一種光纖熔接質(zhì)量監(jiān)測系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種光纖熔接技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種光纖熔接質(zhì)量監(jiān)測系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]光纖熔接是將兩根結(jié)構(gòu)特征不完全一樣的光纖融合成一根光纖的過程，光纖熔接在光纖激光器的制造過程中被經(jīng)常使用，屬于核心技術(shù)之一。
[0003]光纖熔接的熔接點(diǎn)的質(zhì)量好壞直接決定了光纖激光器等設(shè)備的性能，因此對于光纖熔接質(zhì)量的判斷和監(jiān)測也就成為光纖熔接技術(shù)的關(guān)鍵，同時(shí)判斷和監(jiān)測的結(jié)果又能夠幫助改進(jìn)熔接程序，提高熔接質(zhì)量。
[0004]傳統(tǒng)的熔接質(zhì)量判斷方法是單純依靠插入損耗來判斷，插入損耗越小，認(rèn)定熔接質(zhì)量越好。但是在光纖激光器里的雙包層光纖熔接過程中，通過插入損耗判斷熔接質(zhì)量會變得非常不準(zhǔn)確，這是因?yàn)樵趦?nèi)包層傳輸?shù)募す鈺馗蓴_到熔接質(zhì)量的判斷。
[0005]為此，需要提供一種改良的光纖熔接質(zhì)量監(jiān)測手段能夠?qū)饫w熔接的質(zhì)量進(jìn)行更準(zhǔn)確和全面的判斷。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本實(shí)用新型提供一種光纖熔接質(zhì)量監(jiān)測系統(tǒng)，能夠?qū)饫w熔接質(zhì)量進(jìn)行更準(zhǔn)確和更全面的判斷。
[0007]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供一種光纖熔接質(zhì)量監(jiān)測系統(tǒng)，包括:
[0008]插入損耗確定子系統(tǒng)，用于確定光束通過光纖熔接點(diǎn)前后的插入損耗，當(dāng)所述插入損耗低于第一閾值時(shí)，判定熔接質(zhì)量預(yù)評估通過；
[0009]光束特性確定子系統(tǒng)，用于在判定熔接質(zhì)量預(yù)評估通過后，確定所述光束通過所述光纖熔接點(diǎn)前后的光束特性，當(dāng)發(fā)現(xiàn)所述光束通過所述光纖熔接點(diǎn)前后的光束特性相一致時(shí)，判定熔接質(zhì)量最終通過，否則判定熔接質(zhì)量最終未通過。
[0010]在一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例中，所述光束特性確定子系統(tǒng)包括:
[0011]圖像獲取單元，用于分別獲取所述光束通過光纖熔接點(diǎn)前后的橫向截面的光斑圖像，以確定所述光束通過光纖熔接點(diǎn)前后的光束特性。
[0012]在一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例中，所述光束特性確定子系統(tǒng)還包括:第一分光鏡和第二分光鏡;
[0013]所述第一分光鏡置于所述光束經(jīng)過光纖熔接點(diǎn)前的光路中，所述第二分光鏡置于所述光束經(jīng)過所述光纖熔接點(diǎn)后的光路中；
[0014]所述第一分光鏡從所述光束經(jīng)過光纖熔接點(diǎn)前的光路中，分出部分光束，作為待檢測的第一輸入光束，所述圖像獲取單元獲取該第一輸入光束的橫向截面的光斑圖像，作為所述光束通過所述光纖熔接點(diǎn)前的橫向截面的光斑圖像；
[0015]所述第二分光鏡從所述光束經(jīng)過光纖熔接點(diǎn)后的光路中，分出部分光束，作為待檢測的第二輸入光束，所述圖像獲取單元獲取該第二輸入光束的橫向截面的光斑圖像，作為所述光束通過所述光纖熔接點(diǎn)后的橫向截面的光斑圖像。
[0016]在一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例中，所述插入損耗確定子系統(tǒng)包括:
[0017]光功率計(jì)，用于分別確定所述光束通過光纖熔接點(diǎn)前的光功率和通過所述光纖熔接點(diǎn)后的光功率，并由所述光束通過光纖熔接點(diǎn)前的光功率和通過光纖熔接點(diǎn)后的光功率，計(jì)算出所述光束通過光纖熔接點(diǎn)前后的插入損耗。
[0018]本實(shí)用新型實(shí)施例提供的方案不經(jīng)通過插入損耗的因素來對光纖熔接的質(zhì)量進(jìn)行初步判斷，還會綜合光束通過光纖熔接點(diǎn)前后的光束特性變化確定熔接質(zhì)量是否最終滿足要求。
【附圖說明】
[0019]為了更清楚地說明本申請實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請中記載的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0020]圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的光纖熔接質(zhì)量監(jiān)測系統(tǒng)的示意圖；
[0021]圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例中在光纖熔接質(zhì)量滿足要求時(shí)光束通過光纖熔接點(diǎn)后的橫向截面的光斑圖像；
[0022]圖3至圖5是本實(shí)用新型實(shí)施例中在光纖熔接質(zhì)量不滿足要求時(shí)光束通過光纖熔接點(diǎn)后的橫向截面的光斑圖像。
【具體實(shí)施方式】
[0023]為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本申請中的技術(shù)方案，下面將結(jié)合本申請實(shí)施例中的附圖，對本申請實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本申請一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒旧暾堉械膶?shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都應(yīng)當(dāng)屬于本申請保護(hù)的范圍。
[0024]圖1示出了本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種光纖熔接質(zhì)量監(jiān)測系統(tǒng)的示意圖，下面結(jié)合該光纖熔接質(zhì)量監(jiān)測系統(tǒng)說明本實(shí)用新型提供的光纖熔接質(zhì)量監(jiān)測方法的實(shí)現(xiàn)和監(jiān)測系統(tǒng)的組成。
[0025]如圖1所示，光纖Ia和光纖Ib的端面進(jìn)行熔接，熔接點(diǎn)為lc，本實(shí)用新型實(shí)施例中需要對熔接點(diǎn)Ic處的熔接質(zhì)量進(jìn)行監(jiān)測。為此通過光源6輸出的激光從光纖Ia —側(cè)輸入，并由光纖Ib —側(cè)輸出，并通過輸入的激光和輸出的激光之間的特征來判斷熔接點(diǎn)Ic的熔接質(zhì)量。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該能夠理解，還可以讓光源6輸出的激光從光纖Ib—側(cè)輸入，并由光纖Ia —側(cè)輸出，也能判斷熔接點(diǎn)Ic的熔接質(zhì)量。
[0026]在本實(shí)施例中對于熔接質(zhì)量的判斷首先需要進(jìn)行預(yù)評估，具體地，確定光源6輸出的光束通過光纖熔接點(diǎn)Ic前后的插入損耗，當(dāng)插入損耗第一閾值時(shí)，判定熔接點(diǎn)Ic的熔接質(zhì)量預(yù)評估通過。光源6可以為激光器，例如可以為輸出光波長為1064nm的激光器。
[0027]確定上述插入損耗，需要確定光源6輸出的光束通過光纖熔接點(diǎn)Ic前的光功率和光纖熔接點(diǎn)Ic后的光功率，并由這兩個(gè)光功率的差值確定插入損耗。在實(shí)際中，確定光功率可以使用光功率計(jì)。
[0028]以圖1為例，光源6輸出的光束通過聚焦透鏡2親合入光纖la，從光纖Ib輸出的光束通過準(zhǔn)直透鏡3進(jìn)行準(zhǔn)直輸出。為了實(shí)現(xiàn)對光束通過熔接點(diǎn)Ic前的光功率的測量，在光源6和聚焦透鏡2之間設(shè)置第三分光鏡11，以從光束經(jīng)過熔接點(diǎn)Ic前的光路中分出部分光束，作為待檢測的第三輸入光束，通過第一光功率計(jì)7測量該第三輸入光束的光功率，以作為光束通過光纖熔接點(diǎn)Ic前的光功率的值。在實(shí)際中，上述第三分光鏡11可以是傾斜設(shè)置的半透半反鏡，反射的部分光束作為待檢測的第三輸入光束，透射的部分光束向熔接點(diǎn)Ic的方向傳輸。為了實(shí)現(xiàn)對光束通過熔接點(diǎn)Ic后的光功率的測量，在準(zhǔn)直透鏡3的遠(yuǎn)離恪接點(diǎn)Ic的一側(cè)設(shè)置第二分光鏡5，以從光束經(jīng)過恪接點(diǎn)Ic后的光路中分出部分光束，作為待檢測的第四輸入光束，并通過第二光功率計(jì)8測量該第四輸入光束的光功率，以作為光束通過光纖熔接點(diǎn)Ic后的光功率的