎn)裝置
112測(cè)試元件，分割的
114測(cè)試元件，盒裝的
116測(cè)試元件，帶件
118環(huán)狀帶
120輸送方向
122生產(chǎn)裝置
123粘接測(cè)試材料的粘接平臺(tái)
124中央控制單元
125切割裝置
126處理器
128數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器
130測(cè)試裝置
132相機(jī)
134圖像識(shí)別系統(tǒng)
136標(biāo)記裝置
138輻射源
140光發(fā)生器單元
142線路隔間
144單個(gè)光源
146纖維束
148塑料纖維光導(dǎo)
150截面轉(zhuǎn)換器
152應(yīng)用位置
154導(dǎo)引臺(tái)156輻射
157控制裝置
158分割裝置
160分選裝置
162包裝裝置
164成品測(cè)試元件容器
166入盒裝置
167切割及拼接裝置
168供電單元
176uv發(fā)光二極管
182框
184開孔
186纖維末端
188模式
190應(yīng)用模塊
195定位標(biāo)i己
196測(cè)試域
198測(cè)試域
200測(cè)試域
201切割線
202輻射敏感材料
204整體測(cè)試域
206分析測(cè)試儀器
208激發(fā)裝置
210檢測(cè)裝置
212測(cè)試域
214測(cè)試位置
216罩
218外殼
220樣品
222驅(qū)動(dòng)及評(píng)估單元
224控制226顯示器
228用戶界面元件
230探詢裝置
232提供新的測(cè)試域/測(cè)試元件
234探詢標(biāo)記
236測(cè)試域/測(cè)試元件有缺陷？
238測(cè)試域/測(cè)試元件有缺陷
240測(cè)試域/測(cè)試元件無(wú)缺陷
242測(cè)量
244帶盒
246分析測(cè)試帶
248存儲(chǔ)軸
250帶導(dǎo)引物
252繞軸
254測(cè)試帶段
256測(cè)量位置
258支承框
260支撐帶
262測(cè)試域
264測(cè)量開孔
266軸心
268推入式密封體
270蓋部件
說明書第16/28頁(yè)
具體實(shí)施例方式
圖1代表用于生產(chǎn)檢測(cè)樣品中的至少 一種待分析物的測(cè)試元件的生
產(chǎn)裝置110的典型實(shí)施方案。依照這些測(cè)試元件在生產(chǎn)裝置110中占據(jù)的
生產(chǎn)狀態(tài)或階段，或者依照這些測(cè)試元件的構(gòu)造，在圖l中測(cè)試元件以
附注標(biāo)號(hào)112、 114和116表示。
圖l中的生產(chǎn)裝置110的單個(gè)元件只是象征性的排列。所表示的是連 續(xù)的生產(chǎn)過程，其中測(cè)試元件最初是在環(huán)狀帶118上生產(chǎn)成帶件116。例 如，該環(huán)狀帶118可以為紙帶，特別是多層涂布的紙帶。其它支撐材料也可以用作替代或附加的選擇，例如塑料帶、陶瓷帶、復(fù)合材料和類似
的支撐材料。例如聚乙烯片、PET片或另外的片材可以用作支撐材料。 從起始原料到成品測(cè)試元件112、 114的生產(chǎn)方向在圖1中是由左向右， 象征性地由圖1中的箭頭120表示。作為圖l所代表的連續(xù)生產(chǎn)過程的替 代方式，不連續(xù)的過程也是可行的，例如間歇過程，其中單獨(dú)或分批地 生產(chǎn)測(cè)試元件。在帶類型產(chǎn)品的情況下也可以這樣來(lái)做，例如將部分帶 件繞到支撐輥上，以便暫時(shí)存放和/或轉(zhuǎn)移到其它的方法部分中。還可 以中斷生產(chǎn)過程，從而例如可以對(duì)不同的制造階段在不同的場(chǎng)所(例如 在不同的平臺(tái)上)制造測(cè)試元件。此外，所示生產(chǎn)裝置110的生產(chǎn)過程的 個(gè)別工藝步驟之順序不是絕對(duì)必須的。即例如，也可以進(jìn)行半成品測(cè)試 元件的測(cè)試和標(biāo)記，以便于例如進(jìn)一步的生產(chǎn)步驟可以緊隨測(cè)試及標(biāo)記 之后。
生產(chǎn)裝置110具有制作裝置122,只是象征性地示于圖l中。在這里舉 例來(lái)說，可以提供具備測(cè)試域的環(huán)狀帶118，測(cè)試材料(以下也稱測(cè)試化 學(xué)物質(zhì)或檢測(cè)化學(xué)物質(zhì))可以相應(yīng)地應(yīng)用到環(huán)狀帶118上。該應(yīng)用例如可 以通過粘接來(lái)實(shí)施，這象征性地由圖1中的粘接平臺(tái)123表示。在這里， 例如通過粘接或?qū)訅哼^程，可以將具備測(cè)試材料(測(cè)試化學(xué)物質(zhì)、檢測(cè) 化學(xué)物質(zhì))的測(cè)試域粘連到支撐材料上。除了測(cè)試材料外，可以進(jìn)一步 應(yīng)用隨后用來(lái)在分析測(cè)試儀器中定位測(cè)試元件116的標(biāo)記，這也例如印 刷到支撐帶118上。
制作裝置122可以包括用于生產(chǎn)測(cè)試元件116的各種單個(gè)裝置，例如 涂料噴嘴、印刷機(jī)(例如絲網(wǎng)、模板、墊、噴墨或柔板印刷機(jī))或其它類 型的制作設(shè)備或制作設(shè)備的組合。若干帶也可以結(jié)合起來(lái)作為支撐材 料。也可以將制作過程部分地細(xì)分成單個(gè)的方法，例如以便于可以將諸 如印刷的支撐帶的半成品傳遞至制作裝置122。制作設(shè)備122的設(shè)備是測(cè) 試元件生產(chǎn)領(lǐng)域的技術(shù)人員已知的，不必進(jìn)一步詳細(xì)贅述。
特別優(yōu)選的是調(diào)整制作設(shè)備122，從而使之可生產(chǎn)寬支撐帶118，其 上彼此平行地設(shè)置多個(gè)測(cè)試元件116。例如，帶118最初可以設(shè)置成五個(gè) 這樣的測(cè)試元件路徑彼此依次排列。然后可以將這些切成單個(gè)的測(cè)試元 件帶，例如通過在切割裝置(由圖1中的125象征性地代表)中進(jìn)行縱向切 割。這種切割可以在圖l所示生產(chǎn)過程的不同階段進(jìn)行。然而不同的設(shè) 置也是可行的，即，只有一個(gè)支撐帶118的設(shè)置。該典型實(shí)施方案中的生產(chǎn)裝置110進(jìn)一步具有中央控制單元124。同 樣作為替代的方式，也可以偏離中心構(gòu)造該控制單元124，從而使生產(chǎn) 裝置110例如可以包括多個(gè)控制器。這些控制器可以彼此連接，或者它 們也可以獨(dú)立地操作。在該典型實(shí)施方案中，中央控制單元124包括至 少一個(gè)處理器126和至少一個(gè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器128。該至少一個(gè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器 128特別可以包括移位寄存器。例如可以用編程技術(shù)設(shè)置中央控制單元 124，用以控制生產(chǎn)方法，例如控制根據(jù)上述典型實(shí)施方案之一的生產(chǎn) 方法。
生產(chǎn)裝置110進(jìn)一步包括一個(gè)或多個(gè)測(cè)試裝置130。該測(cè)試裝置130 也只是象征性地示于圖l。例如，該測(cè)試裝置130可以包括一個(gè)或多個(gè)相 才凡132?？梢栽O(shè)置這些相機(jī)以，見察測(cè)試元件116上的測(cè)試域，所述測(cè)試元 件116例如在此生產(chǎn)階段仍是設(shè)置為帶件。測(cè)試裝置130可以進(jìn)一步包括 圖像識(shí)別系統(tǒng)134 ，其例如可以偏離中心地設(shè)計(jì)或(如象征性地示于圖1) 作為中央控制單元124的部件。圖像識(shí)別系統(tǒng)134可以特別地包含一個(gè)或 多個(gè)圖像識(shí)別軟件模塊，所述模塊例如可以在該至少一個(gè)處理器126上 運(yùn)行。圖像識(shí)別系統(tǒng)134可以適于評(píng)估相機(jī)132所產(chǎn)生的圖像數(shù)據(jù)。按此 方式可以確定何時(shí)測(cè)試元件116的測(cè)試域偏離了預(yù)定的形式，例如就它 們的形狀和/或顏色而言。按此方式，舉例來(lái)說，可以識(shí)別出制作裝置 122中出現(xiàn)的缺陷。原則上也可以發(fā)現(xiàn)其它類型的缺陷，還有其它類型 的測(cè)試裝置130,例如透射測(cè)量、反射測(cè)量、熒光測(cè)量、電阻測(cè)量、阻 抗測(cè)量或這些和/或其它測(cè)量的組合。
可以設(shè)置測(cè)試裝置130和/或中央控制單元124,從而使信息分配到測(cè) 試元件116的每個(gè)單個(gè)的測(cè)試域上。在最簡(jiǎn)單的情況中，該信息可以為l 位值，其例如進(jìn)入每個(gè)單個(gè)的測(cè)試域到達(dá)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器128的移位寄存器 中。按此方式，信息實(shí)際上與測(cè)試元件在輸送方向UO上傳輸。但也可 以設(shè)想其它類型的信息分配。下文假定儲(chǔ)存的是l位缺陷信息值，其中 例如""表示"無(wú)缺陷"，而"l"表示"有缺陷"。如上所詳述，缺陷信息的 其它設(shè)置也是可行的。
在圖1中的測(cè)試裝置130之后，測(cè)試元件116通過標(biāo)記裝置136，該裝 置也同樣只是象征性地示于圖l中。根據(jù)在如上所述的測(cè)試裝置130中的 缺陷檢查結(jié)果和例如相應(yīng)存儲(chǔ)在每個(gè)測(cè)試元件116和/或測(cè)試元件116的 每個(gè)測(cè)試域的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器128中的缺陷信息，測(cè)試元件116在此標(biāo)記裝置136中被標(biāo)記。特別設(shè)置標(biāo)記以便使得可以由此重建缺陷信息。例如， 可以整體地標(biāo)記每個(gè)測(cè)試元件116和/或單獨(dú)地標(biāo)記測(cè)試元件116的每個(gè) 測(cè)試域。下文中假定這樣進(jìn)行標(biāo)記，使有缺陷的測(cè)試域被標(biāo)記，而無(wú)缺 陷的測(cè)試域和/或無(wú)缺陷的測(cè)試元件116則不凈皮標(biāo)記。在目前的典型實(shí)施 方案中，假定測(cè)試元件的測(cè)試材料(即，測(cè)試元件的單個(gè)測(cè)試域中的測(cè) 試化學(xué)物質(zhì))本身用作信息介質(zhì)，即作為輻射敏感材料。這在下文中要 更詳細(xì)地解釋。
標(biāo)記裝置136具有光發(fā)生器單元140形式的輻射源138。該光發(fā)生器單 元單元140是模塊化構(gòu)造的，并且例如具有線路隔間142，帶有電供應(yīng)單 元168形式的電力供應(yīng)和多個(gè)模塊化的獨(dú)立光源144。這些獨(dú)立光源144 在圖1中象征性地以發(fā)光二極管代表，UV發(fā)光二極管是優(yōu)選使用的。
該典型實(shí)施方案中的輻射源138優(yōu)選通過具有多個(gè)塑料纖維光導(dǎo)148 的纖維束146與至少一個(gè)截面轉(zhuǎn)換器150連接。下文將借助圖2對(duì)該至少 一個(gè)截面轉(zhuǎn)換器150進(jìn)行更詳細(xì)的說明，將該至少一個(gè)截面轉(zhuǎn)換器設(shè)置 在優(yōu)選位于測(cè)試元件116之上的應(yīng)用位置152。優(yōu)選在導(dǎo)引臺(tái)154上的此 應(yīng)用位置導(dǎo)引測(cè)試元件116,在這種情況下，可以通過應(yīng)用位置152平行 導(dǎo)引多條帶(例如在切割裝置1"上進(jìn)行切割以后有五條帶)。導(dǎo)引臺(tái)l54 尤其可以確保測(cè)試元件116的帶準(zhǔn)確定位，特別是相對(duì)于截面轉(zhuǎn)換器150 準(zhǔn)確定位。按此方式，根據(jù)在標(biāo)記裝置136中擬進(jìn)行的測(cè)試元件116的標(biāo) 記，可以使測(cè)試元件116暴露于輻射156(只是象征性地示于圖1)。特別 可以相應(yīng)地通過中央控制單元124控制這種對(duì)輻射的暴露，例如根據(jù)存
據(jù)存儲(chǔ)器128之移位寄存器中的^息進(jìn)行控制。
通過應(yīng)用位置152后，原則上可以使用測(cè)試元件116。任選在圖l中提 供檢查裝置157，該裝置檢查在標(biāo)記裝置136中是否已經(jīng)正確地施加標(biāo) 記。例如，該檢查裝置157可以包括用于每個(gè)帶的單個(gè)光電二極管或其 它探測(cè)器，它們用來(lái)檢查標(biāo)記。可以例如在中央控制單元中評(píng)估該信息， 在此確定的標(biāo)記與存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器128、特別是移位寄存器中的設(shè)定 信息相比較。如果在這種情況下發(fā)現(xiàn)缺陷標(biāo)記，則例如可以發(fā)送提醒， 或者可以棄用相應(yīng)的測(cè)試元件116。
此外，任選還可以使測(cè)試元件116經(jīng)受其它的處理步驟，例如進(jìn)一步 至少部分地進(jìn)行涂布、應(yīng)用防護(hù)材料等。如上所述，為此目的，在輸送方向120上在應(yīng)用位置152的下游可以后續(xù)進(jìn)一步的制作裝置122。
如導(dǎo)言中所述，測(cè)試元件有許多不同的實(shí)施方案。因此在圖l中象征 性地表示了 "分支"形式的兩種可能性，這在本發(fā)明范圍中使用的測(cè)試元 件的眾多不同可能性的設(shè)置中只是一般的。因此可以例如在分割裝置 158中將作為"前體"的測(cè)試元件116帶件分割成單個(gè)的測(cè)試元件112，該 裝置同樣也象征性地示于圖l中。該分割裝置可繼之以分選裝置160，在 其中根據(jù)于應(yīng)用位置152所應(yīng)用的標(biāo)記可以將分割的測(cè)試元件112分為 無(wú)缺陷的和有缺陷的元件。然而如上所述，也可以這樣進(jìn)行分選，分成 多個(gè)等級(jí)，而不是進(jìn)行純粹的數(shù)字分選。然后隨著分選裝置160往下可 以是包裝裝置162，測(cè)試元件112在其中例如被入盒、裝匣和/或提供以 再包裝和/或泡罩包裝。如圖l中象征性所示，其結(jié)果為成品測(cè)試元件容 器164。
作為分割并生產(chǎn)單個(gè)測(cè)試元件112的替代方式，也可以將測(cè)試元件設(shè) 置成帶一樣的測(cè)試元件114.為此目的，例如可以切出帶件型測(cè)試元件 116的分段并在入盒裝置166中進(jìn)行處理，從而形成帶盒(象征性地示于 圖l)。為了一樣能夠從帶件形式的測(cè)試元件114中棄用有缺陷的測(cè)試元 件(即，適合單一測(cè)試的單個(gè)測(cè)試元件或適合多元測(cè)試的測(cè)試元件)，分 選裝置160可相應(yīng)地先于入盒裝置166。在此分選裝置160中，可以相應(yīng) 地由單個(gè)測(cè)試元件或測(cè)試元件分段(即，分別適合于單一測(cè)試的分段) 的標(biāo)記讀出缺陷信息。如果發(fā)現(xiàn)測(cè)試元件114或該測(cè)試元件114的分段有 缺陷，則例如可以切掉該分段。以便使得隨后仍然可以使連續(xù)帶入盒， 可相應(yīng)地將分選裝置160指向切割及拼接裝置167，該裝置設(shè)置在圖l中 的分選裝置160的下游。然而其它的設(shè)置也是可行的，例如切割及拼接 裝置167為分選裝置160之部件的設(shè)置。在切割及拼接裝置167中，標(biāo)記 為有缺陷的帶段被切掉、去除，而余下帶的端部例如通過粘接重新連起 來(lái)("拼接")。這項(xiàng)技術(shù)是傳統(tǒng)電影膠片技術(shù)中已知的。
就此而言，鑒于測(cè)試元件技術(shù)設(shè)置的許多不同的可能性，應(yīng)該指出 的是，在本發(fā)明的范圍內(nèi)應(yīng)廣義地理解術(shù)語(yǔ)"測(cè)試元件"。它們可以為具 有適合于定性或定量檢測(cè)至少一種待分析物的至少一個(gè)測(cè)試域的元件。 例如，可以使用具有單一測(cè)試域或多個(gè)測(cè)試域的單條形狀的測(cè)試元件 112為測(cè)試元件。例如，對(duì)特定的待分析物可以分別提供多個(gè)測(cè)試元件。 作為替代方式，像以上所述的那樣，也可以使用帶件為測(cè)試元件，以便在這種情況下提供帶樣的測(cè)試元件114。在這種情況下，整個(gè)帶樣測(cè)試 元件114的測(cè)試元件帶可以被稱為測(cè)試元件，或者例如分別帶有測(cè)試域 的這些帶樣測(cè)試元件114上的單個(gè)測(cè)試段可以被稱為測(cè)試元件。在不限 制可能的其它含義和不同命名的情況下，以下將采用后者，從而在帶件 的情況下，用于測(cè)試的單個(gè)測(cè)試段被稱為測(cè)試元件114。
可以特別地設(shè)置標(biāo)記裝置136的光發(fā)生器單元140或模塊化構(gòu)造的單 個(gè)光源144,使得單個(gè)光源144在線路隔間中組合，在此典型實(shí)施方案中， 一個(gè)供電單元168分別被分配給一排的五個(gè)單個(gè)光源144。
單個(gè)光源144例如分別由嵌入式外殼封閉，所述嵌入式外殼容許插入 到線路隔間142當(dāng)中。在嵌入式外殼的后側(cè)可以分別提供插塞連接器， 通過它可以對(duì)模塊化單個(gè)光源144供應(yīng)能量。通過這些插塞連接器可以 進(jìn)一步發(fā)生數(shù)據(jù)交換，例如以便于單個(gè)光源144(或包含在這些單個(gè)光源 144中的單個(gè)輻射源)可以被適當(dāng)?shù)仳?qū)動(dòng)，用以在標(biāo)記裝置136中方便地 控制標(biāo)記。例如，該控制可相應(yīng)通過中央控制單元124進(jìn)行。
單個(gè)光源144可以分別包含電子板，所述電子板例如可以包括一個(gè)或 多個(gè)安裝組件的印刷電路板。這些電子板上可以分別包含有多個(gè)發(fā)光二 極管，特別是UV發(fā)光二極管176，它可以優(yōu)選單獨(dú)被驅(qū)動(dòng)。這些UV發(fā)光 二極管176可優(yōu)選為波長(zhǎng)范圍在約250 nm至400 nm的發(fā)光二極管，尤其 是350至380 nm之間的范圍，其優(yōu)選具有50 mW至500 mW的功率，特別優(yōu) 選IOO mW至200 mW。在這一范圍上，"單個(gè)光源"144的表述不應(yīng)理解為 表示這些單個(gè)光源144分別只包括單一的輻射源；可以UV發(fā)光二極管176
的形式提供多個(gè)輻射源，如該典型實(shí)施方案。
對(duì)每個(gè)電子板例如可以提供數(shù)目等于五個(gè)的UV發(fā)光二極管176。關(guān)于 導(dǎo)光，例如可以在UV發(fā)光二極管176上方設(shè)置連接板，其中單個(gè)塑料纖 維光導(dǎo)148以它們的輸入端固定于連接板上。這種固定例如可以通過粘
接、夾緊或組合固定技術(shù)來(lái)實(shí)施。其它技術(shù)也是可行的。實(shí)施固定以使 得塑料纖維光導(dǎo)148的一個(gè)輸入端相應(yīng)地設(shè)置在一個(gè)UV發(fā)光二極管176 的上方，以便于將該UV發(fā)光二極管176的光相應(yīng)地輸入到一個(gè)塑料纖維 光導(dǎo)148中。這個(gè)簡(jiǎn)單的設(shè)置對(duì)于輸入來(lái)說一般是足夠的，雖然也可以 提供更復(fù)雜的輸入光學(xué)器件，例如透鏡系統(tǒng)，特別是微透鏡系統(tǒng)，或類 似的輸入裝置。
塑料纖維光導(dǎo)148隨后結(jié)合形成纖維束146，該纖維束例如可以通過應(yīng)變消除裝置從單個(gè)光源144的嵌入式外殼送出。多個(gè)纖維束146隨后可 組裝形成更高水平的纖維束146，例如用以作為共同的纖維束146被引導(dǎo) 至圖1中的應(yīng)用位置152(在這種情況下還可以適當(dāng)提供多個(gè)應(yīng)用位置 152)。
圖2以透視的形式顯示可行的截面轉(zhuǎn)換器150的典型實(shí)施方案。截面 轉(zhuǎn)換器150包括框182，其中例如可以提供多個(gè)開孔184，開孔特別可以 允許截面轉(zhuǎn)換器150的釘扎、擰緊或其它固定方式。這些開孔184例如可 以設(shè)置成釘扎孔或銷孔，僅示意性地顯示于圖2中，也可以使之適于相 應(yīng)的釘銷情況或其它的裝配技術(shù)并進(jìn)行不同的設(shè)置。按此方式，例如通 過釘扎或擰緊可以使多個(gè)截面轉(zhuǎn)換器150結(jié)合形成截面轉(zhuǎn)換器模塊，并 固定在應(yīng)用位置152?？?82例如可以由鋁、不銹鋼、塑料和/或其它材 料制成。
設(shè)置截面轉(zhuǎn)換器150，使它們將進(jìn)入的纖維束146(在圖2中的底部) 分裂成單個(gè)塑料纖維光導(dǎo)148。設(shè)置單個(gè)塑料纖維光導(dǎo)148(在圖2中的頂 部)的輸出纖維端，從而形成所期望的模式188并按此方式固定下來(lái)。再 次來(lái)講，這種固定可以通過夾緊、粘接或某種類型的固定方式來(lái)實(shí)施。 在圖2所示的優(yōu)選典型實(shí)施方案中，模式188為線模式，在該典型實(shí)施方 案中，15個(gè)纖維末端186優(yōu)選至少大致等距地排列形成一條線。由于優(yōu) 選在模塊中的輸送方向120上相繼分別設(shè)置兩個(gè)或兩個(gè)以上的這種截面 轉(zhuǎn)換器150，這就相應(yīng)地給出了總共三十或更多個(gè)纖維末端186排成一排 的線模式。每個(gè)纖維末端186例如可以具有約1 mn至3 mm的直徑。這種 線的UV光總發(fā)射功率為約500 mW至1500 mW，例如約IOOO mW。
如上所述也可以采用其它類型的模式188，例如矩形矩陣的矩陣模 式。其它設(shè)置也是可以的。特別是也可以使用其它類型的纖維，而不是 使用塑料纖維光導(dǎo)148，例如使用玻璃纖維。此外，并非從圖2所示的纖 維末端186的簡(jiǎn)單輸出，可以提供附加的光束整形光學(xué)器件，例如對(duì)所 有的纖維末端186提供一個(gè)或多個(gè)共同的透鏡，或者對(duì)纖維末端186提供 單個(gè)透鏡。按此方式可以進(jìn)一步調(diào)整光束截面。
在根據(jù)圖l的設(shè)置中，可以使應(yīng)用位置152上的多個(gè)截面轉(zhuǎn)換器150 結(jié)合起來(lái)形成應(yīng)用模塊190。在這種情況下優(yōu)選通過圖2中所示的開孔 184將多個(gè)截面轉(zhuǎn)換器150用釘子進(jìn)行釘扎和/或擰緊。開孔184例如可以 設(shè)定成鉆孔和/或銷孔和/或螺紋孔。特別是可提供夾框以接收截面轉(zhuǎn)換器150的單個(gè)模塊。在根據(jù)圖l的描述中，每個(gè)截面轉(zhuǎn)換器150例如可以 對(duì)應(yīng)于根據(jù)圖2的典型實(shí)施方案，雖然與圖2相比旋轉(zhuǎn)了截面轉(zhuǎn)換器150， 這樣使得圖1中的纖維末端186(圖1中不可見)向下指。優(yōu)選(圖l中未顯 示)在輸送方向120上先后相繼設(shè)置兩個(gè)這樣的截面轉(zhuǎn)換器150,且優(yōu)選 垂直于輸送方向120彼此鄰接地設(shè)置五個(gè)這樣的截面轉(zhuǎn)換器對(duì)。
示意性地顯示于圖l中的導(dǎo)引臺(tái)154例如包括五條矩形導(dǎo)引槽，它們 在尺寸上分別與測(cè)試元件116的帶件相匹配。例如可以設(shè)定這種尺寸， 使這些導(dǎo)引槽在寬度上與通過切割裝置125(其中例如將寬測(cè)試條縱向 切成三條、五條或另一數(shù)目的較窄的條)之后得到的單個(gè)條相對(duì)應(yīng)，并 分別傳遞至導(dǎo)引槽。然而原則上通過導(dǎo)引臺(tái)154對(duì)未切割的測(cè)試元件116 進(jìn)行整體定位也是可以的。
按此方式通過導(dǎo)引臺(tái)154及其導(dǎo)引槽對(duì)帶樣的測(cè)試元件116進(jìn)行準(zhǔn)確 的導(dǎo)引，以便使測(cè)試元件116或其上設(shè)置的測(cè)試域和/或其它類型的輻射 敏感材料(例如標(biāo)記域)可以相對(duì)于纖維末端186準(zhǔn)確定位。例如由于圖l 中數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器128的移位寄存器中包含有關(guān)哪一個(gè)測(cè)試元件或測(cè)試域或 標(biāo)記域目前位于應(yīng)用位置152上的信息，因此可以適當(dāng)?shù)厍袚Q它們當(dāng)中 包含的單個(gè)光源144或發(fā)光二極管176，用以方^f更地標(biāo)記特定的測(cè)試元件 116,特別是測(cè)試域和/或特別是標(biāo)記域。作為替代或附加的情況，這里 如同本發(fā)明的其它可能的實(shí)施方案那樣，還可以在測(cè)試元件116上提供 定位標(biāo)記，這另外有助于用來(lái)標(biāo)記的測(cè)試元件116的定位和/或識(shí)別。
圖3代表測(cè)試元件116的典型實(shí)施方案。測(cè)試元件116在此例中被設(shè)置 成帶件，只顯示了帶的一個(gè)測(cè)試段。在此典型實(shí)施方案中對(duì)測(cè)試元件116 的帶提供多個(gè)定位標(biāo)記19 5,這些標(biāo)記例如是通過絲網(wǎng)印刷的方法印到 環(huán)狀帶118上的。這些定位標(biāo)記195可用于在測(cè)試元件116的生產(chǎn)過程中 定位帶件，和/或它們可用來(lái)正確定位測(cè)試元件，用于樣品應(yīng)用和/或在 分析儀器中的測(cè)試元件116的使用期間之后進(jìn)行測(cè)試評(píng)估。
圖3中的典型實(shí)施方案顯示通過切割裝置125 (見圖1)之前的測(cè)試元 件116。這意味著在所示的情況下它仍然是未進(jìn)行切割的寬原帶，其中 三個(gè)單個(gè)的(在此例中為矩形)測(cè)試域196、 198和200分別彼此平行地設(shè) 置在環(huán)狀帶118上，并且在該狀態(tài)下依然形成整體的測(cè)試域204。隨后也 可以在切割裝置125中對(duì)該未切割的帶進(jìn)行切割，例如沿圖3中所示的切 割線201進(jìn)行切割，從而最后得到實(shí)際上為帶樣的測(cè)試元件116，其中只有測(cè)試域196、 198、 200中的一個(gè)，分別相鄰排列?？梢詶売脹]有測(cè)試 域的邊條。然而作為替代的方式，也可以不進(jìn)行切割地使用圖3中所示 的帶，從而使測(cè)試元件116具有彼此相鄰的三個(gè)測(cè)試域196、 198、 200。 這些例如可以用于進(jìn)行平均。
測(cè)試域196、 198和200例如包含檢測(cè)化學(xué)物質(zhì)，當(dāng)應(yīng)用液體樣品(例 如血液樣品)時(shí)，根據(jù)待分析物(例如血糖)的存在，所述的檢測(cè)化學(xué)物 質(zhì)經(jīng)歷顏色的變換。在目前的典型實(shí)施方案中該檢測(cè)化學(xué)物質(zhì)用來(lái)作為 輻射敏感材料202,所述輻射敏感材料用作缺陷信息的信息介質(zhì)。然而 如上文所講，在本實(shí)施方案或其它典型實(shí)施方案中，也可以使用具有獨(dú) 立于測(cè)試化學(xué)物質(zhì)的輻射敏感材料的單獨(dú)的標(biāo)記域。
作為典型的實(shí)施方案，圖3中所示的測(cè)試元件116已經(jīng)通過了應(yīng)用位 置152。借助于輻射源138有意地使圖3中上面的測(cè)試域196暴露，結(jié)果導(dǎo) 致該測(cè)試域196相對(duì)于未暴露的測(cè)試域198、 200而言產(chǎn)生了可見的顏色 變化。例如按此方式可有意使上面的測(cè)試域196不可用于分析。顏色變 化例如可以由光度測(cè)定來(lái)確定(例如通過反射、透射或顏色測(cè)量或其它 類型的測(cè)量)。因此應(yīng)當(dāng)指出的是，在圖1中所示的制作裝置110中并不 生產(chǎn)周3中表示的測(cè)試元件116，因?yàn)閳D1中的測(cè)試元件116在到達(dá)標(biāo)記裝 置136之前已經(jīng)在切割裝置125中進(jìn)行了切割，這與圖3中未被切割但仍 被標(biāo)記的測(cè)試元件116形成了對(duì)比。然而圖3中的例子只是為了說明本發(fā) 明的原則。類似于圖l，切割后進(jìn)行標(biāo)記也是可以的。
圖4象征性地代表根據(jù)本發(fā)明的分析測(cè)試儀器206的典型實(shí)施方案， 根據(jù)本發(fā)明其操作中測(cè)試元件114被標(biāo)記。此外，圖5代表用于檢測(cè)樣品 中的至少一種待分析物的可行方法，該方法可以特別結(jié)合圖4中所示的 分析測(cè)試4義器來(lái)實(shí)施，但也可以獨(dú)立地應(yīng)用。
應(yīng)該指出，在也等同于正常情況下的理想情況下生產(chǎn)測(cè)試元件114， 使得沒有被標(biāo)記為有缺陷的測(cè)試元件114進(jìn)入流通。從這個(gè)范圍上來(lái)講， 下文中所述的分析測(cè)試儀器206或根據(jù)本發(fā)明在另一實(shí)施方案中的分析 測(cè)試儀器206只是提供附加的安全性，即如果雖然在生產(chǎn)過程中有缺陷 的測(cè)試元件114被認(rèn)為不合格，若這種標(biāo)記為有缺陷的測(cè)試元件114還是 進(jìn)入了流通，它們也不會(huì)被用來(lái)進(jìn)行測(cè)試。作為替代的情況，盡管不算 優(yōu)選，選擇可以只在借助于分析測(cè)試儀器206實(shí)施測(cè)試之時(shí)進(jìn)行，這樣 使得直到測(cè)試期間才可棄用被標(biāo)記為有缺陷的測(cè)試元件114，即它們不被使用。這將具有這樣的缺點(diǎn)，即在某些情況下，可用的測(cè)試元件114 的數(shù)目較少，雖然有可能通過測(cè)試元件114的盈余(即，超出單個(gè)測(cè)試元 件114名義數(shù)目的額外數(shù)目)使之得到補(bǔ)償，特別是在多個(gè)測(cè)試元件114 的情況下。
在這一典型的實(shí)施方案中，分析測(cè)試儀器206例如具有帶樣的測(cè)試元 件114,例如保持在帶盒中的測(cè)試元件114。但也可提供其它類型的測(cè)試 元件作為替代或附加的方案，例如像在線型匣、鼓型匣、盤型匣或另外 類型匣中的條樣測(cè)試元件。
在此典型實(shí)施方案中，分析測(cè)試儀器206具有光學(xué)激發(fā)裝置208和光 學(xué)檢測(cè)裝置210,它們只是象征性地示于圖4中。借助于此激發(fā)裝置208 和檢測(cè)裝置210，例如可以在測(cè)試位置214上對(duì)測(cè)試元件上的一個(gè)或多個(gè) 測(cè)試域212進(jìn)行涉及待分析物所致的顏色變化的檢查，所述激發(fā)裝置208 例如可以包括一個(gè)或多個(gè)光源，所述檢測(cè)裝置210例如可以包括一個(gè)或 多個(gè)光電二極管。此例中的分析測(cè)試儀器206優(yōu)選在分析測(cè)試儀器206 的外殼218上具有罩216。該罩216打開測(cè)試位置214或位于該測(cè)試位置 214中的測(cè)試域212用于應(yīng)用樣品220，所述樣品220在此典型實(shí)施方案中
優(yōu)選為液體樣品。
分析測(cè)試儀器206進(jìn)一步具有驅(qū)動(dòng)及評(píng)估單元222。該驅(qū)動(dòng)及評(píng)估單 元222例如可以包括一個(gè)或多個(gè)微電腦，并適于驅(qū)動(dòng)激發(fā)裝置208和/或 檢測(cè)裝置210 。進(jìn)一步可以控制帶樣測(cè)試元件114的傳輸，從而使得可 以控制測(cè)試域212向測(cè)試位置214的傳遞。這些控制以及其它方向上的數(shù) 據(jù)交換由雙箭頭224象征性地示于圖4中。
分析測(cè)試儀器206進(jìn)一步優(yōu)選具有指示器裝置(例如顯示器226)和用 戶界面元件228。按此方式可以控制分析測(cè)試儀器206的功能并可以輸出 測(cè)量信息。
在進(jìn)行正常操作(即，現(xiàn)有技術(shù)中已知的操作)時(shí)，在驅(qū)動(dòng)及評(píng)估單 元222的控制下，特定的測(cè)試212移入測(cè)試位置214，軍216打開，使得能 夠應(yīng)用樣品220。其后通過激發(fā)裝置208和檢測(cè)裝置210進(jìn)行測(cè)試域212
的光學(xué)評(píng)估，從而可以確定待分析物的濃度，特別是血糖濃度。這例如 可以輸出到顯示器226上。
然而根據(jù)本發(fā)明，在圖4所示的典型實(shí)施方案中的分析測(cè)試儀器206 進(jìn)一步具有探詢裝置230，所述探詢裝置230適于對(duì)標(biāo)記進(jìn)行確定和評(píng)估，所述標(biāo)記例如是根據(jù)上述方法已應(yīng)用到測(cè)試元件114和/或測(cè)試域 212上的。在圖4所示的該典型實(shí)施方案中，該探詢裝置230利用激發(fā)裝 置208和檢測(cè)裝置210以及相應(yīng)的探詢算法，所述探詢算法由驅(qū)動(dòng)及評(píng)估 單元222中的軟件技術(shù)執(zhí)行。然而作為替代方式，探詢裝置230也可以作 為不同于激發(fā)裝置208和檢測(cè)裝置210的單獨(dú)裝置執(zhí)行，例如借助于單獨(dú) 的探詢激發(fā)裝置和/或單獨(dú)的探詢檢測(cè)裝置(圖4中沒有示出)。按此方式 例如通過對(duì)測(cè)試域212的著色檢測(cè)可以識(shí)別才示記的測(cè)試元件114和/或標(biāo) 記的測(cè)試域212。
在建議的方法中，在測(cè)試位置214上最初提供特定的測(cè)試元件114和/ 或特定的測(cè)試域212。這由圖5中的附注標(biāo)記232象征性地表示。其后探 詢裝置230用來(lái)探詢是否對(duì)測(cè)試域212和/或測(cè)試元件114提供了標(biāo)記，和 /或是否標(biāo)記中包含的缺陷信息被讀出(步驟234)。此信息例如可以在驅(qū) 動(dòng)及評(píng)估單元222中進(jìn)行評(píng)估。隨后可以進(jìn)行決定步驟236，其中根據(jù)缺 陷信息讀數(shù)對(duì)測(cè)試域212和/或測(cè)試元件114有缺陷(分支238)或無(wú)缺陷 (圖5中的分支240)作出決定。如果認(rèn)定測(cè)試212和/或測(cè)試元件114有缺 陷，則可以任選向使用者發(fā)送提醒，例如視覺形式的提醒(例如在顯示 器226上)和/或聲音提醒。作為替代或附加的方案，如圖5所示，提供新 的測(cè)試域212和/或測(cè)試元件114時(shí)可以重復(fù)步驟232。例如在根據(jù)圖4的 設(shè)置中，新的以前未使用的測(cè)試域212可移入測(cè)試位置214。例如，對(duì)于 圖4中的設(shè)置，可以進(jìn)行到目前所描述的方法步驟，使得在實(shí)施這些方 法步驟時(shí)罩216是關(guān)閉的，由此樣品220的應(yīng)用則是不可能的。
然而如果在步驟2 36中發(fā)現(xiàn)測(cè)試域是無(wú)缺陷的，那么隨后可以進(jìn)行測(cè) 量242，實(shí)施樣品220中至少一種待分析物的檢測(cè)。例如，在圖4中的這 種測(cè)量的范圍內(nèi)，可以打開罩216,和/或可以使激發(fā)裝置208和檢測(cè)裝 置210投入運(yùn)行，例如用以實(shí)現(xiàn)待分析物所致的顏色變化.
圖6代表可行的帶盒244的典型實(shí)施方案，其例如可用于圖4所示的分 析測(cè)試儀器206,使得可以進(jìn)行從病人身上原位獲得的多個(gè)液體樣品 220 (例如血液樣品)的葡萄糖分析。為此目的，帶盒244包括分析測(cè)試帶 246形式的測(cè)試元件114。分析測(cè)試帶246可以從存儲(chǔ)軸248上拉出來(lái)，并 通過帶導(dǎo)引物250到達(dá)繞軸252上。在此例中，分析測(cè)試帶246的測(cè)試帶 分段254在帶平面的框258上的測(cè)量位置256處展平，以便于容許在前側(cè) 應(yīng)用例如體液形式的液體樣品22 0 (例如血液或組織液)和在后側(cè)進(jìn)行精確的反射計(jì)測(cè)量。
測(cè)試帶246具有透明的支撐帶260，其例如可以與圖3(截圖形式)中的 環(huán)狀帶118相對(duì)應(yīng)。例如在此測(cè)試帶260的前側(cè)，與在圖3的頂部類似， 4象標(biāo)簽一樣地應(yīng)用測(cè)試域，這例如可以與圖3中的測(cè)試域196、 198和200 相對(duì)應(yīng)。這些測(cè)試域262例如可以包含干化學(xué)物質(zhì)，所述干化學(xué)物質(zhì)響 應(yīng)施加的液體樣品220 (例如血液流體)中的待分析物(例如葡萄糖)，并 導(dǎo)致從后側(cè)照射時(shí)光反向散射的可測(cè)量的變化。例如，支撐帶260可以 為5 mm寬和約10,厚的片，在其前側(cè)上局部地施加厚度50pm的檢測(cè)膜 (例如貼上)。
關(guān)于測(cè)量，測(cè)量的光由鄰接支承框258的測(cè)量開孔246照入并反射， 孔區(qū)之內(nèi)諸如透鏡、濾光器或物理填充窗是不需要存在的。然而如果必 要的話，測(cè)量開孔264可以被擋板圍繞(圖6中未顯示)。這將使分析測(cè)試 儀器的光學(xué)測(cè)量單元(不包含在帶盒244中)的后側(cè)聚焦或向測(cè)試帶段 254的排列受限，所述測(cè)試帶段254通過測(cè)量開孔水平地暴露著。
為了將測(cè)試域262相繼地傳送到測(cè)量位置256,分析測(cè)試儀器206的帶 驅(qū)動(dòng)裝置(接合在繞軸252的軸心266上)使得可以向前巻繞測(cè)試帶246。
密封體268上)由摩擦產(chǎn)生約2牛頓的保持力，從而使得測(cè)試帶246充分^: 持緊張，以確保其在支承框258上保持水平。
帶導(dǎo)引物250可以例如由注模聚丙烯部件形成，所述注模聚丙烯部件 同樣也可以形成軸248、 252的支撐體。為了從外部覆蓋帶導(dǎo)引物250而 提供蓋部件270，所述蓋部件270在錐形窄側(cè)壁上具有孔，用以方便支承 框258的釋放。
如上所講，可將在這里以入盒形式提供的測(cè)試元件114理解成整個(gè)分 析測(cè)試帶246，或者單個(gè)測(cè)試帶段254 (例如分別具有一個(gè)測(cè)試域262的測(cè) 試帶段)也可被視為是這種測(cè)試元件114。測(cè)試帶246可以相應(yīng)地作為整 體被標(biāo)記，或者作為替代或附加的情況，也可借助于以上建議的方法對(duì) 單個(gè)測(cè)試帶段254進(jìn)行標(biāo)記。如果為了讀出缺陷標(biāo)記而使用單獨(dú)的裝置， 則例如可以將其整合到分析測(cè)試儀器206的所述光學(xué)測(cè)量單元之中。作 為替代方式，如上所述，分析測(cè)試儀器206的激發(fā)裝置208和檢測(cè)裝置210 也可以實(shí)現(xiàn)除分析功能之外讀出缺陷標(biāo)記的功能。也可以設(shè)想這兩種可 能性的結(jié)合，例如在用于讀出缺陷標(biāo)記的單獨(dú)光源的范圍內(nèi)，即使用檢測(cè)裝置210，也能同時(shí)執(zhí)行讀出缺陷的功能。
按這種方式，例如通過使用圖6中所示的帶盒244,在進(jìn)行測(cè)量之前 可以使分析測(cè)試儀器206適于探詢目前位于測(cè)量位置256的測(cè)試帶段254 是否有缺陷。如果是的話，則接下來(lái)例如通過相應(yīng)地驅(qū)動(dòng)軸248、 252 使測(cè)試帶段254向前巻繞，并且例如通過采用參照?qǐng)D5的上述方法重復(fù)所 述的步驟。
權(quán)利要求
1. 用于標(biāo)記測(cè)試元件(112，114，116；246，254)的標(biāo)記方法，該測(cè)試元件(112，114，116；246，254)適于檢測(cè)樣品(220)中的至少一種待分析物，對(duì)至少一些測(cè)試元件(112，114，116；246，254)提供包含有關(guān)測(cè)試元件(112，114，116；246，254)之缺陷信息的缺陷標(biāo)記，其特征在于，該測(cè)試元件(112，114，116；246，254)具有至少一種輻射敏感材料(202)，使該測(cè)試元件(112，114，116；246，254)暴露于至少一種輻射(156)，該輻射(156)適于在輻射敏感材料(202)中引發(fā)形式為至少一種光學(xué)可檢測(cè)的變化的標(biāo)記。
2. 根據(jù)前述權(quán)利要求的標(biāo)記方法，其中該輻射(156)包括電磁輻射， 尤其是紫外輻射，特別是波長(zhǎng)范圍在250 nm至400 nm之間的輻射，優(yōu)選 波長(zhǎng)范圍是350 nm至380 nm。
3. 根據(jù)前述權(quán)利要求之一的標(biāo)記方法，其中使用至少一種以下的光 源來(lái)產(chǎn)生輻射(156):白熾燈；氣體放電燈；激光；發(fā)光二極管(176); 閃光燈。
4. 根據(jù)前述權(quán)利要求之一的標(biāo)記方法，其中光學(xué)可檢測(cè)的變化包括 至少一種其它的以下變化顏色變化，發(fā)光的變化，特別是熒光；反射 率的變化。
5. 根據(jù)前述權(quán)利要求之一的標(biāo)記方法，其中該至少一種輻射敏感材 料(202)包括測(cè)試元件(112，114 ， 116; 246，254)的至少一種測(cè)試材料， 當(dāng)該至少一種待分析物存在于樣品(220)中時(shí)，使該至少一種測(cè)試材料 適于改變至少一個(gè)可測(cè)量的性質(zhì)，尤其是可測(cè)量的電學(xué)和/或光學(xué)性質(zhì)。
6. 根據(jù)前述權(quán)利要求之一的標(biāo)記方法，其中該至少一種輻射敏感材 料(202)包括至少一個(gè)標(biāo)記域的至少一種材料，所述至少一個(gè)標(biāo)記域的 至少一種材料不同于該測(cè)試元件(112，114 ， 116; 246， 254)的測(cè)試材料。
7. 用于根據(jù)前述權(quán)利要求的標(biāo)記方法中的測(cè)試元件(112，114 ， 116; 246， 254)，其中該測(cè)試元件(112， 114， 116; 246， 254)適于檢測(cè)樣品 (220)中的至少一種待分析物，該測(cè)試元件(112，114 ，116; 246， 254)具 有至少一個(gè)標(biāo)記域，所述至少一個(gè)標(biāo)記域獨(dú)立于測(cè)試域(196， 198, 200) 形成并帶有輻射敏感材料(202),由于輻射(156)的作用在輻射敏感材料(202)中引發(fā)至少一種光學(xué)可檢測(cè)的變化。
8. 用于生產(chǎn)測(cè)試元件(112，114，116;246， 254)的生產(chǎn)方法，該測(cè)試 元件(112， 114， 116; 246， 254)適于檢測(cè)樣品(220)中的至少一種待分析 物，其中該方法包括以下步驟-生產(chǎn)多個(gè)測(cè)試元件(112， 114,116; 246， 254);-使至少一個(gè)測(cè)試元件(112， 114， 116; 246， 254)經(jīng)受缺陷檢查，用以 確定該測(cè)試元件(112， 114， 116; 246， 254)是否有缺陷;-對(duì)至少一個(gè)測(cè)試元件(112， 114， 116; 246， 254)提供缺陷標(biāo)記，所述 缺陷標(biāo)記包含有關(guān)該測(cè)試元件(112， 114， 116; 246， 254)缺陷的信息，采 用根據(jù)前述權(quán)利要求之一的標(biāo)記方法。
9. 根據(jù)前述權(quán)利要求的生產(chǎn)方法，其中被標(biāo)記為有缺陷的測(cè)試元件 (112， 114， 116; 246， 254)在棄用步驟中,皮丟棄。
10. 根據(jù)兩個(gè)前述權(quán)利要求之一的生產(chǎn)方法，其中將多個(gè)測(cè)試元件 (112， 114， 116; 246， 254)生產(chǎn)成具有共同支撐帶(118; 260)的帶件。
11. 根據(jù)有關(guān)生產(chǎn)方法的前述權(quán)利要求之一的生產(chǎn)方法，其中在對(duì) 至少一個(gè)測(cè)試元件(112， 114， 116; 246， 254)提供缺陷標(biāo)記的方法步驟之 后實(shí)施檢查步驟，其中進(jìn)行檢查以確定是否已經(jīng)正確地應(yīng)用缺陷標(biāo)記。
12. 用于標(biāo)記有缺陷的測(cè)試元件(112， 114， 116; 246， 254)的標(biāo)記裝 置(136)，特別用于實(shí)施根據(jù)有關(guān)標(biāo)記方法的前述權(quán)利要求之一的標(biāo)記 方法，使測(cè)試元件(112， 114， 116; 246， 254)適于檢測(cè)樣品(220)中的至少 一種待分析物，使標(biāo)記裝置(136)適于對(duì)至少 一 些測(cè)試元件 (112,114 ，116; 246, 254)提供包含有關(guān)該測(cè)試元件(112,114 ， 116; 246， 254)之缺陷信息的缺陷標(biāo)記，其特征在于，該測(cè)試元件 (112,114， 116; 246， 254)具有至少一種輻射敏感材料(202)，該標(biāo)記裝 置(136 )具有至少一個(gè)輻射源(138 )，用于使測(cè)試元件(112，114 ， 116; 246， 254)暴露于至少一種輻射(156)，該輻射(156)適于在輻射敏感 材料(202)中引發(fā)形式為至少一種光學(xué)可檢測(cè)的變化的標(biāo)記。
13. 根據(jù)前述權(quán)利要求的標(biāo)記裝置(136)，具有至少一個(gè)測(cè)試裝置 (130)，該測(cè)試裝置(130)適于使至少 一個(gè)測(cè)試元件(112,114 ， 116; 246， 254)經(jīng)受缺陷檢查，標(biāo)記裝置(136)適于確定該測(cè)試元件 (112,114 ， 116; 246， 254)是否有缺陷。
14. 根據(jù)有關(guān)標(biāo)記裝置(136)的前述權(quán)利要求之一的標(biāo)記裝置(136)，其中該輻射源(138)包括多個(gè)模塊化構(gòu)造的獨(dú)立光源(144)，尤 其是用于產(chǎn)生紫外光的多個(gè)模塊化構(gòu)造的發(fā)光單元(140)。
15. 根據(jù)有關(guān)標(biāo)記裝置(136)的前述權(quán)利要求之一的標(biāo)記裝置 (136)，其中該標(biāo)記裝置(136)包括至少一個(gè)應(yīng)用位置(152)，在此對(duì)該 測(cè)試元件(112，114 ， 116; 246， 254)提供缺陷標(biāo)記，該標(biāo)記裝置(136) 進(jìn)一步包括至少一個(gè)波導(dǎo)(148),尤其是光波導(dǎo)，用于將輻射(156)從輻 射源(138)傳導(dǎo)至該應(yīng)用位置(152)。
16. 根據(jù)前述權(quán)利要求的標(biāo)記裝置(136)，其中該波導(dǎo)(148)包括至 少一個(gè)纖維光導(dǎo)，尤其是塑料纖維光導(dǎo)(148)。
17. 根據(jù)前述權(quán)利要求的標(biāo)記裝置(136)，其中多個(gè)纖維光導(dǎo)結(jié)合形 成纖維束(146)，該標(biāo)記裝置(136)進(jìn)一步具有至少一個(gè)截面轉(zhuǎn)換器 (150),該截面轉(zhuǎn)換器(150)適于保持至少一個(gè)纖維束(146)的多個(gè)纖維 光導(dǎo)(148),以便使纖維光導(dǎo)(148)的纖維末端(186)在應(yīng)用位置(152) 按預(yù)定的模式(188)排列。
18. 根據(jù)前述權(quán)利要求的標(biāo)記裝置(136)，其中纖維末端(186)的模 式(188)中具有至少一種以下的模式線模式，矩陣模式，尤其是矩形 矩陣模式。
19. 根據(jù)六項(xiàng)前述權(quán)利要求之一的標(biāo)記裝置(136),其中該標(biāo)記裝置 (136)在應(yīng)用位置(152)具有導(dǎo)引臺(tái)(154)，至少兩個(gè)、優(yōu)選至少五個(gè)測(cè) 試元件(112，114 ， 116; 246， 254)在導(dǎo)引臺(tái)(154)上可同時(shí)暴露于輻射 (156)。
20. 用于生產(chǎn)測(cè)試元件(112，114， 116; 246, 254)的生產(chǎn)裝置(110)，特別用于根據(jù)有關(guān)生產(chǎn)方法的前述權(quán)利要求之一生產(chǎn)測(cè)試元件 (112,114， 116; 246， 254)，其中使測(cè)試元件(112,114， 116; 246， 254) 適于檢測(cè)樣品(220)中的至少 一種待分析物，該生產(chǎn)裝置(110)具有用于 生產(chǎn)多個(gè)測(cè)試元件(112， 114， 116; 246， 254)的制作裝置(122),該生產(chǎn)裝 置(110)進(jìn)一步具有根據(jù)有關(guān)標(biāo)記裝置(136)的前述權(quán)利要求之一的至 少一個(gè)標(biāo)記裝置(136)。
21. 根據(jù)前述權(quán)利要求的生產(chǎn)裝置(IIO)，其中該生產(chǎn)裝置(110)進(jìn) 一步具有至少一個(gè)分選裝置(160)，用于棄用被標(biāo)記為有缺陷的測(cè)試元 件(112， 114 ， 116; 246， 254)。
22. 根據(jù)前述權(quán)利要求的生產(chǎn)裝置(110)，其中該生產(chǎn)裝置進(jìn)一步具有切割及拼接裝置(167)。
23. 根據(jù)三項(xiàng)前述權(quán)利要求之一的生產(chǎn)裝置(110)，其中該生產(chǎn)裝置 (110)進(jìn)一步具有至少一個(gè)測(cè)試裝置(130)，該測(cè)試裝置(130)適于使測(cè) 試元件(112,114，116; 246， 254)經(jīng)受缺陷檢查。
24. 用于檢測(cè)樣品(220)中的至少一種待分析物的分析測(cè)試儀器 (206)，包括根據(jù)有關(guān)生產(chǎn)方法的前述權(quán)利要求之一生產(chǎn)的至少一個(gè)測(cè) 試元件(112， 114， 116; 246， 254),其中該分析測(cè)試儀器(206)進(jìn)一步具有 至少一個(gè)探詢裝置(230)，該至少一個(gè)探詢裝置(230)用于探詢測(cè)試元件 (112， 114， 116; 246， 254)的缺陷標(biāo)記。
25. 根據(jù)前述權(quán)利要求的分析測(cè)試儀器(206)，其中使該分析測(cè)試儀 器(206)適于在發(fā)現(xiàn)測(cè)試元件(112， 114， 116; 246， 254)被標(biāo)記為有缺陷 時(shí)實(shí)施至少一項(xiàng)以下的行動(dòng)向分析測(cè)試4義器(206)的使用者發(fā)送提醒； 防止用凈皮標(biāo)記的測(cè)試元件(112， 114， 116; 246， 254)進(jìn)4亍測(cè)試；從多個(gè)測(cè) 試元件(112， 114， 116; 246， 254)中提供新的測(cè)試元件 (112， 114， 116; 246， 254)。
全文摘要
測(cè)試元件的不合格標(biāo)記的標(biāo)記方法。該測(cè)試元件(112，114，116；246，254)適于檢測(cè)樣品(220)中的至少一種待分析物。對(duì)至少一些測(cè)試元件(112，114，116；246，254)提供包含有關(guān)測(cè)試元件(112，114，116；246，254)之缺陷信息的缺陷標(biāo)記。該測(cè)試元件(112，114，116；246，254)具有至少一種輻射敏感材料(202)。使該測(cè)試元件(112，114，116；246，254)暴露于至少一種輻射(156)，該輻射(156)適于在輻射敏感材料(202)中引發(fā)形式為至少一種光學(xué)可檢測(cè)的變化的標(biāo)記。
文檔編號(hào)G01N33/66GK101430328SQ200810149720
公開日2009年5月13日 申請(qǐng)日期2008年9月19日 優(yōu)先權(quán)日2007年9月19日
發(fā)明者G·施米特, J·K·羅帕, M·弗蘭克, P·斯圖本博德, S·迪克, W·芬克 申請(qǐng)人:霍夫曼-拉羅奇有限公司