專利名稱：單板的電路測試方法和單板的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及芯片測試技術，特別涉及單板的電路測試方法和單板。
背景技術：
隨著電路技術進入超大規(guī)模集成時代，電路的測試更加復雜，而聯(lián)合測
試行動組(Joint Test Action Group, JTAG)技術的發(fā)展促進了現(xiàn)代單板測試 技術的發(fā)展。JTAG是一種國際標準測試協(xié)議，主要用于芯片的內(nèi)部測試，基 本原理是在電子器件內(nèi)部定義一個測試訪問口 ，在這個測試訪問口連4^專用 的JTAG測試工具進行內(nèi)部節(jié)點的測試，允許多個器件通過JTAG接口串聯(lián)在一 起形成一個JTAG鏈來測試，現(xiàn)在許多集成電路(IC)器件都能通過JTAG進行 測試，這些器件稱為JTAG器件。
在許多單板即印制電路板(PCB )設計中，將多個JTAG器件串聯(lián)成一條 鏈，這樣在進行測試時，可以將所述多個串聯(lián)的JTAG器件與JTAG測試工具串 聯(lián)成JTAG鏈進行測試，方便生產(chǎn)調(diào)試。由于結(jié)構(gòu)或者擴展功能等需求，通過 連接器或連接接口在較大PCB上擴展一塊或者多塊小的PCB板，所述大的PCB 板即為底板，而所述一塊或多塊小的PCB板即為扣板(子卡)。若擴展的扣板 上存在JTAG器件，由于生產(chǎn)、調(diào)試以及通itJTAG鏈在線升級軟件等需求存在， 在設計底板和扣板時會將底板上的JTAG器件串聯(lián)成一條IC鏈，而扣板上的 JTAG器件串聯(lián)成另 一條IC鏈，這樣可以對底板上和扣板上的JTAG器件單獨進 行JTAG成鏈測試；或?qū)⒖郯迳系腏TAG器件和底板上的JTAG器件串聯(lián)成一條 IC鏈，這樣在進行JTAG測試時，在所述IC鏈中串耳關入JTAG測試工具形成JTAG 鏈即可進4于方i"更的測試。
以底板上有兩個JTAG器件ICO和ICn，且該底板能擴展一個扣板，在扣板 上有兩個JTAG器件ICxl和ICxl為例，參閱圖la,為底板和扣板處在JTAG測試 狀態(tài)的結(jié)構(gòu)示意圖，扣板上的IC器件和底板上的IC器件通過連接器連接，且 在進行JTAG測試時，JTAG測試設備、IC0、連接器、扣板上的ICxl、 ICx2、 連接器、ICn及JTAG接口串聯(lián)成一條JTAG鏈進行測試；參閱圖lb,為底板處 在JTAG測試狀態(tài)的結(jié)構(gòu)示意圖，扣板上的IC器件通過連接器和底板連接，且底板在進行JTAG測試時，JTAG接口、 IC0、 ICn及JTAG接口串聯(lián)成一條JTAG
鏈進4于測試。
對上述現(xiàn)有技術中擴展的單板進行JTAG測試的實踐和研究過程中，本發(fā) 明的發(fā)明人發(fā)現(xiàn)
對于現(xiàn)有技術中底板和扣板上的JTAG器件單獨形成不同的JTAG鏈進行 測試時，需要對底板和扣板上的器件分別測試，如果底板能擴展三個以上甚 至更多扣板時，需要進行多次測試，這樣測試程序比較繁瑣；且并不能測試 扣板上的JTAG器件連接到底板后的性能。
對于底板和扣板上的JTAG鏈能串聯(lián)成一條IC鏈來說，由于PCB產(chǎn)品功能 需求的不同，扣板存在需要接入底板的應用場景，也存在不需要接入底板的 應用場景，即扣板存在不在位或者在位的應用情況?，F(xiàn)有技術中，若扣板在 不在位的應用情況下，扣板上所有電子器件與底板斷開連接，則扣板上的JTAG 器件不能串聯(lián)入底板的IC鏈中，這樣在進行JTAG測試時，底板上的JTAG器件 和JTAG測試設備則不能形成JTAG鏈，使得底板上的IC器件的測試需要通過其 它方法進行測試，增加了測試的復雜程度。
總之，現(xiàn)有技術中，單板進行JTAG測試時，比較繁瑣，效率較低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供單板的電路測試方法和單板，使得對扣板和底板上IC器件的
測試得到簡化。
本發(fā)明提供的一種單板，包括
選擇才莫塊，所述選擇模塊包括至少一個控制選擇端；
扣板擴展模塊，所述扣板擴展才莫塊包括至少 一個指示狀態(tài)的狀態(tài)控制端；
所述選擇模塊與所述單板上的電子器件串聯(lián)連接成第一 串聯(lián)鏈；
所述扣板擴展模塊的狀態(tài)控制端和所述選擇模塊的控制選擇端相連接；
所述選擇模塊，用于在所述控制選擇端接收到所述扣板擴展模塊的狀態(tài)
控制端輸出的信號指示所述扣板擴展模塊的狀態(tài)為不在位時，使所述第一串
聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)。一種單板的電路測試方法，包括 獲取扣板是否在位的狀態(tài)信號；
沖艮據(jù)所述狀態(tài)信號的值，使所述單板上的第 一 串聯(lián)鏈處于連通或者斷開 狀態(tài)，所述第一串聯(lián)鏈由所述單板上的電子器件串聯(lián)形成。
可見，本發(fā)明的單板進行電路測試時，扣板擴展才莫塊將扣板在位或不在 位的狀態(tài)信號輸出到選擇模塊的控制選擇端，來控制選擇模塊進行電路測試 鏈的選擇，本發(fā)明中在扣板擴展模塊中的扣板模塊不在位時，可以形成電路 測試鏈，當在位時也可以形成電路測試鏈，簡化了現(xiàn)有技術中對電子器件進
行測試的過程中單板和扣板擴展模塊需要進行單獨成鏈測試的流程；且本發(fā) 明的方案比較簡單，不需要對底板和扣板做很大的改變即可實現(xiàn)。


為了更清楚地說明本J^明實施例或現(xiàn)有技術中的4支術方案，下面將對實 施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面 描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講， 在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。 圖la是現(xiàn)有技術中一種擴展的PCB板的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖lb是現(xiàn)有技術中另 一種擴展的PCB板的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2是本發(fā)明實施例一提供的一種單板的邏輯結(jié)構(gòu)示意圖； 圖3a是本發(fā)明實施例一的單板中的選擇模塊的邏輯結(jié)構(gòu)示意圖； 圖3b是本發(fā)明實施例一的單板中的另 一中選擇才莫塊的邏輯結(jié)構(gòu)示意圖； 圖4是本發(fā)明實施例一的單板中的扣板擴展模塊的邏輯結(jié)構(gòu)示意圖； 圖5是本發(fā)明實施例一在實際應用中一種具體的單板的電路圖； 圖6是本發(fā)明實施例二提供的一種單板的邏輯結(jié)構(gòu)示意圖； 圖7是本發(fā)明實施例三提供的一種測試單板電路的方法。
具體實施例方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行 清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作 出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。 實施例一
請參閱圖2, —種單板IO,圖2為單板10處在JTAG測試狀態(tài)的結(jié)構(gòu)示意圖， 所述單板10包括扣板擴展模塊11 、選擇模塊12和至少一個支持JTAG協(xié)議的電 子器件(圖2以ICyl、 ICy2和ICyn為例，但不限于此)。其中
扣板擴展模塊11包括至少一個指示狀態(tài)的狀態(tài)控制端4，可以理解，扣板 擴展模塊11是單板10上可以擴展扣板的模塊，用來掛載扣板，從狀態(tài)控制端4 輸出的信號用以指示扣板擴展模塊ll是否在位的狀態(tài)，即指示掛載的扣板是 否運作的狀態(tài)信號或指示扣板擴展模塊ll是否掛載了扣板。
選捧模塊12包括至少一個控制選擇端0，扣板擴展模塊11的狀態(tài)控制端4 和選擇模塊12的控制選擇端0相連接。
本實施例以兩個串聯(lián)鏈為例說明，即擴版擴展模塊ll可以擴展一個扣板， 但是不限于此。所述選擇模塊12的端口 l及端口 2與所述單板10上支持JTAG協(xié) 議的電子器件ICyl、 ICy2和ICyn串聯(lián)連接成第一串聯(lián)鏈；所述選擇模塊12的 端口 i及端口3、扣板擴展模塊11及單板10上支持JTAG協(xié)議的電子器件ICyl、 ICy2和ICyn串聯(lián)連4婁成一個子串聯(lián)鏈。
所述選擇模塊12的端口1可以是輸入端，也可以是輸出端；端口2和3可以 同時是輸入端，也可以同時是輸出端。選擇模塊12是一個選擇電路，在本實 施例中實現(xiàn)二選一的功能，即可以根據(jù)端口O所接收的信號，4吏得第一串聯(lián)鏈 處于連通狀態(tài)而子串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)，或者也可以使得子串聯(lián)鏈處于連通 狀態(tài)第 一 串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)。連接;漠塊12可以使用 一個具有二選一功能的 電子邏輯器件(Programmable Logic Device, PLD)實現(xiàn)。
在一種具體的應用場景中，選擇模塊12,用于在所述控制選擇端0接收到 所述扣板擴展模塊11的端口4輸出的信號指示所述扣板擴展模塊11的狀態(tài)為 不在位時，^吏得第一串聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)；在所述控制選擇端0接收到所述扣 板擴展模塊11的端口4輸出的信號指示所述扣斧反擴展才莫塊11的狀態(tài)為在位時， 使第一串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)。在另一種具體的應用場景中，選擇模塊12，用于在所述控制選擇端O接收
到所述扣板擴展模塊11的端口 4輸出的信號指示所述扣板擴展模塊11的狀態(tài) 為不在位時，使得第一串聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)子串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)；在所述 控制選擇端O接收到所述扣板擴展模塊ll的端口 4輸出的信號指示所述扣板擴 展模塊ll的狀態(tài)為在位時，使得子串聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)，第一串聯(lián)鏈處于斷 開狀態(tài)。
當上述單板10處在JTAG測試階段時，本發(fā)明實施例提供的單板10上的 JTAG器件與JTAG測試設備連接。
可以理解，扣板擴展模塊11輸出到選擇模塊12的控制選擇端0狀態(tài)信號的 邏輯值，取決于選擇模塊12內(nèi)部的電路結(jié)構(gòu)，例如當選擇模塊12從控制選 擇端0接收的信號的邏輯值為0時，端口 l和3之間的開關電路處于導通狀態(tài)， 則將狀態(tài)控制端4輸出的扣板擴展^f莫塊11的在位信號狀態(tài)設定為0;同樣如果 選擇模塊12在從控制選擇端0接收的信號的邏輯值為1時，端口 l和2之間的開 關電路處于導通狀態(tài)，則將狀態(tài)控制端4輸出的扣板擴展才莫塊11的不在位信號 的邏輯值為設定為l。其中選擇模塊12可以是選擇開關(模擬或數(shù)字)或電子 選擇器件，也可以是其它的可編程邏輯器件(如FPGA、 PLD)等，這并不構(gòu) 成對本發(fā)明的限制。
參閱圖3a，為選擇才莫塊12的一種實現(xiàn)方式，用以實現(xiàn)多選一的功能，即 從多個串聯(lián)的JTAG鏈路中選擇一個鏈路使其處于導通狀態(tài)。本實施例以實現(xiàn) 二選一的功能為例進行詳細說明。選擇模塊12可以包括功能相同的兩個可控 開關120和121及信號取反模塊123，所述可控開關120和121分別包括兩個輸出 端和一個控制端，則可控開關120和121用于根據(jù)控制端接收的信號接通或斷 開所述輸出端之間的連接；信號取反^f莫塊123,包括一個輸入端O和一個輸出 端，用于將所述輸入端接收的信號的邏輯值取反，并通過所述輸出端輸出邏 輯值取反后的信號。
可控開關121的控制端與信號取反模塊123的輸入端0連接，兩個輸出端l 和2串聯(lián)連入所述第 一 串聯(lián)鏈中；可控開關120的控制端與信號取反模塊123的 輸出端連接，兩個輸出端1和3串聯(lián)連入所述子串聯(lián)鏈中；且信號取反模塊123的輸入端0與所述扣板擴展模塊l 1的狀態(tài)控制端4。
這種結(jié)構(gòu)的選擇模塊12中的可控開關120和121需要根據(jù)各自控制端輸入 的信號來控制兩個輸出端的導通或斷開，可以為繼電器或三極管或場效應晶 體管(MOS)或邏輯器件等，且信號取反模塊123可以是非門或邏輯器件等可 以輸出和輸入端邏輯值相反的信號的模塊；且可控開關120和121需要具有相 同的特性，即兩個可控開關在控制端輸入同樣信號的情況下，可控開關同時 處于導通或斷開狀態(tài)，這樣兩個可控開關在信號取反^f莫塊123的控制下，可以 實現(xiàn)二選一的功能當信號取反模塊123的輸入端(即選擇模塊12的控制選擇 端0)輸入扣板控制模塊ll的狀態(tài)信號時，端口1和2連通，而端口1和3斷開， 或端口1和2斷開，而端口1和3連通，達到了選擇串聯(lián)鏈的目的。
參閱圖3b,為選擇^^塊12的一種實現(xiàn)方式，用以實現(xiàn)二選一的功能?？?以理解，選擇模塊12也可以包括功能相反的兩個可控開關130和131，可控開 關131的兩個輸出端1和2串聯(lián)連入所述第一串聯(lián)鏈中，可控開關130的兩個輸 出端1和3串聯(lián)連入所述子串聯(lián)鏈中，二者的控制端連接為選擇模塊12的控制 選擇端O。這里所述的功能相反指兩個可控開關的控制端接收到相同邏輯值的 信號后，可控開關130的輸出端斷開且可控開關131的輸出端連通或可控開關 130的輸出端連通且可控開關131的輸出端斷開，這樣在控制端(選褲"漠塊12 的控制選擇端O)輸入相同邏輯值的信號后，由于可控開關130和131的特性相 反，則端口1和2連通，而端口1和3斷開，或端口1和2斷開，而端口1和3連通， 達到了選擇串聯(lián)鏈的目的。
參閱圖4所示，為扣板擴展模塊ll的一種實施方式，可以根據(jù)扣板擴展模 塊的在位或不在位的狀態(tài)輸出信號?？郯鍞U展模塊ll可以包括至少一個扣板 子模塊110即單板上擴展的扣板和控制子模塊111,控制子模塊111可以在單板 IO上，也可以在扣板子模塊110上；扣板子模塊指扣板，即單板10可以擴展至 少一個扣板，本實施例中以一個扣板作為扣板子模塊為例說明，則扣板擴展 模塊11的狀態(tài)控制端4是用來指示扣板子模塊110的狀態(tài)即是否在位的情況， 扣板子模塊110上包括至少一個支持JTAG協(xié)議的器件(本圖以ICxl和ICx2為例 進行說明)，其中扣板子模塊110與控制子模塊111相連，且扣板子模塊IIO上ICxl和ICx2聯(lián)入所述子串聯(lián)鏈中。
控制子模塊111用于指示扣板子模塊110是否在位的狀態(tài)，可以用一個邏輯 器件實現(xiàn)，與扣板子模塊110連接，根據(jù)扣板子模塊110的狀態(tài)通過狀態(tài)控制 端4輸出相應的信號。
控制子模塊lll還可以是通過上拉電阻(或下拉電阻)，將電阻接到電源 端(或?qū)㈦娮杞尤氲?輸出的固定電平信號或邏輯器件輸出智能控制信號來 控制選擇模塊12選擇進行JTAG測試的串聯(lián)鏈?？梢娍刂谱幽Klll有多種具體 的實現(xiàn)方式，且控制子模塊111可以包括在扣板子模塊110中，也可以包括在扣 板擴展模塊ll中，這并不構(gòu)成對本發(fā)明的限制。
可以理解，上述選擇模塊12的控制選擇端0輸入的信號可以人控制，則扣 板擴展模塊的狀態(tài)控制端4和選擇模塊12的控制選擇端0通過控制開關連接， 而此控制開關可以人為控制它的通斷。
如圖5所示，為在實際應用中的單板200進行JTAG測試時的結(jié)構(gòu)圖，圖中， 扣板擴展模塊220包括一個扣板子模塊222,控制子模塊用電阻R221的上下拉 來實現(xiàn)，且在扣板子模塊222上包括一個支持JTAG協(xié)議的器件ICx,利用本發(fā) 明實施例的200在進行JTAG測試時，可以簡化測試、調(diào)試的過程。
當扣板子模塊222在位時，通過電阻R221接入到地輸出低電平或通過扣板 擴展模塊上的邏輯器件輸出低電平到選擇器件210的控制選擇端，控制選擇器 件210選通A通道，這樣JTAG鏈的路徑是JTAG測試設備IOO - ICO -選擇器 件210的2A選擇端-選擇器件210的2A選擇端對應的輸出端2Y - Rl - ICx -選 擇器件210的1A端口 -選擇器件210的1A端口對應的輸出端1Y- R0- ICn-JTAG測試設備l 00 ，這樣扣板子模塊222上的JTAG器件、單板200上的JTAG器 件和JTAG測試設備100組成了 一個JTAG鏈進行測試。
當扣板不在位時，通過電阻R2214矣入到電源端(VCC )輸出高電平到選 擇器件ICa的控制選擇端，選擇器件210選通B通道，這樣JTAG鏈的路徑是 JTAG測試設備IOO - ICO -選擇器件210的選擇端1B -選擇器件210的選擇端 1B對應的輸出端1Y - RO - ICn - JTAG測試設備100,這樣只有單板200上的 JTAG器件和JTAG測試設備l OO組成JTAG鏈進行測試?？梢?，本實施例提供的單板在進行JTAG測試時，通過扣板在位或不在位
的狀態(tài)信號，選擇一個可以導通的JTAG鏈，本實施例提供的單板，在扣板擴 展模塊中的扣板模塊不在位時可以形成導通的JTAG鏈，當扣板模塊在位時也 可以形成導通的JTAG鏈，筒化了現(xiàn)有技術中對電子器件進行測試的過程中單 板和扣板擴展模塊需要進行單獨成鏈測試的流程。本實施例以JTAG協(xié)議為例 進行說明，但是對于其它電路測試協(xié)議也同樣適用，并不限于JTAG協(xié)議。
實施例二
請參閱圖6， 一種單板20，結(jié)構(gòu)示意圖如圖6所示，包括 扣板擴展模塊21、選擇模塊22和至少一個JTAG器件(本實施例以ICal、
ICa2和ICan為例進行說明，但不限于此)。
圖6為單板20處于JTAG測試狀態(tài)的結(jié)構(gòu)圖，測試設備JTAG測試設備23與
本實施例所所提供的單板20串聯(lián)連接。其中
可以理解，扣板擴展模塊21是單板20上可以擴展扣板的模塊。 在一種應用場景下，扣板擴展模塊21可包括扣板子模塊211及扣板子模塊
211對應的控制子模塊213，在扣板子模塊211上包括至少一個JTAG器件 (ICbl);扣板子模塊210及其對應的控制子模塊212,在扣板子模塊210上包
括至少一個JTAG器件(ICcl )。
可以理解，本實施例中扣板子模塊211和210可以是嵌套的，如扣板子模
塊210是在扣板子模塊211上擴展的PCB板。它們各自對應的控制子模塊213和
212的具體實現(xiàn)電路如實施例一所述，用來根據(jù)扣板子模塊的在位狀態(tài)輸出控
制信號，可以是狀態(tài)邏輯器件，也可以是上拉電阻或下拉電阻，這并不構(gòu)成
對本發(fā)明的限制。
選擇模塊22根據(jù)扣板擴展模塊21輸入的扣板子模塊211及扣板子模塊210 在位或不在位信號，選擇可以導通的JTAG鏈。以下以選擇模塊22可以從兩個 JTAG鏈中選擇一條可以導通的JTAG鏈的應用場景，作進一步說明。選擇模塊 22可進一步包括選擇子模塊220、 221和222,兩個控制選擇端0和1，分別接 收扣板子模塊211和扣板子模塊210在位或不在位的信號。
可以理解，選擇子模塊220、 221和222的具體實現(xiàn)如圖3a或圖3b所述，可以是選擇開關或二選一的電子邏輯器件等。
上述扣板擴展模塊21的兩個狀態(tài)控制端為2和3,分別為控制子模塊213和 212的一端，控制子模塊213和212的另一端分別與扣板子模塊211和210連接， 通過端口2和3分別輸出指示扣板子模塊211和210在位或者不在位的狀態(tài)信
，
所述扣板擴展才莫塊21的兩個狀態(tài)控制端2和3分別與所述選擇;f莫塊22的兩 個控制選擇端0和1連接，其中選擇模塊22的控制選擇端0為選擇子模塊220的 控制選擇端，而選擇子模塊221與222的控制選擇端連接為選擇模塊22的另一 個控制選擇端l。單板20上的JTAG器件(圖6的ICal、 ICa2和ICan)、選擇模塊 22中的選擇子模塊220、選擇子模塊221串聯(lián)連接成第一串聯(lián)鏈；單板20上的 JTAG器件、選擇子模塊220、扣板子模塊211上的JTAG器件、選擇子模塊222、 扣板子模塊210上的JTAG器件串聯(lián)連接成一個子串聯(lián)鏈；單板20上的JTAG器 件、選擇子模塊220、選擇子模塊221、扣板子模塊210上的JTAG器件串聯(lián)連接 成另一子串聯(lián)鏈；單板20上的JTAG器件、選擇子模塊220、扣板子模塊211上 的JTAG器件、選擇子模塊222串聯(lián)連接成又一子串聯(lián)鏈。
由于扣板擴展模塊21包括兩個扣板擴展模塊，因此扣板擴展模塊有四種 狀態(tài)即扣板子才莫塊211和210都在位，都不在位，扣寺反子沖莫塊211在位、而扣 板子模塊210不在位，扣板子模塊211不在位、而扣板子模塊210在位。假設它 們的不在位信號用O信號來表示，在位信號用l來表示。
這樣本實施例的單板20進行測試時，是通過如下方法實現(xiàn)當選4Nt塊 22的控制選擇端0和1接到的信號為0和0，則扣板子模塊211和210都不在位， 則通過選擇模塊22中的選擇子模塊220、 221和222進行選擇的JTAG測試路徑 為JTAG測試設備-ICal -選擇子模塊220 -選擇子模塊221 - ICa2 - ICan的 串聯(lián)鏈；
當選擇模塊22的控制選擇端0和1接到的信號為1和1，則扣板子模塊211和 210都在位，則通過選擇模塊22中的選擇子模塊220、221和222進行選擇的JTAG 測試路徑為JTAG測試設備-ICal -選擇子沖莫塊220 -扣板子模塊211中的 JTAG器件ICbl -選擇子模塊222 -扣板子模塊210中的JTAG器件ICcl - ICa2-ICan的串聯(lián)鏈。
當選擇模塊22的控制選擇端0和1接到的信號為0和1 ，則扣板子模塊211不 在位，而扣板子模塊210在位，則通過選擇模塊22中的選擇子模塊220、 221和 222進行選擇的JTAG測試路徑為JTAG測試設備-ICal -選擇子模塊220 -選 擇子模塊221 -扣板子模塊210中的JTAG器件ICcl - ICa2 - ICan的串聯(lián)鏈；
當選擇模塊22的控制選擇端0和1接到的信號為1和0，則扣板子模塊211在 位，而扣板子模塊210不在位，則通過選擇模塊22中的選擇子模塊220、 221和 222進行選^奪的JTAG測試^各徑為JTAG測試設備- ICal _選擇子才莫塊220 -扣 板子模塊211中的JTAG器件ICbl -選擇子模塊222 - ICa2 - ICan的串聯(lián)鏈。
本實施例中扣板擴展模塊21包括兩個扣板子模塊，單板20中選擇模塊22 中的選擇子模塊根據(jù)所述兩個扣板子模塊在位或不在位的狀態(tài)信號，來選擇 適當?shù)腏TAG測試鏈，簡化了現(xiàn)有技術中對電子器件進行測試的過程中單板和 扣板擴展模塊21中的扣板子模塊需要進行單獨成鏈測試的流程；且本發(fā)明的 方案比較簡單，不需要對底板和扣板做很大的改變即可實現(xiàn)。
從上述實施例可知，在其他的實施例中，如果單板的扣板擴展;^莫塊中包 括N個扣板子模塊(N位大于等于l的自然數(shù))，它們的狀態(tài)信號有2^則單板 的選擇模塊包括N個控制選擇端，且選擇模塊可以選擇2N條不同的JTAG鏈路 進行測試，選擇模塊的實現(xiàn)可以通過多個二選一的選擇子模塊或通過多選一 的電子邏輯器件來實現(xiàn)。
可見，本實施例提供的單板進行電路測試時，扣板擴展模塊將扣板在位 或不在位的狀態(tài)信號輸出到選擇模塊的控制選擇端，來控制選擇模塊進行 JTAG鏈的選擇，本實施例提供的單板，在單板上的扣板擴展模塊中的扣板模 塊不在位時可以形成JTAG鏈，當在位時也可以形成JTAG鏈，簡化了現(xiàn)有技術 中對電子器件進行測試的過程中單板和扣板擴展才莫塊需要進行單獨成鏈測試 的流程；且本實施例提供的方案比較簡單，不需要對底板和扣板做很大的改 變即可實現(xiàn)。本實施例以JTAG協(xié)議為例進行說明，但是對于其它電路測試協(xié) 議也同樣適用，并不限于JTAG協(xié)議。
實施例三請參閱圖7， 一種單板的電路測試方法，包括 步驟301,獲取扣板是否在位的狀態(tài)信號。
狀態(tài)信號用于指示單板上的扣板是否在位，例如，如果扣板在位，狀態(tài) 信號的值為O,如果扣板不在位，狀態(tài)信號的值為l?？梢酝ㄟ^一個控制模塊 得到扣板在位與否的狀態(tài)信號，如可通過上拉電阻(或下拉電阻)，將電阻接
到電源端(或?qū)㈦娮杞尤氲?輸出的固定電平信號或邏輯器件輸出智能控制 信號作為狀態(tài)信號。
步驟302,根據(jù)所述狀態(tài)信號的值，使所述單板上的第一串聯(lián)鏈處于連通 或者斷開狀態(tài)，所述第 一 串聯(lián)鏈由所述單板上的電子器件串聯(lián)形成。
如果扣板不在位，單板上的電子器件和扣板無法形成串聯(lián)電路，為了測 試單板上的電路，需要使單板上的電子器件串聯(lián)形成第一串聯(lián)鏈；如果扣板 在位，單板上的電子器件和扣板上的電子器件可以形成串聯(lián)電路，因而可以 將扣板上的電子器件和單板上的電子器件串聯(lián)，形成子串聯(lián)鏈。
利用一個二選一的選捧電路，根據(jù)步驟301獲得的狀態(tài)信號的值，使不同 的鏈路處于連通狀態(tài)，當狀態(tài)信號的值指示扣板在位時，使第一串聯(lián)鏈處于 連通狀態(tài)，使子串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)；或者如果狀態(tài)信號的值指示扣板不在 位，使第一串聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)，使所述子串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)。選擇電路 可以采用圖3a或圖3b給出的實施例。
但是單板上可能掛載多個扣板，因而可以形成不同的子串聯(lián)鏈，這種情 況下，可以利用一個多選一的選擇電路(或者多個二選一的選擇電路)，根據(jù) 不同扣板在位與否的情況，選擇不同的子串聯(lián)鏈，使子串聯(lián)鏈處于導通狀態(tài)； 如果所有的扣板都不在位，則使第 一 串聯(lián)鏈處于導通狀態(tài)。
單板上的電子器件或者扣板上的電子器件，可以是支持JTAG協(xié)議的電子 器件，也可以支持其它測試協(xié)議的電子器件。
可見，本實施例提供的方法進行電路測試時，可以根據(jù)扣板在位或不在 位的狀態(tài)信號選擇鏈路，筒化了現(xiàn)有技術中對電子器件進行測試的過程中單 板和扣板擴展模塊需要進行單獨成鏈測試的流程；且本實施例提供的方案比 較簡單，不需要對底板和扣板做很大的改變即可實現(xiàn)。
15以上對本發(fā)明實施例所提供的單板的電路測試方法和單板進行了詳細介
上實施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想；同時，對于
本領域的一般技術人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在具體實施方式
及應用范圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應理解為對本發(fā)明的限制。
權利要求
1、一種單板，其特征在于，所述單板包括選擇模塊，所述選擇模塊包括至少一個控制選擇端；扣板擴展模塊，所述扣板擴展模塊包括至少一個指示狀態(tài)的狀態(tài)控制端；所述選擇模塊與所述單板上的電子器件串聯(lián)連接成第一串聯(lián)鏈；所述扣板擴展模塊的狀態(tài)控制端和所述選擇模塊的控制選擇端相連接；所述選擇模塊，用于在所述控制選擇端接收到所述扣板擴展模塊的狀態(tài)控制端輸出的信號指示所述扣板擴展模塊的狀態(tài)為不在位時，使所述第一串聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)。
2、 如權利要求l所述的單板，其特征在于，所述選擇模塊、所述單板上 的電子器件和所述扣板擴展模塊串聯(lián)連接成至少一個子串聯(lián)鏈；所述選擇模塊包括第 一子選擇模塊和第二子選擇模塊，所述第 一子選擇 模塊，用于在所述控制選擇端接收到所述扣板擴展模塊的狀態(tài)控制端輸出的 信號指示所述扣板擴展模塊的狀態(tài)為不在位時，使所述第一串聯(lián)鏈處于連通 狀態(tài)，同時使所述子串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)；所述第二子選擇模塊，在所述控制選擇端接收到所述扣板擴展模塊的狀 態(tài)控制端輸出的信號指示所述扣板擴展模塊的狀態(tài)為在位時，使所述第一串 聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)，同時使至少 一個所述子串聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)。
3、 如權利要求l所述的單板，其特征在于，所述單板上的電子器件是支 持聯(lián)合測試行動組JTAG協(xié)議的電子器件。
4、 如權利要求2或3所述的單板，其特征在于，所述選擇模塊包括 所述第 一選擇子模塊和所述第二選擇子模塊為功能相同的可控開關，所述可控開關包括兩個輸出端和一個控制端，根據(jù)所述控制端接收的信號接通 或斷開所述輸出端之間的連接；信號取反模塊，包括一個輸入端和一個輸出端，所述信號取反模塊用于 將所述輸入端接收的信號的邏輯值取反，并通過所述輸出端輸出邏輯值取反 后的信號；所述第一選擇子模塊的控制端與所述信號取反模塊的輸入端連接，兩個 輸出端串聯(lián)連入所述第 一 串聯(lián)鏈中；第二選擇子模塊的控制端與所述信號取反模塊的輸出端連接，兩個輸出端串聯(lián)連入所述子串聯(lián)鏈中；所述信號取反模塊的輸入端與所述扣板擴展模塊的狀態(tài)控制端相連接。
5、 如權利要求1或2所述的單板，其特征在于，所述扣板擴展模塊包括控 制子模塊；所述控制子模塊包括至少一個控制端，與所選擇模塊的控制選擇端連接， 用于通過所述控制端輸出指示所述扣板擴展模塊的狀態(tài)信號。
6、 如權利要求1或2所述的單板，其特征在于，所述扣板擴展模塊包括N 個扣板子模塊及N個與所述扣板子模塊對應的控制子模塊，所述扣板子模塊包 括至少一個電子器件，所述N為大于等于1的自然數(shù)；所述控制子模塊的一端為所述扣板擴展模塊的狀態(tài)控制端，所述控制子 模塊的另 一端和對應的扣板子模塊連接，用于指示所述對應的扣板子模塊的 狀態(tài)；所述選擇沖莫塊包括N個控制選擇端，分別與所述扣板擴展模塊的N個所述 狀態(tài)控制端連接；所述選擇^t塊、所述一個或多個扣板子模塊中的電子器件、所述單板上 至少一個電子器件串聯(lián)形成至少一個子串聯(lián)鏈。
7、 一種單板的電路測試方法，其特征在于，所述方法包括 獲取扣板是否在位的狀態(tài)信號；根據(jù)所述狀態(tài)信號的值，使所述單板上的第一串聯(lián)鏈處于連通或者斷開 狀態(tài)，所述第一串聯(lián)鏈由所述單板上的電子器件串聯(lián)形成。
8、 如權利要求7所述的方法，其特征在于，所述4艮據(jù)所述狀態(tài)信號的值， 使所述單板上的第一串聯(lián)鏈處于連通或者斷開狀態(tài)，包括如果所述狀態(tài)信號的值指示扣板不在位，使所述第一串聯(lián)鏈處于連通狀 態(tài)；或者，如果所述狀態(tài)信號的值指示扣板在位，使所述第一串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)。
9、 如權利要求7所述的方法，其特征在于，所述4艮據(jù)所述狀態(tài)信號的值， 使所迷單板上的第一串聯(lián)鏈處于連通或者斷開狀態(tài)，包括如果所述狀態(tài)信號的值指示扣板不在位，使所述第一串聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)，使子串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)，所述子串聯(lián)鏈由所述單板上的電子器件和所述扣板上的電子器件串聯(lián)形成；或者，如果所述狀態(tài)信號指示扣板在位，使所述第一串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)，使 所述子串聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)。
10、如權利要求7至9任一所述的方法，其特征在于，所述電子器件是支 持JTAG協(xié)議的電子器件。
全文摘要
本發(fā)明提供單板的電路測試方法和單板，應用于芯片測試技術。在本發(fā)明的單板進行電路測試時，扣板擴展模塊將扣板在位或不在位的狀態(tài)信號輸出到選擇模塊的控制選擇端，來控制選擇模塊進行電路測試鏈的選擇，本發(fā)明中在扣板擴展模塊中的扣板模塊不在位時，可以形成電路測試鏈，當在位時也可以形成電路測試鏈，簡化了現(xiàn)有技術中對電子器件進行測試的過程中單板和扣板擴展模塊需要進行單獨成鏈測試的流程；且本發(fā)明的方案比較簡單，不需要對底板和扣板做很大的改變即可實現(xiàn)。
文檔編號G01R31/3185GK101477173SQ20091000604
公開日2009年7月8日 申請日期2009年1月22日 優(yōu)先權日2009年1月22日
發(fā)明者劉海新, 葉小龍 申請人:華為技術有限公司