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      高電阻率碳化硅的制作方法_2

      文檔序號:9283431閱讀:來源:國知局
      性收縮,然而這種收縮與 其他成型方法相比可能是最小的??傮w上講,線性收縮的量是不大于約5%。其他實施方案 可以具有更小的收縮,如不大于約3%,或甚至不大于約1%。
      [0025] 再次參見圖1,在步驟103中形成該生坯物品之后,該方法在步驟105繼續(xù),這是通 過將生坯物品加熱至一個升華溫度以形成一個再結(jié)晶的碳化硅(ReSiC)本體。如在此使用 的,術(shù)語"加熱"(特別是在升華溫度的情況下)是指一個加熱溫度,在該溫度下這些細(xì)碳化 硅顆粒升華至氣態(tài)并且在此之后,在這些粗碳化硅顆粒上再結(jié)晶以形成一個ReSiC本體。 總體上講,該升華溫度典型地是大于約1700°C。根據(jù)一個實施方案,該升華溫度是大于約 1800°C,如大于約1900°C,或甚至大于約2000°C。典型地,該升華溫度是不大于約2500°C。
      [0026] 在加熱該生坯物品的過程中,該方法可以在有助于升華的一個減壓氣氛中進(jìn)行。 這樣,該氣氛總體上具有不大于約25托的壓力。根據(jù)另一個實施方案,加熱是在不大于約 20托的壓力下進(jìn)行,如不大于約15托,或甚至不大于約10托。這樣,該壓力典型地是在約 4托與約15托之間的范圍內(nèi),并且更特別地是在約4托與約12托之間的范圍內(nèi)。
      [0027] 進(jìn)一步關(guān)于該氣氛,典型地,在加熱過程中該氣氛包含一種氣體或氣體的混合物, 它與正常的大氣的氣體是不同的。這就是說,在加熱過程之前可以將正常的大氣清除并且 用適合的氣體代替。特別適合的氣體包括惰性氣體或多種惰性氣體的組合,或更特別的 是多種稀有氣體。根據(jù)一個具體實施方案,在加熱過程中的氣氛包括氬氣,這樣不小于約 90vol%的氣氛是氬氣。
      [0028] 此外,除了提供包括適當(dāng)氣體(如惰性氣體)的一種氣氛之外,加熱過程中可以使 這些氣體流動經(jīng)過腔室。根據(jù)一個具體實施方案,該惰性氣體可以按不小于約2標(biāo)準(zhǔn)立升 /每分鐘(SLPM)的速率流動經(jīng)過腔室,其中該加熱爐具有不小于約Im3的體積,并且在一個 更具體的實施方案中是I. 25m3(直徑52英寸并且深度36英寸)。在另一個實施方案中,流 速是更大的,如不小于約4SLPM,或不小于約6SLPM,或甚至不小于約8SLPM??傮w上講,惰 性氣體的更高的流速改進(jìn)了加工條件。然而,根據(jù)一個具體實施方案,對于具有大致I. 25m3的體積的一個加熱爐該流速是不大于約20SLPM。
      [0029] 具體地講,在加熱過程中,該氣氛包含減小的氮含量。根據(jù)一個實施方案,在該腔 室之中的氮含量被減小,這樣氮氣的濃度是不大于約15ppm。其他實施方案可以使用更小濃 度的氮氣,如不大于約12ppm,或不大于約lOppm,或甚至不大于約8ppm??傮w上講,該氣氛 中的更低濃度的氮氣增強了加工條件以及一種適當(dāng)物品的形成。然而,在一個具體實施方 案中,該氮氣濃度是不小于約lppm。
      [0030] 典型地,該加熱過程在升華溫度下進(jìn)行了不小于約30分鐘的持續(xù)時間。根據(jù)一個 實施方案,升華溫度下的加熱進(jìn)行了不小于約1小時的持續(xù)時間,如不小于約4小時,或甚 至不小于約8小時。在此的多個實施方案使用的在升華溫度下加熱的持續(xù)時間典型地在約 1小時與8小時之間的范圍內(nèi)、并且典型地不大于約12小時。
      [0031] 在加熱以形成一個再結(jié)晶的SiC本體的過程中,該本體經(jīng)受了小量的線性收縮。 該小程度的線性收縮有助于形成近似網(wǎng)狀的物品并且減少了后期加工成型和機加工操作。 總體上講,該線性收縮是不大于約3%。事實上,在加熱過程中的該ReSiC本體線性收縮可 以是更小的,如不大于約2%,不大于約1%或甚至不大于約0. 5%。典型地,在加熱過程中 的該ReSiC本體的線性收縮是在約0. 1 %與約3%之間的范圍內(nèi)。
      [0032] 通過圖1中描繪的方法形成的再結(jié)晶的碳化硅本體是一種高電阻率的再結(jié)晶的 碳化硅本體。這就是說,該ReSiC本體在300K具有不小于約1E5 Ω cm的電阻率。在一個具體 實施方案中,該ReSiC本體的電阻率是不小于約1Ε6Ω cm,如不小于約1Ε7Ω cm,或甚至不小 于約1E8 Ω cm (在300K)??傮w上講,該ReSiC本體的電阻率是在約1E5 Ω cm與約1E12 Ω cm之間的范圍內(nèi)(在300K)。并且更具體地講是在約lE7Qcm與約IEllQcm之間的范圍內(nèi) (在300K)。應(yīng)當(dāng)理解,在此提供的所有這些電阻率值是基于ASTM4496獲得的。
      [0033] 進(jìn)一步關(guān)于根據(jù)圖1中提供的方法所形成的ReSiC本體,典型地,該ReSiC本體在 本體之中具有不大于200ppm的氮含量。如在此使用的,術(shù)語"氮含量"是指結(jié)合(例如,共 價地結(jié)合)在該ReSiC本體之中的氮原子的含量。如以上提供的,該ReSiC本體的氮含量 總體上是不大于約200ppm,并且甚至不大于約150ppm。根據(jù)一個具體實施方案,該ReSiC 本體具有更小的氮含量,如不大于約lOOppm,或不大于約75ppm,或甚至不大于約50ppm。該 氮含量典型地是在約Ippm與約150ppm之間的范圍內(nèi)。
      [0034] 該ReSiC本體總體上具有一種多晶結(jié)構(gòu),包括多種晶粒??傮w上講,在該ReSiC本 體之中的這些碳化硅晶粒的平均晶粒尺寸是不小于約0. 5微米。進(jìn)而,其他實施方案使用 具有更大晶粒的一種多晶體,這樣該平均晶粒尺寸是不小于約50微米,或不小于約75微 米,或甚至不小于約100微米。典型地,該平均晶粒尺寸是在約20微米與約200微米之間 的范圍內(nèi)。
      [0035] 該ReSiC本體總體上具有包括開放的和閉合的孔隙的孔隙含量。這樣,該ReSiC 本體典型地具有不小于該本體的整個體積約5vol%的孔隙率。在一個實施方案中,該孔隙 率是不小于約8vol %,如不小于約IOvol %或甚至不小于約12vol %。典型地,該ReSiC本 體的孔隙率是在約5vol%與約25vol%之間的范圍內(nèi),并且典型地,該孔隙率是不大于約 50vol% 〇
      [0036] 此外,該ReSiC本體可以具有特殊的密度,如不大于約2. 9g/cc。在另一個實施方 案中,該密度是更小的,如不大于約2. 8g/cc,或甚至不大于約2. 7g/cc。
      [0037] 進(jìn)一步關(guān)于所形成的再結(jié)晶物品,該ReSiC本體典型地具有不大于約30瓦特/mK 的熱傳導(dǎo)率。根據(jù)一個實施方案,該ReSiC本體具有不大于約28瓦特/m K的熱傳導(dǎo)率,如 不大于約26瓦特/m K。典型地,該ReSiC本體具有的熱傳導(dǎo)率在約20瓦特/mK與約26瓦 特/mK之間的范圍內(nèi)。
      [0038] 關(guān)于該ReSiC本體的機械特性,適當(dāng)?shù)臋C械特性有助于該ReSiC本體在某些應(yīng) 用中的使用。總體上講,該ReSiC本體的斷裂模量(MOR)是不大于約300MPa。具體地講, 該ReSiC本體總體上具有不大于約250MPa的M0R,如不大于約225MPa,或甚至不大于約 150MPa。根據(jù)一個實施方案,該ReSiC本體具有的MOR在IOOMPa與約200MPa之間的范圍 內(nèi),并且更特別地在IOOMPa與150MPa之間的范圍內(nèi)。
      [0039] 另外,該ReSiC本體可以具有不大于約350GPa的彈性模量(MOE)。根據(jù)一個實施方 案,該ReSiC本體的MOE是不大于約325GPa,如不大于約300GPa,或甚至不大于約250GPa。 在一個實施方案中,該ReSiC本體的MOE是在約200GPa與約250GPa之間的范圍內(nèi)。
      [0040] 該ReSiC本體的熱膨脹系數(shù)(CTE)典型地是不小于約4. 2X10 6/°C。根據(jù)其他 實施方案,該ReSiC本體的CTE可以是更大的,如不小于約4. 5X10 6/ °C或甚至不小于 約4. 7X10 6/ °C。總體上講,該ReSiC本體的CTE是小于5X10 6/ °C,并且更具體是在約 4. 5X10 6/°C與約4. 9X10 6/°C之間的范圍內(nèi)。
      [0041] 進(jìn)一步關(guān)于根據(jù)圖1中提供的方法形成的ReSiC本體,該本體總體上包括一種低 含量的特定金屬種類。根據(jù)一個具體實施方案,結(jié)合在該ReSiC本體之中的鋁原子的鋁 含量是不大于約200ppm。具體地說,該錯含量可以是更小的,如不大于lOOppm,不大于約 50ppm,或甚至不大于約25ppm。典型地,在該ReSiC本體之中的錯含量是在約5ppm與約 200ppm之間的范圍內(nèi)。
      [0042] 根據(jù)圖1的方法,在該ReSiC本體之中的硼含量總體上是低的,如不大于約50ppm。 其他ReSiC本體可以具有更少的硼,如不大于約40ppm,不大于約30ppm,或甚至不小于約 20ppm。根據(jù)圖1的方法形成的ReSiC本體的硼含量典型地是在Ippm與約50ppm之間的范 圍內(nèi)。
      [0043] 該ReSiC本體可以具有適合于特定應(yīng)用的尺寸,如用在一個單晶片加工裝置中的 晶片支撐物品。這樣,該ReSiC本體具有長度、寬度、以及厚度的尺寸。具體地講,這些尺寸 之間的關(guān)系如下:長度多寬度多厚度,并且更特別地寬度時常大于厚度。對于根據(jù)圖1中提 供的方法形成的物品,總體上此類ReSiC本體的厚度是不大于約30mm。更特別地,這種再結(jié) 晶的碳化娃本體的厚度總體上是不大于約20mm。如不大于約15mm,或甚至不大于約10mm。
      [0044] 除了圖1中提供的這些方法外,用于形成一個ReSiC本體的方法可以進(jìn)一步包括 形成覆蓋該ReSiC本體的一部分的一個頂部部分。該頂部部分可以
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