專利名稱：光學(xué)存儲(chǔ)器中污染程度的檢測(cè)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光學(xué)存儲(chǔ)器，特別涉及檢測(cè)光學(xué)存儲(chǔ)器中污染程度并在污染相對(duì)于基準(zhǔn)值超出一個(gè)預(yù)定值時(shí)發(fā)出信號(hào)的方法和裝置。
從可重寫的磁—光(MO)盤和一次性寫入(WORM)盤之類的光學(xué)載體上讀出/寫入的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)記錄裝置采用一種光源通過光學(xué)元件把光束緊焦到載體表面，該表面反射的光經(jīng)過另外的光學(xué)元件再返回來射到一個(gè)檢測(cè)器上，該檢測(cè)器產(chǎn)生重現(xiàn)該載體表面上所記錄的數(shù)據(jù)的電信號(hào)。反射光還經(jīng)由光學(xué)元件射到另一個(gè)檢測(cè)器(通常是一個(gè)示差檢測(cè)器)上，該檢測(cè)器產(chǎn)生用來與兩個(gè)伺服系統(tǒng)一起使光束持續(xù)緊焦在載體表面并使該光束探尋且跟蹤所要求的數(shù)據(jù)軌跡的電信號(hào)。
因?yàn)橥耆芊夤鈱W(xué)驅(qū)動(dòng)器或把光學(xué)元件完全與外界環(huán)境隔離開還是不可能的，所以灰塵、纖維屑、煙塵和其他空氣中懸浮的污物都可能滲透到驅(qū)動(dòng)器中并沉落到光學(xué)元件上。驅(qū)動(dòng)器單元中的冷風(fēng)扇則加速了這種污染。光學(xué)元件上一旦積聚了污染，到達(dá)記錄盤以及到達(dá)檢測(cè)器的光強(qiáng)度就會(huì)減弱，從而減小了讀出信號(hào)電平，對(duì)讀出、寫入、尋跡和跟蹤性能都帶來不利的影響，還會(huì)導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)器過早的損壞。
形狀和尺寸類似于實(shí)際光盤盒的清洗盒可以用來清洗驅(qū)動(dòng)器中的某些光學(xué)元件。然而，迄今為止清洗工作或是定期進(jìn)行或是驅(qū)動(dòng)器發(fā)生故障時(shí)進(jìn)行，但沒有一種程序安排令人完全滿意。取決于啟動(dòng)操作人的定期清洗是不方便的，而且很容易誤期或被忘記。在自動(dòng)化存儲(chǔ)和檢索數(shù)據(jù)庫(kù)外圍設(shè)備中發(fā)生的定期清洗可能會(huì)在不適當(dāng)?shù)臅r(shí)間被啟動(dòng)，并可能以其他方式消耗重要的數(shù)據(jù)庫(kù)資源。一直等到驅(qū)動(dòng)器發(fā)生故障之后再插入清洗盒會(huì)增加數(shù)據(jù)丟失的危險(xiǎn)，而且能造成存儲(chǔ)系統(tǒng)不希望的停機(jī)。
鑒于上述的情況，本發(fā)明的一個(gè)目的是檢測(cè)光學(xué)驅(qū)動(dòng)器中污染程度，并在污染程度過高時(shí)產(chǎn)生一個(gè)可以報(bào)告給主人的信號(hào)。
本發(fā)明的另一個(gè)目的是通過監(jiān)視現(xiàn)有信號(hào)的相對(duì)變化來檢測(cè)污染程度。
本發(fā)明是這樣來實(shí)現(xiàn)這些和另外一些目的的，即監(jiān)測(cè)光學(xué)驅(qū)動(dòng)器的跟蹤誤差信號(hào)增益；把該增益與基準(zhǔn)增益相比較；如果實(shí)現(xiàn)增益相對(duì)于基準(zhǔn)增益超過一個(gè)預(yù)定水準(zhǔn)就產(chǎn)生一個(gè)告警信號(hào)。
從下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例更加詳細(xì)的描述可以更清楚本發(fā)明前述的和其他的特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)。


圖1是體現(xiàn)本發(fā)明的光盤記錄器的方框圖；圖2是裝入到自動(dòng)化存儲(chǔ)和檢索外圍設(shè)備的圖1的光盤記錄器的方框圖；圖3的曲線“A”和“B”分別是表示沒有驅(qū)動(dòng)器清洗和有驅(qū)動(dòng)器清洗情況下，光盤記錄器中的污染程度對(duì)TES增益的曲線圖。
圖4是本發(fā)明的程序流程圖。
圖1中表示一個(gè)適宜采用本發(fā)明的一個(gè)光學(xué)記錄器12，雖然如下的描述專門參照磁—光(MO)記錄裝置，但本發(fā)明同樣適用于包括一次性寫入(WORM)的其他記錄方法。MO盤130可轉(zhuǎn)動(dòng)地安裝在由馬達(dá)132驅(qū)動(dòng)的轉(zhuǎn)軸131上，光傳感頭承載座134裝在記錄器12的機(jī)架135上并且可以沿徑向橫越盤130移動(dòng)。承載座134的徑向運(yùn)動(dòng)可以出入到多個(gè)同心軌跡或螺旋軌跡的任一條軌跡，以便從盤130上讀取數(shù)據(jù)和把數(shù)據(jù)記錄在盤130上。安裝在機(jī)架135上的線性致動(dòng)器136沿徑向移動(dòng)承載座134，使之能出入軌跡。記錄器12通過電纜或總線116和202經(jīng)過控制器11和一個(gè)或多個(gè)主處理器137連接。這種主處理器137可以是控制單元、個(gè)人計(jì)算機(jī)、大型系統(tǒng)計(jì)算機(jī)、通訊系統(tǒng)、圖像信號(hào)處理器等等。連接電路138在光學(xué)記錄器12和控制器11之間提供邏輯連接和電氣連接。
光學(xué)記錄器12可以裝到自動(dòng)化存儲(chǔ)和檢索系統(tǒng)200中，如圖2所示。系統(tǒng)200包括一個(gè)或多個(gè)包含記錄器12的光學(xué)記錄器202、排列在儲(chǔ)盤箱206中的多張光盤204和存取器208。驅(qū)動(dòng)器202和存取器208用控制器11連接起來，控制器11支配存取器208在儲(chǔ)盤箱206與一個(gè)光學(xué)記錄器202之間傳送所需要的光盤。
微處理器140控制記錄器12的運(yùn)行，控制數(shù)據(jù)、狀態(tài)數(shù)據(jù)、指令等在連接電路138和微處理器140之間經(jīng)由雙向數(shù)據(jù)總線143進(jìn)行交換。包括在微處理器140中的是一個(gè)存儲(chǔ)程序或微碼存儲(chǔ)只讀存儲(chǔ)器(ROM)141和一個(gè)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)和控制信號(hào)的隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)142。
記錄器12的光學(xué)元件包括一個(gè)用于緊焦和徑向跟蹤運(yùn)動(dòng)的安裝在承載座134上的具有精細(xì)致動(dòng)器146的物鏡或緊焦透鏡145，精細(xì)致動(dòng)器146包括一個(gè)移動(dòng)機(jī)構(gòu)，用來為緊焦而把物鏡145移向光盤130或使其遠(yuǎn)離光盤130，該機(jī)構(gòu)還使物鏡145沿平行于承載座134的移動(dòng)而徑向運(yùn)動(dòng)，當(dāng)在小范圍的軌跡內(nèi)(如100條軌跡范圍)變換軌跡時(shí)，就要進(jìn)行這種徑向運(yùn)動(dòng)，這樣，每次進(jìn)出毗鄰當(dāng)時(shí)被存取的軌跡的軌跡時(shí)，就無需促動(dòng)承載座134。147代表物鏡145和光盤130之間的兩路光路。
按照MO記錄方式，磁鐵148(可以是電磁鐵，也可以是永磁鐵)提供一個(gè)弱的轉(zhuǎn)向磁場(chǎng)或偏置磁場(chǎng)，以便把剩磁化指向由來自物鏡145的激光在盤130上照射的小光點(diǎn)的方向。激光光點(diǎn)把記錄盤130上的被照點(diǎn)加熱到高于磁光層(未示出，如Chaudhari等人的美國(guó)專利US3,949,387教導(dǎo)的那樣，可以是稀土金屬和遷移金屬的合金)的居里點(diǎn)的溫度。一旦被照射點(diǎn)冷卻到居里點(diǎn)溫度以下，這種加熱就能使磁鐵148把剩磁化都指向要求的磁化方向。磁鐵148表示為“寫入”方向的取向，即通常記錄在盤130上的二進(jìn)制的1是“北極剩磁化”。為擦除盤130，就要把磁鐵148轉(zhuǎn)動(dòng)得使南極靠近盤130?？刂破?49控制磁鐵148的寫入和擦除方向，該控制器149可操作地耦聯(lián)到可轉(zhuǎn)動(dòng)磁鐵148，如虛線150表示的那樣。微處理器140經(jīng)連線151把控制信號(hào)提供給控制單元149以便影響轉(zhuǎn)向磁場(chǎng)的翻轉(zhuǎn)。
必須控制沿光路147的光束的徑向位置以使能可靠地跟蹤軌跡或環(huán)跡，并且能迅速且精確地出入軌跡或環(huán)跡。緊焦和跟蹤電路154控制粗調(diào)致動(dòng)器146和精細(xì)致動(dòng)器146。由聚焦和跟蹤電路154及微處理器140經(jīng)連線155和159加到致動(dòng)器136的控制信號(hào)精確地控制由致動(dòng)器136對(duì)承載座134的定位。另外，由聚焦和跟蹤電路154對(duì)精細(xì)致動(dòng)器146的控制是通過由連線157和158傳輸?shù)骄?xì)致動(dòng)器146的控制信號(hào)來進(jìn)行的，分別用來進(jìn)行聚焦、軌跡跟蹤及尋跡。檢測(cè)器156檢測(cè)精細(xì)致動(dòng)器146相對(duì)于承載座134的位置，以便產(chǎn)生相對(duì)位置誤差(RPE)信號(hào)119，該信號(hào)送到緊焦和跟蹤電路154，連線157把聚焦誤差信號(hào)從電路154送到精細(xì)致動(dòng)器146中的聚焦機(jī)構(gòu)。
緊焦和跟蹤位置檢測(cè)是通過分析光路147上從光盤130反射的激光來實(shí)現(xiàn)的，反射激光通過物鏡145、再通過半反射鏡160，由另一個(gè)半反射鏡161反射到“象限檢測(cè)器”162。象限檢測(cè)器162有四個(gè)光電二極管，它們分別把統(tǒng)一注為163的四條連線上的信號(hào)送到聚焦和跟蹤電路154。把檢測(cè)器162的一個(gè)軸對(duì)準(zhǔn)數(shù)據(jù)軌跡中心線，就能進(jìn)行軌跡跟蹤，緊焦和跟蹤電路154分析連接線163上的信號(hào)，以便控制聚焦和跟蹤，并且產(chǎn)生多種信號(hào)，其中包括跟蹤誤差信號(hào)(TES)、顯示軌跡交錯(cuò)的信號(hào)、相對(duì)位置誤差信號(hào)(RPE)和聚焦誤差信號(hào)(FES)。這些信號(hào)被傳送到微處理器140，相應(yīng)地該微處理器140產(chǎn)生控制信號(hào)送到各控制環(huán)路以便保持所要求的跟蹤、聚焦、激光功率和其他驅(qū)動(dòng)參數(shù)。另外，微處理器140通過連接電路138把包括TES增益值在內(nèi)的驅(qū)動(dòng)器校準(zhǔn)信號(hào)發(fā)送到主處理器137。TES增益值是為保證峰—峰TES基本恒定而用來表示不調(diào)整的TES的增益量。
現(xiàn)在來描述如何把數(shù)據(jù)記錄或?qū)懺诒P130上，假定磁鐵148轉(zhuǎn)到記錄數(shù)據(jù)所要求的位置，微處理器140通過連線165把控制信號(hào)送到激光器控制單元166以便指示進(jìn)行記錄。這意味著控制單元166激勵(lì)激光器167發(fā)射記錄用的高強(qiáng)度激光束；與此不同，為進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取，激光器167則以降低了的強(qiáng)度發(fā)射激光束以防止把盤130上的激光照射點(diǎn)加熱到居里點(diǎn)以上?？刂茊卧?66經(jīng)連線168把它的控制信號(hào)加到激光器167上，并經(jīng)連線1 69接收指示發(fā)射的光強(qiáng)度的反饋信號(hào)，控制單元166調(diào)整光強(qiáng)度到要求的量值。激光器167(如砷化鎵之類的半導(dǎo)體激光器)可以由數(shù)據(jù)信號(hào)來調(diào)制，這樣，被發(fā)射的光束就重現(xiàn)由強(qiáng)度調(diào)制所記錄的數(shù)據(jù)，為此，數(shù)據(jù)電路175通過連線178把數(shù)據(jù)指示信號(hào)送到激光器控制單元166以便進(jìn)行這種調(diào)制。調(diào)制過的光束通過極化器170(將光束進(jìn)行線性極化)，然后再通過準(zhǔn)直透鏡171。經(jīng)準(zhǔn)直的光速172通過圓形化光學(xué)元件173使激光束從橢圓形變?yōu)閳A形輪廓，然后光束射到半反射鏡160并經(jīng)物鏡145向盤130反射。相應(yīng)于收到的來自主處理器173的記錄指令。微處理器140通過連線176提供適當(dāng)?shù)目刂菩盘?hào)以便由數(shù)據(jù)電路為記錄作準(zhǔn)備。一旦數(shù)據(jù)電路175準(zhǔn)備妥當(dāng)，數(shù)據(jù)就經(jīng)過連接電路138和控制單元11在主處理器137和數(shù)據(jù)電路175之間被傳送。數(shù)據(jù)電路175還包括及格式信號(hào)、誤差檢測(cè)和校正等的輔助電路(未示出)。在讀取或重放期間，數(shù)據(jù)電路175把校正數(shù)據(jù)信號(hào)經(jīng)數(shù)據(jù)總線177加到主處理器137之前要把輔助信號(hào)從重放信號(hào)中除掉。
為傳送到主處理器137而從盤130上讀取或重放數(shù)據(jù)需要對(duì)來自盤130的激光束進(jìn)行光、電處理，這部分反射光(具有從用克爾效應(yīng)記錄的盤130旋轉(zhuǎn)的極化器170得到的線性極化)沿雙路光通路147傳播，然后通過透鏡145和半反射鏡160、161到達(dá)傳感頭臂133光學(xué)器件的數(shù)據(jù)檢測(cè)部分179。光學(xué)元件173是一個(gè)處理反射光束極化狀態(tài)的極化附屬元件，如果反射光束沒有克爾旋轉(zhuǎn)，光學(xué)元件173就在兩個(gè)正交極化狀態(tài)之間均衡光束強(qiáng)度。然后反射光束傳播到極化光束分光器180中，該分光器把光束分成為具有兩個(gè)極化狀態(tài)相對(duì)強(qiáng)度的兩束光。透鏡181和183分別把兩束聚焦在兩個(gè)光檢測(cè)器182和184上。差分放大器185檢測(cè)兩個(gè)光檢測(cè)器送來的信號(hào)之間的差值，如果盤130上被存取的光點(diǎn)的殘留極化是“北極”或顯示二進(jìn)制的1，那么反射光來的極化就被旋轉(zhuǎn)，然后由光學(xué)元件137處理這個(gè)“北極”旋轉(zhuǎn)的反射光束，射入光束的旋轉(zhuǎn)導(dǎo)致第1極化狀態(tài)下的光束強(qiáng)度增強(qiáng)，而第2極化狀態(tài)下的光束強(qiáng)度減弱。落在光檢測(cè)器182上的光強(qiáng)度增強(qiáng)，落在另一個(gè)光檢測(cè)器184上的光強(qiáng)度則變?nèi)??！澳蠘O”旋轉(zhuǎn)反射光束的效果相反，第1極化狀態(tài)下的強(qiáng)度和落在光檢測(cè)器182上的光束強(qiáng)度減弱，而第2極化狀態(tài)下和落在光檢測(cè)器184上的光束強(qiáng)度增強(qiáng)。放大器185把落在光檢測(cè)器182和184上的光強(qiáng)度之間的差值放大后產(chǎn)生一個(gè)反映反射光極化旋轉(zhuǎn)的信號(hào)，放大器185把產(chǎn)生的差值或數(shù)據(jù)重現(xiàn)信號(hào)送到數(shù)據(jù)電路175進(jìn)行檢測(cè)，被檢測(cè)的信號(hào)不僅包括被記錄的數(shù)據(jù)，而且還包括全部的所謂附屬信號(hào)等。此處所用的“數(shù)據(jù)”一詞包括任何和全部載有信息的信號(hào)，最好是數(shù)字型或離散值型的信號(hào)。
轉(zhuǎn)軸131的旋轉(zhuǎn)位置和轉(zhuǎn)速用合適的轉(zhuǎn)速表或輻射體傳感器190來檢測(cè)，傳感器190可以是任何檢測(cè)系統(tǒng)，如對(duì)地電容效應(yīng)系統(tǒng)上的檢測(cè)器或者檢測(cè)轉(zhuǎn)軸131的轉(zhuǎn)速輪(未示出)的暗點(diǎn)光點(diǎn)的光檢測(cè)型的傳感器等等。傳感器190把數(shù)字“轉(zhuǎn)速”信號(hào)送到RPS電路191檢測(cè)轉(zhuǎn)軸131的旋轉(zhuǎn)位置，并把載有旋轉(zhuǎn)信息的信號(hào)送到微處理器140。微處理器140把這種旋轉(zhuǎn)信號(hào)用來控制進(jìn)出盤130上的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)扇區(qū)，這種技術(shù)正如磁性數(shù)據(jù)存儲(chǔ)盤中廣泛采用的技術(shù)。另外，傳感器190的信號(hào)還被傳送到轉(zhuǎn)軸速度控制電路193，用以控制馬達(dá)132以恒定的轉(zhuǎn)速使轉(zhuǎn)軸131旋轉(zhuǎn)。眾所周知，控制電路193可以包括一個(gè)用來控制馬達(dá)132速度的晶體控制振蕩器。微處理器140以普通方式經(jīng)由連線194把控制信號(hào)送到控制電路193。
為了更好地控制裝、卸操作，用連線204直接把微處理器140與控制器11相互連接，而不用連接電路138。
塵埃、纖維屑、煙塵和其他空氣中懸浮的普通污染物都可能滲透到記錄器12中并沉降到光學(xué)元件暴露的表面上，物鏡145特別容易遭受這種污染，這種污染一旦產(chǎn)生在光學(xué)元件上，達(dá)到記錄盤130上和到達(dá)檢測(cè)器162及184上的光強(qiáng)度就減弱，從而降低了重放信號(hào)電平，嚴(yán)重影響讀、寫、尋跡和跟蹤性能，并會(huì)導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)器過早地?fù)p壞。
而且，如圖3中標(biāo)記為“A”的曲線所示，由于驅(qū)動(dòng)器中的污染是隨時(shí)間(由任意單位的水平軸表示的)而累積的，所以為了保持TES的峰一峰值為恒定的水準(zhǔn)，就要增大TES增益(以相對(duì)于基準(zhǔn)值100為任意單位的垂直軸所示)。然而，如果TES增益增加的超過基準(zhǔn)值20％或25％的話，就顯示驅(qū)動(dòng)污染過大，而且驅(qū)動(dòng)器很可能會(huì)出現(xiàn)故障。
作為污染程度的監(jiān)測(cè)內(nèi)容對(duì)其他信號(hào)也都進(jìn)行了測(cè)試，如激光器功率電流、相對(duì)位置偏離誤差值、激光器寫入功率、聚焦偏離誤差信號(hào)和跟蹤偏離誤差。這些信號(hào)對(duì)于由正常老化而引起的盤反射的變化可能是很敏感的。與此相反，業(yè)已發(fā)現(xiàn)由于污染程度的增大，TES增益增大很多，而且基本呈線性增長(zhǎng)。而且TES增益受檢測(cè)器162的元件上的衍射序數(shù)襯差的影響，但不受落在檢測(cè)器162上的光的總通量的影響。因此，TES增益對(duì)于載體表面反射率的變化(如由于老化可能產(chǎn)生的變化)是相對(duì)較敏感的?？傊?，TES增益已適用于驅(qū)動(dòng)器12和主處理器137之間的一條線路上。所以，TES增益可以簡(jiǎn)單而可靠地用作驅(qū)支動(dòng)器內(nèi)的污染程度的指標(biāo)而無需附加的檢測(cè)器或電路。
本發(fā)明監(jiān)測(cè)TES增益并把它與基準(zhǔn)值相比較。如圖3中標(biāo)注“B”的曲線所示，當(dāng)TES增益相對(duì)于基準(zhǔn)值達(dá)到一個(gè)預(yù)定量時(shí)，就顯示要清滌驅(qū)動(dòng)器中的光學(xué)元件(由曲線“B”隨TES增益減小形成的三個(gè)峰值表示)。因?yàn)椴皇球?qū)動(dòng)器中所有的光學(xué)表面都可以進(jìn)出清洗，所以TES增益并不減回到基準(zhǔn)值。因此，不能進(jìn)出的表面上的污染最終能達(dá)到引起驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生故障的程度，但是畢竟由于增益啟動(dòng)清洗的過程會(huì)使驅(qū)動(dòng)器的壽命得以延長(zhǎng)。
參照附圖4的流程圖來說明本發(fā)明的程序，該程序適用于數(shù)據(jù)庫(kù)外圍設(shè)備以及單獨(dú)的光學(xué)驅(qū)動(dòng)器。把光盤裝入驅(qū)動(dòng)器(步驟400)并確定該光盤是未記錄用戶數(shù)據(jù)的新盤還是事先已記錄用戶數(shù)據(jù)的舊盤(步驟402)；如果是新盤，則執(zhí)行軌跡搜尋(步驟404)以獲取TES增益基準(zhǔn)值(步驟406)；然后，把基準(zhǔn)TES增益存入存儲(chǔ)器中(步驟408)，該存儲(chǔ)器最好是光盤本身，但也可以用任何一種其他的非易失存儲(chǔ)器代替，其中包括非易失RAM、專用光盤(數(shù)據(jù)庫(kù)外圍設(shè)備中)或者磁盤；一旦存入基準(zhǔn)TES增益，驅(qū)動(dòng)器就進(jìn)行所要求的讀出或?qū)懭?步驟410)。
如果是一張舊盤(步驟402)，就從存儲(chǔ)器中獲取事先存入的基準(zhǔn)TES增益(步驟412)，并進(jìn)行讀或?qū)?步驟410)。
讀或?qū)懫陂g(步驟410)，驅(qū)動(dòng)器微處理器140(圖1)測(cè)量TES增益(步驟414)并經(jīng)由連接電路138把TES增益?zhèn)魉偷街魈幚砥?37。然后，進(jìn)行比較(步驟416)確定測(cè)得的TES增益是否已經(jīng)增大得高于相對(duì)基準(zhǔn)增益的特定量，例如已經(jīng)發(fā)現(xiàn)，在測(cè)得的TES增益超過基準(zhǔn)增益的大約125％時(shí)，如果驅(qū)動(dòng)器要發(fā)生故障，那么大約110％的激勵(lì)水準(zhǔn)就在過于頻繁清洗的不便與次數(shù)要求(如果激勵(lì)水準(zhǔn)設(shè)定得過于接近基準(zhǔn)值時(shí))和由于太頻繁的清洗可能造成驅(qū)動(dòng)器壽命減少(如果激勵(lì)水準(zhǔn)被設(shè)定得過于接近故障水準(zhǔn)時(shí))之間提供一個(gè)令人滿意的權(quán)衡。
如果測(cè)得的TES增益超過激勵(lì)水準(zhǔn)，就產(chǎn)生告警信號(hào)(步驟418)并要求清洗驅(qū)動(dòng)器。把當(dāng)時(shí)安裝的盤卸下來并把清洗盒裝在它的位置上(步驟420)，然后清洗可出入到清洗盒的那些光學(xué)表面(步驟422)；如果測(cè)得的TES增益仍然小于激勵(lì)水準(zhǔn)，那么繼續(xù)進(jìn)行讀或?qū)?步驟424)直到卸下該盤為止(步驟426)。
卸下清洗盒或光盤(步驟428)之后，可以裝入其他盤，這時(shí)程序返回到起始程序(步驟400)或者程序可以結(jié)束。
雖然以上參照優(yōu)選實(shí)施例詳細(xì)描述了本發(fā)明，但可以理解本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以在不背離本發(fā)明宗旨和范圍的情況下做出各種變形和細(xì)節(jié)的變化。
權(quán)利要求
1.一種光盤驅(qū)動(dòng)器，包括驅(qū)使光盤旋轉(zhuǎn)的驅(qū)動(dòng)馬達(dá)，該光盤安裝在驅(qū)動(dòng)馬達(dá)上并具有多條數(shù)據(jù)軌跡；用以射出光束的光源；具有用來把光束聚焦在光盤表面上的光學(xué)元件的光學(xué)傳感頭；和用來使所述光學(xué)傳感頭沿徑向穿越光盤表面的致動(dòng)器；其特征在于還包括用來接收從光盤表面反射出的第1部分光束并且用來產(chǎn)生重現(xiàn)記錄在光盤上的信息的第1信號(hào)的第1處理裝置；用來接收從光盤表面反射出的第2部分光束并且用來產(chǎn)生代表軌跡交錯(cuò)的第2信號(hào)的第2處理裝置；確定第2信號(hào)增益值的裝置；用來把被確定的第2信號(hào)增益值與存儲(chǔ)的基準(zhǔn)增益值相比較的裝置；和如果被確定的增益值超過基準(zhǔn)增益值的預(yù)定百分比時(shí)產(chǎn)生告警信號(hào)的裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的光盤驅(qū)動(dòng)器，其特征在于所述第2處理裝置包括產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)的裝置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2的光盤驅(qū)動(dòng)器，其特征在于所述的產(chǎn)生裝置包括接收第2部分反射光的光耦合象限檢測(cè)器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1的光盤驅(qū)動(dòng)器，其特征在于包括一個(gè)連接主機(jī)裝置和所述光盤驅(qū)動(dòng)器的小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口；所述產(chǎn)生報(bào)警信號(hào)的裝置包括通過小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口把跟蹤誤差信號(hào)增益發(fā)送到主機(jī)裝置的裝置。
5.根據(jù)權(quán)利要求1的光盤驅(qū)動(dòng)器，其特征在于包括一個(gè)隨告警信號(hào)的產(chǎn)生清洗至少所述光學(xué)檢測(cè)頭的一部分的裝置。
6.一種在光記錄裝置中監(jiān)測(cè)光學(xué)元件上污染集結(jié)的裝置，包括產(chǎn)生表示光盤上軌跡交錯(cuò)的跟蹤誤差信號(hào)的裝置；其特征在于包括將跟蹤誤差信號(hào)的增益值與預(yù)定值相比較的裝置；和如果增益值超過預(yù)定值時(shí)產(chǎn)生告警信號(hào)的裝置，該告警信號(hào)表示光記錄裝置中的光學(xué)元件上集結(jié)了過量的污染。
7.根據(jù)權(quán)利要求6的裝置，其特征在于產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)的裝置包括接收來自光源光束和從光盤表面反射來的光束的光耦合像限檢測(cè)器。
8.根據(jù)權(quán)利要求6的裝置，其特征在于包括隨著告警信號(hào)的產(chǎn)生清洗所說光學(xué)元件至少一部分的裝置。
9.根據(jù)權(quán)利要求6的裝置，其特征在于包括用以容易多張光盤的多個(gè)可尋址儲(chǔ)盤箱；用以在儲(chǔ)盤箱和所述光學(xué)記錄裝置之間傳送選定的一張光盤的存取器；和與主處理裝置、所述光學(xué)記錄器和所述存取器相連接的控制器，該控制器包括為每張光盤確定并存儲(chǔ)跟蹤誤差信號(hào)增益的預(yù)定值的裝置。
10.根據(jù)權(quán)利要求6的裝置，其特征在于包括把光學(xué)記錄裝置與主機(jī)裝置連接的接口，所述產(chǎn)生告警信號(hào)的裝置包括通過所述接口把跟蹤誤差信號(hào)增益值發(fā)送到主機(jī)裝置的裝置。
11.根據(jù)權(quán)利要求10的裝置，其特征在于所述接口由一個(gè)小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口裝置構(gòu)成。
12.根據(jù)權(quán)利要求6的裝置，其特征在于包括在首次把光盤裝入光記錄裝置時(shí)測(cè)量光盤的跟蹤誤差信號(hào)的初始增益值的裝置；和用來存儲(chǔ)作為預(yù)定值的初始增益值的存儲(chǔ)裝置。
13.根據(jù)權(quán)利要求12的裝置，其特征在于所述的存儲(chǔ)裝置由光盤構(gòu)成。
14.根據(jù)權(quán)利要求12的裝置，其特征在于所述存儲(chǔ)裝置由非易失存儲(chǔ)裝置構(gòu)成。
15.根據(jù)權(quán)利要求12的裝置，其特征在于所述存儲(chǔ)裝置由磁盤構(gòu)成。
16.一種監(jiān)測(cè)光學(xué)記錄裝置中的光學(xué)元件上污染集結(jié)的方法，包括如下步驟在裝入光學(xué)記錄裝置的光盤上開始尋跡；產(chǎn)生表示軌跡交錯(cuò)的跟蹤誤差信號(hào)；確定跟蹤誤差信號(hào)的增益值；將被確定的增益值與基準(zhǔn)增益值相比較；和如果確定的增益值超過相對(duì)基準(zhǔn)增益值的預(yù)定值，產(chǎn)生告警信號(hào)，該告警信號(hào)表示光學(xué)記錄裝置中的光學(xué)元件上集結(jié)了過量的污染物。
17.根據(jù)權(quán)利要求16的方法，其特征在于在所說的起始步驟前包括下述步驟把未曾記錄過的光盤裝在光學(xué)記錄裝置；測(cè)量跟蹤誤差信號(hào)的初始增益；以及把初始增益作為基準(zhǔn)增益值存入存儲(chǔ)裝置。
18.根據(jù)權(quán)利要求16的方法，其特征在于包括應(yīng)答于告警信號(hào)為清洗光學(xué)元件把清洗裝置裝入光學(xué)記錄裝置的步驟。
19.根據(jù)權(quán)利要求16的方法，其特征在于所述的產(chǎn)生告警信號(hào)的步驟包括如果確定的增益值超過大約基準(zhǔn)增益值的110％就產(chǎn)生告警信號(hào)。
20.根據(jù)權(quán)利要求16的方法，其特征在于包括通過小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口裝置把跟蹤誤差信號(hào)發(fā)送到主機(jī)裝置的步驟。
21.一種自動(dòng)光學(xué)存儲(chǔ)和檢索系統(tǒng)，包括光盤驅(qū)動(dòng)器；用以容納多張光記錄盤的多個(gè)可尋址儲(chǔ)盤箱；用以在各儲(chǔ)盤箱和所述驅(qū)動(dòng)器之間傳送選定的一張光記錄盤的存取器；和與主機(jī)裝置、所述驅(qū)動(dòng)器及所述存取器連接的數(shù)據(jù)庫(kù)控制器；所述驅(qū)動(dòng)器具有用來驅(qū)使光盤旋轉(zhuǎn)的驅(qū)動(dòng)馬達(dá)，該光盤裝于馬達(dá)上并具有多條數(shù)據(jù)軌跡；光學(xué)系統(tǒng)，它具有用以發(fā)射光束的光源、具有把光束聚焦在光盤表面上的光學(xué)元件的光傳感頭和檢測(cè)來自盤表面的反射光的檢測(cè)器；沿徑向穿越盤表面?zhèn)魉退龉鈧鞲蓄^的致動(dòng)器；其特征在于所述的數(shù)據(jù)庫(kù)控制器具有將測(cè)得的跟蹤誤差信號(hào)增益值與預(yù)定的基準(zhǔn)增益值相比較的裝置；和如果跟蹤誤差信號(hào)增益值超過基準(zhǔn)增益值的預(yù)定的相對(duì)量時(shí)產(chǎn)生告警信號(hào)的裝置。
22.根據(jù)權(quán)利要求21的系統(tǒng)，其特征在于包括在光盤未被記錄時(shí)測(cè)量被選定的光盤的跟蹤誤差信號(hào)的基準(zhǔn)增益值的裝置和存儲(chǔ)基準(zhǔn)增益值的裝置。
23.根據(jù)權(quán)利要求22的系統(tǒng)，其特征在于所述的存儲(chǔ)裝置由選定的光盤構(gòu)成。
24.根據(jù)權(quán)利要求21的系統(tǒng)，其特征在于包括把所述的數(shù)據(jù)庫(kù)控制器與所述光盤驅(qū)動(dòng)器相連接的小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口裝置。
25.根據(jù)權(quán)利要求21的系統(tǒng)，其特征在于包括儲(chǔ)放在一個(gè)所述儲(chǔ)盤箱中的清潔盒。
全文摘要
本發(fā)明提供一種用來檢測(cè)光學(xué)存儲(chǔ)裝置中污染程度并在污染超過相對(duì)于基準(zhǔn)值的預(yù)定量值時(shí)用來發(fā)出信號(hào)的裝置和方法。監(jiān)測(cè)光學(xué)驅(qū)動(dòng)器的跟蹤誤差信號(hào)增益并把它與基準(zhǔn)增益相比較，然后，當(dāng)實(shí)際測(cè)得的增益超過相對(duì)于基準(zhǔn)增益的預(yù)定水準(zhǔn)時(shí)產(chǎn)生告警信號(hào)，隨后可以把清洗裝置裝入存儲(chǔ)裝置和被清洗的光學(xué)元件。
文檔編號(hào)G11B7/12GK1130285SQ9411577
公開日1996年9月4日 申請(qǐng)日期1994年8月23日 優(yōu)先權(quán)日1993年9月23日
發(fā)明者普拉維恩·阿薩納 申請(qǐng)人:國(guó)際商業(yè)機(jī)器公司