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      檢測(cè)電路板線(xiàn)路絕緣的方法

      文檔序號(hào):5827048閱讀:697來(lái)源:國(guó)知局
      專(zhuān)利名稱(chēng):檢測(cè)電路板線(xiàn)路絕緣的方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種電路板的檢測(cè)方法,具體是一種檢測(cè)電路板線(xiàn)路絕緣的方法。
      背景技術(shù)
      在現(xiàn)代電子工業(yè)中,印刷電路板已經(jīng)得到了非常廣泛的使用,檢測(cè)電路板質(zhì)量?jī)?yōu)劣的各種方法因工業(yè)的迫切需要應(yīng)運(yùn)而生。電路板的接觸式檢測(cè),可以理解為計(jì)算機(jī)控制的自動(dòng)在線(xiàn)檢測(cè)ICT(In-CircuitTester),被測(cè)電路板通過(guò)氣動(dòng)機(jī)構(gòu),把被測(cè)電路板固定于測(cè)試平臺(tái)夾具上,選取電路板上n個(gè)被測(cè)點(diǎn)(通常n的個(gè)數(shù)由電路板上的焊盤(pán)或過(guò)孔的數(shù)量決定),通過(guò)與三極管開(kāi)關(guān)陣列中的測(cè)試結(jié)點(diǎn)相連的探針和焊盤(pán)或者過(guò)孔充分接觸,分別測(cè)得各結(jié)點(diǎn)間的電流與電壓的關(guān)系,從而求得各結(jié)點(diǎn)相應(yīng)阻值,并在計(jì)算機(jī)中與存儲(chǔ)的該電路板的標(biāo)準(zhǔn)結(jié)點(diǎn)伏安關(guān)系和阻值相比較,進(jìn)一步判斷該測(cè)試電路板是否合格。因?yàn)?,絕緣電阻是電氣設(shè)備和電氣線(xiàn)路最基本的絕緣指標(biāo)。所以為保證電路板的質(zhì)量,必須對(duì)電路板上的所有線(xiàn)段進(jìn)行導(dǎo)通測(cè)試和絕緣測(cè)試,其絕緣測(cè)試實(shí)際上就是測(cè)量電路板不導(dǎo)通的線(xiàn)段與線(xiàn)段之間的電阻值。
      在現(xiàn)有技術(shù)中,往往只檢測(cè)線(xiàn)段的導(dǎo)通電阻,而不檢測(cè)絕緣電阻,造成測(cè)試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確,會(huì)造成誤判的現(xiàn)象,又因?yàn)闇y(cè)試部分采用的是三極管構(gòu)成的陣列電路,所以所述陣列電路中的三極管的基極電流連同測(cè)試電流一起被送到后續(xù)電路進(jìn)行處理,造成最后的測(cè)試數(shù)據(jù)偏離標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù),造成誤判。發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種通過(guò)電壓補(bǔ)償?shù)玫綔?zhǔn)確測(cè)量絕緣電阻阻值的檢測(cè)電路板線(xiàn)路絕緣的方法。
      為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種檢測(cè)電路板線(xiàn)路絕緣的方法,其包括采用電路板絕緣電阻測(cè)試電路對(duì)電路板絕緣電阻進(jìn)行檢測(cè),其檢測(cè)步驟包括①?gòu)娜龢O管陣列中得到的被測(cè)絕緣電阻的電流Ix與所述三極管陣列中導(dǎo)通三極管的基極電流Ib之和流入前置電路的取樣電阻獲得所述前置電路中放大電路的輸入電壓;②設(shè)一補(bǔ)償電路與所述前置電路的補(bǔ)償端相連,所述補(bǔ)償電路(2-4)產(chǎn)生補(bǔ)償電壓或電流,用以消除所述前置電路的輸出總電壓Uo的誤差,該誤差僅是指由所述三極管陣列中導(dǎo)通狀態(tài)的三極管的基極電流Ib流入所述取樣電阻而產(chǎn)生的誤差。
      ③把所述輸出總電壓Uo接到所述模數(shù)轉(zhuǎn)換電路對(duì)其進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換后,傳輸至用于處理模數(shù)轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)的計(jì)算機(jī),得到被測(cè)絕緣電阻Rx的阻值。
      本發(fā)明所述的取樣電壓為從所述三極管陣列中得到的被測(cè)絕緣電阻Rx的電流Ix 與所述基極電流Ib之和與取樣電阻的阻值的乘積。所述基極電流Ib為所述三極管陣列中導(dǎo)通的NPN型三極管的飽和導(dǎo)通電流,所以所述基極電流Ib為定值。
      進(jìn)一步,為了消除所述前置電路的輸出總電壓Uo的誤差,所述電路板絕緣電阻測(cè)試電路包括三極管陣列,由取樣電阻和放大電路構(gòu)成的前置電路,所述前置電路的補(bǔ)償端與一補(bǔ)償電路相連;且所述補(bǔ)償電路產(chǎn)生的補(bǔ)償電壓或電流適于消除所述前置電路的輸出總電壓Uo的誤差,該誤差僅是指由所述三極管陣列中導(dǎo)通狀態(tài)的三極管的基極電流Ib流入所述取樣電阻而產(chǎn)生的誤差。
      作為一種方案,為了更好的進(jìn)行信號(hào)放大、便于消除所述誤差,所以所述放大電路為多級(jí)放大電路,且中間級(jí)放大電路由集成運(yùn)放構(gòu)成,所述補(bǔ)償端即為所述集成運(yùn)放的同相端,構(gòu)成同相端電壓補(bǔ)償。
      作為第二種方案,為了更好的進(jìn)行信號(hào)放大,簡(jiǎn)化電路,采用集成運(yùn)放來(lái)構(gòu)成所述多級(jí)放大電路,所述放大電路為多級(jí)放大電路,且所述多級(jí)放大電路由雙輸入、雙輸出的差動(dòng)第一級(jí)放大電路,由第三集成運(yùn)放構(gòu)成的雙輸入、單輸出的差動(dòng)負(fù)反饋第二級(jí)放大電路, 反相比例第三級(jí)放大電路依次相連而成;所述補(bǔ)償端即為所述第三集成運(yùn)放的同相端,構(gòu)成同相端電壓補(bǔ)償。
      為了更好的實(shí)施電壓補(bǔ)償,消除誤差,采用一個(gè)簡(jiǎn)易的電壓補(bǔ)償輸出電路,所述補(bǔ)償電路包括一端與電壓補(bǔ)償輸出端相連的第十三電阻,且該輸出端還與一三端可調(diào)分流基準(zhǔn)源的陰極和電位器的一端相連;所述第十三電阻的另一端接一直流電源的正端,所述電位器的另一端與所述三端可調(diào)分流基準(zhǔn)源的參考電極、第十四電阻的一端相連,且所述第十四電阻的另一端與所述三端可調(diào)分流基準(zhǔn)源的陽(yáng)極和所述直流電源的負(fù)端相連。
      進(jìn)一步,上述補(bǔ)償電路的輸出電壓可根據(jù)參數(shù)計(jì)算而出,方便補(bǔ)償電壓輸出調(diào)節(jié), 所述第一級(jí)放大電路包括,兩個(gè)對(duì)稱(chēng)的分別由第一、第二集成運(yùn)放構(gòu)成的同相比例運(yùn)算電路,且第五電阻兩端分別與所述第一、第二集成運(yùn)放的同相端相連;則所述補(bǔ)償電壓為
      權(quán)利要求
      1.一種檢測(cè)電路板線(xiàn)路絕緣的方法,其特征在于包括采用電路板絕緣電阻測(cè)試電路對(duì)電路板絕緣電阻進(jìn)行檢測(cè),其檢測(cè)步驟包括①?gòu)碾娐钒褰^緣電阻測(cè)試電路的三極管陣列(I)中得到的被測(cè)絕緣電阻(Rx)的電流Ix 與所述三極管陣列(I)中導(dǎo)通三極管的基極電流Ib之和流入前置電路(3)的取樣電阻(R) 獲得所述前置電路中放大電路(2)的輸入電壓;②設(shè)一補(bǔ)償電路(2-4)與所述前置電路(3)的補(bǔ)償端相連,所述補(bǔ)償電路(2-4)產(chǎn)生補(bǔ)償電壓或電流,用以消除所述前置電路(3)的輸出總電壓Uo的誤差,該誤差僅是指由所述三極管陣列(I)中導(dǎo)通狀態(tài)的三極管的基極電流Ib流入所述取樣電阻(R)而產(chǎn)生的誤③把所述輸出總電壓Uo接到所述模數(shù)轉(zhuǎn)換電路(3)對(duì)其進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換后,傳輸至用于處理模數(shù)轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)的計(jì)算機(jī)(3-1),得到被測(cè)絕緣電阻(Rx)的阻值。
      2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的檢測(cè)電路板線(xiàn)路絕緣的方法,其特征在于所述電路板絕緣電阻測(cè)試電路包括三極管陣列(1),由取樣電阻(R)和放大電路(2)構(gòu)成的前置電路(3), 所述前置電路(3)的補(bǔ)償端與一補(bǔ)償電路(2-4)相連;且所述補(bǔ)償電路(2-4)產(chǎn)生的補(bǔ)償電壓或電流適于消除所述前置電路(3 )的輸出總電壓Uo的誤差,該誤差僅是指由所述三極管陣列(I)中導(dǎo)通狀態(tài)的三極管的基極電流Ib流入所述取樣電阻(R)而產(chǎn)生的誤差。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測(cè)電路板線(xiàn)路絕緣的方法,其特征在于,所述放大電路(2) 為多級(jí)放大電路,且中間級(jí)放大電路由集成運(yùn)放構(gòu)成,所述補(bǔ)償端即為所述集成運(yùn)放的同相端,構(gòu)成同相端電壓補(bǔ)償。
      4.根據(jù)權(quán)利要求2中所述的檢測(cè)電路板線(xiàn)路絕緣的方法,其特征在于,所述放大電路(2)為多級(jí)放大電路,且所述多級(jí)放大電路由雙輸入、雙輸出的差動(dòng)第一級(jí)放大電路(2-1), 由第三集成運(yùn)放(N2a)構(gòu)成的雙輸入、單輸出的差動(dòng)負(fù)反饋第二級(jí)放大電路(2-2),反相比例第三級(jí)放大電路(2-3)依次相連而成;所述補(bǔ)償端即為所述第三集成運(yùn)放(N2a)的同相端,構(gòu)成同相端電壓補(bǔ)償。
      5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測(cè)電路板線(xiàn)路絕緣的方法,其特征在于,所述補(bǔ)償電路 (2-4)包括一端與電壓補(bǔ)償輸出端(2-C)相連的第十三電阻(R13),且該輸出端(2-C)還與一三端可調(diào)分流基準(zhǔn)源(N3)的陰極和電位器(RP)的一端相連;所述第十三電阻(R13)的另一端接一直流電源的正端,所述電位器(RP)的另一端與所述三端可調(diào)分流基準(zhǔn)源(N3)的參考電極、第十四電阻(R14)的一端相連,且所述第十四電阻(R14)的另一端與所述三端可調(diào)分流基準(zhǔn)源(N3)的陽(yáng)極和所述直流電源的負(fù)端相連。
      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測(cè)電路板線(xiàn)路絕緣的方法,其特征在于,所述第一級(jí)放大電路(2-1)包括,兩個(gè)對(duì)稱(chēng)的分別由第一、第二集成運(yùn)放(N1A、Nib)構(gòu)成的同相比例運(yùn)算電路,且第五電阻(R5)兩端分別與所述第一、第二集成運(yùn)放(N1A、N1B)的同相端相連;則所述補(bǔ)償電壓為民
      全文摘要
      本發(fā)明涉及一種檢測(cè)電路板線(xiàn)路絕緣的方法,包括采用電路板絕緣電阻測(cè)試電路對(duì)電路板絕緣電阻進(jìn)行檢測(cè),其檢測(cè)步驟包括設(shè)一補(bǔ)償電路與所述前置電路的補(bǔ)償端相連,所述補(bǔ)償電路產(chǎn)生補(bǔ)償電壓或電流,用以消除所述前置電路的輸出總電壓Uo的誤差,該誤差僅是指由所述三極管陣列中導(dǎo)通狀態(tài)的三極管的基極電流IB流入所述取樣電阻而產(chǎn)生的誤差;本發(fā)明采用所述放大電路采用多級(jí)構(gòu)成,放大倍數(shù)可調(diào),放大倍數(shù)高;通過(guò)補(bǔ)償電路,補(bǔ)償測(cè)量電路中由于三極管基極電流而引發(fā)的誤差輸出量,消除由三極管陣列中三極管基極電流引起的誤差;該放大電路第一級(jí)采用雙端差模輸入,末級(jí)采用單端輸出,具有高共模抑制能力和低零漂,高輸入阻抗低輸出阻抗等特性。
      文檔編號(hào)G01R27/02GK102539923SQ20121007282
      公開(kāi)日2012年7月4日 申請(qǐng)日期2012年3月19日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月19日
      發(fā)明者徐煜明, 陶駿, 韓雁 申請(qǐng)人:常州工學(xué)院
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