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      一種帶漂移干擾的模型預(yù)測控制器的建模質(zhì)量監(jiān)控方法

      文檔序號:9921574閱讀:571來源:國知局
      一種帶漂移干擾的模型預(yù)測控制器的建模質(zhì)量監(jiān)控方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001 ]本發(fā)明屬于模型預(yù)測控制領(lǐng)域,更具體地,涉及一種帶漂移干擾的模型預(yù)測控制 器的建模質(zhì)量監(jiān)控方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002] 模型預(yù)測控制(Model Predictive Control,MPC)是一種廣泛應(yīng)用于工業(yè)過程控 制領(lǐng)域的基于模型的先進(jìn)控制方法,具有控制效果好、魯棒性強(qiáng)、對模型精確性要求不高的 優(yōu)點(diǎn)。
      [0003] 模型預(yù)測控制在工業(yè)過程上的實(shí)際應(yīng)用,稱之為模型預(yù)測控制器(Model Predictive Controller,MPC Controller) JPC控制器具有建模簡單、動(dòng)態(tài)控制效果好、魯 棒性強(qiáng)的特點(diǎn),在投產(chǎn)初期具有良好的控制性能;然而,隨著時(shí)間的推移,MPC控制器性能會 逐漸下降,最后甚至不得不切換到傳統(tǒng)PID控制。導(dǎo)致控制器性能下降的主要因素有噪聲干 擾、模型失配、閥門粘滯、感知器偏差等。因此,對MPC控制器的性能進(jìn)行實(shí)時(shí)評估和監(jiān)控,及 時(shí)發(fā)現(xiàn)其性能下降并進(jìn)行報(bào)警,進(jìn)而診斷性能惡化根源,對保證生產(chǎn)過程的安全、高效、優(yōu) 質(zhì)、低耗運(yùn)行具有重要的實(shí)際意義。
      [0004] 近年來,基于數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的方法被越來越多地應(yīng)用于控制系統(tǒng)性能評估問題。如MPC 框架下的歷史性能指標(biāo),能對MPC的性能做出有效的評價(jià),但它需要獲取一段控制系統(tǒng)運(yùn)行 良好的數(shù)據(jù)來計(jì)算評價(jià)基準(zhǔn),而此良好運(yùn)行階段的選取沒有標(biāo)準(zhǔn),從而給該方法的應(yīng)用帶 來一定的局限性。在基于模型的控制技術(shù)中,模型的質(zhì)量對于控制器的設(shè)計(jì)和整定起到關(guān) 鍵作用,控制系統(tǒng)的性能依賴于過程模型的精度,亦即受到模型失配程度的影響。
      [0005] -方面,現(xiàn)階段關(guān)于建模質(zhì)量監(jiān)控的技術(shù)多采用白噪聲作為系統(tǒng)干擾噪聲源,但 在實(shí)際工業(yè)過程中,干擾往往隨時(shí)間緩慢遞增,呈現(xiàn)出非高斯的特點(diǎn);另一方面,現(xiàn)階段關(guān) 于建模質(zhì)量監(jiān)控的技術(shù)尚無法診斷導(dǎo)致控制器性能變差的惡化根源,無法診斷控制器性能 變差的原因是在于模型存在失配,或者是噪聲干擾、閥門粘滯、感知器偏差等因素上。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0006] 針對現(xiàn)有技術(shù)的以上缺陷或改進(jìn)需求,本發(fā)明提供了一種帶漂移干擾的模型預(yù)測 控制器的建模質(zhì)量監(jiān)控方法,其目的在于僅需利用閉環(huán)控制系統(tǒng)的常規(guī)輸入輸出數(shù)據(jù)即可 有效監(jiān)控模型質(zhì)量,由此提高建模質(zhì)量監(jiān)控準(zhǔn)確度。
      [0007] 為實(shí)現(xiàn)上述目的,按照本發(fā)明的一個(gè)方面,提供了一種帶漂移干擾的模型預(yù)測控 制器的建模質(zhì)量監(jiān)控方法,包括如下步驟:
      [0008] (1)建立閉環(huán)控制系統(tǒng)的干擾模型;
      [0009] (2)根據(jù)閉環(huán)控制系統(tǒng)的實(shí)際情況以及給定的控制目標(biāo),獲取過程的MPC控制器; [0010] (3)當(dāng)閉環(huán)控制系統(tǒng)在所述干擾模型及MPC控制器的控制下運(yùn)行時(shí),采集閉環(huán)控制 系統(tǒng)運(yùn)行所得的過程數(shù)據(jù);所述過程數(shù)據(jù)包括閉環(huán)控制系統(tǒng)的過程輸出和過程輸入;
      [0011] (4)根據(jù)閉環(huán)控制系統(tǒng)結(jié)構(gòu),對所述過程輸出及過程輸入數(shù)據(jù)進(jìn)行正交投影,獲得 過程估計(jì)干擾更新;
      [0012] (5)根據(jù)閉環(huán)控制系統(tǒng)既定參考信號和過程實(shí)際輸出,獲取閉環(huán)控制系統(tǒng)的實(shí)際 跟蹤誤差;
      [0013] (6)根據(jù)所述過程估計(jì)干擾更新與所述實(shí)際跟蹤誤差,獲得閉環(huán)控制系統(tǒng)的模型 質(zhì)量指標(biāo);
      [0014] (7)根據(jù)閉環(huán)控制系統(tǒng)結(jié)構(gòu),利用所述模型質(zhì)量指標(biāo)對建模質(zhì)量進(jìn)行監(jiān)控。
      [0015] 優(yōu)選地,上述步驟(1)包括如下子步驟:
      [0016] (1.1)根據(jù)閉環(huán)控制系統(tǒng)結(jié)構(gòu),建立工業(yè)過程的一階移動(dòng)平均模型,具體如下:
      [0017] dk = dk-i+£k-0ek-i
      [0018] 其中,Θ為白噪聲平均系數(shù),-1<0<1;4~~(〇,~2)表示白噪聲;〇 £2表示白噪聲方 差;dk表示過程隨機(jī)干擾噪聲;
      [0019] (1.2)向上述一階移動(dòng)平均模型中加入漂移,得到帶漂移干擾的一階移動(dòng)平均模 型,具體如下:
      [0020] dk = dk-i+£k-θε^-ι+δ
      [0021] 其中,δ為漂移,dk表示過程隨機(jī)干擾噪聲。
      [0022] 優(yōu)選地,上述步驟(2)包括如下子步驟:
      [0023] (2.1)根據(jù)給定的控制目標(biāo),定義相關(guān)的被控變量CV、操縱變量MV、擾動(dòng)變量DV;其 中,DV是指對CV有影響的可測擾動(dòng),但是不可操縱;
      [0024] (2.2) (2.2)通過對所述操縱變量MV和擾動(dòng)變量DV做階躍變化,獲得各個(gè)被控變量 CV的動(dòng)態(tài)變化數(shù)據(jù),利用辨識算法獲取過程的動(dòng)態(tài)模型預(yù)測控制器;并利用參數(shù)選擇規(guī)則 配置控制器。
      [0025] 優(yōu)選地,上述步驟(3)包括如下子步驟:
      [0026] (3.1)根據(jù)控制系統(tǒng)的要求,生成閉環(huán)控制系統(tǒng)的過程設(shè)定值,該設(shè)定值為常數(shù), 記為r(k),其中k表示第k個(gè)采樣時(shí)刻;
      [0027] (3.2)運(yùn)行閉環(huán)控制系統(tǒng),獲取閉環(huán)控制系統(tǒng)的過程輸入u(k)和過程輸出y(k)。
      [0028] 優(yōu)選地,上述步驟(4)包括如下子步驟:
      [0029] (4.1)根據(jù)閉環(huán)控制系統(tǒng)結(jié)構(gòu),建立過程輸出的高階自回歸模型如下:
      [0030] yP(k) = [y(k) y(k-l) ··· y(k-p)]
      [0032] 其中,p表示過程估計(jì)干擾更新的數(shù)據(jù)窗口大小,Μ表示過程輸出高階自回歸模型 的階次;y(k)表示k時(shí)刻采集所得過程輸出,y(k-l)表示(k-Ι)時(shí)刻采集所得過程輸出,…,y (k-p)表示(k-p)時(shí)刻采集所得過程輸出,y P(k)表示由y(k),y(k-l),···,y(k-p)所構(gòu)成的1 X(P+1)維矩陣;YM(k-l)表示由 yP(k-l),yP(k-2),…,yP(k-M)所構(gòu)成的 MX(P+1)維矩陣;
      [0033] (4.2)根據(jù)閉環(huán)控制系統(tǒng)結(jié)構(gòu),建立過程設(shè)定值的高階自回歸模型如下:
      [0034] rP(k) = [r(k) r(k~l) ··· r(k-p)]
      [0036] 其中,p表示過程估計(jì)干擾更新的數(shù)據(jù)窗口大小,N表示過程設(shè)定值高階自回歸模 型的階次;
      [0037] r(k)表示k時(shí)刻采集所得過程設(shè)定值,r(k-l)表示(k-Ι)時(shí)刻采集所得過程設(shè)定 值,…,r(k-p)表示(k-p)時(shí)刻采集所得過程設(shè)定值,r P(k)表示由r(k),r(k-l),…,r(k-p) 所構(gòu)成的1\(?+1)維矩陣咖仏-1)表示由以1^-1),以卜2),"_,以1^)所構(gòu)成的"(?+1) 維矩陣;
      [0038] (4.3)根據(jù)閉環(huán)控制系統(tǒng)結(jié)構(gòu),建立過程輸出以及過程設(shè)定值的混合高階自回歸 模型如下:
      [0040] 其中,為(M+N) X (P+1)維矩陣,前Μ行由過程輸出的高階自回歸模型YM(k-1)組成,后N行由過程設(shè)定值的高階自回歸模型RN(k-l)組成;
      [0041] (4.4)根據(jù)上述高階自回歸模型,通過正交投影算法,獲取過程估計(jì)干擾更新向 量:
      [0042] β,Χ^γ,Χ^Ι-^
      [0043] 其中,eP(k) = [e(k) e(k-l)…e(k-p)],表示1Χ(Ρ+1)維的過程估計(jì)干擾更新 向量,e(k)表示k時(shí)刻所得過程估計(jì)干擾更新,I表示(Ρ+1)Χ(Ρ+1)維的單位矩陣;
      [0044] 由于閉環(huán)數(shù)據(jù)具有高度相關(guān)性,因此是病態(tài)的,導(dǎo)致所得過程估計(jì) 干擾更新不可靠。
      [0045] 優(yōu)選地,步驟(4.4)解決這一問題的方法進(jìn)一步包括如下子步驟:
      [0046]
      ,獲取正交矩陣 Qi和Q2,對角矩陣Rii,對角矩陣R22和行向量R21;
      [0047] (4.4.2)根據(jù)正交矩陣&和出,對角矩陣1?11,對角
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