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      機(jī)密定位測(cè)試模塊的制作方法

      文檔序號(hào):5846657閱讀:190來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:機(jī)密定位測(cè)試模塊的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實(shí)用新型涉及一種電子產(chǎn)品,具體的說(shuō)一種機(jī)密定位測(cè)試模塊
      背景技術(shù)
      目前,現(xiàn)有技術(shù)中的用于芯片領(lǐng)域的測(cè)試模塊的缺點(diǎn)是結(jié)構(gòu)單一,其測(cè)試, 精準(zhǔn)度誤差較大。 發(fā)明內(nèi)容
      本實(shí)用新型的目的是提供一種能提高芯片檢測(cè)精準(zhǔn)度的機(jī)密定位測(cè)試模 塊。本實(shí)用新型解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)包括
      測(cè)試座底(1)、測(cè)試座(2)、導(dǎo)向臺(tái)(3)、接觸插座與壓板(4)、空氣壓頭(5), 其結(jié)構(gòu)特征是在測(cè)試座底(1)上設(shè)置有測(cè)試座(2),測(cè)試座(2)的上方設(shè) 置有導(dǎo)向臺(tái)(3),導(dǎo)向臺(tái)(3)的上方設(shè)置有接觸插座與壓板(4),接觸插座與 壓板(4)的t方設(shè)置有空氣壓頭(5),空氣壓頭(5)位于最上方。工作原理 為空氣壓頭為芯片壓緊的動(dòng)力源,壓力通過(guò)接觸插座與壓板在導(dǎo)向臺(tái)的輔助下 作用在芯片上,以保證芯片焊腳與測(cè)試座良好接觸,從而提高測(cè)試的精準(zhǔn)度。
      本實(shí)用新型的有益效果是,該機(jī)密定位測(cè)試模塊不僅可以提高對(duì)芯片檢測(cè) 的精準(zhǔn)度,而且還結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,值得推廣。

      圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖中測(cè)試座底(1)、測(cè)試座(2)、導(dǎo)向臺(tái)(3)、接觸插座與壓板(4)、空 氣壓頭(5)。
      具體實(shí)施方式
      測(cè)試座底(1)上設(shè)置有測(cè)試座(2),測(cè)試座(2)的上方設(shè)置有導(dǎo)向臺(tái)(3),導(dǎo) 向臺(tái)(3)的上方設(shè)置有接觸插座與壓板(4),接觸插座與壓板(4)的上方設(shè)置 有空氣壓頭(5),空氣壓頭(5)位于實(shí)施例的最上方。
      上面所述的實(shí)施例僅僅是對(duì)本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式進(jìn)行描述,并非對(duì)本 實(shí)用新型的構(gòu)思和范圍進(jìn)行限定,在不脫離本實(shí)用新型設(shè)計(jì)構(gòu)思的前提下,本領(lǐng) 域中普通工程技術(shù)人員對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案作出的各種變型和改進(jìn),均應(yīng)落 入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍,本實(shí)用新型請(qǐng)求保護(hù)的技術(shù)內(nèi)容,已經(jīng)全部記載在權(quán) 利要求書(shū)中。
      權(quán)利要求1、機(jī)密定位測(cè)試模塊,包括測(cè)試座底(1)、測(cè)試座(2)、導(dǎo)向臺(tái)(3)、接觸插座與壓板(4)、空氣壓頭(5),其特征在于測(cè)試座底(1)上設(shè)置有測(cè)試座(2),測(cè)試座(2)的上方設(shè)置有導(dǎo)向臺(tái)(3),導(dǎo)向臺(tái)(3)的上方設(shè)置有接觸插座與壓板(4),接觸插座與壓板(4)的上方設(shè)置有空氣壓頭(5),空氣壓頭(5)位于最上方。
      專利摘要本實(shí)用新型涉及一種機(jī)密定位測(cè)試模塊,包括測(cè)試座底(1)、測(cè)試座(2)、導(dǎo)向臺(tái)(3)、接觸插座與壓板(4)、空氣壓頭(5),其特征在于測(cè)試座底(1)上設(shè)置有測(cè)試座(2),測(cè)試座(2)的上方設(shè)置有導(dǎo)向臺(tái)(3),導(dǎo)向臺(tái)(3)的上方設(shè)置有接觸插座與壓板(4),接觸插座與壓板(4)的上方設(shè)置有空氣壓頭(5),空氣壓頭(5)位于最上方。本實(shí)用新型的有益效果是,該機(jī)密定位測(cè)試模塊不僅可以提高對(duì)芯片檢測(cè)的精準(zhǔn)度,而且還結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,值得推廣。
      文檔編號(hào)G01R1/02GK201364344SQ20092002207
      公開(kāi)日2009年12月16日 申請(qǐng)日期2009年2月24日 優(yōu)先權(quán)日2009年2月24日
      發(fā)明者劉建峰 申請(qǐng)人:南通金泰科技有限公司