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      膠體金試紙條反射測量托盤的制作方法

      文檔序號:5993234閱讀:250來源:國知局
      專利名稱:膠體金試紙條反射測量托盤的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實(shí)用新型涉及一種膠體金試紙條,尤其是涉及一種用于牛奶中抗生素快速檢測儀或其他膠體金測定儀的膠體金試紙條反射測量托盤。
      技術(shù)背景目前,國內(nèi)使用的膠體金試紙條,由于各個(gè)廠家生產(chǎn)規(guī)格不統(tǒng)一,長短差異大。而托盤裝置一般都是固定長度,只適用于某一特定的膠體金試紙條,不具有普遍適用性。
      發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡單、靈活、方便的膠體金試紙條反射測量托盤。本實(shí)用新型設(shè)有盤體、膠體金試紙條和定位塊,所述盤體中設(shè)有凹槽,所述膠體金試紙條設(shè)在凹槽內(nèi),所述定位塊設(shè)在凹槽內(nèi),所述膠體金試紙條一側(cè)設(shè)有刻度線,刻度線用于表示膠體金試紙條所在位置。所述膠體金試紙條反射測量托盤,專門用于膠體金試紙條反射測量讀數(shù)。所述定位塊可設(shè)左定位塊和右定位塊,所述左定位塊和右定位塊分別設(shè)在凹槽內(nèi)兩端。定位塊將膠體金試紙條定位在凹槽內(nèi),避免膠體金試紙條位置被移動(dòng);定位塊在凹槽內(nèi)的位置可調(diào),適用于各種長度不一的膠體金試紙條,都可將試紙條定位在槽內(nèi);所述膠體金試紙條旁邊設(shè)有刻度線,刻度線用于表示膠體金試紙條所在位置,以保證膠體金試紙條放置的位置正確。本實(shí)用新型不僅可適用于各種長度不同的膠體金試紙條,而且可使膠體金試紙條放置的位置正確,具有普遍適用性。與現(xiàn)有的膠體金試紙條相比,本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單,使用方便,具有定位可調(diào)功能,不僅可適用于各種長度不同的膠體金試紙條,而且可使膠體金試紙條放置的位置正確,具有普遍適用性。

      圖I為本實(shí)用新型實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
      具體實(shí)施方式
      以下實(shí)施例將結(jié)合附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明。參見圖1,本實(shí)用新型實(shí)施例設(shè)有盤體I、膠體金試紙條3、左定位塊41和右定位塊42,所述盤體I中設(shè)有凹槽2,所述膠體金試紙條3設(shè)在凹槽2內(nèi),所述左定位塊41和右定位塊42分別設(shè)在凹槽2內(nèi)兩端,所述膠體金試紙條3 —側(cè)設(shè)有刻度線5,刻度線5用于表示膠體金試紙條3所在位置。本實(shí)用新型專門用于膠體金試紙條反射測量讀數(shù)。[0013]左定位塊41和右定位塊42將膠體金試紙條3定位在凹槽2內(nèi),避免膠體金試紙條位置被移動(dòng);左定位塊41和右定位塊42在凹槽2內(nèi)的位置可調(diào),適用于各種長度不一的膠體金試紙條,都可將試紙條定位在槽內(nèi);所述膠體金試紙條3旁邊設(shè)有刻度線5,刻度線5用于表示膠體金試紙條3所在位置,以保證膠體金試紙條放置的位置正確?!?br> 權(quán)利要求1.膠體金試紙條反射測量托盤,其特征在于設(shè)有盤體、膠體金試紙條和定位塊,所述盤體中設(shè)有凹槽,所述膠體金試紙條設(shè)在凹槽內(nèi),所述定位塊設(shè)在凹槽內(nèi),所述膠體金試紙條一側(cè)設(shè)有刻度線,刻度線用于表示膠體金試紙條所在位置。
      2.如權(quán)利要求I所述的膠體金試紙條反射測量托盤,其特征在于所述定位塊設(shè)左定位塊和右定位塊,所述左定位塊和右定位塊分別設(shè)在凹槽內(nèi)兩端。
      專利摘要膠體金試紙條反射測量托盤,涉及一種膠體金試紙條。設(shè)有盤體、膠體金試紙條和定位塊,所述盤體中設(shè)有凹槽,所述膠體金試紙條設(shè)在凹槽內(nèi),所述定位塊設(shè)在凹槽內(nèi),所述膠體金試紙條一側(cè)設(shè)有刻度線,刻度線用于表示膠體金試紙條所在位置。所述膠體金試紙條反射測量托盤,專門用于膠體金試紙條反射測量讀數(shù)。所述定位塊可設(shè)左定位塊和右定位塊,所述左定位塊和右定位塊分別設(shè)在凹槽內(nèi)兩端。定位塊將膠體金試紙條定位在凹槽內(nèi)。結(jié)構(gòu)簡單,使用方便,具有定位可調(diào)功能,不僅可適用于各種長度不同的膠體金試紙條,而且可使膠體金試紙條放置的位置正確,具有普遍適用性。
      文檔編號G01N33/558GK202794180SQ20122045281
      公開日2013年3月13日 申請日期2012年9月6日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月6日
      發(fā)明者陳曉汀 申請人:北京歐達(dá)恒基科技發(fā)展有限公司, 北京市理化分析測試中心
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