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      一種交叉板測試方法、系統(tǒng)及芯片的制作方法

      文檔序號:7690096閱讀:364來源:國知局
      專利名稱:一種交叉板測試方法、系統(tǒng)及芯片的制作方法
      技術領域
      本發(fā)明涉及單板測試技術,特別涉及一種交叉板測試方法、系統(tǒng)及高階 交叉芯片。
      背景技術
      傳輸產(chǎn)品的交叉板,例如同步數(shù)字體系(SDH , Synchronous Digital Hierarchy)、同步光網(wǎng)纟各(SONET, Synchronous Optical Network Synchronou ) 等的交叉板,主要用來實現(xiàn)高、低階業(yè)務的調(diào)度,業(yè)務的保護倒換等功能。 在典型的交叉板中,高階交叉矩陣用于業(yè)務數(shù)據(jù)的高階交叉處理,提供了交 叉板的輸入輸出端口。 一般在高價交叉矩陣上還可以連接低階交叉矩陣,用 于對業(yè)務數(shù)據(jù)進行低階交叉處理。這里所述交叉處理是指,交叉板將各輸入 端口接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)分別調(diào)度到相應的輸出端口輸出,進而實現(xiàn)業(yè)務數(shù)據(jù) 的調(diào)度。高階交叉處理調(diào)度業(yè)務數(shù)據(jù)的顆粒度大,也就是靈活性差,低階交 叉處理調(diào)度業(yè)務數(shù)據(jù)的顆粒度小,也就是靈活性高。其中,高階交叉矩陣由 高階交叉芯片組成,低階交叉矩陣由低階交叉芯片組成。
      高階交叉芯片的結構如圖l所示,包括輸入處理單元、輸出處理單元和 交叉處理單元。輸入處理單元將接收到的數(shù)據(jù)發(fā)送至交叉處理單元,經(jīng)交叉 處理單元交叉到相應的輸出處理單元。其中輸入處理單元包括輸入端口 ,即 輸入處理單元提供了交叉板的輸入端口 ,所述輸入端口用于接收發(fā)送至交叉 板的業(yè)務數(shù)據(jù);輸出處理單元包括輸出端口,即輸出處理單元提供了交叉板 的輸出端口 ,所述輸出端口用于輸出交叉板處理后的業(yè)務數(shù)據(jù)。
      隨著傳輸產(chǎn)品的廣泛應用,單板測試技術已經(jīng)成為 一種單板開發(fā)與應用 中的重要手段。目前,要測試交叉板是否正常,需要在交叉板上滿配置業(yè)務板。所述滿配置是指業(yè)務板的每一對輸入輸出端口均與相應的業(yè)務板相連。 在交叉板測試中,交叉板將接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)通過各業(yè)務板在每一對輸入輸 出端口環(huán)回后返回,比較最初發(fā)送至交叉板的業(yè)務數(shù)據(jù)和交叉板最終返回的
      業(yè)務數(shù)據(jù)是否一致,從而判定交叉板是否正常。
      傳統(tǒng)的交叉板測試系統(tǒng)如圖2所示包括SDH/SONET測試儀、交叉板 以及業(yè)務板l,業(yè)務板2,…,業(yè)務板n。其中,n為大于等于l的整數(shù),每 個業(yè)務板均與交叉板的一對輸入輸出端口相連。
      下面以圖2中的交叉板測試系統(tǒng)為例,說明現(xiàn)有的交叉板測試方法
      a、 SDH/SONET測試4義向業(yè)務板1發(fā)送業(yè)務數(shù)據(jù)。
      b、 交叉板將接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)通過各業(yè)務板在每一對輸入輸出端口環(huán) 回后返回。
      本步驟具體為來自SDH/SONET測試儀的業(yè)務數(shù)據(jù)經(jīng)業(yè)務板l發(fā)送至 交叉板的輸入端口 1,通過輸入端口 l發(fā)送至交叉板;經(jīng)交叉板交叉到對應 的輸出端口2,經(jīng)輸出端口 2輸出至業(yè)務板2,經(jīng)業(yè)務板環(huán)回至輸入端口 2, 其中,來自輸出端口 2的業(yè)務數(shù)據(jù)發(fā)送至業(yè)務板后,可以在業(yè)務板內(nèi)部環(huán)回 到輸入端口2,也可以經(jīng)過業(yè)務板后通過外部光纖再回到業(yè)務板,再經(jīng)過業(yè) 務板發(fā)送至輸入端口 2;輸入端口 2將接收到的數(shù)據(jù)經(jīng)交叉板交叉到對應的 輸出端口3,以此類推,直到業(yè)務數(shù)據(jù)經(jīng)過所有交叉板后,經(jīng)輸出端口l返 回至SDH/SONET測試儀。這樣,業(yè)務數(shù)據(jù)實現(xiàn)了在交叉板的每一對輸入輸 出端口的環(huán)回。
      c、 SDH/SONET測試儀分析發(fā)送至業(yè)務板1的業(yè)務數(shù)據(jù)和業(yè)務板1返 回的業(yè)務數(shù)據(jù)是否一致,如果是,則判定交叉板正常,否則,判定交叉板不 正常。
      在現(xiàn)有的交叉板測試方法中,業(yè)務數(shù)據(jù)需要經(jīng)過每個業(yè)務板而實現(xiàn)在交 叉板的每一對輸入輸出端口環(huán)回,即需要在交叉板上滿配置業(yè)務板。假定有 一個支持720G交叉能力的傳輸產(chǎn)品,每個業(yè)務槽位,即每一對輸入輸出端 口,支持20G業(yè)務處理,就需要多達36塊20G的業(yè)務板來完成測試。對大批量的生產(chǎn)測試,會導致測試成本高。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明實施例提供了 一種交叉板測試方法,能夠降低交叉板測試的成本。 本發(fā)明實施例提供了 一種交叉板測試系統(tǒng),能夠降低交叉板測試的成本。 本發(fā)明實施例提供了 一種高階交叉芯片,能夠降低交叉板測試的成本。 以下為本發(fā)明實施例提供的技術方案
      一種交叉板測試方法,用于對交叉^反進行測試,所述交叉板設有一對初級
      輸入輸出端口,及多個次級輸入輸出端口,所述交叉板測試方法包括如下步驟 將所述交叉板的初級輸入輸出端口與測試裝置相連,并將交叉板的每個 次級輸入輸出端口的輸入端口和輸出端口相連接;
      通過所述測試裝置向所述交叉板的初級輸入輸出端口的輸入端口發(fā)送業(yè) 務數(shù)據(jù);
      所述交叉板將接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)在其所接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)于所述多個次 級輸入輸出端口之間環(huán)回并最終發(fā)送給所述初級輸入輸出端口的輸出端口 , 且在環(huán)回的過程中,所述交叉板的將自輸入端口發(fā)送至輸出端口的業(yè)務數(shù)據(jù) 的幀頭和系統(tǒng)幀頭,于齊;
      所述測試裝置自所述初級輸入輸出端口的輸出端口接收測試數(shù)據(jù),并比較 其所接收到的測試數(shù)據(jù)與其發(fā)送出去的測試數(shù)據(jù)是否一致,如果是,則判定所 述交叉板正常,否則判定所述交叉^1不正常。
      一種交叉板測試系統(tǒng),該系統(tǒng)包括測試裝置和交叉板;
      所述測試裝置用于向交叉板發(fā)送業(yè)務數(shù)據(jù),接收交叉板返回的業(yè)務數(shù)據(jù), 比較發(fā)送至交叉板的業(yè)務數(shù)據(jù)和所述交叉板返回的業(yè)務數(shù)據(jù)是否一致,如果是, 則判定所述交叉板正常,否則判定所述交叉板不正常;
      所述交叉板用于接收來自測試裝置的業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)在每 一對輸入輸出端口環(huán)回后返回至測試裝置,在所述環(huán)回中,交叉板將發(fā)送至輸 出端口的業(yè)務數(shù)據(jù)的幀頭與系統(tǒng)幀頭對齊后再通過輸出端口輸出。一種高階交叉芯片,該設備包括輸入處理單元、輸出處理單元、交叉處 理單元和重定幀單元;
      所述輸入處理單元用于接收業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)進行輸入處理, 將輸入處理后的業(yè)務凄t據(jù)通過所述輸入處理單元的輸入端口發(fā)送至交叉處理單 元。
      所述交叉處理單元用于接收來自輸入處理單元的業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的業(yè) 務ft據(jù)交叉到對應的重定幀單元;
      所述重定幀單元用于接收來自交叉處理單元的業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的業(yè)務 數(shù)據(jù)的幀頭與系統(tǒng)幀頭對齊,將對齊后的業(yè)務數(shù)據(jù)發(fā)送至對應的輸出處理單元;
      所述輸出處理單元用于接收來自重定幀單元的業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的業(yè)務 數(shù)據(jù)進行輸出處理,將處理后的業(yè)務數(shù)據(jù)通過所述輸出處理單元的輸出端口輸 出。
      從上述技術方案中可以看出,本發(fā)明實施例提供的交叉板測試方法、系統(tǒng) 及高階交叉芯片,業(yè)務數(shù)據(jù)直接在交叉板的每一對輸入輸出端口環(huán)回,不需要 滿配置業(yè)務板,因此,能夠降低交叉板測試的成本。


      為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案,下面將對實 施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹,顯而易見地,下 面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的 一些實施例,對于本領域普通技術人員來 講,在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
      圖1為現(xiàn)有技術中高階交叉芯片的結構圖2為現(xiàn)有的交叉板測試系統(tǒng)的結構圖3為本發(fā)明實施例提供的交叉板測試系統(tǒng)的結構圖4為本發(fā)明實施例中的數(shù)據(jù)處理模塊的示意圖5為本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)處理模塊的重定幀單元的第一種實施方式 的結構示意圖;圖6為本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)處理模塊的重定幀單元的第二種實施方式
      的示意圖7為本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)處理模塊的重定幀單元的第三種實施方式 的示意圖8為本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)處理模塊的重定幀單元的第四種實施方式 的示意圖9為應用本發(fā)明實施例的交叉板測試系統(tǒng)的交叉4反測試方法流程圖; 圖10為本發(fā)明實施例提供的交叉板測試方法的進一步的流程圖。
      具體實施例方式
      為使本發(fā)明的目的、技術方案和優(yōu)點表達得更加清楚明白,下面結合附 圖及具體實施例對本發(fā)明再作進 一 步詳細的說明。
      圖3為本發(fā)明實施例4是供的交叉板測試系統(tǒng)的結構圖。如圖3所示 本發(fā)明實施例提供的交叉板測試系統(tǒng)包括測試裝置501和交叉板502。 所述測試裝置501用于向交叉板502發(fā)送業(yè)務數(shù)據(jù),接收交叉板502返回 的業(yè)務數(shù)據(jù),比較發(fā)送至交叉板的業(yè)務數(shù)據(jù)和所述交叉板返回的業(yè)務數(shù)據(jù)是否 一致,如果是,則判定所述交叉板正常,否則判定所述交叉板不正常。在本發(fā) 明實施例中,以上所述測試裝置可以為SDH/SONET測試儀。
      交叉板502上設有多對用于從外界接收和向外界發(fā)送業(yè)務數(shù)據(jù)的輸入輸出 端口。其中,在本發(fā)明實施例中,將所述多對輸入輸出端口中的一對定義為初 級輸入輸出端口 5021 ,而將余下的多個輸入輸出端口定義為次級輸入輸出端口 5022。需要理解的是,所述初級輸入輸出端口 5021可為交叉板502上的眾多輸 入輸出端口中的任意一對。
      所述初級輸入輸出端口 5021與所述測試裝置501的數(shù)據(jù)發(fā)送和接收端口相 連,用于從所述測試裝置501接收和向所述測試裝置501發(fā)送測試用業(yè)務數(shù)據(jù)。 所述多個次級輸入輸端口 5022的輸入端口 5022a和輸出端口 5022b則相互連 接。
      12交叉板502上還設有數(shù)據(jù)處理模塊5023,用于對業(yè)務數(shù)據(jù)進行處理以使得 業(yè)務數(shù)據(jù)的幀頭與系統(tǒng)幀頭對齊,并實現(xiàn)業(yè)務數(shù)據(jù)在所述多個數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)端口間 的交叉發(fā)送。
      在實際應用中,測試裝置501向所述初級輸入輸出端口 5021的輸入端口 5021a發(fā)送測試用業(yè)務lt據(jù),所述測試用業(yè)務數(shù)據(jù)通過所述初級輸入輸出端口 5021的輸入端口 5021a后被發(fā)送到所述數(shù)據(jù)處理模塊5023;所述數(shù)據(jù)處理模塊 5023對所述測試用業(yè)務數(shù)據(jù)進行處理后,將所述業(yè)務數(shù)據(jù)于所述多個次級輸入 輸出端口 5022中的一個的輸出端口 5022b;所述測試用業(yè)務數(shù)據(jù)通過所述輸出 端口 5022b后接著被發(fā)送到相應的輸入端口 5022a并經(jīng)所述輸入端口 5022a再 次被發(fā)送到數(shù)據(jù)處理模塊5023進行處理,如此循環(huán)反復,直到所述測試用業(yè)務 數(shù)據(jù)經(jīng)過所有次級輸入輸出端口 5022后,所述數(shù)據(jù)處理模塊5023會將所述測 試用業(yè)務數(shù)據(jù)發(fā)送至所述初級輸入輸出端口 5021的輸出端口 5021b,所述測試 用業(yè)務數(shù)據(jù)經(jīng)過所述初級輸入輸出端口 5021的輸出端口 5021b后一皮發(fā)送至測試 裝置501。所述測試裝置501會比較其發(fā)送至交叉板502的業(yè)務數(shù)據(jù)和所述交 叉板返回的業(yè)務數(shù)據(jù)是否一致,如果一致則判定交叉板502正常,否則判定交 叉4反502不正常。
      本實施例中,可以采用總線或者簡單的連接裝置來替代傳統(tǒng)的業(yè)務板將交 叉板的每一對輸入輸出端口連接,使得業(yè)務數(shù)據(jù)信號能夠在每一對輸入輸出端 口間環(huán)回轉發(fā)。
      需要理解的是,當交叉板502上設有低階交叉矩陣時,由于針對于低階交 叉矩陣的測試需要產(chǎn)生多路偽隨機碼流,并且對每一路偽隨機碼流進行檢測和 分析,因此可以于測試裝置501和交叉板502之間添加一塊業(yè)務板503,測試 裝置501在發(fā)送測試用業(yè)務數(shù)據(jù)時可先將業(yè)務數(shù)據(jù)發(fā)送給業(yè)務板503,然后再 將經(jīng)過業(yè)務板503處理過的測試用業(yè)務數(shù)據(jù)發(fā)送給交叉板502,從而降低測試 裝置501的設計成本。當然,易于思及的是,亦可將上述業(yè)務板503對于業(yè)務 數(shù)據(jù)的處理能力集成于所述測試裝置501上。
      請一同參照圖4,圖4所示為本發(fā)明實施例數(shù)據(jù)處理模塊5023的示意圖。所述數(shù)據(jù)處理模塊5023包括輸入處理單元Ol、交叉處理單元02、重定幀單 元03和輸出處理單元04。
      輸入處理單元Ol用于自輸出端口接收業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)進行 輸入處理,將輸入處理后的業(yè)務lt據(jù)通過所述輸入處理單元的輸入端口發(fā)送至 交叉處理單元02。所述輸入處理包括串并轉換以及開銷處理等,這里不再贅述。
      交叉處理單元02用于接收來自輸入處理單元01的業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的 業(yè)務數(shù)據(jù)發(fā)送到對應的重定幀單元03。
      重定幀單元03用于接收來自交叉處理單元02的業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的業(yè) 務數(shù)據(jù)的幀頭與系統(tǒng)幀頭對齊,將對齊后的業(yè)務數(shù)據(jù)發(fā)送至對應的輸出處理單 元04。
      通過重定幀單元03將芯片內(nèi)部的業(yè)務數(shù)據(jù)與系統(tǒng)幀頭對齊,業(yè)務數(shù)據(jù)進而 能夠在交叉板502的每一對輸入輸出端口環(huán)回,不需要在交叉板502上滿配置 業(yè)務板就能夠實現(xiàn)對交叉板502的測試。
      輸出處理單元04用于接收來自重定幀單元03的業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的業(yè) 務數(shù)據(jù)進行輸出處理,將處理后的業(yè)務數(shù)據(jù)通過所述輸出處理單元04所對應的 輸出端口輸出。所述輸出處理包括開銷處理和串并轉換等。
      /人上述技術方案中可以看出,本發(fā)明實施例提供的交叉板測試系統(tǒng),業(yè)務 數(shù)據(jù)直接在交叉板的每一對輸入輸出端口環(huán)回,不需要滿配置業(yè)務板,因此, 能夠降低交叉板測試的成本。
      請參照圖5,圖5所示為本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)處理模塊5023的重定幀單元 03的第一種實施方式的結構示意圖。所述重定幀單元03包括控制單元501 和雙口 RAM502。
      控制單元501用于接收來自交叉處理單元02的業(yè)務數(shù)據(jù)和系統(tǒng)幀頭,在接 收到所述業(yè)務數(shù)據(jù)的幀頭時,從地址0開始向雙口 RAM502中寫入所述業(yè)務數(shù) 據(jù),在接收到系統(tǒng)幀頭時,從雙口 RAM502的地址0開始讀取寫入的業(yè)務數(shù)據(jù), 將讀取的業(yè)務數(shù)據(jù)作為對齊后的業(yè)務數(shù)據(jù)發(fā)送出去。
      所述雙口 RAM用于緩存業(yè)務數(shù)據(jù)。請參照圖6,如圖6為本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)處理模塊5023的重定幀單元03 的第二種實施方式的示意圖。在本實施方式中,所述重定幀單元03包括指針 解釋單元601、第一幀再生單元602和存儲單元603。
      指針解釋單元601用于接收業(yè)務數(shù)據(jù),從所述業(yè)務數(shù)據(jù)的業(yè)務幀中解析出 指針值,根據(jù)解析出的指針值確定所述業(yè)務幀中的凈荷位置,將所述凈荷寫入 存儲單元603。
      第一幀再生單元602用于接收系統(tǒng)幀頭,在接收到系統(tǒng)幀頭時,生成新的 業(yè)務幀,所述新的業(yè)務幀的幀頭與系統(tǒng)幀頭一致,根據(jù)協(xié)議從存儲單元603中 讀取凈荷添加在所述新的業(yè)務幀中,根據(jù)添加的凈荷從所述新的業(yè)務幀中計算 出指針值,將所述指針值作為所述新的業(yè)務幀的指針值添加在所述新的業(yè)務幀 中,將所述新的業(yè)務幀作為對齊后的業(yè)務數(shù)據(jù)發(fā)送出去。
      存儲單元603用于緩存業(yè)務數(shù)據(jù)。
      請參照圖7,圖7所示為本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)處理模塊5023的重定幀單元 03的第三種實施方式的示意圖。在本實施方式中,所述重定幀單元03包括 提取單元701、指針計算單元702、第二幀再生單元703和存儲單元704。
      提取單元701業(yè)務數(shù)據(jù),將所述業(yè)務數(shù)據(jù)中業(yè)務幀的幀頭位置和指針值發(fā) 送至指針計算單元702, 4艮據(jù)所述業(yè)務數(shù)據(jù)中業(yè)務幀的指針值確定所述業(yè)務幀 中的凈荷位置,將所述凈荷寫入存儲單元704。
      指針計算單元702用于接收系統(tǒng)幀頭以及來自提取單元701的業(yè)務幀的幀 頭和指針值,計算所述業(yè)務幀的幀頭與系統(tǒng)幀頭的差值,才艮據(jù)計算出的差值和 所述業(yè)務幀的指針值計算出新的指針值,將所述新的指針值發(fā)送至第二幀再生 單元703。
      第二幀再生單元703用于接收系統(tǒng)幀頭和來自指針計算單元的新的指針 值,在接收到系統(tǒng)幀頭時,生成新的業(yè)務幀,所述新的業(yè)務幀的幀頭與系統(tǒng)幀 頭一致,從存儲單元704中讀取寫入的凈荷,將讀取的凈荷添加在所述新的業(yè) 務幀中,將所述新的指針值作為所述新的業(yè)務幀的指針值添加在所述新的業(yè)務 幀中,將所述新的業(yè)務幀作為對齊后的業(yè)務數(shù)據(jù)發(fā)送至對應的輸出處理單元04。
      存儲單元704用于緩存業(yè)務數(shù)據(jù)。
      請參照圖8,圖8所示為本發(fā)明實施例的數(shù)據(jù)處理模塊5023的重定幀單元 03的第四種實施方式的示意圖。在本實施方式中,所述重定幀單元03包括 指針定位單元801、第三幀再生單元802和存儲單元803。
      指針定位單元801用于接收來自交叉處理單元02的業(yè)務數(shù)據(jù),根據(jù)所述業(yè) 務數(shù)據(jù)中業(yè)務幀的指針值確定所述業(yè)務幀中的凈荷位置和凈荷中Jl字節(jié)的位 置,為所述Jl字節(jié)的位置作Jl標識,將所述凈荷和Jl標識寫入存儲單元803。
      第三幀再生單元802用于接收系統(tǒng)幀頭,在接收到所述系統(tǒng)幀頭時,生成 新的業(yè)務幀,所述新的業(yè)務幀的幀頭與系統(tǒng)幀頭一致,從存儲單元803中讀取 寫入的凈荷和Jl標識位置,將讀取的凈荷添加在所述新的業(yè)務幀中,將Jl標 識位置與系統(tǒng)幀頭位置相減,得到新的指針值,將所述新的指針值作為所述新 的業(yè)務幀的指針值添加在所述新的業(yè)務幀中,將所述新的業(yè)務幀作為對齊后的 業(yè)務數(shù)據(jù)發(fā)送至對應的輸出處理單元04。
      存儲單元803用于緩存業(yè)務數(shù)據(jù)。
      在在上述的第二、第三、第四種重定幀單元的實施方式中,存儲單元 603、存儲單元704和存儲單元803可以為同步FIFO。
      其中,在向所述交叉板發(fā)送業(yè)務數(shù)據(jù)的指針值保持不變的情況下,可以 采用上述第三和第四種實施方式。
      本發(fā)明實施例提供的數(shù)據(jù)處理模塊,能夠將芯片內(nèi)部的業(yè)務數(shù)據(jù)與系統(tǒng) 幀頭對齊,進而使得業(yè)務數(shù)據(jù)能夠直接在交叉板的每 一 對輸入輸出端口環(huán) 回,不需要滿配置業(yè)務板,因此,能夠降低交叉板測試的成本。
      易于思及的是,本發(fā)明實施例中所述的處理單元01、交叉處理單元02、 重定幀單元03和輸出處理單元04均可集成于一個或多個芯片中來實現(xiàn)相同 的功能并達到相似的效果。
      請參照圖9,圖9為應用了本發(fā)明實施例的交叉4反測試系統(tǒng)的交叉4反測 試方法的流程圖,所述交叉板測試方法包括如下步驟步驟300:將交叉板的初級輸入輸出端口與測試裝置的輸入輸出端口相
      連,并將交叉板的每個次級輸入輸出端口的輸入端口和輸出端口相連接。
      易于思及的是,在步驟300中,可采用總線或者簡單的連接裝置實現(xiàn)次 級輸入輸出端口的輸入端口和輸出端口的連4妄。 步驟301:通過測試裝置向交叉板發(fā)送業(yè)務數(shù)據(jù)。
      步驟302:交叉板將接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)在每一對輸入輸出端口直接環(huán)回后 返回,在所述環(huán)回中,在交叉板的高階交叉芯片中采用可測性(DFT, Design For Testability)設計將發(fā)送至輸出端口的業(yè)務數(shù)據(jù)的幀頭與系統(tǒng)幀頭對齊后再通過 輸出端口輸出。
      這是因為,交叉芯片對各輸入輸出端口的業(yè)務數(shù)據(jù)幀頭之間的偏差有嚴格 的限制,要求各輸入輸出端口的業(yè)務數(shù)據(jù)幀頭基本對齊。但是交叉芯片在對業(yè) 務數(shù)據(jù)進行處理時,各業(yè)務數(shù)據(jù)幀頭之間的偏差遠大于交叉芯片自身的要求。 也就是說,來自一個輸入端口的業(yè)務數(shù)據(jù),通過高階交叉芯片的交叉處理,經(jīng) 過一個輸出端口后,再直接環(huán)回到另一個輸入端口時,已經(jīng)不能滿足高階交叉 芯片對幀頭對齊的要求。因此本發(fā)明實施例提供的測試方法中,在高階交叉芯 片中采用DFT設計方法來實現(xiàn)各輸入輸出端口業(yè)務數(shù)據(jù)幀頭的對齊,以滿足高 階交叉芯片對業(yè)務數(shù)據(jù)幀頭對齊的要求。
      本步驟中,所述在高階交叉芯片中采用DFT設計方法將業(yè)務數(shù)據(jù)的幀頭與 系統(tǒng)幀頭對齊可以采用以下任一 實施方式實現(xiàn)
      實施方式一
      接收所述業(yè)務數(shù)據(jù)和系統(tǒng)幀頭。
      在接收到所述業(yè)務數(shù)據(jù)的幀頭時,從地址0開始向雙口隨才幾訪問內(nèi)存 (RAM, Random-Access Memory)中寫入所述業(yè)務凄t據(jù)。
      在接收到系統(tǒng)幀頭時,從所述雙口 RAM的地址0開始讀取寫入的業(yè)務數(shù) 據(jù),將讀取的業(yè)務數(shù)據(jù)作為對齊后的業(yè)務數(shù)據(jù)。 實施方式二
      接收所述業(yè)務數(shù)據(jù)和系統(tǒng)幀頭。
      17從所述業(yè)務數(shù)據(jù)的業(yè)務幀中解析出指針值。
      根據(jù)解析出的指針值確定所述業(yè)務幀中的凈荷位置,將所述凈荷寫入同步
      先進先出緩沖(FIFO, First In First Out )。
      在接收到系統(tǒng)幀頭時,生成新的業(yè)務幀,所述新的業(yè)務幀的幀頭與系統(tǒng)幀 頭一致。
      從同步FIFO中讀取寫入的凈荷,將讀取的凈荷添加在所述新的業(yè)務幀中。 根據(jù)添加的凈荷從所述新的業(yè)務幀中計算出新的指針值,將所述新的指針
      值作為所述新的業(yè)務幀的指針值添加在所述新的業(yè)務幀中,將所述新的業(yè)務幀 作為對齊后的業(yè)務數(shù)據(jù)。
      實施方式三
      接收所述業(yè)務數(shù)據(jù)和系統(tǒng)幀頭。
      計算所述業(yè)務數(shù)據(jù)中業(yè)務幀的幀頭與系統(tǒng)幀頭的差值。
      才艮據(jù)計算出的差值和所述業(yè)務數(shù)據(jù)中業(yè)務幀的指針值計算出新的指針值。
      才艮據(jù)所述業(yè)務數(shù)據(jù)中業(yè)務幀的指針值確定所述業(yè)務幀中的凈荷位置,將所
      述凈荷寫入同步FIFO。
      在接收到系統(tǒng)幀頭時,生成新的業(yè)務幀,所述新的業(yè)務幀的幀頭與系統(tǒng)幀
      頭一致。
      根據(jù)SDH/SONET協(xié)議從同步FIFO中讀取寫入的凈荷,將讀取的凈荷添 加在所述新的業(yè)務幀中,將所述新的指針值作為所述新的業(yè)務幀的指針值添加 在所述新的業(yè)務幀中,將所述新的業(yè)務幀作為對齊后的業(yè)務凄t據(jù)。
      實施方式四
      接收所述業(yè)務數(shù)據(jù)和系統(tǒng)幀頭。
      才艮據(jù)所述業(yè)務數(shù)據(jù)中業(yè)務幀的指針值確定所述業(yè)務幀中的凈荷位置和凈荷 中Jl字節(jié)位置,為所述J1字節(jié)位置作Jl標識,將所述凈荷和Jl標識寫入同步 FIFO。例如,在八位的凈荷中,先確定凈荷所在位置以及凈荷中Jl字節(jié)的位置, 再將對Jl字節(jié)的位置作Jl標識,這樣凈荷以及Jl標識共有9位,將這9位數(shù) 據(jù)寫入同步FIFO。在接收到系統(tǒng)幀頭時,生成新的業(yè)務幀,所述新的業(yè)務幀的幀頭與系統(tǒng)幀 頭一致。
      乂人同步FIFO中讀取寫入的凈荷和Jl標識位置,將讀取的凈荷添加在所述 新的業(yè)務幀中。
      通過將所述J1標識位置與系統(tǒng)幀頭位置相減,得到新的指針值,將所述新 的指針值作為所述新的業(yè)務幀的指針值添加到所述新的業(yè)務幀中,將所述新的 業(yè)務幀作為對齊后的業(yè)務數(shù)據(jù)。
      其中,在向所述交叉板發(fā)送業(yè)務數(shù)據(jù)的指針值保持不變的情況下,可以采 用實施方式三和實施方式四。
      步驟303:所述測試裝置自所述初級輸入輸出端口的輸出端口接收測試數(shù) 據(jù),并比較其所接收到的測試數(shù)據(jù)與其發(fā)送出去的測試數(shù)據(jù)是否一致,如果是, 則判定所述交叉板正常,否則判定所述交叉^1不正常。
      從上述技術方案中可以看出,根據(jù)本發(fā)明實施例提供的交叉板測試方法, 業(yè)務數(shù)據(jù)直接在交叉板的每一對輸入輸出端口環(huán)回,不需要滿配置業(yè)務板,因 此,能夠降低交叉板測試的成本。
      圖10為本發(fā)明實施例提供的交叉板測試方法的進一步的流程圖。如圖10 所示
      步驟400:將交叉板的初級輸入輸出端口與測試裝置的輸入輸出端口相 連,并將交叉板的每個次級輸入輸出端口的輸入端口和輸出端口相連接。
      易于思及的是,在步驟400中,可采用總線或者簡單的連接裝置實現(xiàn)次 級輸入輸出端口的輸入端口和輸出端口的連接。
      步驟401:通過所述測試裝置向交叉板的初級輸入輸出端口的輸入端口發(fā) 送業(yè)務數(shù)據(jù)。
      步驟402:交叉板將接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)在每一對次級輸入輸出端口直接環(huán) 回后返回給測試裝置,在所述環(huán)回中,在交叉板的高階交叉芯片中采用DFT設 計方法將發(fā)送至輸出端口的業(yè)務數(shù)據(jù)的幀頭與系統(tǒng)幀頭對齊后再通過輸出端口 輸出。請一同參照圖3,在本實施例中,測試裝置將測試用述業(yè)務數(shù)據(jù)發(fā)送至交
      叉板的初級輸入輸出端口 5021的輸入端口 5021a,再通過所述初級輸入輸出端 口 5021的輸入端口 5021a發(fā)送至交叉板502;所述業(yè)務凄t據(jù)經(jīng)交叉板502交叉 到對應的次級輸入輸出端口 5022的輸出端口 5022b,經(jīng)所述次級輸入輸出端口 5022的輸出端口 5022b輸出至其相應的輸入端口 5022a;所述刺次級輸入輸出 端口 5022的輸入端口 5022a將接收到的數(shù)據(jù)經(jīng)交叉板交叉到下一個次級輸入輸 出端口 5022的輸出端口 5022b;以此類推,直到業(yè)務數(shù)據(jù)經(jīng)過所有的次級輸入 輸出端口 5022后,經(jīng)交叉板502交叉到初級輸入輸出端口 5021的輸出端口 5021b,并通過所述輸出端口 5021b返回。完成了測試用業(yè)務數(shù)據(jù)的巡回發(fā)送。
      步驟403:比較發(fā)送至交叉板的業(yè)務數(shù)據(jù)和所述交叉板返回的業(yè)務數(shù)據(jù)是 否一致,如果是,則執(zhí)行步驟406,否則,執(zhí)行步驟407。
      步驟404:判定交叉板正常。
      步驟405:判定交叉板不正常。
      從上述技術方案中可以看出,根據(jù)本發(fā)明實施例提供的交叉板測試方法, 業(yè)務數(shù)據(jù)直接在交叉板的每一對輸入輸出端口環(huán)回,不需要滿配置業(yè)務板,因 此,能夠降低交叉^1測試的成本。
      從上述技術方案中可以看出,本發(fā)明實施例提供的交叉板測試方法、系 統(tǒng)及高階交叉芯片,業(yè)務數(shù)據(jù)直接在交叉板的每一對輸入輸出端口環(huán)回,不 需要滿配置業(yè)務板,因此,能夠降低交叉板測試的成本。
      另外,由于不需要滿配置業(yè)務板就能夠實現(xiàn)對交叉板的測試,簡化了交 叉板測試的測試環(huán)境。
      綜上所述,以上僅為本發(fā)明的較佳實施例而已,并非用于限定本發(fā)明的 保護范圍。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改 進等,均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
      20
      權利要求
      1、一種交叉板測試方法,用于對交叉板進行測試,所述交叉板設有一對初級輸入輸出端口,及多個次級輸入輸出端口,其特征在于,所述交叉板測試方法包括如下步驟將所述交叉板的初級輸入輸出端口與測試裝置相連,并將交叉板的每個次級輸入輸出端口的輸入端口和輸出端口相連接;所述交叉板的初級輸入輸出端口的輸入端口接收發(fā)自所述測試裝置的業(yè)務數(shù)據(jù);所述交叉板將接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)在其所接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)于所述多個次級輸入輸出端口之間環(huán)回并最終發(fā)送給所述初級輸入輸出端口的輸出端口,且在環(huán)回的過程中,所述交叉板的將自輸入端口發(fā)送至輸出端口的業(yè)務數(shù)據(jù)的幀頭和系統(tǒng)幀頭對齊;所述交叉板自所述初級輸入輸出端口的輸出端口向所述測試裝置發(fā)送測試數(shù)據(jù)。
      2、 根據(jù)權利要求1所述的方法,所述交叉板將業(yè)務數(shù)據(jù)的幀頭與系統(tǒng)幀頭 對齊包括接收所述業(yè)務數(shù)據(jù)和系統(tǒng)幀頭;在接收到所述業(yè)務數(shù)據(jù)的幀頭時,從地址0開始向雙口隨機訪問內(nèi)存RAM 中寫入所述業(yè)務數(shù)據(jù);在接收到系統(tǒng)幀頭時,從所述雙口 RAM的地址0開始讀取寫入的業(yè)務數(shù) 據(jù),將讀取的業(yè)務數(shù)據(jù)作為對齊后的業(yè)務數(shù)據(jù)。
      3、 根據(jù)權利要求1所述的方法,其特征在于,所述交叉板將業(yè)務數(shù)據(jù)的幀 頭與系統(tǒng)幀頭對齊包括接收所述業(yè)務數(shù)據(jù)和系統(tǒng)幀頭; 從所述業(yè)務數(shù)據(jù)的業(yè)務幀中解析出指針值;根據(jù)解析出的指針值確定所述業(yè)務幀中的凈荷位置,將所述凈荷寫入同步先進先出緩沖FIFO;在接收到系統(tǒng)幀頭時,生成新的業(yè)務幀,所述新的業(yè)務幀的幀頭與系統(tǒng)幀頭一致;從同步FIFO中讀取寫入的凈荷,將讀取的凈荷添加在所述新的業(yè)務幀中;根據(jù)添加的凈荷從所述新的業(yè)務幀中計算出新的指針值,將所述新的指針值作為所述新的業(yè)務幀的指針值添加在所述新的業(yè)務幀中,將所述新的業(yè)務幀作為對齊后的業(yè)務數(shù)據(jù)。
      4、 根據(jù)權利要求1所述的方法,其特征在于,向所述交叉板發(fā)送業(yè)務數(shù)據(jù)的指針值保持不變,所述交叉板將業(yè)務數(shù)據(jù)的幀頭與系統(tǒng)幀頭對齊包括接收所述業(yè)務數(shù)據(jù)和系統(tǒng)幀頭;計算所述業(yè)務數(shù)據(jù)中業(yè)務幀的幀頭與系統(tǒng)幀頭的差值;根據(jù)計算出的差值和所述業(yè)務數(shù)據(jù)中業(yè)務幀的指針值計算出新的指針值;才艮據(jù)所述業(yè)務數(shù)據(jù)中業(yè)務幀的指針值確定所述業(yè)務幀中的凈荷位置,將所述凈荷寫入同步FIFO;在接收到系統(tǒng)幀頭時,生成新的業(yè)務幀,所述新的業(yè)務幀的幀頭與系統(tǒng)幀頭一致;從同步FIFO中讀取寫入的凈荷,將讀取的凈荷添加在所述新的業(yè)務幀中,將所述新的指針值作為所述新的業(yè)務幀的指針值添加在所述新的業(yè)務幀中,將所述新的業(yè)務幀作為對齊后的業(yè)務數(shù)據(jù)。
      5、 根據(jù)權利要求1所述的方法,其特征在于,向所述交叉板發(fā)送業(yè)務數(shù)據(jù)的指針值保持不變,所述交叉板將業(yè)務數(shù)據(jù)的幀頭與系統(tǒng)幀頭對齊包括接收所述業(yè)務數(shù)據(jù)和系統(tǒng)幀頭;才艮據(jù)所述業(yè)務數(shù)據(jù)中業(yè)務幀的指針值確定所述業(yè)務幀中的凈荷位置和凈荷中Jl字節(jié)的位置,為所述Jl字節(jié)的位置作Jl標識,將所述凈荷和Jl標識寫入同步FIFO;在接收到系統(tǒng)幀頭時,生成新的業(yè)務幀,所述新的業(yè)務幀的幀頭與系統(tǒng)幀頭一致;從同步FIFO中讀取寫入的凈荷和Jl標識,將讀取的凈荷添加在所述新的業(yè)務幀中;通過將所述J1標識位置與系統(tǒng)幀頭位置相減,得到新的指針值,將所述新 的指針值作為所述新的業(yè)務幀的指針值添加到所述新的業(yè)務幀中,將所述新的 業(yè)務幀作為對齊后的業(yè)務數(shù)據(jù)。
      6、 一種交叉板測試系統(tǒng),其特征在于,該系統(tǒng)包括測試裝置和交叉板; 所述測試裝置用于向交叉板發(fā)送業(yè)務數(shù)據(jù),接收交叉板返回的業(yè)務數(shù)據(jù),比較發(fā)送至交叉板的業(yè)務數(shù)據(jù)和所述交叉板返回的業(yè)務數(shù)據(jù)是否一致,如果是, 則判定所述交叉板正常,否則判定所述交叉板不正常;所述交叉板用于接收來自測試裝置的業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)在每 一對輸入輸出端口環(huán)回后返回至測試裝置,在所述環(huán)回中,交叉板將發(fā)送至輸 出端口的業(yè)務數(shù)據(jù)的幀頭與系統(tǒng)幀頭對齊后再通過輸出端口輸出。
      7、 根據(jù)權利要求6所述的測試系統(tǒng),其特征在于,所述交叉板中的高階交 叉芯片包括輸入處理單元、輸出處理單元、交叉處理單元和重定幀單元;所述輸入處理單元用于接收業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)進行輸入處理, 將輸入處理后的業(yè)務數(shù)據(jù)通過所述輸入處理單元的輸入端口發(fā)送至交叉處理單 元;所述交叉處理單元用于接收來自輸入處理單元的業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的業(yè) 務數(shù)據(jù)交叉到對應的重定幀單元;所述重定幀單元用于接收來自交叉處理單元的業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的業(yè)務 數(shù)據(jù)的幀頭與系統(tǒng)幀頭對齊,將對齊后的業(yè)務數(shù)據(jù)發(fā)送至對應的輸出處理單元;所述輸出處理單元用于接收來自重定幀單元的業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的業(yè)務 數(shù)據(jù)進行輸出處理,將處理后的業(yè)務數(shù)據(jù)通過所述輸出處理單元的輸出端口輸 出。
      8、 一種芯片,其特征在于,該芯片包括輸入處理單元、交叉處理單元、 重定幀單元、輸出處理單元;所述輸入處理單元用于接收業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)進行輸入處理,將輸入處理后的業(yè)務數(shù)據(jù)通過所述輸入處理單元的輸入端口發(fā)送至交叉處理單元;所述交叉處理單元用于接收來自輸入處理單元的業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的業(yè)務凄t據(jù)交叉到對應的重定幀單元;所述重定幀單元用于接收來自交叉處理單元的業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)的幀頭與系統(tǒng)幀頭對齊,將對齊后的業(yè)務數(shù)據(jù)發(fā)送至對應的輸出處理單元;所述輸出處理單元用于接收來自重定幀單元的業(yè)務數(shù)據(jù),將接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)進行輸出處理,將處理后的業(yè)務數(shù)據(jù)通過所述輸出處理單元的輸出端口輸出。
      9、 根據(jù)權利要求8所述的芯片,其特征在于,所述重定幀單元包括控制單元和雙口 RAM;所述控制單元用于接收來自交叉處理單元的業(yè)務數(shù)據(jù)和系統(tǒng)幀頭,在接收到所述業(yè)務數(shù)據(jù)的幀頭時,從地址0開始向雙口 RAM中寫入所述業(yè)務數(shù)據(jù),在接收到系統(tǒng)幀頭時,從雙口 RAM的地址0開始讀取寫入的業(yè)務數(shù)據(jù),將讀取的業(yè)務數(shù)據(jù)作為對齊后的業(yè)務數(shù)據(jù)發(fā)送至對應的輸出處理單元;所述雙口 RAM用于緩存業(yè)務數(shù)據(jù)。
      10、 根據(jù)權利要求8所述的芯片,其特征在于,所述重定幀單元包括指針解釋單元、存儲單元和第一幀再生單元;所述指針解釋單元用于接收來自交叉處理單元的業(yè)務數(shù)據(jù),從所述業(yè)務數(shù)據(jù)的業(yè)務幀中解析出指針值,根據(jù)解析出的指針值確定所述業(yè)務幀中的凈荷位置,將所述凈荷寫入存儲單元;所述第一幀再生單元用于接收系統(tǒng)幀頭,在接收到系統(tǒng)幀頭時,生成新的業(yè)務幀,所述新的業(yè)務幀的幀頭與系統(tǒng)幀頭一致,從存儲單元中讀取凈荷添加在所述新的業(yè)務幀中,根據(jù)添加的凈荷從所述新的業(yè)務幀中計算出指針值,將所述指針值作為所述新的業(yè)務幀的指針值添加在所述新的業(yè)務幀中,將所述新的業(yè)務幀作為對齊后的業(yè)務數(shù)據(jù)發(fā)送至對應的輸出處理單元;所述存儲單元用于緩存業(yè)務數(shù)據(jù)。
      11、 根據(jù)權利要求8所述的芯片,其特征在于,所述重定幀單元包括提 取單元、指針計算單元、第二幀再生單元和存儲單元;所述提取單元用于接收來自交叉處理單元的業(yè)務數(shù)據(jù),將所述業(yè)務數(shù)據(jù)中 業(yè)務幀的幀頭位置和指針值發(fā)送至指針計算單元,根據(jù)所述業(yè)務數(shù)據(jù)中業(yè)務幀 的指針值確定所述業(yè)務幀中的凈荷位置,將所述凈荷寫入存儲單元;所述指針計算單元用于接收系統(tǒng)幀頭以及來自提取單元的業(yè)務幀的幀頭和指針值,計算所述業(yè)務幀的幀頭與系統(tǒng)幀頭的差值,#4居計算出的差值和所述業(yè)務幀的指針值計算出新的指針值,將所述新的指針值發(fā)送至第二幀再生單元; 所述第二幀再生單元用于接收系統(tǒng)幀頭和來自指針計算單元的新的指針值,在接收到系統(tǒng)幀頭時,生成新的業(yè)務幀,所述新的業(yè)務幀的幀頭與系統(tǒng)幀 頭一致,從存儲單元中讀取寫入的凈荷,將讀取的凈荷添加在所述新的業(yè)務幀 中,將所述新的指針值作為所述新的業(yè)務幀的指針值添加在所述新的業(yè)務幀中, 將所述新的業(yè)務幀作為對齊后的業(yè)務數(shù)據(jù)發(fā)送至對應的輸出處理單元; 所述存儲單元用于緩存業(yè)務數(shù)據(jù)。
      12、 根據(jù)權利要求8所述的芯片,其特征在于,所述重定幀單元包括指 針定位單元、第三幀再生單元和存儲單元;所述指針定位單元用于接收來自交叉處理單元的業(yè)務數(shù)據(jù),根據(jù)所述業(yè)務 數(shù)據(jù)中業(yè)務幀的指針值確定所述業(yè)務幀中的凈荷位置和凈荷中Jl字節(jié)位置,為 所述Jl字節(jié)的位置作Jl標識,將所述凈荷和Jl標識寫入存儲單元;所述幀再生單元用于接收系統(tǒng)幀頭,在接收到所述系統(tǒng)幀頭時,生成新的 業(yè)務幀,所述新的業(yè)務幀的幀頭與系統(tǒng)幀頭一致,/人存儲單元中讀取寫入的凈 荷和J1標識的位置,將讀取的凈荷添加在所述新的業(yè)務幀中,將J1標識位置 與系統(tǒng)幀頭位置相減,得到新的指針值,將所述新的指針值作為所述新的業(yè)務 幀的指針值添加在所述新的業(yè)務幀中,將所述新的業(yè)務幀作為對齊后的業(yè)務數(shù) 據(jù)發(fā)送至對應的輸出處理單元;所述存儲單元用于緩存業(yè)務數(shù)據(jù)。
      13、 根據(jù)權利要求10 12任一所述的芯片,其特征在于,所述存儲單元為同步FIFO。
      全文摘要
      本發(fā)明實施例提供了一種交叉板測試方法、系統(tǒng)及高階交叉芯片,通過所述測試裝置向所述交叉板的初級輸入輸出端口的輸入端口發(fā)送業(yè)務數(shù)據(jù);所述交叉板將接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)在其所接收到的業(yè)務數(shù)據(jù)于所述多個次級輸入輸出端口之間環(huán)回并最終發(fā)送給所述初級輸入輸出端口的輸出端口,且在環(huán)回的過程中,所述交叉板的將自輸入端口發(fā)送至輸出端口的業(yè)務數(shù)據(jù)的幀頭和系統(tǒng)幀頭對齊;所述測試裝置自所述初級輸入輸出端口的輸出端口接收測試數(shù)據(jù),并比較其所接收到的測試數(shù)據(jù)與其發(fā)送出去的測試數(shù)據(jù)是否一致,如果是,則判定所述交叉板正常,否則判定所述交叉板不正常。由于不需要滿配置業(yè)務板,因此,能夠降低交叉板測試的成本。
      文檔編號H04J3/08GK101599808SQ20081008592
      公開日2009年12月9日 申請日期2008年6月3日 優(yōu)先權日2008年6月3日
      發(fā)明者王步云, 龍行云 申請人:華為技術有限公司
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