專利名稱：金屬對象或者磁性對象的檢測的制作方法
技術領域：
在確定的對エ件的加工情況中，存在的危險是，埋藏在エ件中的物體由于加工而受到損壞。例如，在鉆孔到壁中的情況中，會損壞在壁內走向的水、電流或者氣體線路。在相反情況中，例如當上述例子中的孔要經(jīng)過壁內的鋼筋或者支承結構時，會是希望的是，恰好如此進行加工，使得在エ件中埋藏的物體被同時加工。
背景技術：
為了檢測這種被埋藏的物體，在現(xiàn)有技術中公開了基于線圈的金屬探測器。這種探測器在測量區(qū)域中產(chǎn)生磁場。如果金屬物體在測量區(qū)域中，則物體由于其對產(chǎn)生的磁場的影響而被識別。通常，為了確定產(chǎn)生的磁場，使用至少兩個接收線圈，其定向和彼此連接為，使得在測量區(qū)域中不存在金屬對象的情況下，由兩個接收線圈共同提供的測量信號趨向于零(差分測量)。在一個變形方案中，使用多個發(fā)送線圈用于產(chǎn)生磁場，所述發(fā)送線圈被 激勵，使得與測量區(qū)域中金屬對象的存在無關地，在兩個接收線圈中測量的信號趨向于零(場補償?shù)臏y量)。DE 10 2007 053 881 Al描述了ー種測量方法，用于確定一個線圈相對于兩個另外的線圈的位置或者角度。為此，借助兩個相對彼此成角度地布置的發(fā)送線圈產(chǎn)生交變磁場。接收線圈被引入交變磁場中，并且對發(fā)送線圈的操控改變?yōu)槭沟迷诮邮站€圈中由每個發(fā)送線圈感應相同的電壓。由發(fā)送線圈輸送的電流值的比例(Verhaeltnis)用作接收線圈相對于發(fā)送線圈的位置和/或角度確定的度量。DE 10 2004 047 189 Al描述了ー種帶有印刷線圈的金屬探測器。

發(fā)明內容
本發(fā)明所基于的任務是，提供一種用于金屬對象的簡單并且準確的探測器。本發(fā)明的另一任務是說明ー種用于確定金屬對象的方法。本發(fā)明借助ー種具有權利要求I所述的特征的測量裝置以及ー種具有權利要求10所述的特征的方法來解決所述任務。從屬權利要求說明了優(yōu)選的實施形式。用于檢測金屬對象的測量裝置包括兩個發(fā)送線圈，用于產(chǎn)生疊加的磁場；在兩個磁場的區(qū)域中的磁阻測量設備，尤其是帶有霍爾傳感器的測量設備，用于輸出與磁場相關的輸出信號；以及控制設備，用于為發(fā)送線圈提供交變電壓，使得將測量設備的輸出信號的與交變電壓時鐘同步的交流電壓部分在數(shù)值上最小化。在此，控制設備設計為，當交變電壓的比例并不對應于(korrespondiert)測量設備距發(fā)送線圈的距離的比例時,檢測到對象。測量裝置可以進行場補償?shù)暮筒罘值臏y量，并且由此提供準確的測量結果，該測量結果對于干擾是魯棒的。此外，可以使用磁阻測量設備，其明顯小于通常的用于確定磁場的線圈。由此，測量裝置的非常緊湊的結構是可能的，并且能夠在狹窄的空間周圍實現(xiàn)高度集成的測量布置。不同于線圈，磁阻傳感器測量磁場而并不是磁通量的時間變化。在借助矩形信號產(chǎn)生交變場的情況下，這具有的優(yōu)點是，對象的影響不僅在邊緣區(qū)域中的場變化的短暫時間內被測量，而且可以在矩形激勵的半波的整個持續(xù)時間期間被測量。由此，可以提高測量準確性。優(yōu)選的是，交變電壓是相對于彼此相移的交流電壓，優(yōu)選是相移180°的交流電壓，以便將發(fā)送線圈的磁場周期性地在數(shù)值和相位上改變。交流電壓能夠實現(xiàn)同步解調，由此可以將頻率不同于調制頻率的干擾信號非常有效地抑制。此外，可以通過交流電壓產(chǎn)生交變磁場，以便在非磁性材料例如銅中感應渦流，由于該渦流于是可以檢測所述材料。在第一變形方案中，測量設備可以包括多個彼此間隔的傳感器用于確定磁場，其中傳感器相對于彼此定向和彼此連接，使得傳感器的輸出信號在傳感器上的相同磁場的情況下相加為零，并且發(fā)送線圈的主場方向和傳感器的優(yōu)選方向彼此平行。例如，可以使用在串聯(lián)電路中的反平行取向的霍爾傳感器，以便在兩個發(fā)送線圈的區(qū)域中成本低廉并且精確地確定得到的磁場。 傳感器可以具有優(yōu)選方向，所述優(yōu)選方向相對于彼此平行走向，并且傳感器的信號可以從彼此相減。對此可替選地，傳感器的優(yōu)選方向可以反平行地取向，并且將傳感器的 信號彼此相加。為了相加或者相減，可以使用差分放大器，或者傳感器可以相應地彼此連接。原則上，任何類型的傳感器是合適的，該傳感器確定磁場。這種傳感器可以具有小的尺寸，使得測量設備可以被小型化。由此，可以提高空間分辨率，在一個實施形式中直到可以圖像方式示出的范圍中。有利的是，發(fā)送線圈在彼此平行的平面中相互疊置，由此使得用于ー個或多個測量設備的多個發(fā)送線圈的矩陣式布置變得容易。發(fā)送線圈可以是空氣線圈并且尤其是在電路板上構建的印刷電路(印刷線圈)，使得制造可以較不費事并且由此可以是成本低廉的。傳感器之一可以被發(fā)送線圈之一環(huán)繞，并且另一傳感器可以在發(fā)送線圈之外。通過選擇傳感器的具體位置，可以使用兩個或者更多個傳感器，以便在總和上輸出與得到的磁場成比例的信號，該信號涉及在發(fā)送線圈的區(qū)域中的多個點。在第二變形方案中，測量設備可以包括用于確定磁場梯度的傳感器，其中發(fā)送線圈的主場方向彼此平行地走向，并且傳感器的優(yōu)選方向與主場方向垂直或者平行地走向。用于磁場的梯度的傳感器能夠以高精度地可用，例如作為AMR(各向異性磁阻效應)傳感器、GMR (巨磁阻效應)傳感器、CMR (龐磁阻效應)傳感器、TMR (隧穿磁阻)傳感器或者平面霍爾傳感器。這種傳感器此外可以作為標準部件而成本低廉地獲得。在另ー實施形式中，也可以使用并不基于磁阻效應的傳感器，例如SQUID傳感器。發(fā)送線圈可以基本上彼此并排地布置在ー個平面中，其中傳感器的優(yōu)選方向平行于或者垂直于該平面走向。由此，可以將測量裝置安置在僅僅ー側被裝備的電路板上，這可以降低測量裝置的件價格。發(fā)送線圈可以基本上為D形，其中D形的后部朝向彼此，并且傳感器布置在D形的后部之間。于是，可以與用于磁場梯度的傳感器一同實現(xiàn)非常緊湊的構造。優(yōu)選的是，傳感器基本上布置在發(fā)送線圈的平面中，并且另ー傳感器設置在與該平面平行的平面中，其中傳感器和另外的傳感器的優(yōu)選方向相互垂直。由此，可以提高測量裝置的精度和普遍性。
此外，本發(fā)明還包括ー種用于檢測金屬對象的測量方法，包括步驟為兩個發(fā)送線圈供給交變電壓，以便產(chǎn)生疊加的磁場；確定在兩個磁場的區(qū)域中的磁阻測量設備的、與磁場相關的輸出信號；其中為發(fā)送線圈供給交變電壓如此進行，使得將測量設備的輸出信號的與交變電壓時鐘同步的交流電壓部分在數(shù)值上最小化；以及當交變電壓的比例并不對應于測量設備距發(fā)送線圈的距離的比例時，檢測到對象。


下面參照附圖更準確描述本發(fā)明，其中
圖I示出了測量裝置的框 圖2示出了用于圖I中的測量裝置的磁阻測量設備的布置；
圖3示出了圖I中的測量裝置上的多個發(fā)送線圈的布置；
圖4示出了用于圖I中的測量裝置的磁場傳感器和發(fā)送線圈的布置；
圖5示出了用于圖I中的測量裝置的磁場梯度傳感器和發(fā)送線圈的布置；以及 圖6示出了借助圖I中的測量裝置用于檢測金屬對象的方法的流程圖。
具體實施例方式圖I示出了測量裝置100的框圖。測量裝置100是用于檢測金屬對象、例如含鐵材料構成的金屬對象的金屬探測器105的一部分。時鐘發(fā)生器110具有兩個輸出端，其在輸出端上提供相移的、優(yōu)選180°相移的周期性交變信號。交變信號尤其可以包括矩形信號、三角形信號或者正弦信號。時鐘發(fā)生器的輸出端與第一可控放大器115或者第二可控放大器120連接。姆個可控放大器115、120都具有控制輸入端，其通過控制輸入端接收信號，該信號控制可控放大器115、120的放大因子。第一可控放大器115的輸出端與第一發(fā)送線圈125連接，而第二可控放大其120的輸出端與第二發(fā)送線圈130連接。發(fā)送線圈125和130的其余端分別與限定的電勢電連接。如通過在發(fā)送線圈125和130上的點表明的那樣，發(fā)送線圈25和130相反地取向。在用相對于限定的電勢相反的電壓供給時，發(fā)送線圈125、130構建具有相同取向的磁場。在供給具有相對于限定的電勢相同取向的、具有交變的不同幅度的電壓的情況下，也可以實現(xiàn)相同的效果，在該情況中流動具有疊加的直流部分的電流。在該情況中，得至IJ發(fā)送線圈的相同的以及相反的取向。磁場傳感器在所有情況中這樣相對于彼此取向和連接，使得在沒有對象的情況中在磁阻測量裝置135的輸出端上有恒定信號。該信號部分對應于電流的疊加的直流部分。為了不會不必要地配備輸入放大器140，輸入放大器可以與電容器直流電壓去耦。磁阻測量設備135與輸入放大器140連接。輸入放大器140以恒定的放大因子示出；然而在另ー實施形式中，輸入放大器140的放大因子也可以是可控的。由此，例如測量裝置100的空間分辨率和/或靈敏度可以是可影響的，并且例如可以根據(jù)測量量來控制。輸入放大器140的輸出端與同步解調器145連接。同步解調器145此外與時鐘發(fā)生器110連接，并且由其接收時鐘信號，該時鐘信號指示在時鐘發(fā)生器110的輸出端上提供的信號的相位角值。在一個簡單的實施形式中，其中由時鐘發(fā)生器110提供的信號是對稱的矩形信號，輸出信號之一可以用作時鐘信號。同步解調器145基本上基于時鐘發(fā)生器110提供的時鐘信號來將輸入放大器140接收到的測量信號交替地在其上輸出端或者下輸出端上接通。同步解調器145的兩個輸出端與積分器(積分比較器)150連接，該積分器在此示出為與兩個電阻和兩個電容器連接的運算放大器。其他的實施形式同樣是可能的，例如作為有源低通濾波器。連接到同步解調器的數(shù)字實施形式也是可考慮的，其中在同步解調器的輸出端上的信號在一個半波內的一個或者多個時刻被模數(shù)轉換，并且隨后與下一個半波中的相應值比較。差被積分，并且例如又轉變?yōu)槟M信號，并且用于控制放大器。同步解調器145將輸入放大器140接收的測量信號在其下輸出端上提供，而積分器150將該信號在時間上積分，并且將結果在其輸出端上提供。同步解調器145將輸入放大器140接收到的測量信號在其上輸出端上提供，而該信號被積分器150倒相地在時間上積分，并且將結果在積分器150的輸出端上提供。在積分器150的輸出端上的電壓是同步解調器145的低通濾波后的輸出的差的積分。

如果在磁阻測量設備135上的發(fā)送線圈125和130的疊加的磁場在數(shù)值和方向上大小相同，則在同步解調器145的輸出端上提供的信號平均上在時間上大小相同，并且在積分器150的輸出端上提供信號，該信號趨向于零(接地)。然而如果發(fā)送線圈125、130之一的磁場的影響占優(yōu)勢，則在同步解調器145的輸出端上提供的信號在平均上不再相同，并且在積分器150的輸出端上提供正信號或者負信號。由積分器150提供的信號通過端子155被提供用于進一歩的處理。附加地，微計算機175與可控放大器115、120的控制輸入端連接。微計算機175進行所提供的信號與閾值的比較，并且在輸出端180輸出信號，該信號指示金屬対象。該信號可以以光學和/或聲學的方式呈現(xiàn)給金屬探測器105的使用者。微計算機175此外可以對從可控放大器115、120的控制輸入端所截取的信號進行進ー步處理，并且與其相關地控制測量裝置100的參數(shù)。例如，在時鐘發(fā)生器110的輸出端上的交變電壓的信號形狀或者頻率可以變化，或者接收放大器140的靈敏度可以被改變。在另ー實施形式中，測量裝置100的所示的其他元件通過微計算機175來實現(xiàn)，譬如時鐘發(fā)生器110、同步解調器145或者積分器150。積分器150的相同信號也用于控制可控放大器115和120的放大因子，其中第二可控放大器120直接與積分器150的輸出端連接,并且第一可控放大器115借助反相器160與積分器150的輸出端連接。反相器160引起提供給其的信號的反轉，使得根據(jù)積分器150的輸出信號，第一可控放大器115的放大因子以與第二可控放大器120的放大因子減小的程度來増大，或者反過來。也可考慮的是，僅僅控制可控放大器之一的放大因子，而第二個可控放大器的放大因子保持為固定值。在發(fā)送線圈125、130的區(qū)域中繪出了金屬對象170。金屬對象170具有距發(fā)送線圈125和130不同的距離，并且因此不同強度地影響發(fā)射電極125、130的相同強度的磁場。測量裝置100設計用于通過相反地改變可控放大器115、120的放大因子來平衡該影響。如果僅僅兩個可控放大器115、120之ー被控制，而另外的被保持固定，則并不通過相反的變化來平衡，而是僅僅具有定向的改變。圖2示出了兩個磁阻磁場傳感器的布置200，用于與圖I的測量設備一同使用。第ー霍爾傳感器210和第二霍爾傳感器220具有相反的優(yōu)選方向，并且彼此串聯(lián)，使得其在均勻的磁場中在總和上提供零信號。霍爾傳感器210、220以其優(yōu)選方向平行于(210)或者反平行于(220)在沒有對象的情況中由發(fā)送線圈產(chǎn)生的磁場的主場方向取向?；魻杺鞲衅?10、220的信號轉發(fā)給圖I中的輸入放大器140?；魻杺鞲衅?10和220必須以一定的距離相對于彼此布置，使得其在不同位置測量磁場。當傳感器210、220在其優(yōu)選方向上受到不同強度的磁場吋，于是得到傳感器210、220的輸出信號。例如當圖I中的發(fā)送線圈125、130之ー的磁場由于金屬對象而比其他發(fā)送線圈125、130的磁場更強地受到影響時，情況如此。由于磁場通過金屬對象的影響，尤其是在磁阻測量設備的輸出信號中得到不同于零的時鐘同步的交流電壓部分。在該情況中，測量裝置100相反地改變電壓(其中發(fā)送線圈125、130被供給所述電壓)，直到在霍爾傳感器210、220上的磁場又在相應的優(yōu)選方向上強度相同。在端子155上的電壓可以作為發(fā)送線圈125、130的交變電壓的差異的量度來分析。 在第二變形方案中，在確定磁場的霍爾傳感器210、220的位置上使用傳感器用于確定磁場梯度，所述磁場梯度于是垂直于在沒有對象的情況下取向的磁場而取向。在又一實施形式中，僅僅設置了一個這種磁場梯度傳感器。圖3示出了發(fā)送線圈在圖I中的測量裝置100上的布置。出于清楚的原因，相疊的發(fā)送線圈125/130的對作為圓被再現(xiàn)；磁場傳感器或者磁場梯度傳感器并未示出。每個圓對應于圖4或者圖5中所示的布置之一。為了操控布置310，設置了一個或者多個測量裝置100，其中每個測量裝置100在測量期間僅僅與布置310之ー連接?？梢赃M行將多個布置310切換到測量裝置100之一上。通過多個布置310的相應的幾何分布，可以確定要檢測的金屬對象的方向信息、深度信息或者大小信息。深度確定借助圖3a或者3b的布置是可能的。方向確定或者取向確定可以借助圖3c或者3d的布置來進行。在圖3e中的布置可以用于成像。圖4示出了用于圖I中的測量裝置的磁場傳感器和發(fā)送線圈的布置。在圖4中示出的所有磁場傳感器以優(yōu)選方向垂直地取向，即平行于在發(fā)送線圈125、130內主導的主磁場地取向，其中在優(yōu)選方向中，磁場傳感器必須經(jīng)受磁場，以便產(chǎn)生最大輸出信號。磁場傳感器的優(yōu)選方向與所說明的取向的偏差如果足夠小則是無損的，使得磁場傳感器可以確定在所使用的方向中的磁場。發(fā)送線圈125、130構建為在電路板的對置側上的無芯印刷線圈。在圖4a中，圖2中的霍爾傳感器210和220分別居中地布置在發(fā)送線圈125或130之一中?；魻杺鞲衅?10和210的取向是反平行的，并且其連接如圖2中那樣平行地示出。在圖4b中，霍爾傳感器210和220平行取向并且并聯(lián)連接。由發(fā)送線圈125、130產(chǎn)生的磁場在發(fā)送線圈125、130內和外具有不同的方向。霍爾傳感器210、220具有距發(fā)送線圈125、130的繞組的這樣的距離，使得在沒有對象的情況下磁場的數(shù)值相互對應。在圖4c中，不同于圖4b的示圖，設置了另ー第二霍爾傳感器220，其中兩個第二霍爾傳感器220彼此關于第一霍爾傳感器210對置?；魻杺鞲衅鞯娜∠蚴瞧叫械?，其中第二霍爾傳感器220與發(fā)送線圈的繞組的距離選擇為，使得在第二霍爾傳感器220上主導的磁場的數(shù)值在沒有對象的情況下在總和上對應于在第一霍爾傳感器上主導的磁場的數(shù)值?；魻杺鞲衅?10、220連接為使得其輸出信號相加。在圖4d中繼續(xù)圖4c的布置的原理，其中附加的第一霍爾傳感器210設置在第一發(fā)送線圈125的內部。霍爾傳感器連接為使得其輸出信號被相加。所有霍爾傳感器彼此平行地取向。霍爾傳感器與發(fā)送線圈125的繞組的距離選擇為，使得在第一霍爾傳感器210上主導的磁場的數(shù)值的總和對應于在第二霍爾傳感器220上主導的磁場的數(shù)值的總和。圖5示出了用于圖I中的測量設備的磁場梯度傳感器和發(fā)送線圈的布置。不同于圖4的示圖，所使用的傳感器是磁場梯度傳感器510，其優(yōu)選方向平行于所示電路板的表面走向。在另ー實施形式中，磁場梯度傳感器的優(yōu)選方向平行于主場方向走向。在此，磁場梯度傳感器的優(yōu)選方向與所說明的取向的偏差如果足夠小則是無損的，使得磁場梯度傳感器 可以確定在所使用的方向中的磁場。多個磁場梯度傳感器510分別彼此連接，使得其輸出信號相加。也可考慮的是，磁場梯度傳感器510分開地分析，例如相繼地分析。為此，磁場傳感器510的輸出端必須通過開關交替地與輸入放大器140的輸入端連接。在圖5a中，在電路板的對置的側上構建發(fā)送線圈125、130。發(fā)送線圈125、130并排，并且基本上具有D形，其中D形的后部平行并且朝向彼此。磁場梯度傳感器510的優(yōu)選方向與D形的后部的方向形成90°的角度。在圖5b中，不同于圖5a中的示圖，磁場梯度傳感器510布置在電路板的與發(fā)送線圈125、130相同的側上。D形的后部圍繞如下部位磁場梯度傳感器510在該部位上。在圖5c中，除了圖5b中的示圖，在電路板的下側上設置了另ー磁場梯度傳感器510。上部的磁場梯度傳感器510的優(yōu)選方向與D形的后部的方向垂直,并且下部的磁場梯度傳感器510的優(yōu)選方向與上部磁場梯度傳感器510的優(yōu)選方向垂直。在另ー實施形式中，也可以兩個優(yōu)選方向與D形的后部的方向垂直。在圖5d中，分別將圖5b的布置設置在電路板的上側和下側上，其中所述布置在電路板平面中相對于彼此轉動90°。磁場梯度傳感器510的優(yōu)選方向彼此垂直。圖6示出了用于借助圖I中的測量裝置檢測金屬對象的流程圖600。在第一步驟610中，發(fā)送線圈125、130被供給交變電壓，以便產(chǎn)生相反取向的磁場。隨后，在步驟620中，確定在兩個磁場的區(qū)域中磁阻測量設備的與磁場相關的輸出信號。根據(jù)確定的信號的時鐘同步的交流電壓部分，在步驟630中進行給發(fā)送線圈供給交流電壓，使得測量設備的輸出信號的時鐘同步的交流電壓部分在數(shù)值上被最小化。最后，在步驟640中，當交流電壓的比例并不對應于測量設備距發(fā)送線圈的距離的比例時，檢測到金屬對象。
權利要求
1.ー種用于檢測金屬對象(170)的測量裝置(100)，其中所述測量裝置(100)包括如下 一兩個發(fā)送線圈(125,130),用于產(chǎn)生疊加的磁場； 一在兩個磁場的區(qū)域中的磁阻測量設備(135, 510),用于輸出與磁場相關的輸出信號; 一控制設備(110 — 120,145 一 160)，用于為發(fā)送線圈(125，130)供給交變電壓，使得將測量設備(135，510)的輸出信號的與交變電壓時鐘同步的交流電壓部分在數(shù)值上最小化； 其特征在干， 一控制設備(110 — 120,145 一 160)設計為，當交變電壓的比例并不對應于測量設備(135，510)距發(fā)送線圈(125，130)的距離的比例時，檢測到對象。
2.根據(jù)上述權利要求之一所述的測量裝置(100)，其特征在干，所述交變電壓是相對于彼此相移的交流電壓，以便將發(fā)送線圈(125，130)的磁場周期性地在數(shù)值和相位上改變。
3.根據(jù)權利要求I或2所述的測量裝置(100)，其特征在干， 一測量裝置包括多個彼此間隔的傳感器(210，220)用于確定磁場， 一其中所述傳感器(210，220)相對于彼此定向和彼此連接，使得所述傳感器(210，220)的輸出信號在傳感器(210，220)上相同磁場的情況下相加為零，并且 一發(fā)送線圈(125，130)的主場方向和傳感器(210，220)的優(yōu)選方向基本上彼此平行。
4.根據(jù)權利要求3所述的測量裝置(100)，其特征在于，所述發(fā)送線圈(125，130)在彼此平行的平面中相互疊置。
5.根據(jù)權利要求3或4所述的測量裝置(100)，其特征在于，所述傳感器(210，220)之一被發(fā)送線圈(125,130)之一環(huán)繞,并且所述傳感器(210, 220)的另一個在發(fā)送線圈(125,130)之外。
6.根據(jù)權利要求I或2所述的測量裝置(100)，其特征在干， 一測量裝置(100 )包括用于確定磁場梯度的傳感器(510)， 一發(fā)送線圈(125，130)的主場方向彼此平行地走向，并且 一傳感器(510)的優(yōu)選方向與主場方向基本上垂直或者平行地走向。
7.根據(jù)權利要求6所述的測量裝置(100)，其特征在于，所述發(fā)送線圈(125，130)基本上彼此并排地布置在ー個平面中，并且傳感器(510 )的優(yōu)選方向基本上平行于該平面走向。
8.根據(jù)權利要求6或7所述的測量裝置(100)，其特征在于，所述發(fā)送線圈(125，130)基本上為D形，其中所述D形的后部朝向彼此，并且所述傳感器(510)布置在D形的后部之間。
9.根據(jù)權利要求7或8所述的測量裝置(100)，其特征在于，所述傳感器(510)基本上布置在發(fā)送線圈(125，130)的平面中，并且另一傳感器(510)設置在與該平面平行的平面中，其中該傳感器(510)和另外的傳感器(510)的優(yōu)選方向相互垂直或者平行。
10.ー種用于檢測金屬對象(170)的測量方法(600)，包括以下步驟 一為兩個發(fā)送線圈(125，130)供給(610，630)交變電壓，以便產(chǎn)生疊加的磁場； 一確定(620)在兩個磁場的區(qū)域中的磁阻測量設備的、與磁場相關的輸出信號； 一其中為發(fā)送線圈(125，130)供給(610，630)交變電壓如此進行，使得將測量設備(135,510)的輸出信號的與交變電壓時鐘同步的交流電壓部分在數(shù)值上最小化；并且 其特征在干， 一當交變電壓的比例并不對應于測量設備距發(fā)送線圈(125，130)的距離的比例吋，檢測到(640)對象(170)。
11.一種計算機程序產(chǎn)品，帶有程序代碼裝置，當所述計算機程序產(chǎn)品在處理設備上運行或者存儲在計算機可讀數(shù)據(jù)載體上時，用于執(zhí)行權利要求10所述的方法(600)。
全文摘要
一種用于檢測金屬對象的測量裝置包括兩個發(fā)送線圈，用于產(chǎn)生疊加的磁場；在兩個磁場的區(qū)域中的磁阻測量設備，用于輸出與磁場相關的輸出信號；以及控制設備，用于為發(fā)送線圈提供交流電壓，使得將測量設備的輸出信號的與交流電壓時鐘同步的交流電壓部分在數(shù)值上最小化。在此，控制設備設計為，當交流電壓的比例并不對應于測量設備距發(fā)送線圈的距離的比例時，檢測到對象。
文檔編號G01V3/10GK102859393SQ201180022807
公開日2013年1月2日 申請日期2011年4月15日 優(yōu)先權日2010年5月7日
發(fā)明者T.齊博爾德, A.阿爾布雷希特 申請人:羅伯特·博世有限公司