專(zhuān)利名稱(chēng)：一種芯片測(cè)試針架的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及到半導(dǎo)體和電子連接件行業(yè)，特別涉及到大電流芯片測(cè)試針架。
背景技術(shù)：
在本實(shí)用新型提出之前，半導(dǎo)體芯片在研發(fā)和批量生產(chǎn)過(guò)程中，必須經(jīng)過(guò)電氣方面的性能測(cè)試，以檢驗(yàn)芯片是否能滿足要求。芯片測(cè)試針架是測(cè)試裝置中的關(guān)鍵部件:它為芯片在測(cè)試時(shí)提供定位；傳遞芯片及測(cè)試線路板之間的電子訊號(hào)及電流。測(cè)試針架性能的優(yōu)劣直接影響芯片測(cè)試的可靠性和準(zhǔn)確性。在現(xiàn)有技術(shù)中，使用“開(kāi)爾文電橋法”進(jìn)行芯片測(cè)試的測(cè)試針架如附圖2所示。用螺栓(105)將放置在線路板(106)上方的測(cè)試針架底板(104)與測(cè)試針架主體(103)相互連接起來(lái)；電橋的激勵(lì)端探針(101-1)和測(cè)試信號(hào)端探針(101-2)設(shè)置在塑料材質(zhì)的測(cè)試針架主體(103)的中間，探針(101-1)和探針(101-2)的頂端與待測(cè)芯片(102)的一個(gè)觸點(diǎn)(A)接觸，而底端則與線路板(106)接觸。在測(cè)試過(guò)程中，電橋的激勵(lì)端會(huì)流過(guò)很大的電流，而信號(hào)端只能流過(guò)很小的電流。非金屬材料制成的測(cè)試針架不利于散熱；單個(gè)探針接觸單個(gè)芯片端點(diǎn)亦不利于大電流的傳遞。大電流通過(guò)測(cè)試探針時(shí)發(fā)熱，往往會(huì)導(dǎo)致探針和測(cè)試針架局部熔化。隨著社會(huì)的進(jìn)步，科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，半導(dǎo)體芯片的發(fā)展方向是功能越來(lái)越多，尺寸越來(lái)越小。大功率，大電流芯片的使用領(lǐng)域(如汽車(chē)行業(yè))也不例外。在不到5毫米大小的芯片上流過(guò)50安培的電流時(shí)，傳統(tǒng)的芯片測(cè)試針架很難滿足測(cè)試要求。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題是克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足，提出一種新的芯片測(cè)試針架。在測(cè)試過(guò)程中，降低流過(guò)單個(gè)探針的電流和發(fā)熱量，提高芯片測(cè)試的可靠性和準(zhǔn)確性，滿足大電流芯片的測(cè)試要求。本實(shí)用新型是通過(guò)以下的技術(shù)措施來(lái)實(shí)現(xiàn)的。一種芯片測(cè)試針架，包括測(cè)試用的線路板，設(shè)置在所述的線路板上方的測(cè)試針架底板，用螺栓與所述的測(cè)試針架底板相連接的塑料材質(zhì)的測(cè)試針架主體，設(shè)置在所述的測(cè)試針架主體上方的待測(cè)試芯片；還包括設(shè)置在所述的測(cè)試針架主體中的第一測(cè)試探針和外表面經(jīng)過(guò)絕緣處理的金屬探針架，在所述的金屬探針架中設(shè)置不少于兩個(gè)的第二測(cè)試探針。所述的第一測(cè)試探針的頂部與所述的待測(cè)試芯片的觸點(diǎn)的信號(hào)端相接觸。所有所述的第二測(cè)試探針的頂部與所述的待測(cè)試芯片的觸點(diǎn)的激勵(lì)端相接觸。所述的第一測(cè)試探針和所有所述的第二測(cè)試探針的底部與所述的線路板相接觸。相鄰的所述的金屬探針架之間設(shè)置防短路加強(qiáng)筋。本實(shí)用新型采用上述技術(shù)措施后，多個(gè)第二測(cè)試探針與金屬探針架接觸，互相導(dǎo)電，分灘流過(guò)的大電流及由大電流產(chǎn)生的熱量。保護(hù)探針和測(cè)試針架，防止局部熔化而短路，提高芯片測(cè)試的可靠性和準(zhǔn)確性，完全滿足大電流芯片的測(cè)試要求。
附圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。附圖2為現(xiàn)有技術(shù)中結(jié)構(gòu)示意圖。在圖1中:1-1為第一測(cè)試探針，1-2為第二測(cè)試探針，2為待測(cè)試芯片，3為測(cè)試針架主體，4為測(cè)試針架底板，5為螺栓，6為線路板，7為金屬探針架，8為防短路加強(qiáng)筋，A為激勵(lì)端，B為信號(hào)端。在附圖2中:101-1為激勵(lì)端測(cè)試探針，101-2為信號(hào)端測(cè)試探針，102為待測(cè)試芯片，103為測(cè)試針架主體，104為測(cè)試針架底板，105為螺栓，106為線路板，102A、102B、102C均為待測(cè)試芯片102上的觸點(diǎn)。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明。實(shí)施例:如附圖1所示，一種芯片測(cè)試針架，包括測(cè)試用的線路板6 ;設(shè)置在線路板6上方的測(cè)試針架底板4 ;用螺栓5將測(cè)試針架主體3與測(cè)試針架底板4相連接，此測(cè)試針架主體3為絕緣體——塑料材質(zhì)所構(gòu)成；在測(cè)試座主體3上方的是待測(cè)試芯片2，在待測(cè)試芯片2上有兩處測(cè)試觸點(diǎn)；當(dāng)采用“開(kāi)爾文電橋法”進(jìn)行芯片測(cè)試時(shí)，測(cè)試觸點(diǎn)附近則有激勵(lì)端A和信號(hào)端B。將第一測(cè)試探針1-1裝入測(cè)試座主體3之中并使其頂部與測(cè)試觸點(diǎn)附近的信號(hào)端B相接觸。與此同時(shí)，在第一測(cè)試探針1-1附近，將金屬探針架7也裝入測(cè)試座針架主體3之中，為了不使金屬探針架7與測(cè)試針架主體3之間導(dǎo)通，金屬探針架7的外表經(jīng)過(guò)絕緣處理。在金屬探針架7中設(shè)置叁個(gè)的第二測(cè)試探針1-2，所有第二測(cè)試探針1-2的頂部與測(cè)試觸點(diǎn)附近的激勵(lì)端A相接觸。第一測(cè)試探針1-1和所有第二測(cè)試探針1-2的底部與線路板6相接觸，形成測(cè)試回路。為了確保金屬探針架7之間不導(dǎo)電，防止多個(gè)金屬探針架7之間產(chǎn)生短路，除了在金屬探針架7之間留有足夠的間隙(0.3 0.5毫米)外還設(shè)置防短路加強(qiáng)筋8。以上所述的僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式。應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下，還可以做出若干變型和改進(jìn)，這些也應(yīng)視為屬于本實(shí)用新型的保護(hù)笵圍。
權(quán)利要求1.一種芯片測(cè)試針架，包括測(cè)試用的線路板(6)，設(shè)置在所述的線路板(6)上方的測(cè)試針架底板(4)，用螺栓(5)與所述的測(cè)試針架底板(4)相連接的塑料材質(zhì)的測(cè)試針架主體(3)，設(shè)置在所述的測(cè)試針架主體(3)上方的待測(cè)試芯片(2);其特征在于:還包括設(shè)置在所述的測(cè)試針架主體(3)中的第一測(cè)試探針(1-1)和外表經(jīng)過(guò)絕緣處理的金屬探針架(7)，在所述的金屬探針架(7)中設(shè)置不少于兩個(gè)的第二測(cè)試探針(1-2)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片測(cè)試針架，其特征在于:所述的第一測(cè)試探針(1-1)的頂部與所述的待測(cè)試芯片(2)的觸點(diǎn)的信號(hào)端(B)相接觸。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片測(cè)試針架，其特征在于:所有所述的第二測(cè)試探針(1-2)的頂部與所述的待測(cè)試芯片(2)的觸點(diǎn)的激勵(lì)端(A)相接觸。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片測(cè)試針架，其特征在于:所述的第一測(cè)試探針(1-1)和所有所述的第二測(cè)試探針(1-2)的底部與所述的線路板(6)相接觸。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片測(cè)試針架，其特征在于:相鄰的所述的金屬探針架(7)之間設(shè)置防短路加強(qiáng)筋(8)。
專(zhuān)利摘要一種芯片測(cè)試針架，涉及到大電流芯片測(cè)試針架。包括測(cè)試用的線路板，設(shè)置在線路板上方的測(cè)試針架底板，與測(cè)試針架底板相連接的塑料材質(zhì)的測(cè)試針架主體，設(shè)置在測(cè)試針架主體上方的待測(cè)試芯片；還包括設(shè)置在測(cè)試針架主體中的與待測(cè)試芯片的觸點(diǎn)的信號(hào)端相接觸的第一測(cè)試探針，設(shè)置在測(cè)試針架主體中的外表經(jīng)過(guò)絕緣處理的金屬探針架，在所述的金屬探針架中設(shè)置不少于兩個(gè)的與待測(cè)試芯片的觸點(diǎn)的激勵(lì)端相接觸的第二測(cè)試探針。多個(gè)第二測(cè)試探針與金屬探針架接觸，互相導(dǎo)電，分灘流過(guò)的大電流及產(chǎn)生的熱量。防止探針和測(cè)試針架局部熔化而短路，提高芯片測(cè)試的可靠性和準(zhǔn)確性。
文檔編號(hào)G01R31/28GK203069748SQ201320070829
公開(kāi)日2013年7月17日 申請(qǐng)日期2013年2月7日 優(yōu)先權(quán)日2013年2月7日
發(fā)明者周家春, 項(xiàng)國(guó)正, 劉德先 申請(qǐng)人:安拓銳高新測(cè)試技術(shù)(蘇州)有限公司