磁粉熒光系數(shù)測(cè)試儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試技術(shù)，特別是涉及一種能夠準(zhǔn)確測(cè)試磁粉的熒光系數(shù)及 熒光系數(shù)穩(wěn)定性的熒光系數(shù)測(cè)試儀。
【背景技術(shù)】
[0002] 熒光是指一種光致發(fā)光的冷發(fā)光現(xiàn)象。當(dāng)某種物質(zhì)經(jīng)某種波長(zhǎng)的入射光（通常是 紫外線或X射線）照射，吸收光能后進(jìn)入激發(fā)態(tài)，發(fā)出比入射光的波長(zhǎng)較長(zhǎng)的出射光（通常 波長(zhǎng)在可見光波段），而且一旦停止入射光，發(fā)光現(xiàn)象也隨之立即消失。具有這種性質(zhì)的出 射光就被稱之為熒光。用于探傷的磁粉就是這樣的物質(zhì)，在紫外線輻照的情況下產(chǎn)生可見 的熒光。
[0003] 傳統(tǒng)測(cè)量磁粉的方法是測(cè)量磁粉的熒光亮度值，具體是通過(guò)一種標(biāo)準(zhǔn)熒光亮度標(biāo) 準(zhǔn)板的方法來(lái)判斷磁粉熒光質(zhì)量的好壞，而熒光亮度標(biāo)準(zhǔn)板是否準(zhǔn)確沒有監(jiān)測(cè)的手段，所 以該測(cè)試方法很不科學(xué)。 【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004] 本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種能夠準(zhǔn)確測(cè)試磁粉的熒光系數(shù)的熒 光系數(shù)測(cè)試儀。
[0005] 本實(shí)用新型解決技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是：磁粉熒光系數(shù)測(cè)試儀，由紫外輻 射光源、熒光亮度測(cè)試系統(tǒng)、紫外輻射能量測(cè)試系統(tǒng)、磁粉樣品盒、樣品承載臺(tái)高度調(diào)節(jié)裝 置、測(cè)試臺(tái)和樣品承載臺(tái)構(gòu)成，其中，所述紫外輻射能量測(cè)試系統(tǒng)中包括紫外輻射能量測(cè)試 探頭，所述紫外輻射能量測(cè)試探頭接收到的紫外輻射光信號(hào)經(jīng)紫外輻射能量測(cè)試系統(tǒng)處理 后得到紫外輻射能量值；所述熒光亮度測(cè)試系統(tǒng)中包括熒光亮度測(cè)試探頭，所述熒光亮度 測(cè)試探頭接收到的磁粉表面發(fā)出的熒光經(jīng)熒光亮度測(cè)試系統(tǒng)后得到熒光亮度值。
[0006] 進(jìn)一步的，所述紫外輻射能量測(cè)試探頭測(cè)試到的紫外輻射能量就是磁粉樣品盒中 的磁粉表面接收到的紫外輻射能量。
[0007] 進(jìn)一步的，所述樣品承載臺(tái)通過(guò)樣品承載臺(tái)高度調(diào)節(jié)裝置調(diào)節(jié)高度。
[0008] 進(jìn)一步的，所述樣品承載臺(tái)高度調(diào)節(jié)裝置是絲桿。
[0009] 進(jìn)一步的，所述樣品承載臺(tái)設(shè)置在測(cè)試臺(tái)上，所述樣品承載臺(tái)將紫外輻射能量測(cè) 試探頭及磁粉樣品盒分別置于儀器的測(cè)試窗口正下方。
[0010] 進(jìn)一步的，還包括紫外輻照光源，所述紫外輻照光源用于磁粉的熒光系數(shù)穩(wěn)定性 的測(cè)試。
[0011] 進(jìn)一步的，所述紫外輻照光源采用雙層套筒結(jié)構(gòu)，內(nèi)筒與外筒通過(guò)螺紋連接，在所 述外筒下方設(shè)置有調(diào)節(jié)筒，所述調(diào)節(jié)筒與外筒通過(guò)螺紋連接，所述調(diào)節(jié)筒可調(diào)節(jié)紫外輻照 光源窗口處紫外輻射光的光強(qiáng)，在所述內(nèi)筒中設(shè)置有紫外燈。
[0012] 進(jìn)一步的，在所述內(nèi)筒與外筒上均設(shè)置有若干通孔，且所述內(nèi)筒與外筒上的通孔 都錯(cuò)位設(shè)置。
[0013] 進(jìn)一步的，所述紫外輻射能量測(cè)試系統(tǒng)由光譜特性與紫外輻射光譜相匹配的紫外 輻射能量測(cè)試探頭、I/V轉(zhuǎn)換、定標(biāo)電路、A/D電路、D/A電路和數(shù)字顯示儀表組成，所述紫外 輻射能量測(cè)試探頭測(cè)試到的光信號(hào)經(jīng)數(shù)字電路處理后采用數(shù)字顯示儀表顯示。
[0014] 進(jìn)一步的，所述熒光亮度測(cè)試系統(tǒng)由熒光亮度測(cè)試探頭、I/V轉(zhuǎn)換、定標(biāo)電路、A/D 電路、D/A電路和數(shù)字顯示儀表組成，所述熒光亮度測(cè)試探頭測(cè)試出磁粉被紫外激發(fā)產(chǎn)生發(fā) 出的熒光值，經(jīng)數(shù)字電路處理后采用數(shù)字顯示儀表顯示。
[0015] 本實(shí)用新型的有益效果是：本實(shí)用新型能夠準(zhǔn)確測(cè)試磁粉的熒光系數(shù)及熒光系數(shù) 穩(wěn)定性，滿足相關(guān)國(guó)際、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)對(duì)無(wú)損檢測(cè)磁粉的技術(shù)要求對(duì)磁粉的熒光系數(shù)及熒光系 數(shù)穩(wěn)定性進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)試。
【附圖說(shuō)明】
[0016] 圖1是本實(shí)用新型的測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0017] 圖2是本實(shí)用新型的紫外輻照光源的剖視圖。
[0018] 圖3是本實(shí)用新型的紫外輻照光源的調(diào)節(jié)筒的剖視圖。
[0019] 圖4是本實(shí)用新型的紫外輻照光源的內(nèi)筒的主視圖。
[0020] 圖5是本實(shí)用新型的紫外輻射能量測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。
[0021] 圖6是本實(shí)用新型的熒光亮度測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。
【具體實(shí)施方式】
[0022] 如圖1所示，本實(shí)用新型的磁粉熒光系數(shù)測(cè)試儀由紫外輻射光源1、熒光亮度測(cè)試 系統(tǒng)3、紫外輻射能量測(cè)試系統(tǒng)5、磁粉樣品盒6、樣品承載臺(tái)高度調(diào)節(jié)裝置7、紫外輻照光源 8、測(cè)試臺(tái)9和樣品承載臺(tái)10構(gòu)成，其中，紫外輻射能量測(cè)試系統(tǒng)5中包括紫外輻射能量測(cè) 試探頭4,紫外輻射能量測(cè)試探頭4與磁粉樣品盒6外徑一致，可手動(dòng)互換置于儀器的測(cè)試 窗口，紫外輻射能量測(cè)試探頭4測(cè)試到的紫外輻射能量剛好就是磁粉樣品盒6中的磁粉表 面接收到的紫外輻射能量，紫外輻射能量測(cè)試探頭4接收到的紫外輻射光信號(hào)經(jīng)紫外輻射 能量測(cè)試系統(tǒng)5處理后，直接在儀器的面板上顯示測(cè)試到的磁粉樣品盒6表面位置處的紫 外輻射能量值。熒光亮度測(cè)試系統(tǒng)3中包括熒光亮度測(cè)試探頭2,熒光亮度測(cè)試探頭2接收 到的磁粉樣品盒6中的磁粉表面發(fā)出的熒光經(jīng)熒光亮度測(cè)試系統(tǒng)3后直接在儀器的面板上 顯示測(cè)試到的熒光亮度值。
[0023] 上述樣品承載臺(tái)10可以通過(guò)樣品承載臺(tái)高度調(diào)節(jié)裝置7調(diào)節(jié)高度，該樣品承載臺(tái) 高度調(diào)節(jié)裝置7可以是絲桿，樣品承載臺(tái)10設(shè)置在測(cè)試臺(tái)9上，樣品承載臺(tái)10可將紫外輻 射能量測(cè)試探頭4及磁粉樣品盒6分別置于儀器的測(cè)試窗口正下方，圖1顯示的就是樣品 承載臺(tái)10將磁粉樣品盒6置于儀器的測(cè)試窗口正下方的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0024] 上述紫外輻照光源8用于磁粉的熒光系數(shù)穩(wěn)定性的測(cè)試，紫外輻照光源8采用獨(dú) 特的雙層套筒結(jié)構(gòu)，內(nèi)筒11與外筒12通過(guò)螺紋連接，在外筒12下方設(shè)置有調(diào)節(jié)筒13,調(diào) 節(jié)筒13與外筒12也通過(guò)螺紋連接，調(diào)節(jié)筒13可以調(diào)節(jié)紫外輻照光源8窗口處紫外輻射光 的光強(qiáng)，在內(nèi)筒11中設(shè)置有紫外燈14 ;在內(nèi)筒11與外筒12上均設(shè)置有若干通孔15,且內(nèi) 筒11與外筒12上的通孔15都錯(cuò)位設(shè)置，這樣既能散熱又無(wú)紫外輻射泄漏，如圖2-圖4所 示。工作時(shí)，可以通過(guò)旋轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)筒13來(lái)調(diào)節(jié)紫外燈14與測(cè)試物體之間的距離，從而達(dá)到調(diào) 節(jié)紫外輻照光源8窗口處紫外輻射光的光強(qiáng)，使其能滿足磁粉樣品所需的20W/m2紫外線輻 射強(qiáng)度的要求。
[0025] 上述紫外輻射能量測(cè)試系統(tǒng)5由光譜特性與紫外輻射光譜相匹配的紫外輻射能 量測(cè)試探頭4、I/V轉(zhuǎn)換、定標(biāo)電路、A/D電路、D/A電路和數(shù)字顯示儀表組成，如圖5所示，紫 外輻射能量測(cè)試探頭4測(cè)試到的光信號(hào)經(jīng)數(shù)字電路處理后采用數(shù)字顯示儀表顯示，系統(tǒng)可 隨時(shí)測(cè)試儀器的測(cè)試窗口處的紫外光輻射值和紫外輻照光源8的輻射值。熒光亮度測(cè)試系 統(tǒng)3由高穩(wěn)定性、低暗電流、動(dòng)態(tài)線性范圍寬的熒光亮度測(cè)試探頭2、I/V轉(zhuǎn)換、定標(biāo)電路、A/ D電路、D/A電路和數(shù)字顯示儀表組成，如圖6所示，熒光亮度測(cè)試探頭2測(cè)試出磁粉被紫外 激發(fā)產(chǎn)生發(fā)出的熒光值，經(jīng)數(shù)字電路處理后也采用數(shù)字顯示儀表顯示。熒光亮度測(cè)試探頭2 配有精密設(shè)計(jì)制做的V( λ)修正濾光器，其相對(duì)光譜響應(yīng)度分布與國(guó)際照明委員會(huì)（CIE) 規(guī)定的人眼明視覺函數(shù)相一致，達(dá)到國(guó)家一級(jí)光度標(biāo)準(zhǔn)，可以準(zhǔn)確測(cè)試磁粉的熒光亮度值。
[0026] 本實(shí)用新型的紫外輻射測(cè)試范圍為：0. lW/m2~200W/m2;熒光亮度測(cè)試范圍為： 0. lcd/m2