專利名稱：納米TiO的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及納米TiO2涂膜厚度的測量方法。
背景技術(shù)：
納米TiO2涂膜厚度一般小于1μ，常見者為50～500納米，故無法用通常的測厚方法如金相法、電阻法、超聲法以及階梯法測量，而是要用能放大20000～50000倍的掃描電子顯微鏡來測量，成本高不說，還頗為費時，不便作為薄膜生產(chǎn)中的常規(guī)控制手段。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的，是要提供全新的方法，它可方便地作為納米TiO2涂膜生產(chǎn)過程的常規(guī)控制手段。
本發(fā)明采用的第一種測量方法是擔載量法，具體步驟如下A.試樣清洗置于100℃下烘干10分鐘，然后在1/10000天平上稱重得Wo(g)；B.對試樣涂膜，80～100℃下干燥20分鐘，400～600℃下煅燒2小時；C.將涂膜試樣清洗、烘干后稱重得W1(g)，測量試樣表面積得s(cm2)，按公式h＝W1-Wo/s·p·d計算涂膜厚度(cm)，式中d為TiO2真實密度4.0g/cm3，p為納米TiO2的堆集致密系數(shù)，致密膜取值0.70，小孔(小于納米TiO2平均粒徑)膜取值0.60，粗孔(大于納米TiO2平均粒徑)取值0.50。
此法用于未涂膜試樣涂膜后的測量即生產(chǎn)過程控制。
本發(fā)明采用的另一種測量方法是卸載量法。具體步驟如下A.將涂膜試樣清洗、烘干后稱重得W1(g)；B.溶膜，溶膜液為每100ml濃硫酸中含20g過硫酸銨，注意讓溶膜液浸沒燒杯中的試樣，置通風(fēng)櫥內(nèi)加熱至冒煙約5分鐘，冷卻至室溫后小心加入蒸餾水稀釋，搖勻后注入100ml容量瓶并稀釋至刻度，備以過氧化氫比色法測定TiO2含量時用；C.將試樣烘干、稱重得Wo(g)并測量其表面積s(cm2)，按公式h＝W1-Wo/s·p·d計算膜厚，其中p的取值范圍有如第一種測量方法，即致密膜取值0.70，小孔膜-0.60，粗孔膜-0.50。
此法用于已涂膜試樣的膜厚測量即產(chǎn)品檢驗。
具體實施例方式
一、用擔載量法控制生產(chǎn)過程。指定線上一試樣，于清洗、烘干后用萬分之一天平稱重得Wo(g)，然后在線上涂膜(例如用提拉法)、干燥、煅燒后再清洗、烘干，第二次稱重得W1(g)。用上述公式計算膜厚，若符合要求，則表明生產(chǎn)過程包括相關(guān)參數(shù)均可。
二、用卸載量法檢驗產(chǎn)品。從下線產(chǎn)品中選取一件，清洗烘干后進行稱重得W1(g)，將產(chǎn)品在每100ml含過硫酸銨20g的溶膜液中溶膜(在通風(fēng)櫥中加熱至冒煙再水洗)后烘干，稱重得Wo(g)，測量試件表面積得s(cm2)，用公式h＝W1-Wo/s·p·d求得膜厚h(cm)，若符合要求則表明生產(chǎn)正常。式中d＝4.0g/cm3，p取值方法已如前所述。
權(quán)利要求
1.納米TiO2涂膜厚度的測量方法，其特征在于采用的是擔載量法，具體步驟如下A、試樣清洗并于100℃下烘干10分鐘，在1/10000天平上稱重；B、對試樣涂膜，80～100℃下干燥20分鐘，400～600℃下煅燒2小時；C、清洗、烘干后稱重并測量試樣表面積，按下列公式計算涂膜厚度hh＝W1-Wo/s·p·d式中W1為試樣涂膜后重量，Wo為試樣涂膜前重量，s為試樣涂膜面積，d為TiO2真密度4.0g/cm3，p為納米TiO2的堆積致密系數(shù)，重量單位g，面積單位cm2，p取值0.50～0.70，其中致密膜取值0.70，小孔膜取值0.60，粗孔膜取值0.50。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的納米TiO2涂膜厚度的測量方法，其特征在于，它用于未涂膜試樣涂膜后的測量即生產(chǎn)過程控制。
3.納米TiO2涂膜厚度的測量方法，其特征在于采用的是卸載量法，具體步驟如下A、將涂膜試樣清洗、烘干后稱重得W1；B、在每100ml濃硫酸中含20g過硫酸銨的溶膜液中對涂膜試樣作溶膜處理。注意讓溶膜液浸沒燒杯中的試樣，置通風(fēng)櫥內(nèi)加熱至冒煙約5分鐘，冷卻至室溫后小心加入蒸餾水稀釋，搖勻后注入100ml容量瓶中并稀釋至刻度，備以過氧化氫比色法測定TiO2量時用；C、將試樣烘干、稱重并測量表面積，按下列公式計算膜層厚度hh＝W1-Wo/s·p·d式中Wo為溶膜后試樣重量，s為試樣涂膜面積，d為TiO2的真密度4.0g/cm3，p為納米TiO2堆集致密系數(shù)，重量單位g，面積單位cm2，p取值0.50～0.70，其中致密膜取值0.70，小孔膜取值0.60，粗孔膜取值0.50。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的納米TiO2涂膜厚度的測量方法，其特征在于，它用于已涂膜試樣的膜厚測量即產(chǎn)品檢驗。
全文摘要
本發(fā)明涉及的是兩種納米TiO
文檔編號G01B21/08GK1673674SQ20051003149
公開日2005年9月28日 申請日期2005年4月28日 優(yōu)先權(quán)日2005年4月28日
發(fā)明者潘俊明 申請人:湖南泰鑫瓷業(yè)有限公司