一種光學(xué)元件損傷閾值測量裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種光學(xué)元件損傷閾值多樣片對比測量裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著激光技術(shù)的快速發(fā)展，激光技術(shù)得以廣泛應(yīng)用，所需的光學(xué)元件損傷閾值要求也越來越高，而且對光學(xué)元件損傷閾值的測量準(zhǔn)確度要求也越來越高，這其中就需要用到光學(xué)元件的損傷閾值測量裝置。
[0003]對光學(xué)元件的損傷閾值測量，傳統(tǒng)的方法是一次只能測量一件樣片，若要對比不同樣片需要經(jīng)過多次測量方可完成，這就導(dǎo)致了測量誤差，導(dǎo)致?lián)p傷閾值對比的不準(zhǔn)確。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題，本實(shí)用新型的目的在于提供一種光學(xué)元件損傷閥值測量裝置，可以同比測量多個(gè)樣片，便于不同樣片的對比。
[0005]為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下:
[0006]—種光學(xué)元件損傷閥值測量裝置包括:激光器，所述激光器發(fā)出激光光束，沿激光光束的發(fā)射方向設(shè)置有軌道，在所述軌道上由近至遠(yuǎn)依次設(shè)置有透鏡和測量架，所述測量架包括有滑輪底座，所述滑輪底座沿軌道移動，滑輪底座上方設(shè)置有垂直于軌道延伸方向的刻度軸，所述刻度軸上設(shè)置有滑動座，所述滑動座沿刻度軸移動，滑動座上方設(shè)置有測試夾具，待測光學(xué)樣片沿垂直與軌道延伸方向排列并安裝在所述測試夾具上。
[0007]進(jìn)一步，所述透鏡安裝在透鏡架上，所述透鏡架沿所述軌道移動。
[0008]使用時(shí)，激光器發(fā)出激光光束，激光光束穿過透鏡后匯聚在待測光學(xué)樣片上進(jìn)行測量，移動滑動座，依次對多個(gè)樣片進(jìn)行測量。測試夾具為現(xiàn)有的夾具，可以測量任意角度樣片的損傷閥值。
[0009]本實(shí)用新型的一種光學(xué)元件損傷閥值測量裝置，通過測量架可測試任意角度樣片的損傷閾值，在此基礎(chǔ)上還可同時(shí)測量多個(gè)樣片，以此測量出樣片的損傷閾值，及同比對比不同樣片的損傷閾值。
【附圖說明】
[0010]圖1為本實(shí)用新型一種光學(xué)元件損傷閥值測量裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0011]圖2為圖1中測量架的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖，詳細(xì)說明本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】。
[0013]如圖1和圖2所示為本實(shí)用新型一種光學(xué)元件損傷閥值測量裝置的具體實(shí)施例，在本實(shí)施例中具體包括:激光器1、軌道2、透鏡3和測量架；其中，激光器I發(fā)出平行的激光光束，沿激光光束的發(fā)射方向設(shè)置有軌道2，在軌道2上由近至遠(yuǎn)依次設(shè)置有透鏡3和測量架，透鏡3安裝在透鏡架8上，透鏡架8能夠沿軌道2移動，測量架包括有滑輪底座4，滑輪底座4沿軌道2移動，滑輪底座4上方設(shè)置有垂直于軌道2延伸方向的刻度軸5，刻度軸5上設(shè)置有滑動座6，滑動座6沿刻度軸5移動，滑動座6上方設(shè)置有測試夾具7，待測光學(xué)樣片9沿垂直與軌道I延伸方向排列并安裝在測試夾具7上，參考圖2。
[0014]使用時(shí)，激光器I發(fā)出激光光束，激光光束穿過透鏡3后匯聚在待測光學(xué)樣片9上進(jìn)行測量，移動滑動座6，依次對多個(gè)樣片9進(jìn)行測量。測試夾具7為現(xiàn)有的夾具，可以測量任意角度樣片9的損傷閥值。
[0015]本實(shí)用新型的一種光學(xué)元件損傷閥值測量裝置，通過測量架可測試任意角度樣片的損傷閾值，在此基礎(chǔ)上還可同時(shí)測量多個(gè)樣片，以此測量出樣片的損傷閾值，及同比對比不同樣片的損傷閾值。
[0016]上述示例只是用于說明本實(shí)用新型，本實(shí)用新型的實(shí)施方式并不限于這些示例，本領(lǐng)域技術(shù)人員所做出的符合本實(shí)用新型思想的各種【具體實(shí)施方式】都在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種光學(xué)元件損傷閥值測量裝置，其特征在于，該測量裝置包括:激光器，所述激光器發(fā)出激光光束，沿激光光束的發(fā)射方向設(shè)置有軌道，在所述軌道上由近至遠(yuǎn)依次設(shè)置有透鏡和測量架，所述測量架包括有滑輪底座，所述滑輪底座沿軌道移動，滑輪底座上方設(shè)置有垂直于軌道延伸方向的刻度軸，所述刻度軸上設(shè)置有滑動座，所述滑動座沿刻度軸移動，滑動座上方設(shè)置有測試夾具，待測光學(xué)樣片沿垂直與軌道延伸方向排列并安裝在所述測試夾具上。2.如權(quán)利要求1所述測量裝置，其特征在于，所述透鏡安裝在透鏡架上，所述透鏡架沿所述軌道移動。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種光學(xué)元件損傷閥值測量裝置包括：激光器，所述激光器發(fā)出激光光束，沿激光光束的發(fā)射方向設(shè)置有軌道，在所述軌道上由近至遠(yuǎn)依次設(shè)置有透鏡和測量架，所述測量架包括有滑輪底座，所述滑輪底座沿軌道移動，滑輪底座上方設(shè)置有垂直于軌道延伸方向的刻度軸，所述刻度軸上設(shè)置有滑動座，所述滑動座沿刻度軸移動，滑動座上方設(shè)置有測試夾具，待測光學(xué)樣片沿垂直與軌道延伸方向排列并安裝在所述測試夾具上。本實(shí)用新型的一種光學(xué)元件損傷閥值測量裝置，通過測量架可測試任意角度樣片的損傷閾值，在此基礎(chǔ)上還可同時(shí)測量多個(gè)樣片，以此測量出樣片的損傷閾值，及同比對比不同樣片的損傷閾值。
【IPC分類】G01M11/02
【公開號】CN204882037
【申請?zhí)枴緾N201520459524
【發(fā)明人】劉景峰
【申請人】北京奇峰藍(lán)達(dá)光學(xué)科技發(fā)展有限公司
【公開日】2015年12月16日
【申請日】2015年6月30日