專利名稱：一種深錐面孔的測量裝置的制作方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明涉及機械零件測量裝置，具體涉及一種深錐面孔的測量裝置。
背景技術(shù)：
在武器系統(tǒng)中，特別是高炮武器系統(tǒng)中，高精度深錐度孔是高炮彈藥發(fā)射的必然構(gòu)成要素。比如高炮管，不僅構(gòu)成錐面孔的深度D較深，即錐面孔與管口的距離較遠，而且錐面孔的尺寸精度要求及關聯(lián)要素的位置精度要求高。這給加工制造及準確測量帶來了極大的難度。常規(guī)的刻線游標測量裝置精度最高到0.02mm，且量具制造成本高。采用常規(guī)的刻線游標裝置測量深錐度孔工件存在的問題是①刻線寬度嚴重影響測量的精度，且本身的精度也較低；②三座標測量誤差大，且不利于加工過程的測量。采用通止規(guī)測量，雖然能夠測量尺寸的規(guī)定的范圍，但是沒有具體的讀數(shù)，不利于加工過程尺寸控制。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種深錐面孔的測量裝置，其測量精度較高，制造成本低，不僅能夠?qū)庸ね戤叺墓ぜM行測量，而且能夠在加工過程中對工件進行測量。本發(fā)明所述的一種深錐面孔的測量裝置，包括百分表座、百分表、標準值校對塊、標準量塊，其特征是
所述百分表座的中部平直、左部豎直向上、右部豎直向下，左部的上端部和右部的下端部分別所有一軸線水平且相互平行的通孔；
一彈性套管與所述百分表座左部的上端部的通孔配合連接，所述百分表的表腳與該彈性套管配合，并通過鎖緊螺母緊固，所述百分表的測量頭與所述標準值校對塊的右端接觸；
一前定位套與所述標準量塊的中部配合，該前定位套的外圓面與被測工件的深孔內(nèi)壁接觸；所述標準量塊的右端部與所述百分表座右部的下端部的通孔配合連接，并通過螺母緊固；所述標準量塊的左端部與被測工件的錐面孔接觸，且右端面與所述標準值校對塊的左端接觸。所述的一種深錐面孔的測量裝置，其所述標準值校對塊呈平直狀且左端部向下彎 折。所述的一種深錐面孔的測量裝置，其所述標準量塊的左端部呈錐形，且錐度與測量工件的錐度一致。深錐面孔的測量是以標準量塊的校對距離D與被測工件的距離尺寸D (即錐面孔的深度)進行比較測量，并將對比測量結(jié)果進行推算，獲知錐面孔尺寸特性的的檢測方法。本發(fā)明的有益效果能夠?qū)崿F(xiàn)高精度特深錐度孔的精確測量，不受測量場所限制，能夠在加工過程中對工件進行精確測量，反映工件真實的加工去除余量，達到特深錐面孔的尺寸精度及位置精度的測量要求；提高工件加工合格品率，降低加工成本；與刻線方式測量相比，測量精度提高5倍，成本下降10%。制造成本較低的原因在于本方法的核心是對比測量技術(shù)，標準量塊只需要錐度與被測工件一致，要求精度不需特別高，只取實測值即可；標準值校對塊的D值(即錐面孔的深度值)要求精度也不需特別高，只取實測值即可。使用者根據(jù)兩者的實測值，計算出與被測工件的標準對比值即可使用。因此，高精度深錐度孔的精確測量方法及其裝置具有很好的應用前景。


圖I是本發(fā)明與被測工件配合的示意 圖2是標準量對塊的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步的說明。參見圖I和圖2，所述的一種深錐面孔的測量裝置，包括百分表座6、百分表8、標準值校對塊3和標準量塊4 ；
所述百分表座6的中部平直、左部豎直向上、右部豎直向下，左部的上端部和右部的下端部分別所有一軸線水平且相互平行的通孔；
一彈性套管2與所述百分表座6左部的上端部的通孔配合連接，所述百分表8的表腳與該彈性套管2配合，并通過鎖緊螺母I緊固，所述百分表8的測量頭與所述標準值校對塊3的右端接觸；
一前定位套5與所述標準量塊4的中部配合，該前定位套5的外圓面與被測工件的深孔內(nèi)壁接觸；所述標準量塊4的右端部與所述百分表座6右部的下端部的通孔配合連接，并通過螺母7緊固；所述標準量塊4的左端部與被測工件的錐面孔接觸，且右端面與所述標準值校對塊3的左端接觸。進一步，所述標準值校對塊3呈平直狀且左端部向下彎折。進一步，所述標準量塊4的左端部呈錐形，且錐度與測量工件的錐度一致。采用本裝置測量工件，存在影響精度提高的因素，主要包括
a.被測工件表面的清潔度；輕微的雜質(zhì)影響到真實的測量結(jié)果。b.端面與錐孔軸線的垂直度；垂直度直接影響測量圓周各點的D值不一致，從而無法判定測量結(jié)果。測量時，將被測工件9固定在平臺上，仔細清潔被測工件的表面；
先把百分表8 (或千分表)安裝在百分表座6上，將表腳的伸出量調(diào)整適當；
再將標準量塊與標準值校對塊進行校對，調(diào)校百分表到適當位置；
前定位套放在被測工件的預孔中，推動標準量塊與被測工件內(nèi)錐面接觸，即可進行測
量;
將測量的值與校對值進行對比，即可推算被測工件的尺寸精度及位置精度。
權(quán)利要求
1.一種深錐面孔的測量裝置，包括百分表座(6)、百分表(8)、標準值校對塊(3)、標準量塊(4)，其特征是 所述百分表座(6)的中部平直、左部豎直向上、右部豎直向下，左部的上端部和右部的下端部分別所有一軸線水平且相互平行的通孔； 一彈性套管(2)與所述百分表座(6)左部的上端部的通孔配合連接，所述百分表(8)的表腳與該彈性套管(2)配合，并通過鎖緊螺母(I)緊固，所述百分表(8)的測量頭與所述標準值校對塊(3)的右端接觸； 一前定位套(5)與所述標準量塊(4)的中部配合，該前定位套(5)的外圓面與被測工件的深孔內(nèi)壁接觸；所述標準量塊(4)的右端部與所述百分表座(6)右部的下端部的通孔配合連接，并通過螺母(7)緊固；所述標準量塊(4)的左端部與被測工件的錐面孔接觸，且右端面與所述標準值校對塊(3)的左端接觸。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種深錐面孔的測量裝置，其特征是所述標準值校對塊(3)呈平直狀且左端部向下彎折。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的一種深錐面孔的測量裝置，其特征是所述標準量塊(4)的左端部呈錐形，且錐度與測量工件的錐度一致。
全文摘要
本發(fā)明公開一種深錐面孔的測量裝置，包括百分表座、百分表、標準值校對塊、標準量塊；一彈性套管與所述百分表座左部的上端部的通孔配合連接，所述百分表的表腳與該彈性套管配合，所述百分表的測量頭與所述標準值校對塊的右端接觸；一前定位套與所述標準量塊的中部配合，該前定位套與被測工件的深孔內(nèi)壁接觸；所述標準量塊的右端部與所述百分表座右部的下端部的通孔配合連接；所述標準量塊的左端部與被測工件的錐面孔接觸，且右端面與所述標準值校對塊的左端接觸。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)高精度特深錐度孔的精確測量，不受測量場所限制，能夠在加工過程中對工件進行精確測量，提高工件加工合格品率，降低加工成本。
文檔編號G01B5/18GK102661697SQ201210160369
公開日2012年9月12日 申請日期2012年5月23日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月23日
發(fā)明者劉琴, 張波, 黃坤河 申請人:重慶望江工業(yè)有限公司