專利名稱：半導(dǎo)體集成電路及存儲器檢查方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體集成電路、以及檢查存儲器的方法。 背景4支術(shù)傳統(tǒng)上，半導(dǎo)體集成電路包括初始化專用電路，用以完全初始化秘密數(shù) 據(jù)。在檢查或者評估用以存儲秘密數(shù)據(jù)的存儲器的情形中，在初始化專用電路完全初始化存儲器之后，允許訪問該存儲器。圖8是示出現(xiàn)有技術(shù)中的半 導(dǎo)體集成電路的框圖。在圖8所示的半導(dǎo)體集成電路中，在執(zhí)行與外部端子 241的隔離測試(isolation test)的情形中，需要由初始化電路213初始化存 儲器2U。現(xiàn)有技術(shù)中的另一種半導(dǎo)體集成電路包括確定是否允許訪問、由此而 控制從外部的訪問的電路(例如，參見專利文獻(xiàn)l)。 專利文獻(xiàn)l: JP-A-8241254然而，在前述半導(dǎo)體集成電路中，在用于存儲秘密數(shù)據(jù)的存儲器的情形 中，不能在其外部直接提供測試專用端子，因此，當(dāng)存儲器存儲秘密數(shù)據(jù)時， 需要用于初始化存儲器的測試專用電路。然而，用于完全初始化秘密數(shù)據(jù)的 初始化專用電路導(dǎo)致電路所需要的區(qū)域的增加。此外，在具有使用激光修復(fù)的冗余存活(redundancy survival)功能的存 儲器的情形中，由于需要使用專用電路的初始化和使用隔離的個體測試，所 以，檢查所需要的時間變長。此外，在掃描時，通過在存儲器的外圍控制觸 發(fā)器(flip-flop),可以向外部輸出存儲器的信息。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于，提供半導(dǎo)體集成電路和檢查存儲器的方法，其可以 在不提供用于初始化存儲器的初始化專用電路的情況下初始化存儲器，并且， 僅在完全擦除存儲器內(nèi)的秘密數(shù)據(jù)之后，才允許從外部訪問存儲器。本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體集成電路，包括存儲器，其存儲秘密數(shù)據(jù)；存儲器BIST電路，其執(zhí)行針對于該存儲器的存儲器BIST;第一選擇器，其在用于經(jīng)由外部端子針對于該存儲器執(zhí)行的存儲器隔離 測試的路徑、以及來自該存儲器BIST電路的路徑之間切換；第二選擇器，其在來自第一選擇器的輸出的路徑和來自正常電路的路徑 之間切換，并且具有耦4妄到該存儲器的輸出；以及第三選擇器，其在來自該存儲器的輸出的路徑與用于接收偽信號的路徑 之間切換，并且接收從存儲器BIST電路輸出的作為選擇信號的檢查完成信 號，其中在通過執(zhí)行存儲器BIST而初始化該存儲器之后，可以經(jīng)由用于存儲器隔 離測試的路徑而從外部端子訪問存儲器。根據(jù)所述半導(dǎo)體集成電路，可以在不提供用于初始化存儲器的初始化專 用電路的情況下初始化存儲器，并且，僅在完全擦除存儲器中的秘密數(shù)據(jù)之 后，才可以從外部訪問存儲器。因此，可消除初始化專用電路所必須的電路 區(qū)域，并且，可防止秘、密數(shù)據(jù)的泄漏。所述半導(dǎo)體集成電路進(jìn)一步包括另一個存儲器，其存儲不同于秘密數(shù) 據(jù)的虛擬數(shù)據(jù)(dummy data),并且，第三選擇器在來自存儲器的輸出的路徑 和來自所述的另 一個存儲器的輸出的路徑之間切換。因此，即使正常用戶嘗試訪問用于秘密數(shù)據(jù)的存儲器，由于所述正常用 戶僅可以訪問所述另一個存儲器，所以，可防止秘密數(shù)據(jù)的泄漏。在所述半導(dǎo)體集成電路中，存儲器具有冗余區(qū)域，并且，第三選擇器在 來自存儲器的輸出的路徑、以及來自存儲器內(nèi)的冗余區(qū)域的輸出的路徑之間 切換。因此，即使正常用戶嘗試訪問用于秘密數(shù)據(jù)的存儲器，由于正常用戶僅 可以訪問冗余區(qū)域，所以，可防止秘密數(shù)據(jù)的泄漏。此外，可以4t查并評估 冗余數(shù)據(jù)。在所述半導(dǎo)體集成電路中，正常電路的觸發(fā)器、存儲器BIST電路的觸發(fā) 器、以及用于觀察的觸發(fā)器被置于同一掃描鏈上，并且，與在掃描測試時的 移位操作同時地重寫在該存儲器中存儲的秘密數(shù)據(jù)。因此，當(dāng)通過掃描而嘗試讀操作時，其必然導(dǎo)致對存儲器的寫操作，并 且，于是，重寫秘密數(shù)據(jù)，并且，可防止秘密數(shù)據(jù)的泄漏。在這種方式中，可防止使用掃描鏈和觀察觸發(fā)器的秘密數(shù)據(jù)的泄漏。本發(fā)明提供了 一種由半導(dǎo)體集成電路執(zhí)行的檢查存儲器的方法，所述半導(dǎo)體集成電路包括存儲器，其存儲秘密數(shù)據(jù)；存儲器BIST電路，其執(zhí)行針對于該存儲器的存儲器BIST; 第一選擇器，其在用于經(jīng)由外部端子針對于該存儲器執(zhí)行的存儲器隔離 測試的路徑、以及來自該存儲器BIST電路的路徑之間切換；第二選擇器，其在來自第一選擇器的輸出的路徑和來自正常電路的路徑之間切換，并且具有耦接到該存儲器的輸出；以及笫三選擇器，其在來自該存儲器的輸出的路徑與用于接收偽信號的路徑 之間切換，并且接收從存儲器BIST電路輸出的作為選擇信號的檢查完成信—弓—該方法包括以下步驟在檢查存儲器時，在存儲器BIST電路執(zhí)行了存儲器BIST之后，經(jīng)由用 于存儲器隔離測試的路徑，從外部端子執(zhí)行該檢查。因此，不需要在通過來自外部端子的用于存儲器隔離測試的路徑執(zhí)行檢 查之前、初始化存儲在存儲器中的秘密數(shù)據(jù)。此外，在檢查該存儲器時，即 使在通過來自外部端子的用于存儲器隔離測試的路徑執(zhí)行檢查之后發(fā)現(xiàn)故 障，當(dāng)可以通過使用冗余存儲器修復(fù)該故障時，也沒有必要執(zhí)行專用于存儲 在存儲器中的秘密數(shù)據(jù)的初始化操作。在這種方式中，由于可以通過使用存 儲器BIST來初始化秘密數(shù)據(jù)存儲器而消除初始化的過程，所以，可縮短檢查 時間。此外，存儲器的修復(fù)成為可能。根據(jù)本發(fā)明的半導(dǎo)體集成電路和存儲器檢查方法，可以在不提供用于初 始化存儲器的初始化專用電路的情況下擦除秘密數(shù)據(jù)，并且，僅在完全擦除 秘密數(shù)據(jù)之后才可以從外部訪問該存儲器。因此，可消除初始化專用電路所 需的電路區(qū)域，并且，可防止秘密數(shù)據(jù)的泄漏。


圖1是示出根據(jù)第一實(shí)施例的半導(dǎo)體集成電路的框圖。 圖2是示出檢查存儲器的程序的流程圖。圖3是示出在修復(fù)存儲器的情形中檢查存儲器的程序的流程圖。圖4是示出根據(jù)第三實(shí)施例的半導(dǎo)體集成電路的框圖。 圖5是示出半導(dǎo)體集成電路的框圖，其中，冗余區(qū)域被安裝在用于秘密 數(shù)據(jù)的存儲器上。圖6是示出根據(jù)第四實(shí)施例的半導(dǎo)體集成電路的框圖。圖7是示出另一個半導(dǎo)體集成電路的框圖。圖8是示出相關(guān)技術(shù)中的半導(dǎo)體集成電路的框圖。
具體實(shí)施方式
此后，將參考附圖解釋本發(fā)明的實(shí)施例。 (第一實(shí)施例)圖1是示出根據(jù)第一實(shí)施例的半導(dǎo)體集成電路的框圖。如圖l所示，根據(jù)第一實(shí)施例的半導(dǎo)體集成電路包括第一選擇器101，用于在來自存儲器BIST (MBIST)電路112的路徑和來自外部端子131的直接輸入路徑122之間切換；選擇器102，用于在來自外部端子131的直接輸入路徑122和來自正常電路141的路徑123之間切換；以及選擇器103,用于在來自存儲器lll的輸出路徑、以及對其輸入偽信號的路徑之間切換。選擇器103從MBIST電路112接收檢查完成信號121，作為選擇信號。存儲器111由SRAM配置，并在其中存儲秘密數(shù)據(jù)。將解釋由根據(jù)第一實(shí)施例的半導(dǎo)體集成電路執(zhí)行的存儲器檢查操作。圖2是示出存儲器檢查程序的流程圖。首先，MBIST電路112執(zhí)行針對存儲器111的存儲器BIST (built in self test,內(nèi)建自測試)，并且確定測試結(jié)果(步驟S1)。當(dāng)存儲器BIST的執(zhí)行導(dǎo)致成功(通過(PASS))時，由于初始化了存儲器111,所以，允許從外部端子131訪問存儲器111。然后，對存儲器111執(zhí)行隔離測試，并且確定測試結(jié)果(步驟S2)。當(dāng)隔離測試導(dǎo)致成功或通過時，作出通過確定(步驟S3),并且完成測試。另一方面，當(dāng)在步驟S1中執(zhí)行的存儲器BIST導(dǎo)致故障(失敗(FAIL ))、或者在步驟S2中執(zhí)行的隔離測試導(dǎo)致故障時，作出失敗確定(步驟S4),并且完成測試。根據(jù)依照第 一 實(shí)施例的半導(dǎo)體集成電路、以及由該半導(dǎo)體集成電路執(zhí)行 的存儲器檢查方法，可以從外部端子輸入除了存儲器BIST之外的算法 (algorithm)。此外，由于僅僅執(zhí)行初始化的操作不是必要的，所以，可消除初始化存儲器的過程。因此，可以在不安裝用于初始化存儲器的初始化專用 電路的情況下執(zhí)行數(shù)據(jù)的初始化。此外，在完全擦除秘密數(shù)據(jù)之后，可以在 不泄漏秘密數(shù)據(jù)的情況下檢查并評估存儲器。因此，相比于現(xiàn)有技術(shù)中的電 路配置，測試電路可以很大程度上得以縮減。此外，根據(jù)第一實(shí)施例的半導(dǎo)體集成電路，第三方不能從存儲秘密數(shù)據(jù) 的存儲器讀取秘密數(shù)據(jù)，并且，在檢查或評估時，直到完全擦除其內(nèi)容為止， 才能從外部訪問該存儲器。因此，可以在不提供用于初始化存儲器的初始化 專用電路的情況下初始化存儲器，并且，僅在從存儲器完全擦除了秘密數(shù)據(jù) 之后，才有可能從外部對該存儲器進(jìn)行讀/寫訪問。因此，初始化專用電路所 需要的區(qū)域得以消除，并且，可防止秘密數(shù)據(jù)的泄漏。 (第二實(shí)施例)在安裝冗余數(shù)據(jù)區(qū)域的存儲器中，在正在使用的存儲器區(qū)域中檢測到故 障部分的情形中，可以通過利用冗余存儲器區(qū)域，來修復(fù)有故障的存儲器。第二實(shí)施例示出了秘密數(shù)據(jù)存儲器包括冗余存儲器區(qū)域的情形。由于根據(jù) 第二實(shí)施例的半導(dǎo)體集成電路的配置與第一實(shí)施例的該配置相同，所以，與 第一實(shí)施例相同的部分采用相同的標(biāo)記來引用，也省略其解釋。圖3是示出在修復(fù)存儲器的情形中的存儲器檢查程序的流程圖。首先， BIST電路112執(zhí)行針對于具有冗余存儲器區(qū)域的存儲器BIST(內(nèi)建自測試)， 并且確定測試結(jié)果(步驟Sll )。當(dāng)存儲器BIST的執(zhí)行導(dǎo)致成功(通過)時， 作出通過確定(步驟S12)，并且完成測試。另一方面，當(dāng)執(zhí)行的存儲器BIST導(dǎo)致故障(失敗(FAIL))時，對存儲 器111執(zhí)行隔離測試，以指定一個或多個故障位,并且確定存儲器是否可以 存活(步驟S13)。當(dāng)作為隔離測試的結(jié)果、確定存活是可能的時，修復(fù)存儲 器111(步驟S14)。在修復(fù)之后，再次執(zhí)行存儲器BIST,以確定存儲器操作 是成功(通過)還是故障(失敗)(步驟S15 )。當(dāng)存儲器BIST的執(zhí)行導(dǎo)致成 功(通過)時，在步驟S12中作出通過確定，并且完成測試。另一方面，當(dāng)作為在步驟S13中執(zhí)行的隔離測試的結(jié)果、確定存活是不 可能的時，或者當(dāng)在步驟S15中執(zhí)行的存儲器BIST導(dǎo)致故障(失敗)時， 作出失敗確定(步驟S16),并且完成測試。根據(jù)第二實(shí)施例的半導(dǎo)體集成電路，由于可以使用存儲器BIST來初始化 秘密數(shù)據(jù)存儲器，所以，可消除初始化存儲器的過程，并且可以修復(fù)存儲器。(第三實(shí)施例)圖4是示出根據(jù)第三實(shí)施例的半導(dǎo)體集成電路的框圖。在該圖中，與第 一實(shí)施例相同的部分使用相同的標(biāo)記引用，并且省略其解釋。在根據(jù)第三實(shí) 施例的半導(dǎo)體集成電路中，與用于秘密數(shù)據(jù)的存儲器111分離地安裝用于正常數(shù)據(jù)的存儲器(偽存儲器)513。選擇器103在存儲器111的輸出和偽存儲 器513的輸出之間切換。根據(jù)第三實(shí)施例的半導(dǎo)體集成電路，在經(jīng)由外部端子131執(zhí)行隔離測試 時，切換選擇器103，以便輸出偽存儲器513的值，直到完成初始化為止。 因此，即使當(dāng)通常的用戶嘗試訪問秘密數(shù)據(jù)存儲器時，由于通常的用戶僅可 以訪問偽存儲器，所以，可防止秘密數(shù)據(jù)的泄漏。即使在在秘密數(shù)據(jù)存儲器中安裝冗余區(qū)域、以取代安裝偽存儲器的情形 中，也可以獲得相同的效果。圖5是示出在秘密數(shù)據(jù)存儲器中安裝冗余區(qū)域 的半導(dǎo)體集成電路的框圖。即，在秘密數(shù)據(jù)存儲器111中安裝冗余區(qū)域613。根據(jù)所述半導(dǎo)體集成電路，在經(jīng)由外部端子131執(zhí)行隔離測試時，切換 選擇器103,以便輸出冗余區(qū)域613的值，直到完成初始化為止。因此，即 使當(dāng)通常的用戶嘗試訪問秘密數(shù)據(jù)存儲器時，由于通常的用戶僅可以訪問冗 余區(qū)域613,所以，可防止秘密數(shù)據(jù)的泄漏。因此，檢查和評估冗余區(qū)域成 為可能。(第四實(shí)施例)圖6是示出根據(jù)第四實(shí)施例的半導(dǎo)體集成電路的框圖。在該圖中，與第 一實(shí)施例相同的部分由相同的標(biāo)記引用，并且省略其解釋。除了第一實(shí)施例 的配置之外，根據(jù)第四實(shí)施例的半導(dǎo)體集成電路還包括第四選擇器804, 用于在選擇器103的輸出和選擇器102的輸出之間切換；SCAN (掃描)觀察 /控制觸發(fā)器813以及SCAN (掃描)鏈833。在MBIST電路112內(nèi)的代表性的觸發(fā)器831、在正常電路141中的代表 性的觸發(fā)器832、以及掃描觀察/控制觸發(fā)器813耦接到SCAN鏈833。在該圖中，824描述來自正常電路141的路徑，825描述在掃描時旁路的 路徑，826描述來自掃描觀察/控制觸發(fā)器813的控制信號，以及827描述發(fā) 送給掃描觀察/控制觸發(fā)器813的觀察信號。在如此配置的半導(dǎo)體集成電路中，可以經(jīng)由通常的掃描路徑，通過使用 掃描觀察/控制觸發(fā)器813、以及在正常電路141中的代表性觸發(fā)器832,來讀取秘密lt據(jù)存儲器111的信息。將對照另一個半導(dǎo)體集成電路的操作而解釋本實(shí)施例的半導(dǎo)體集成電路的操作。圖7是示出另一個半導(dǎo)體集成電路的框圖。在這個圖中，701描述 第一選擇器，702描述第二選擇器，703描述第三選擇器，704描述第四選擇 起，711描述秘密數(shù)據(jù)存儲器，712描述MBIST電路，713描述SCAN (掃描) 觀察/控制觸發(fā)器，721描述選擇器控制信號，722描述來自MBIST電路的控 制信號，723描述來自外部端子的直接輸入路徑，724描述來自正常電路的路 徑，725描述在掃描時旁路的路徑，726描述來自掃描^L察/控制觸發(fā)器的控 制信號，以及727描述發(fā)送給掃描觀察/控制觸發(fā)器的觀察信號。在所述另一個半導(dǎo)體集成電路中，為了設(shè)置存儲器711的地址為讀取的 期望值，使用SCAN鏈的SHIFT (移位)操作。首先，為了給觸發(fā)器設(shè)置用 于控制路徑724的值，執(zhí)行移入(shift-in )。類似地，為了控制第一選擇器701 和第二選擇器702而執(zhí)行移入。接下來，類似地，為了控制第三選擇器703 和第四選擇器704，通過使用SCAN鏈的SHIFT操作，控制在MBIST電路 712中的觸發(fā)器。即，控制來自MBIST電路712的選擇器控制信號，以改變 第三選辟器703和第四選擇器704中的每個的方向。隨后，觸發(fā)器從存儲器 711取出期望值。通過再次利用SCAN鏈的SHIFT操作，將由此取出的值移 出(SHIFT OUT )到外部。在這種方式中，可以讀取存儲器711中的信息。在所述另一個半導(dǎo)體存儲器中、可通過前述方法讀取信息的原因在于 由于觸發(fā)器713、在路徑724上的觸發(fā)器、由第一選擇器701和第二選擇器 702控制的觸發(fā)器、以及在MBIST電路712中的觸發(fā)器存在于不同的SCAN (掃描)鏈上，所以，可以獨(dú)立地控制這些觸發(fā)器。換句話說，為存儲器711 設(shè)置預(yù)期地址值的操作、以及用于在觸發(fā)器713取出該值的操作可以獨(dú)立于 相互影響而祐:才丸行?？紤]到該事實(shí)，以在路徑824上的代表性觸發(fā)器832、在用于產(chǎn)生選擇 器控制信號121的MBIST電路112中的代表性觸發(fā)器831、以及能夠取出存 儲器111的值的觸發(fā)器813耦接到同一 SCAN鏈的方式，配置根據(jù)該實(shí)施例 的半導(dǎo)體集成電^各。根據(jù)這種配置，在通過利用SCAN鏈而嘗試將路徑824改變?yōu)轭A(yù)期(期 望)的地址值、或者改變選擇器102以及選擇器101的方向、或者改變MBIST 電路112之內(nèi)的觸發(fā)器831的值以控制選擇器103和選擇器104的方向的這樣的操作的情況下，在第一次，此操作可能成功。然而，根據(jù)在第一次取出 的值的移出操作，引起隨機(jī)地址寫使能控制，并且，于是，出現(xiàn)在存儲器lll 中寫入另外的值的操作。因此，此后，期望秘密數(shù)據(jù)不再被保留于存儲器111中。在SHIFT IN (移入)操作中，通過經(jīng)由觸發(fā)器831從觸發(fā)器813到觸發(fā) 器832的方向移動所述值，期望由觸發(fā)器813自身取出的值而隨機(jī)地改變觸 發(fā)器831和832的值。在這種方式中，根據(jù)第四實(shí)施例的半導(dǎo)體集成電路，在MBIST電路112 內(nèi)的代表性觸發(fā)器831耦接到在掃描路徑上的掃描觀察/控制觸發(fā)器813。因 此，當(dāng)掃描嘗試讀操作時，其必然導(dǎo)致對存儲器111的寫操作，并且，于是， 寫入了秘密數(shù)據(jù)，并可防止秘密數(shù)據(jù)的泄漏。根據(jù)本發(fā)明的半導(dǎo)體集成電路可在不具有用于初始化存儲器的專用電路 的情況下初始化存儲器，并且，作為能夠從外部訪問存儲器的半導(dǎo)體集成電 路等是有用的。
權(quán)利要求
1. 一種半導(dǎo)體集成電路，包括存儲器，其存儲秘密數(shù)據(jù)；存儲器BIST電路，其執(zhí)行針對于該存儲器的存儲器BIST；第一選擇器，其在用于經(jīng)由外部端子針對于該存儲器執(zhí)行的存儲器隔離測試的路徑、以及來自該存儲器BIST電路的路徑之間切換；第二選擇器，其在來自第一選擇器的輸出的路徑和來自正常電路的路徑之間切換，并且具有耦接到該存儲器的輸出；以及第三選擇器，其在來自該存儲器的輸出的路徑與用于接收偽信號的路徑之間切換，并且接收從存儲器BIST電路輸出的作為選擇信號的檢查完成信號，其中，在通過執(zhí)行存儲器BIST而初始化該存儲器之后，可以經(jīng)由用于存儲器隔離測試的路徑而從外部端子訪問該存儲器。
2、 如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體集成電路，進(jìn)一步包括 另一個存儲器，其存儲不同于秘密數(shù)據(jù)的虛擬數(shù)據(jù)，其中，第三選擇器在來自存儲器的輸出的路徑和來自所述另 一個存儲器的輸出的路徑之間切 換。
3、 如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體集成電路，其中，該存儲器具有冗余區(qū) 域，并且，第三選擇器在來自該存儲器的輸出的路徑、以及來自存儲器內(nèi)的 冗余區(qū)域的輸出的路徑之間切換。
4、 如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體集成電路，其中，正常電路的觸發(fā)器、 存儲器BIST電路的觸發(fā)器、以及用于觀察的觸發(fā)器被置于同一掃描鏈上， 并且，與在掃描測試時的移位操作同時地重寫在該存儲器中存儲的秘密數(shù) 據(jù)。
5、 一種由半導(dǎo)體集成電路執(zhí)行的檢查存儲器的方法，所述半導(dǎo)體集成 電路包4舌該存儲器，其存儲秘密數(shù)據(jù)；存儲器BIST電路，其執(zhí)行針對于該存儲器的存儲器BIST; 第一選擇器，其在用于經(jīng)由外部端子針對于該存儲器執(zhí)行的存儲器隔離 測試的路徑、以及來自該存儲器BIST電路的路徑之間切換；第二選擇器，其在來自第一選擇器的輸出的路徑和來自正常電路的路徑之間切換，并且具有耦接到該存儲器的輸出；以及第三選擇器，其在來自該存儲器的輸出的路徑與用于接收偽信號的路徑 之間切換，并且接收從存儲器BIST電路輸出的作為選擇信號的檢查完成信該方法包括以下步驟在檢查存儲器時，在存儲器BIST電路執(zhí)行了存儲器BIST之后，經(jīng)由 用于存儲器隔離測試的路徑，從外部端子執(zhí)行該檢查。
全文摘要
半導(dǎo)體集成電路包括存儲器，其存儲秘密數(shù)據(jù)；存儲器BIST電路，其執(zhí)行針對于該存儲器的存儲器BIST；第一選擇器，其在用于經(jīng)由外部端子針對于該存儲器執(zhí)行的存儲器隔離測試的路徑、以及來自該存儲器BIST電路的路徑之間切換；第二選擇器，其在來自第一選擇器的輸出的路徑和來自正常電路的路徑之間切換，并且具有耦接到該存儲器的輸出；以及第三選擇器，其在來自該存儲器的輸出的路徑與用于接收偽信號的路徑之間切換，并且接收從存儲器BIST電路輸出的作為選擇信號的檢查完成信號，在該半導(dǎo)體集成電路中，在通過執(zhí)行存儲器BIST而初始化該存儲器之后，可以經(jīng)由用于存儲器隔離測試的路徑而從外部端子訪問該存儲器。
文檔編號G11C29/24GK101286366SQ200810091679
公開日2008年10月15日 申請日期2008年4月11日 優(yōu)先權(quán)日2007年4月11日
發(fā)明者中野三矢, 關(guān)口啟之, 山口德志, 鹽田良治 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社