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      集成電路的時(shí)鐘電路的制作方法

      文檔序號(hào):7536142閱讀:322來源:國(guó)知局
      專利名稱:集成電路的時(shí)鐘電路的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明是關(guān)于具有時(shí)鐘電路的集成電路,其可容忍諸如溫度、接地噪聲、電源噪聲 等變異。
      背景技術(shù)
      集成電路的時(shí)鐘電路的運(yùn)作會(huì)隨溫度、接地噪聲、電源噪聲等因子而有變異。由于 這些變異會(huì)影響輸出時(shí)鐘信號(hào)的最終時(shí)序,已有多項(xiàng)研究進(jìn)行期能針對(duì)此一問題,在上述 變異存在的情況下,產(chǎn)生較均勻的輸出時(shí)鐘信號(hào)。舉例而言,Gaboury的美國(guó)專利第7,142,005號(hào)利用增加具有主動(dòng)負(fù)載的緩沖電 路、獨(dú)立偏壓電路系統(tǒng)、以及偏壓電路系統(tǒng)的方式,來隔離電源波動(dòng)對(duì)時(shí)鐘信號(hào)的影響。為 了達(dá)成隔離電源波動(dòng)對(duì)時(shí)鐘信號(hào)的影響,這些相對(duì)復(fù)雜的緩沖電路造成晶粒面積與成本的 大幅增加。因此產(chǎn)生需求,希望能夠解決這些變異問題,但采用較不復(fù)雜的結(jié)構(gòu)與較少的成 本。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明是提供一種具有時(shí)鐘集成電路的裝置的技術(shù)。此時(shí)鐘集成電路具有一栓鎖器,產(chǎn)生該時(shí)鐘集成電路的一時(shí)鐘信號(hào)輸出。該栓鎖 器包含交互耦接的邏輯門,如此該栓鎖器中的該交互耦接的邏輯門的輸出與該栓鎖器中的 該交互耦接的不同邏輯門的輸入耦接。此時(shí)鐘集成電路也具有一時(shí)序電路與該栓鎖器的一輸出耦接,該時(shí)序電路的一輸 出在一第一參考信號(hào)與一第二參考信號(hào)之間切換,該切換的一速率是由一與溫度相關(guān)的時(shí) 間常數(shù)來決定。該時(shí)序電路的該輸出決定該時(shí)鐘信號(hào)輸出的時(shí)序。此時(shí)鐘集成電路也具有一反相電路,比較該時(shí)序電路的一輸出與一溫度補(bǔ)償參考 值,如此該時(shí)鐘集成電路的該時(shí)鐘信號(hào)輸出的該時(shí)序可以抵擋溫度變動(dòng),該反相電路的一 輸出與該栓鎖器的一輸入耦接。在某些實(shí)施例中,該時(shí)間常數(shù)是一指數(shù)信號(hào)。在某些實(shí)施例中,該第一參考信號(hào)是一第一參考電壓,該第二參考信號(hào)是一第二 參考電壓,且該時(shí)序電路在自該第一參考電壓充電至該第二參考電壓的狀態(tài)與自該第二參 考電壓放電至該第一參考電壓的狀態(tài)之間切換。在某些實(shí)施例中,該第一參考信號(hào)是一第一參考電壓,該第二參考信號(hào)是一第二 參考電壓,且該時(shí)序電路,響應(yīng)至該反相電路,在自該第一參考電壓充電至該第二參考電壓 的狀態(tài)與自該第二參考電壓放電至該第一參考電壓的狀態(tài)之間切換。其中該反相電路的該 溫度補(bǔ)償觸發(fā)點(diǎn)是一第三參考電壓,其隨著溫度增加而降低。在一實(shí)施例中,該反相電路的 該溫度補(bǔ)償觸發(fā)點(diǎn)是由一溫度補(bǔ)償電源所產(chǎn)生。本發(fā)明的另一目的為提供一種具有時(shí)鐘集成電路的裝置,將反相器以施密特觸發(fā)電路取代。本發(fā)明的又一目的為提供一種具有時(shí)鐘集成電路的裝置,將反相器以運(yùn)算放大器 電路取代,且加上一個(gè)電流產(chǎn)生器型的參考電路,產(chǎn)生該溫度補(bǔ)償參考值。在許多不同的實(shí)施例中,該電流產(chǎn)生器型的參考電路是一電流產(chǎn)生器及一電阻特 性裝置,包含一電阻、二極管及一金氧半晶體管的任一;且某些其它的裝置如一具有與溫度 反比(CTAT)特性及與溫度正比(PTAT)特性至少之一者的裝置。本發(fā)明的再一目的為提供一種具有時(shí)鐘集成電路的裝置,包含一栓鎖器產(chǎn)生該時(shí) 鐘集成電路的一時(shí)鐘信號(hào)輸出。該栓鎖器包含一第一邏輯門及一第二邏輯門彼此交互耦 接。該第一邏輯門的一輸出與該第二邏輯門的一第一輸入耦接。該第二邏輯門的一輸出與 該第一邏輯門的一第一輸入耦接。該第二邏輯門的該輸出與該第一邏輯門的一第二輸入經(jīng) 由至少一第一時(shí)序電路及一第一反相器耦接。該第一邏輯門的該輸出與該第二邏輯門的一 第二輸入經(jīng)由至少一第二時(shí)序電路及一第二反相器耦接。該第一時(shí)序電路具有一輸出在一第一參考信號(hào)與一第二參考信號(hào)之間以一第一 速率切換,該第一速率是由一與溫度相關(guān)的第一時(shí)間常數(shù)來決定。該第二時(shí)序電路具有一輸出在該第一參考信號(hào)與該第二參考信號(hào)之間以一第二 速率切換,該第二速率是由一與溫度相關(guān)的一第二時(shí)間常數(shù)來決定。該第一時(shí)序電路及該第二時(shí)序電路的該些輸出決定該時(shí)鐘信號(hào)輸出的時(shí)序。該第一反相器比較該第一時(shí)序電路的一輸出與一第一溫度補(bǔ)償參考值,其是該第 一反相器的一第一溫度補(bǔ)償觸發(fā)點(diǎn)。該第二反相器比較該第二時(shí)序電路的一輸出與一第二溫度補(bǔ)償參考值,其是該第 二反相器的一第二溫度補(bǔ)償觸發(fā)點(diǎn)。在一實(shí)施例中,該第一參考信號(hào)是一第一參考電壓,該第二參考信號(hào)是一第二參 考電壓,且該第一時(shí)序電路及該第二時(shí)序電路在自該第一參考電壓充電至該第二參考電壓 的狀態(tài)與自該第二參考電壓放電至該第一參考電壓的狀態(tài)之間切換。在一實(shí)施例中,該些 溫度補(bǔ)償參考值是一第三參考電壓,其隨著溫度增加而降低。在一實(shí)施例中,該第一及第二時(shí)間常數(shù)是一指數(shù)信號(hào)。在一實(shí)施例中,該第一及第二溫度補(bǔ)償參考值是自一共同參考電路產(chǎn)生。在一實(shí)施例中,該第一及第二溫度補(bǔ)償參考值是自不同的參考電路產(chǎn)生。本發(fā)明的另一目的為提供一種具有時(shí)鐘集成電路的裝置,將數(shù)組反相器以數(shù)組施 密特觸發(fā)電路取代。本發(fā)明的另一目的為提供一種具有時(shí)鐘集成電路的裝置,將數(shù)組反相器以數(shù)組運(yùn) 算放大器電路取代,且加上一個(gè)電流產(chǎn)生器型的參考電路,產(chǎn)生該溫度補(bǔ)償參考值。


      本發(fā)明是由申請(qǐng)專利范圍所界定。這些和其它目的,特征,和實(shí)施例,會(huì)在下列實(shí) 施方式的章節(jié)中搭配圖式被描述,其中圖1顯示一具有例如是溫度、接地電壓或是電源電壓變動(dòng)承受能力的集成電路時(shí) 鐘電路的方塊示意圖。圖2A和圖2B顯示一具有對(duì)溫度變動(dòng)承受能力的集成電路時(shí)鐘電路的電路示意
      5圖,其包含一反相電路以評(píng)估時(shí)序電路的輸出,其中圖2A具有電容性時(shí)序電路與地耦接而 圖2B具有電容性時(shí)序電路與電源耦接。圖2C顯示具有對(duì)溫度變動(dòng)承受能力的集成電路時(shí)鐘電路的電路示意圖,其與圖 2A類似,但是自一 PTAT電源接收電源而不是從CTAT電源。圖2D顯示一具有對(duì)溫度變動(dòng)承受能力的集成電路時(shí)鐘電路的電路示意圖,其包 含一施密特觸發(fā)電路以評(píng)估此時(shí)序電路的輸出。圖2E顯示一施密特觸發(fā)電路的示意圖,例如在圖2D中。圖3A和圖:3B顯示一具有對(duì)溫度變動(dòng)承受能力的集成電路時(shí)鐘電路的電路示意 圖,其包含一運(yùn)算放大器電路以通過比較輸出與一參考值來執(zhí)行時(shí)序電路輸出的準(zhǔn)位檢 測(cè),其中圖3A具有電容性時(shí)序電路與地耦接而圖:3B具有電容性時(shí)序電路與電源耦接。圖4A顯示準(zhǔn)位檢測(cè)電路的參考信號(hào)的電路示意圖,其包含一具有隨著溫度的增 加而減少電流輸出的PTAT電流源。圖4B顯示準(zhǔn)位檢測(cè)電路的參考信號(hào)的電路示意圖,其包含一具有隨著溫度的增 加而增加電流輸出的CTAT電流源。圖4C顯示準(zhǔn)位檢測(cè)電路的參考信號(hào)的電路示意圖,其包含一具有隨著溫度的增 加而減少電流輸出的PTAT電流源,且還具有一電容器與一電流鏡的負(fù)載電阻并聯(lián)。圖4D是一電流發(fā)生器的示意圖,其根據(jù)參考電路自PMOS裝置提供PTAT電流。圖4E是一電流發(fā)生器的示意圖,其根據(jù)參考電路自NMOS裝置提供PTAT電流。圖4F是一電流發(fā)生器的示意圖,其根據(jù)參考電路自PMOS裝置提供CTAT電流。圖4G是一電流發(fā)生器的示意圖,其根據(jù)參考電路自NMOS裝置提供CTAT電流。圖5A顯示準(zhǔn)位檢測(cè)電路的參考信號(hào)的電路示意圖,其包含一具有隨著溫度的增 加而降低電流輸出的電流源,及一隨著溫度的增加而降低的輸出。圖5B顯示準(zhǔn)位檢測(cè)電路的參考信號(hào)的電路示意圖,其包含一具有隨著溫度的增 加而增加電流輸出的電流源,及一隨著溫度的增加而增加的輸出。圖5C顯示準(zhǔn)位檢測(cè)電路的參考信號(hào)的電路示意圖,其包含一具有隨著溫度的增 加而降低電流輸出的電流源,及一隨著溫度的增加而增加的輸出。圖5D顯示如同圖5C的準(zhǔn)位檢測(cè)電路的參考信號(hào)的電路示意圖,但是包含一具有 隨著溫度的增加而增加電流輸出的電流源。圖5E是圖5C電路的一個(gè)變異,其中CTAT_I定電流源526由電阻RES5M所取代。圖6A顯示一組時(shí)間與上升大小關(guān)系的軌跡曲線,其顯示此時(shí)鐘電路是如何具有 溫度變動(dòng)承受能力,其產(chǎn)生時(shí)鐘時(shí)序可以隨著溫度的改變而大幅地改變。圖6B顯示一組時(shí)間與上升大小關(guān)系的軌跡曲線,其顯示此時(shí)鐘電路是如何具有 溫度變動(dòng)承受能力,因?yàn)槭褂脠D2到圖5中所示的電路,其產(chǎn)生時(shí)鐘時(shí)序基本上不隨著溫度 的改變而改變。圖7A顯示一組時(shí)間與下降大小關(guān)系的軌跡曲線,其顯示此時(shí)鐘電路是如何具有 溫度變動(dòng)承受能力,其產(chǎn)生時(shí)鐘時(shí)序可以隨著溫度的改變而大幅地改變。圖7B顯示一組時(shí)間與下降大小關(guān)系的軌跡曲線,其顯示此時(shí)鐘電路是如何具有 溫度變動(dòng)承受能力,因?yàn)槭褂脠D2到圖5中所示的電路,其產(chǎn)生時(shí)鐘時(shí)序基本上不隨著溫度 的改變而改變。
      圖8A和圖8B顯示一具有對(duì)接地噪聲變動(dòng)承受能力的集成電路時(shí)鐘電路的電路示 意圖,其包含一晶體管選擇性的與接地噪聲耦接,以作為此時(shí)序電路輸出的準(zhǔn)位檢測(cè)的參 考信號(hào)的一部分,其中圖8A具有電容性時(shí)序電路與地耦接而圖8B具有電容性時(shí)序電路與 電源耦接。圖9為一組電壓與時(shí)間的關(guān)系圖,其顯示此時(shí)鐘電路是如何具有對(duì)接地噪聲變動(dòng) 的承受能力,其產(chǎn)生時(shí)鐘時(shí)序可以對(duì)隨著時(shí)間改變的接地噪聲而大幅地改變。圖10為一組電壓與時(shí)間的關(guān)系圖,其顯示此時(shí)鐘電路是如何具有對(duì)接地噪聲變 動(dòng)的承受能力,其因?yàn)閳D8中的電路而可以在對(duì)隨著時(shí)間改變的接地噪聲中產(chǎn)生相對(duì)穩(wěn)定 的時(shí)鐘時(shí)序。圖IlA和圖IlB顯示一具有對(duì)電源噪聲變動(dòng)承受能力的集成電路時(shí)鐘電路的電路 示意圖,其包含一晶體管與時(shí)序電路電源的電源噪聲及時(shí)序電路輸出的準(zhǔn)位檢測(cè)的參考信 號(hào)的電源噪聲共同分享的噪聲相位,其中圖IlA具有電容性時(shí)序電路與地耦接而圖IlB具 有電容性時(shí)序電路與電源耦接。圖12顯示一電源電路的電路圖,其與時(shí)序電路電源的電源噪聲及時(shí)序電路輸出 的準(zhǔn)位檢測(cè)的參考信號(hào)的電源噪聲分享相同的噪聲相位。圖13為一組電壓與時(shí)間的關(guān)系圖,其顯示因?yàn)槿鐖D11或圖12中的電路關(guān)系,如 何在時(shí)序電路電源與使用于時(shí)序電路輸出的準(zhǔn)位檢測(cè)的參考信號(hào)之間具有相同的噪聲相 位。圖14為一組電壓與時(shí)間的關(guān)系圖,其顯示此時(shí)鐘電路是如何具有對(duì)電源噪聲變 動(dòng)的承受能力,其可以在對(duì)隨著時(shí)間大幅改變的電源噪聲中產(chǎn)生時(shí)鐘時(shí)序。圖15為一組電壓與時(shí)間的關(guān)系圖,其顯示此時(shí)鐘電路是如何具有對(duì)電源噪聲變 動(dòng)的承受能力,其因?yàn)閳D11和圖12中的電路而可以在對(duì)隨著時(shí)間大幅改變的電源噪聲中 產(chǎn)生相對(duì)穩(wěn)定的時(shí)鐘時(shí)序。圖16A和圖16B顯示一具有對(duì)電源噪聲變動(dòng)承受能力的集成電路時(shí)鐘電路的電路 示意圖,其包含一晶體管與時(shí)序電路電源的電源噪聲及時(shí)序電路輸出的準(zhǔn)位檢測(cè)的參考信 號(hào)的電源噪聲共同分享的噪聲相位,與圖11類似,且增加了切換電路,例如在電源開啟時(shí) 以選擇性地繞過此噪聲容忍電路。圖17是可應(yīng)用本發(fā)明具有改良集成電路時(shí)鐘電路的一存儲(chǔ)電路的方塊示意圖。圖18為一電路圖,其類似于圖16,顯示一具有對(duì)電源噪聲變動(dòng)承受能力的集成電 路時(shí)鐘電路的電路示意圖,且還包含切換電路介于參考產(chǎn)生器及運(yùn)算放大器之間。主要元件符號(hào)說明102時(shí)序電路104準(zhǔn)位切換電路106栓鎖電路108回授信號(hào)110時(shí)鐘信號(hào)112準(zhǔn)位切換參考值114時(shí)序電路參考值116產(chǎn)生具有信的溫度補(bǔ)償準(zhǔn)位切換參考值及時(shí)序電路參考值的電路118 選擇性地與噪聲耦接的電路 202A、202B、302A、302B、802A、802B 1102A、1102B、1602A、1602B 204A.204B
      206、306、806、1106、1606
      210A 禾口 210B
      304A、304B、804A、804B
      1104A、1104B、1604A、1604B
      422,522
      816A、816B
      時(shí)序電路 時(shí)序電路 反相電路 栓鎖電路
      施密特觸發(fā)電路 準(zhǔn)位切換電路 準(zhǔn)位切換電路 電源調(diào)節(jié)器 準(zhǔn)位切換參考電路
      1116A、1116B 時(shí)序電源及準(zhǔn)位切換參考值產(chǎn)生器
      1234
      參考信號(hào)REF_0P
      電源
      金氧半場(chǎng)效晶體管 時(shí)序電源 準(zhǔn)位切換參考值 電源及參考值 時(shí)序電源及準(zhǔn)位切換參考值產(chǎn)生器 1620A、1620B、1620C、1620D切換開關(guān)
      1700集成電路 存儲(chǔ)器陣列
      字符線/區(qū)塊選取譯碼器及驅(qū)動(dòng)器 字符線 位線譯碼器 位線 1722、1726 總線
      1724感應(yīng)放大器與數(shù)據(jù)輸入結(jié)構(gòu) 數(shù)據(jù)輸入線 數(shù)據(jù)輸出線
      偏壓調(diào)整供應(yīng)電壓電流源 狀態(tài)機(jī)構(gòu)及時(shí)鐘電路
      1236 1238
      1246,1301 1248、1302 1303
      1616AU616B
      1712 1714 1716 1718 1720
      1728 1732 1736 173具體實(shí)施例方式圖1顯示一具有例如是溫度、接地電壓或是電源電壓變動(dòng)承受能力的集成電路時(shí) 鐘電路的方塊示意圖。此集成電路時(shí)鐘電路通常是一回路結(jié)構(gòu),具有時(shí)序電路102、準(zhǔn)位切換電路104及 栓鎖電路栓鎖電路106。此栓鎖電路栓鎖電路106產(chǎn)生一自栓鎖電路栓鎖電路106至?xí)r序 電路102的回授信號(hào),及一時(shí)鐘輸出信號(hào)110。此時(shí)序電路102根據(jù)一時(shí)間常數(shù)在兩個(gè)參 考信號(hào)之間切換。此時(shí)間常數(shù)因此決定了此集成電路時(shí)鐘電路的時(shí)序。一個(gè)典型的時(shí)間常數(shù)范例為一指數(shù)時(shí)間常數(shù),其將一 RC電路或是RL電路的上升及下降時(shí)間特征化。此準(zhǔn)位 切換電路監(jiān)控時(shí)序電路102的輸出,且根據(jù)此時(shí)序電路102是否足夠高或低來改變其輸出。 栓鎖電路106的范例為SR栓鎖器、SR NAND栓鎖器、JK栓鎖器、閘式SR栓鎖器、閘式D栓鎖 器、閘式觸發(fā)栓鎖器等。此栓鎖電路電路106具有兩個(gè)穩(wěn)定狀態(tài)且在這兩個(gè)穩(wěn)定狀態(tài)之間 切換以產(chǎn)生一時(shí)鐘輸出信號(hào)110。時(shí)序電路102所依賴的兩個(gè)參考信號(hào)是由電路116所產(chǎn)生,其也會(huì)產(chǎn)生準(zhǔn)位切換 電路104所依賴的準(zhǔn)位切換參考信號(hào)。通過同時(shí)為時(shí)序電路102產(chǎn)生所依賴的參考信號(hào)及 為準(zhǔn)位切換電路104產(chǎn)生所依賴的準(zhǔn)位切換參考信號(hào),電路116可以減少為時(shí)序電路102 所依賴的參考信號(hào)及為準(zhǔn)位切換電路104所依賴的準(zhǔn)位切換參考信號(hào)共享的噪聲信號(hào)的 噪聲相位。因?yàn)槿魏卧肼曄辔皇呛苄〉模藭r(shí)序電路102所依賴參考信號(hào)中的噪聲信號(hào)的 峰值與谷值是與準(zhǔn)位切換電路104所依賴準(zhǔn)位切換參考信號(hào)中的噪聲信號(hào)的峰值與谷值 同步。準(zhǔn)位切換電路(level switching circuit) 104所依賴的準(zhǔn)位切換參考信號(hào) (level switching reference signal) 112,由電路118選取將其與準(zhǔn)位切換電路104耦 接。在某些實(shí)施例中,這會(huì)作為一采樣而保持住接地噪聲,所以相同的接地噪聲會(huì)由時(shí)序電 路102所保持住,且會(huì)由準(zhǔn)位切換電路104所依賴的準(zhǔn)位切換參考電路所保持住。雖然此處所示的方塊圖可以解決溫度、接地電壓或是電源電壓的變動(dòng)問題,但是 本發(fā)明不同實(shí)施例中的一改良時(shí)鐘電路僅解決這些變動(dòng)參數(shù)的其中之一而已(例如僅針 對(duì)溫度噪聲、僅針對(duì)接地電壓噪聲或是僅針對(duì)電源電壓噪聲),或是這些變動(dòng)參數(shù)的其中之 二而已(例如僅針對(duì)溫度和電源電壓噪聲、僅針對(duì)溫度和接地電壓噪聲或是僅針對(duì)電源 電壓和接地電壓噪聲)。圖2A和圖2B顯示一具有對(duì)溫度變動(dòng)承受能力的集成電路時(shí)鐘電路的電路示意 圖,其包含一反相電路以評(píng)估時(shí)序電路的輸出。圖式中顯示平行放置的時(shí)序電路202A和202B,平行放置的反相電路204A和 204B,以及一栓鎖電路206。此時(shí)序電路202A和202B通常是一具有電阻RX或RY的反相 器,自電容CX或CY進(jìn)行充電或放電,以改變OX或OY的輸出電壓。圖2A顯示一實(shí)施例,其中電容CX或CY是與一共同接地耦接。雖然圖式中并未明 示所有可能的變化,本發(fā)明的技術(shù)包含所有實(shí)施例中具有電容CX或CY的時(shí)序電路,其中時(shí) 序電路可以修改為將電容CX或CY是與一共同接地耦接。在一實(shí)施例中,電容CX或CY實(shí)際上是一 PMOS晶體管具有相反的端點(diǎn)與反相器的 共同接地端解除耦接。圖2B顯示一實(shí)施例,其中電容CX或CY是與一共同電源耦接。雖然圖式中并未明 示所有可能的變化,本發(fā)明的技術(shù)包含所有實(shí)施例中具有電容CX或CY的時(shí)序電路,其中時(shí) 序電路可以修改為將電容CX或CY是與一共同電源耦接。在一實(shí)施例中,電容CX或CY實(shí)際上是一 PMOS晶體管具有相反的端點(diǎn)與反相器的 共同電源端解除耦接。此反相電路204A和204B由一 CTAT電源或是一與溫度成反比的電源,其會(huì)隨著溫 度的增加而降低,來驅(qū)動(dòng)。此反相器是與運(yùn)算放大器版本十分不同。在運(yùn)算放大器版本中,一 Vref與時(shí)序電路的輸出(如RC電路的上升/下降)進(jìn)行比較。而在反相器版本中,此反相器的電源被控 制,以改變此反相器的行程且因此檢測(cè)時(shí)序電路的輸出(如RC電路的上升/下降)。在此 反相器版本中,一個(gè)額外關(guān)于電源與反相器行程的溫度關(guān)系受到重視。此反相器相較于運(yùn)算放大器版本具有以下的優(yōu)點(diǎn)(1)較低的工作電壓VDD ; (2) 較小的電路尺寸(反相器僅有兩個(gè)金氧半晶體管而運(yùn)算放大器具有五個(gè)或以上的金氧半 晶體管);(3)較簡(jiǎn)單的設(shè)計(jì);(4)較低的主動(dòng)電流(反相器具有一個(gè)電流路徑,而運(yùn)算放大 器具有兩個(gè)或三個(gè)電流路徑及包含一個(gè)額外的電流鏡);及(5)較高的工作速度(反相器 具有一個(gè)階段的延遲,而運(yùn)算放大器具有兩個(gè)或三個(gè)階段的延遲)。此栓鎖電路206是交互耦接的,如此一邏輯門的輸出與另一邏輯門的輸入耦接。 一邏輯門的一輸入是直接與另一邏輯門的輸出耦接,此一邏輯門的另一輸入是直接與另一 邏輯門的輸出經(jīng)過時(shí)序電路與準(zhǔn)位檢測(cè)電路而耦接。圖2C顯示時(shí)序電路的另一實(shí)施例。雖然大部分與圖2A類似,在圖2C中平行放置 的時(shí)序電路202A和202B是由一 PTAT電源或是一與溫度成正比的電源,其會(huì)隨著溫度的增 加而增加,來驅(qū)動(dòng)。雖然圖式中并未明示所有可能的變化,本發(fā)明的技術(shù)包含所有實(shí)施例中 具有CTAT電源的時(shí)序電路,其中CTAT電源可以由PTAT電源來取代。類似地,雖然圖式中并未明示所有可能的變化,本發(fā)明的技術(shù)包含所有實(shí)施例中 具有PTAT電源的時(shí)序電路,其中PTAT電源可以由CTAT電源來取代。圖2D顯示一具有對(duì)溫度變動(dòng)承受能力的集成電路時(shí)鐘電路的電路示意圖,其包 含一施密特觸發(fā)電路以評(píng)估此時(shí)序電路的輸出。雖然圖2B類似,在圖2D中的準(zhǔn)位切換電路210A和210B的施密特觸發(fā)電路是由 一 CTAT電源來驅(qū)動(dòng),且包含具有通過電阻的封閉回路正回授的運(yùn)算放大器。圖2E顯示一施密特觸發(fā)電路的示意圖。圖3顯示一具有對(duì)溫度變動(dòng)承受能力的集成電路時(shí)鐘電路的電路示意圖,其包含 一運(yùn)算放大器電路以通過比較輸出與一參考值來執(zhí)行時(shí)序電路輸出的準(zhǔn)位檢測(cè)。圖式中顯示平行放置的時(shí)序電路302A和302B,平行放置的準(zhǔn)位切換電路304A和 304B,以及一栓鎖電路306。此準(zhǔn)位切換電路304A和304B是一運(yùn)算放大比較器具有一參考 電壓CTAT_REF。除此之外,此時(shí)鐘電路大致與圖2A類似。圖4A顯示準(zhǔn)位檢測(cè)電路(level detecting circuit)的參考信號(hào)的電路示意圖, 其包含一具有隨著溫度的增加而增加電流輸出的電流源。圖4A顯示出依賴準(zhǔn)位檢測(cè)電路的CTAT電源信號(hào)是如何產(chǎn)生的,在此圖中顯示為 CTAT_REF 428。一個(gè)定量輸出的PTAT_I電流源426,會(huì)自電源調(diào)節(jié)器422經(jīng)過電阻RES 424 產(chǎn)生與溫度成正比的電流,隨著溫度的增加而增加。此電源調(diào)節(jié)器422會(huì)輸出與溫度無關(guān) 的定電壓。此調(diào)節(jié)電源提供一定電源且不會(huì)隨著VDD及溫度改變。舉例而言,此調(diào)節(jié)器的 輸出具有一能帶參考值。此輸出結(jié)果與溫度成反比,因?yàn)闇囟仍黾訒r(shí)跨越此電阻的壓降也 是增加,且此壓降下端的輸出端點(diǎn)的偏移則是減少。此電流源的一個(gè)范例顯示于圖4E。圖4B是圖4A電路的一個(gè)變異,其中PTAT_I定電流源426由CTAT_I定電流源430 所取代,且依賴準(zhǔn)位檢測(cè)電路的CTAT電源信號(hào)的CTAT_REF428由依賴準(zhǔn)位檢測(cè)電路的PTAT 電源信號(hào)的PTAT_REF 432所取代。此電流源的一個(gè)范例顯示于圖4G。圖4C是圖4A電路的一個(gè)變異,具有一旁路電容器434與電阻RES 424并聯(lián),以減
      10少噪聲。此外,此電流源包含一電流鏡。此電流源的一個(gè)范例顯示于圖4D。圖4D是一電流發(fā)生器的示意圖,其根據(jù)參考電路自PMOS裝置提供PTAT電流。圖4E是一電流發(fā)生器的示意圖,其根據(jù)參考電路自NMOS裝置提供PTAT電流。在圖4D與圖4E中,此電路使用介于兩個(gè)具有正比于溫度的相同電流NMOS晶體管 的delta_Vg。所以delta_Vg/電阻=PTAT_I。在圖4D與圖4E中,具有圓圈的兩個(gè)晶體管 是相同的。圖4F是一電流發(fā)生器的示意圖,其根據(jù)參考電路自PMOS裝置提供CTAT電流。圖4G是一電流發(fā)生器的示意圖,其根據(jù)參考電路自NMOS裝置提供CTAT電流。此處所描述的一個(gè)根據(jù)參考電路的電流發(fā)生器是較佳地,因?yàn)樵谠S多實(shí)施例中, 單一與溫度相關(guān)的參數(shù)可以被控制,而不是兩個(gè)與溫度相關(guān)的材料相關(guān)參數(shù),其具有不同 的溫度關(guān)聯(lián)性。圖5A顯示準(zhǔn)位檢測(cè)電路的參考信號(hào)的電路示意圖,其包含一具有隨著溫度的增 加而降低電流輸出的電流源。圖5A顯示出依賴準(zhǔn)位檢測(cè)電路的CTAT電源信號(hào)是如何產(chǎn)生的,在此圖中顯示為 CTAT_REF 528。一個(gè)定量輸出的PTAL_I電流源526,會(huì)自電源調(diào)節(jié)器522經(jīng)過電阻RES 524 產(chǎn)生與溫度成反比的電流,隨著溫度的增加而降低。此輸出結(jié)果與溫度成反比,因?yàn)闇囟仍?加時(shí)跨越此電阻的壓降也是減少,且此壓降上端的輸出端點(diǎn)的偏移也是減少。所示電流源的一個(gè)例示為一迭接電流源。圖5B、圖5C、圖5D和圖5E是產(chǎn)生參考電壓信號(hào)的其它范例。圖5B是圖5A電路的一個(gè)變異,其中CTAT_I定電流源526由PTAT_I定電流源530 所取代,且依賴準(zhǔn)位檢測(cè)電路的CTAT電源信號(hào)的CTAT_REF528由依賴準(zhǔn)位檢測(cè)電路的PTAT 電源信號(hào)的PTAT_REF 532所取代。圖5C是圖5A電路的一個(gè)變異,其中電阻RES 524是由二極管DIO 530所取代。此 電流源的一個(gè)范例顯示于圖4F。圖5D是圖5A電路的一個(gè)變異,其中CTAT_I定電流源526由PTAT_I定電流源530 所取代,且輸出端點(diǎn)的偏移自跨越此定電流源上端的壓降移至跨越此定電流源下端的壓 降。圖5E是圖5C電路的一個(gè)變異,其中CTAT_I定電流源526由電阻RES524所取代。圖6A顯示一組時(shí)間與大小關(guān)系的軌跡曲線,其顯示此時(shí)鐘電路是如何具有溫度 變動(dòng)承受能力,其產(chǎn)生時(shí)鐘時(shí)序可以隨著溫度的改變而大幅地改變。圖6A顯示一高溫、一低溫和一中等溫度的軌跡區(qū)間。溫度越低的話,則此時(shí)序電 路變得越快,且溫度越高的話,則此時(shí)序電路變得越慢。因?yàn)闀r(shí)序電路的共同參考信號(hào),此 時(shí)序電路在低溫時(shí)會(huì)較在高溫時(shí)更快抵達(dá)參考值。因此,此時(shí)鐘電路的時(shí)序在低溫時(shí)會(huì)較 在高溫時(shí)更快。圖6B顯示一組時(shí)間與大小關(guān)系的軌跡曲線,其顯示此時(shí)鐘電路是如何具有溫度 變動(dòng)承受能力,因?yàn)槭褂脠D2到圖5中所示的電路,其產(chǎn)生時(shí)鐘時(shí)序基本上不隨著溫度的改 變而改變。圖6B顯示一高溫、一低溫和一中等溫度的軌跡區(qū)間。如圖6A所示,溫度越低的話, 則此時(shí)序電路變得越快,且溫度越高的話,則此時(shí)序電路變得越慢。然而,因?yàn)閳D6B中使用不同的時(shí)序電路,是與圖6A中所使用的時(shí)序電路不同。雖然時(shí)序電路在低溫時(shí)會(huì)較在高溫 時(shí)更快抵達(dá)參考值,此時(shí)序電路的參考值也相對(duì)的更高。因此,此時(shí)鐘電路的時(shí)序顯示出很 小的溫度變動(dòng),而是導(dǎo)致此時(shí)鐘電路的速度變動(dòng)。圖7A和圖7B是其它的實(shí)施例,其顯示下降信號(hào)而不是圖6A和圖6B中的上升信 號(hào),但是仍顯示相同的時(shí)間常數(shù)。一時(shí)鐘信號(hào)是依賴圖6A和圖6B中的上升信號(hào)或是圖7A和圖7B中的下降信號(hào), 是根據(jù)電容CX或CY是與圖2A中的地耦接或是與圖2B中的電源耦接而定。圖8A和圖8B顯示一具有對(duì)接地噪聲變動(dòng)承受能力的集成電路時(shí)鐘電路的電路示 意圖,其包含一晶體管選擇性的與接地噪聲耦接,以作為此時(shí)序電路輸出的準(zhǔn)位檢測(cè)的參 考信號(hào)的一部分。圖式中顯示平行放置的時(shí)序電路802A和802B,平行放置的準(zhǔn)位切換電路804A和 804B,以及一栓鎖電路806。此準(zhǔn)位切換電路804A和804B選擇性的與來自準(zhǔn)位切換參考 電路816A和816B的接地噪聲耦接,且儲(chǔ)存于電容節(jié)點(diǎn)REF X或是REF Y,各自根據(jù)由信號(hào) ENX所開啟的切換晶體管818A及由信號(hào)ENY所開啟的切換晶體管818B的切換行為所決定。 此會(huì)作為一采樣而保持住接地噪聲,所以相同的接地噪聲會(huì)由時(shí)序電路802A或802B所保 持住,且會(huì)由準(zhǔn)位切換電路104所依賴的準(zhǔn)位切換參考電路的節(jié)點(diǎn)REF X或是REF Y所保 持住。在一實(shí)施例中,電容CX或CY實(shí)際上是一 PMOS晶體管具有相反的端點(diǎn)與共同電源 端解除耦接,此共同電源與RX或RY連接。當(dāng)ENX為高準(zhǔn)位時(shí)OX保持接地。之后,ENX變?yōu)榈蜏?zhǔn)位則關(guān)閉NMOS ;在此時(shí)接地 噪聲被保持在0X。假如噪聲是高準(zhǔn)位則預(yù)充電速度很快;假如噪聲是低準(zhǔn)位則預(yù)充電速度 很慢。此電路使得REFX或REFY在相同時(shí)間保持相同的接地噪聲。在圖8A中,此切換參考電路參考節(jié)點(diǎn)REFX或REFY,包括電容電路與地耦接。在圖 8B中,此切換參考電路參考節(jié)點(diǎn)REFX或REFY,包括電容電路與電源耦接。在不同的實(shí)施例中,準(zhǔn)位切換參考電路816A和816B可以是兩組不同的電路或是 同一組電路由平行放置的時(shí)序電路及多重準(zhǔn)位切換電路804A和804B所分享。圖9為一組電壓與時(shí)間的關(guān)系圖,其顯示此時(shí)鐘電路是如何具有對(duì)接地噪聲變動(dòng) 的承受能力,其產(chǎn)生時(shí)鐘時(shí)序可以對(duì)隨著時(shí)間改變的接地噪聲而大幅地改變。圖9顯示軌跡OX和OY是如何由接地噪聲,在此圖中為REF_L0信號(hào)所影響的。當(dāng) 接地噪聲有一峰值時(shí),則此時(shí)序電路會(huì)開始自REF_L0進(jìn)行充電至REF_HI的程序,導(dǎo)致時(shí)序 電路僅需較少的時(shí)間就可以自REF_L0充電至REF_HI。因此,此時(shí)鐘信號(hào)輸出910于此時(shí)鐘 周期中具有一較廣的變動(dòng)。當(dāng)ENX為高準(zhǔn)位時(shí),OX保持接地且電壓隨著接地噪聲而變動(dòng)。當(dāng)ENX為低準(zhǔn)位, 且關(guān)閉NM0S,則接地噪聲被保持在0X。但是參考準(zhǔn)位仍隨著接地噪聲而變動(dòng)。最壞的情況 是OX保持一高準(zhǔn)位的接地噪聲且于充電期間此參考電路承受一負(fù)的接地準(zhǔn)位;則此參考 值會(huì)遠(yuǎn)較預(yù)期為低。因此一類似取樣及保持結(jié)構(gòu)在REFX或REFY保持相同的接地噪聲。圖10為一組電壓與時(shí)間的關(guān)系圖,其顯示此時(shí)鐘電路是如何具有對(duì)接地噪聲變 動(dòng)的承受能力,其因?yàn)閳D8中的電路而可以在對(duì)隨著時(shí)間改變的接地噪聲中產(chǎn)生相對(duì)穩(wěn)定 的時(shí)鐘時(shí)序。
      圖10顯示軌跡OX和OY是如何由接地噪聲,在此圖中為REF_L0信號(hào)所影響的。當(dāng) 接地噪聲有一峰值或是其它的改變時(shí),則此峰值或是其它的改變會(huì)儲(chǔ)存于圖8中的電容節(jié) 點(diǎn)REF X或是REF Y。因?yàn)榻拥卦肼晫?duì)REF_L0信號(hào)的影響由取樣后保持參考電路來追蹤, 此準(zhǔn)位檢測(cè)電路是自準(zhǔn)位檢測(cè)參考電路與時(shí)序電路比較相同的接地噪聲。于接地噪聲被以 此取樣后保持的方式后,接地噪聲,其會(huì)繼續(xù)改變,自此取樣電路中解除耦接。因此,此時(shí)序 電路自REF_L0進(jìn)行充電至REF_HI的程序中并沒有一提前開始,雖然有著接地噪聲,此時(shí)序 電路仍需要相同的時(shí)間自REF_L0充電至REF_HI。因此,導(dǎo)致此時(shí)鐘信號(hào)輸出910于一廣泛 改變的接地噪聲下仍具有相同的時(shí)鐘周期。在另一實(shí)施例中,是將接地噪聲取樣后再于放電時(shí)將此接地噪聲與取樣電路解除 耦接,而不是如圖9和圖10中所示的于充電時(shí)將此接地噪聲與取樣電路解除耦接。此實(shí)施 例會(huì)造成額外的問題因?yàn)楸仨毥鉀Q自噪聲電源調(diào)節(jié)器所產(chǎn)生的電源噪聲問題。在另一實(shí)施例中(類似圖2C),此取樣及保持電路會(huì)保持電源噪聲而不是接地噪聲。圖IlA和圖IlB顯示一具有對(duì)電源噪聲變動(dòng)承受能力的集成電路時(shí)鐘電路的電路 示意圖,其包含一晶體管與時(shí)序電路電源的電源噪聲及時(shí)序電路輸出的準(zhǔn)位檢測(cè)的參考信 號(hào)的電源噪聲共同分享的噪聲相位。圖式中顯示平行放置的時(shí)序電路1102A和1102B,平行放置的準(zhǔn)位切換電路1104A 和1104B,以及一栓鎖電路1106。如圖所示也包含時(shí)序電源及準(zhǔn)位切換參考值產(chǎn)生器1116A 和1116B,其會(huì)產(chǎn)生與時(shí)序電路電源的電源噪聲及時(shí)序電路輸出的準(zhǔn)位檢測(cè)的參考信號(hào)的 電源噪聲相同的噪聲相位。在圖IlA中,此電容電路CX或CY與地耦接。在圖IlB中,此電容電路CX或CY與 電源1116A或1116B耦接。圖12顯示一電源電路的電路圖,其與時(shí)序電路電源的電源噪聲及時(shí)序電路輸出 的準(zhǔn)位檢測(cè)的參考信號(hào)的電源噪聲分享相同的噪聲相位。圖12顯示一電源1236來驅(qū)動(dòng)一運(yùn)算放大器1232。此運(yùn)算放大器在其非反相輸入 具有一參考信號(hào)REF_0P 1234。此REF_0P 1234的一個(gè)例示為一能隙參考電路于1. 3V。一 金氧半場(chǎng)效晶體管1238具有一邏輯門與運(yùn)算放大器1232的輸出耦接,一汲極與電源1236 耦接,及一源極與時(shí)序電源輸出1246耦接。時(shí)序電源輸出1246與準(zhǔn)位切換參考值1248由 電阻Rl 1240分隔。準(zhǔn)位切換參考值1248與運(yùn)算放大器1232的負(fù)回授點(diǎn)由電阻R2 1242 分隔。最后,電阻R3將此負(fù)回授點(diǎn)與地耦接。另一個(gè)實(shí)施例則使用浮接節(jié)點(diǎn)的電容耦合以維持時(shí)序電源輸出1246與準(zhǔn)位切換 參考值1248之間相同的噪聲相位,其中時(shí)序電源輸出1246與準(zhǔn)位切換參考值1248的一是 浮接的。雖然上述的實(shí)施例是特別為了維持時(shí)序電源輸出1246與準(zhǔn)位切換參考值1248之 間相同的噪聲相位所設(shè)計(jì)的,但是其它的設(shè)計(jì)中則不是如此。其它的設(shè)計(jì)中時(shí)序電源輸出 1246與準(zhǔn)位切換參考值1248之間為了以下的原因的一或多者而具有不同的噪聲相位(1) 因?yàn)榫Я5呐渲檬箙⒖茧娐凡⒉豢拷鼤r(shí)序電路;(2)調(diào)節(jié)器中的參考電路具有較VDD電源 為佳的電源供應(yīng)拒絕比例(PSRR);及(3)即使是RC電源具有電源調(diào)節(jié)器,因?yàn)椴煌妮敵?負(fù)載及轉(zhuǎn)變,一個(gè)噪聲相位差異仍會(huì)維持,且此電源調(diào)節(jié)器必須支持較大電流及較大的輸出轉(zhuǎn)變。圖13為一組電壓與時(shí)間的關(guān)系圖,其顯示因?yàn)槿鐖D11或圖12中的電路關(guān)系,如 何在時(shí)序電路電源與使用于時(shí)序電路輸出的準(zhǔn)位檢測(cè)的參考信號(hào)之間具有相同的噪聲相 位。圖13顯示的時(shí)序電路電源1301及使用于時(shí)序電路輸出1302的準(zhǔn)位檢測(cè)的參考 信號(hào)之間兩者的電源噪聲具有相同的噪聲相位。將軌跡1303放置于軌跡1301及1302的 上可以顯示此情況,雖然電源噪聲的大小是改變的,而軌跡1301及1302的電源噪聲的峰值 與谷值是同步的。圖14為一組電壓與時(shí)間的關(guān)系圖,其顯示此時(shí)鐘電路是如何具有對(duì)電源噪聲變 動(dòng)的承受能力,其可以在對(duì)隨著時(shí)間大幅改變的電源噪聲中產(chǎn)生時(shí)鐘時(shí)序。圖14顯示軌跡OX和OY是如何由電源噪聲1401所影響的。當(dāng)電源噪聲有一大幅 下降時(shí),則此時(shí)序電路會(huì)開始自REF_L0進(jìn)行充電至REF_HI的程序,導(dǎo)致時(shí)序電路僅需較 少的時(shí)間就可以自REF_L0充電至REF_HI。類似地,當(dāng)電源噪聲有一峰值時(shí),則此時(shí)序電路 自REF_L0進(jìn)行充電至REF_HI的程序會(huì)變得較慢,導(dǎo)致時(shí)序電路需要更多的時(shí)間才可以自 REF_L0充電至REF_HI。這些改變是自一穩(wěn)定(定值)的準(zhǔn)位切換參考值之后發(fā)生。因此, 此時(shí)鐘信號(hào)輸出1410于此時(shí)鐘周期中具有一較廣的變動(dòng)。圖15為一組電壓與時(shí)間的關(guān)系圖,其顯示此時(shí)鐘電路是如何具有對(duì)電源噪聲變 動(dòng)的承受能力,其因?yàn)閳D11和圖12中的電路而可以在對(duì)隨著時(shí)間大幅改變的電源噪聲中 產(chǎn)生相對(duì)穩(wěn)定的時(shí)鐘時(shí)序。圖15顯示軌跡OX和OY是如何由接地噪聲1401所影響的。與圖14不同的是,當(dāng) 電源噪聲1501有一峰值或是其它的變動(dòng)時(shí),則準(zhǔn)位切換參考值會(huì)有一同步的峰值或是其 它的變動(dòng)。雖然此峰值或是其它的變動(dòng)在此準(zhǔn)位切換參考值與電源噪聲相較會(huì)有一個(gè)較小 的大小,但是介于時(shí)序電路電源1501與準(zhǔn)位切換參考值的同步特性大幅地減少了時(shí)鐘信 號(hào)的變動(dòng)。因此,此時(shí)鐘信號(hào)輸出1510在接地噪聲具有較廣變動(dòng)的情況下仍具有一共同的 時(shí)鐘周期。圖16A和圖16B顯示一具有對(duì)電源噪聲變動(dòng)承受能力的集成電路時(shí)鐘電路的電路 示意圖,以切換此時(shí)鐘的電源。當(dāng)電源開啟時(shí),若是尚未達(dá)到穩(wěn)定電源且需要此VDD電源以 產(chǎn)生給邏輯電路的時(shí)鐘。邏輯電路會(huì)等待穩(wěn)定電源的設(shè)置時(shí)間。當(dāng)達(dá)到穩(wěn)定電源后,則此 時(shí)鐘切換至一穩(wěn)定時(shí)鐘。圖式中顯示平行放置的時(shí)序電路1602A和1602B,平行放置的準(zhǔn)位切換電路1604A 和1604B,以及一栓鎖電路1606。如圖所示也包含時(shí)序電源及準(zhǔn)位切換參考值產(chǎn)生器1616A 和1616B,其會(huì)產(chǎn)生與時(shí)序電路電源的電源噪聲及時(shí)序電路輸出的準(zhǔn)位檢測(cè)的參考信號(hào)的 電源噪聲相同的噪聲相位。圖示中也包含介于VDD與時(shí)序電源及準(zhǔn)位切換參考值產(chǎn)生器 1616A之間的切換開關(guān)1620A,介于VDD與時(shí)序電源及準(zhǔn)位切換參考值產(chǎn)生器1616B之間的 切換開關(guān)1620B,介于準(zhǔn)位切換電路1604A與栓鎖電路1606之間的切換開關(guān)1620C,及介于 準(zhǔn)位切換電路1604B與栓鎖電路1606之間的切換開關(guān)1620D。在圖16A中,此電容電路CX或CY與地耦接。在圖16B中,此電容電路CX或CY與 電源1616A或1616B耦接。圖17是可應(yīng)用本發(fā)明具有改良集成電路時(shí)鐘電路的一存儲(chǔ)電路的方塊示意圖。
      圖17是包含一存儲(chǔ)器陣列1712的集成電路1700的簡(jiǎn)要方塊示意圖。一字符線 /區(qū)塊選取譯碼器及驅(qū)動(dòng)器1714耦接至,且與其有著電性溝通,多條字符線1716及字符串 選擇線,其間是沿著存儲(chǔ)器陣列1712的列方向排列。一位線(行)譯碼器1718是耦接至 多條沿著存儲(chǔ)器陣列1712的行排列的位線1720,且與其有著電性溝通,以自讀取數(shù)據(jù),或 是寫入數(shù)據(jù)至,存儲(chǔ)器陣列1712的存儲(chǔ)器中。地址是通過總線1722提供至字符線和區(qū)塊 選擇譯碼器1714及位線譯碼器1718。感應(yīng)放大器與數(shù)據(jù)輸入結(jié)構(gòu)1724包含作為讀取、程 序化和抹除模式的電流源,是通過總線1726耦接至位線譯碼器1718。數(shù)據(jù)是由集成電路 1710上的輸入/輸出端口通過數(shù)據(jù)輸入線1728傳送至感應(yīng)放大器與數(shù)據(jù)輸入結(jié)構(gòu)1724的 數(shù)據(jù)輸入結(jié)構(gòu)。在此例示的實(shí)施例中,其它電路1730也包括在此集成電路1710內(nèi),例如通 用目的處理器或特殊用途電路,或是由此存儲(chǔ)器陣列所支持的組合模塊以提供單芯片系統(tǒng) 功能。數(shù)據(jù)是由感應(yīng)放大器與數(shù)據(jù)輸入結(jié)構(gòu)1724中的感應(yīng)放大器,通過數(shù)據(jù)輸出線1732, 傳送至集成電路1700上的輸入/輸出端或其它集成電路1700內(nèi)或外的數(shù)據(jù)目的地。狀態(tài) 機(jī)構(gòu)及改良時(shí)鐘電路(如此處所討論的)是于電路1734中。圖18為一電路圖,其類似于圖16,顯示一具有對(duì)電源噪聲變動(dòng)承受能力的集成電 路時(shí)鐘電路的電路示意圖,且還包含切換電路介于參考產(chǎn)生器及運(yùn)算放大器之間。如同圖 8所示,切換晶體管818A由信號(hào)ENX所開啟而切換晶體管818B由信號(hào)ENY所開啟。類似 于圖8,來自時(shí)序電源及準(zhǔn)位切換產(chǎn)生器1616A和1616B的接地噪聲是儲(chǔ)存于電容性節(jié)點(diǎn) REFX或REFY之中。雖然本發(fā)明是已參照實(shí)施例來加以描述,然本發(fā)明創(chuàng)作并未受限于其詳細(xì)描述內(nèi) 容。替換方式及修改樣式是已于先前描述中所建議,且其它替換方式及修改樣式將為熟習(xí) 此項(xiàng)技藝的人士所思及。特別是,所有具有實(shí)質(zhì)上相同于本發(fā)明的構(gòu)件結(jié)合而達(dá)成與本發(fā) 明實(shí)質(zhì)上相同結(jié)果者,皆不脫離本發(fā)明的精神范疇。因此,所有此等替換方式及修改樣式是 意欲落在本發(fā)明于隨附申請(qǐng)專利范圍及其均等物所界定的范疇的中。
      權(quán)利要求
      1.一種集成電路裝置,其特征在于,包含 一時(shí)鐘集成電路,包含一時(shí)序電路,其具有在該第一參考信號(hào)與一第二參考信號(hào)之間切換的一輸出,該切換 的一速率由該時(shí)鐘集成電路的一時(shí)鐘信號(hào)輸出的時(shí)序所決定的一時(shí)間常數(shù)來決定,該第二 參考信號(hào)包括一變動(dòng)性噪聲;時(shí)序電源及參考電路,其具有該變動(dòng)性噪聲,該時(shí)序電源及參考電路產(chǎn)生一含有第一 種該變動(dòng)性噪聲的該第二參考信號(hào),該時(shí)序電源及參考電路產(chǎn)生一含有第二種該變動(dòng)性噪 聲的一準(zhǔn)位切換參考信號(hào),該第一種變動(dòng)性噪聲與該第二種變動(dòng)性噪聲同步,如此該第一 種變動(dòng)性噪聲的變動(dòng)與該第二種變動(dòng)性噪聲的變動(dòng)同步;以及一準(zhǔn)位切換電路,比較該時(shí)序電路的一輸出與該準(zhǔn)位切換參考信號(hào),該準(zhǔn)位切換電路 的一輸出來決定該時(shí)鐘集成電路的該時(shí)鐘信號(hào)輸出。
      2.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,該時(shí)序電源及參考電路具有一第一輸出給 該第二參考信號(hào),及具有一第二輸出給該準(zhǔn)位切換參考信號(hào),且該變動(dòng)性噪聲經(jīng)由一耦接 于該第一輸出與該第二輸出之間的一電阻而與該第一輸出與該第二輸出同步。
      3.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,該時(shí)序電源及參考電路具有一第一輸出給 該第二參考信號(hào),及具有一第二輸出給該準(zhǔn)位切換參考信號(hào),且該變動(dòng)性噪聲經(jīng)由一耦接 于該第一輸出與該第二輸出之間的一電容而與該第一輸出與該第二輸出同步。
      4.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,還包含多個(gè)切換開關(guān),供于電源開啟時(shí)將 該準(zhǔn)位切換電路解除耦接。
      5.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,該第一參考信號(hào)是一第一參考電壓,該第二 參考信號(hào)是一第二參考電壓,且該時(shí)序電路在一自該第一參考電壓充電至該第二參考電壓 的狀態(tài),與一自該第二參考電壓放電至該第一參考電壓的狀態(tài)之間切換。
      6.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,該時(shí)間常數(shù)為一指數(shù)信號(hào)。
      7.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,該時(shí)鐘集成電路還包含一栓鎖電路,響應(yīng)于該準(zhǔn)位切換電路的該輸出而產(chǎn)生該時(shí)鐘集成電路的該時(shí)鐘信號(hào)輸出ο
      8.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,該時(shí)鐘集成電路還包含 一準(zhǔn)位切換參考電路,用以產(chǎn)生該準(zhǔn)位切換參考信號(hào),包括 一輸出,產(chǎn)生該準(zhǔn)位切換參考信號(hào);一與溫度正比(PTAT)電流發(fā)生器,以產(chǎn)生該輸出的電流;以及 一電阻,鄰接該輸出。
      9.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,該時(shí)鐘集成電路還包含 一準(zhǔn)位切換參考電路,產(chǎn)生該準(zhǔn)位切換參考信號(hào),包括一輸出,產(chǎn)生該準(zhǔn)位切換參考信號(hào);一與溫度反比電流發(fā)生器,以產(chǎn)生該輸出的電流;以及一電阻,鄰接該輸出。
      10.一種產(chǎn)生時(shí)鐘信號(hào)的方法,其特征在于,包含決定一時(shí)鐘集成電路的時(shí)序,通過將一時(shí)序電路輸出在一第一參考信號(hào)與一第二參 考信號(hào)之間切換,該切換的一速率是由該時(shí)鐘集成電路的該時(shí)序所決定的一時(shí)間常數(shù)來決定;產(chǎn)生一具有第一種變動(dòng)性噪聲的第二參考信號(hào)及一具有第二種變動(dòng)性噪聲的準(zhǔn)位切 換參考信號(hào),該第一種變動(dòng)性噪聲與該第二種變動(dòng)性噪聲同步,如此該第一種變動(dòng)性噪聲 的變動(dòng)與該第二種變動(dòng)性噪聲的變動(dòng)同步;以及比較該時(shí)序電路輸出與該準(zhǔn)位切換參考信號(hào),以決定該時(shí)鐘集成電路的一時(shí)鐘信號(hào)輸出ο
      11.如權(quán)利要求10所述的方法,其特征在于,還包含于電源開啟時(shí)將該同步的該變動(dòng)性噪聲信號(hào)解除耦接,如此該決定及該比較步驟并不 會(huì)在電源開啟時(shí)依賴該同步的該變動(dòng)性噪聲信號(hào)。
      12.如權(quán)利要求10所述的方法,其特征在于,該第一參考信號(hào)是一第一參考電壓,該第 二參考信號(hào)是一第二參考電壓,且該時(shí)序電路在自該第一參考電壓充電至該第二參考電壓 的狀態(tài)與自該第二參考電壓放電至該第一參考電壓的狀態(tài)之間切換。
      13.如權(quán)利要求10所述的方法,其特征在于,該時(shí)間常數(shù)是一指數(shù)信號(hào)。
      14.如權(quán)利要求10所述的方法,其特征在于,還包含于該比較之后,使用一栓鎖電路產(chǎn)生該時(shí)鐘集成電路的一時(shí)鐘信號(hào)輸出。
      15.一種制造一裝置的方法,其特征在于,包含 提供一時(shí)鐘集成電路,包含提供一時(shí)序電路,其具有在該第一參考信號(hào)與一第二參考信號(hào)之間切換的一輸出,該 切換的一速率是由該時(shí)鐘集成電路的一時(shí)鐘信號(hào)輸出的時(shí)序所決定的一時(shí)間常數(shù)來決定, 該第二參考信號(hào)包括一變動(dòng)性噪聲信號(hào);提供時(shí)序電源及參考電路,其具有該變動(dòng)性噪聲信號(hào),該時(shí)序電源及參考電路產(chǎn)生具 有一第一種變動(dòng)性噪聲的該第二參考信號(hào),該時(shí)序電源及參考電路產(chǎn)生具有一第二種變動(dòng) 性噪聲的一準(zhǔn)位切換參考信號(hào),該第一種變動(dòng)性噪聲與該第二種變動(dòng)性噪聲同步,如此該 第一種變動(dòng)性噪聲的變動(dòng)與該第二種變動(dòng)性噪聲的變動(dòng)同步;以及提供一準(zhǔn)位切換電路,比較該時(shí)序電路參考電路的一輸出與該準(zhǔn)位切換參考信號(hào),該 準(zhǔn)位切換電路的一輸出來決定該時(shí)鐘集成電路的該時(shí)鐘信號(hào)輸出。
      全文摘要
      本發(fā)明提供一種具有例如是溫度、接地電壓或是電源電壓變動(dòng)承受能力的集成電路時(shí)鐘電路。一個(gè)改良的時(shí)鐘集成電路可以在不同的實(shí)施例中解決溫度、接地電壓或是電源電壓變動(dòng)的一種或多種變動(dòng)。
      文檔編號(hào)H03K19/003GK102111140SQ20091026264
      公開日2011年6月29日 申請(qǐng)日期2009年12月25日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月25日
      發(fā)明者洪俊雄, 陳漢松, 陳重光 申請(qǐng)人:旺宏電子股份有限公司
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